數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試儀研制和設(shè)計(jì)1. 緒論1.1 該課題的研究意義在高校的教學(xué)實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié)中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市場(chǎng)上存在一種可以對(duì)TTL、CMOS數(shù)字芯片進(jìn)行檢測(cè)的工程應(yīng)用型測(cè)試儀，但是考慮到其價(jià)格較貴，較難滿足學(xué)生人手一臺(tái)。因此，從節(jié)約經(jīng)費(fèi)、提高利用率的角度出發(fā)，我們采用AT89S52單片機(jī)設(shè)計(jì)了集成芯片測(cè)試系統(tǒng)。1.2 該課題有關(guān)的國(guó)內(nèi)外研究概況和發(fā)展趨勢(shì)。集成電路測(cè)試是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。集成電路測(cè)試技術(shù)是發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的三大支撐技術(shù)之一。因此，集成電路測(cè)試儀（或測(cè)試系統(tǒng)，下同）作為一個(gè)測(cè)試門(mén)類受到很多國(guó)家的高度重視。40年來(lái)，隨著集成電路發(fā)展到第四代，集成電路測(cè)試儀也從最初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，到了八十年代，超大規(guī)模集成電路測(cè)試儀進(jìn)入全盛時(shí)期。 集成電路測(cè)試儀的發(fā)展過(guò)程可以粗略地分為四個(gè)時(shí)代。 第一代始于1965年，測(cè)試對(duì)象是小規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)達(dá)16只。用導(dǎo)線連接、撥動(dòng)開(kāi)關(guān)、按鈕插件、數(shù)字開(kāi)關(guān)或二極管矩陣等方法，編制自動(dòng)測(cè)試序列，僅僅測(cè)量IC外部管腳的直流參數(shù)。第二代始于1969年，此時(shí)計(jì)算機(jī)的發(fā)展已達(dá)到適用于控制測(cè)試儀的程度，測(cè)試對(duì)象擴(kuò)展到中規(guī)模集成電路，可測(cè)管腳數(shù)24個(gè)，不但能測(cè)試IC的直流參數(shù)，還可用低速圖形測(cè)試IC的邏輯功能。這是一個(gè)飛躍。 第三代始于1972年，這時(shí)的測(cè)量對(duì)象擴(kuò)展到大規(guī)模集成電路（LSI），可測(cè)管腳數(shù)達(dá)60個(gè)，最突出的進(jìn)步是把功能測(cè)試圖形速率提高到10MHz。從1975年開(kāi)始，測(cè)試對(duì)象為大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路（LSI/VLSI），可測(cè)管腳劇增到128個(gè)，功能測(cè)試圖形速率提高到20MHz。不但能有效地測(cè)量CMOS電路，也能有效地測(cè)量TTL、ECL電路。此時(shí)作為獨(dú)立發(fā)展的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，無(wú)論其軟件、硬件都相當(dāng)成熟。 1980年測(cè)試儀進(jìn)入第四代，測(cè)量對(duì)象為VLSI，可測(cè)管腳數(shù)高達(dá)256個(gè)，功能測(cè)試圖形速率高達(dá)100MHz，測(cè)試圖形深度可達(dá)256K以上。測(cè)試儀的智能化水平進(jìn)一步提高，具備與計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)（CAD）連接能力，利用自動(dòng)生成測(cè)試圖形向量，并加強(qiáng)了數(shù)字系統(tǒng)與模擬系統(tǒng)的融合。有些系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了與激光修調(diào)設(shè)備連機(jī)工作，對(duì)存儲(chǔ)器、A/D、D/A等IC芯片進(jìn)行修正。從1970年仙童(Fairchard)公司形成Sentry系列以來(lái)，繼而形成系列的還有泰克（Tektronix）公司的3200系列，泰瑞達(dá)(Teradyne)公司的A380系列、A300系列、日木安藤電氣（Ando Electron）的8000系列、愛(ài)德萬(wàn)(Aduantest)的T3100、T320、T3700系列以及美國(guó)Megatest公司的Q-11系列，都取得較好的效益?，F(xiàn)在，測(cè)試儀的功能測(cè)試速率已達(dá)500MHz以上，可測(cè)管腳數(shù)多達(dá)1024個(gè)，定時(shí)精度55ps，測(cè)試儀的發(fā)展速度是驚人的。我國(guó)在70年代初就開(kāi)始了集成電路測(cè)試儀的研制工作，80年代后期國(guó)產(chǎn)集成電路測(cè)試儀的水平，特別是自行設(shè)計(jì)能力有較大提高，測(cè)試?yán)碚?、測(cè)試方法、測(cè)試系統(tǒng)的研究試驗(yàn)工作受到國(guó)家重視，初步形成一支科研、設(shè)計(jì)、制造的技術(shù)隊(duì)伍。國(guó)內(nèi)研究或制造集成電路測(cè)試儀的研究所與工廠主要有中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所、半導(dǎo)體所、北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所、光華無(wú)線電儀器廠（767廠）、北京無(wú)線電儀器廠、北京科力公司等。1986年科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所研制成功ICT-2 LSI/VISI綜合測(cè)試系統(tǒng)，功能測(cè)試速率10MHz/20MHz，通道數(shù)48（128），OTA(系統(tǒng)總定時(shí)精度)2ns。1987年北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所研制成功BC3170存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，功能測(cè)試速率20MHz，通道數(shù)32個(gè)。同期光華無(wú)線電儀器廠推出GH3123型集成電路自動(dòng)測(cè)試儀，北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所BC3110X型集成電路測(cè)試儀研制成功。這兩種采用CAT技術(shù)的中小規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)，標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)中小規(guī)模集成電路測(cè)試儀的技術(shù)水平進(jìn)入新的發(fā)展時(shí)期和走向?qū)嵱秒A段。繼而北京科力公司研制和生產(chǎn)測(cè)試速率12.5MHz、64通道大規(guī)模數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)。此后不久，光華無(wú)線電儀器廠又研制成功功能測(cè)試速率為10MHz的16M位RAM存儲(chǔ)器測(cè)試儀，大規(guī)模測(cè)試系統(tǒng)獲得長(zhǎng)足的發(fā)展。1996年，由北京自動(dòng)測(cè)試技術(shù)研究所、國(guó)營(yíng)光華無(wú)線電儀器廠、中科院計(jì)算技術(shù)研究所聯(lián)合研制成功3190數(shù)字集成電路大型測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試速率 40MHz，通道數(shù)64個(gè)，定時(shí)精度750ps，達(dá)到八十年代中后期國(guó)際先進(jìn)水平，國(guó)產(chǎn)集成電路測(cè)試儀上了一個(gè)新臺(tái)階。 國(guó)產(chǎn)集成電路測(cè)試儀雖有一定的發(fā)展，但與國(guó)際水平仍存在較大差距。市場(chǎng)上各種型號(hào)國(guó)產(chǎn)測(cè)試儀，中小規(guī)模占80%，只有少數(shù)采用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試。大規(guī)模IC測(cè)試系統(tǒng)ICT-2、BC3170、3190類大系統(tǒng)，由于價(jià)格、可靠性、實(shí)用性等因素導(dǎo)致沒(méi)有實(shí)用化。因此，大規(guī)模IC測(cè)試系統(tǒng)主要依靠進(jìn)口解決國(guó)內(nèi)的科研、生產(chǎn)與應(yīng)用測(cè)試。 集成電路測(cè)試儀按測(cè)試門(mén)類可分為數(shù)字集成電路測(cè)試儀、存貯器測(cè)試儀、模擬與混合信號(hào)電路測(cè)試儀，在線測(cè)試系統(tǒng)和驗(yàn)證系統(tǒng)等。由于這些測(cè)試儀的測(cè)試對(duì)象、測(cè)試方法以及測(cè)試內(nèi)容都存在差異，因此各系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)、配置和技術(shù)性能差別較大。 目前有兩種集成電路測(cè)試系統(tǒng)，一種是整板測(cè)試，稱板級(jí)測(cè)試系統(tǒng)。另一種是對(duì)單個(gè)芯片測(cè)試，稱芯片級(jí)測(cè)試系統(tǒng)。電路板的測(cè)試可分為帶微處理器的電路板的測(cè)試和不帶微處理器的電路板的測(cè)試，即CPU板和普通電路板的測(cè)試。隨著計(jì)算機(jī)和微電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，微處理器在電子產(chǎn)品中得到了廣泛的應(yīng)用.它們?cè)谔岣唠娐钒宓募啥?、增?qiáng)電路板的功能的同時(shí)，也給電路板的測(cè)試和維修帶來(lái)了困難。對(duì)于普通PCB的測(cè)試，常用的方法有功能測(cè)試、在線測(cè)試和組合測(cè)試。但是，隨著SMD技術(shù)以及其它新的封裝和制造技術(shù)在PCB中運(yùn)用，使得電路板上并非每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)都是可及的，因此，無(wú)法實(shí)現(xiàn)完全的在線測(cè)試;同時(shí)，由于器件日益復(fù)雜和集成度的不斷提高，無(wú)論是功能測(cè)試還是在線測(cè)試都出現(xiàn)了編程和測(cè)試圖形產(chǎn)生困難的問(wèn)題。目前，國(guó)內(nèi)儀器、儀表公司和科研機(jī)構(gòu)研制的電路板測(cè)試儀，其對(duì)微處理儀器的測(cè)試采用存儲(chǔ)響應(yīng)法，要求測(cè)試圖形量大且難度大，故障診斷率不高。而市場(chǎng)上的先進(jìn)的可準(zhǔn)確檢測(cè)應(yīng)用微處理器的電路板的測(cè)試儀器都是國(guó)外儀器、儀表公司研制生產(chǎn)的，價(jià)格昂貴，一般在幾萬(wàn)美元至幾十萬(wàn)美元不等。電路板測(cè)試儀采用的測(cè)試技術(shù)除了在線測(cè)試、功能測(cè)試之外，近幾年又出現(xiàn)了矢量測(cè)試技術(shù)、邊界掃描技術(shù)和非矢量測(cè)試技術(shù)。因?yàn)閹⑻幚砥鞯碾娐钒鍖?duì)外界來(lái)說(shuō)主要是輸出信號(hào)，直接從外界注入激勵(lì)比較困難，另外微處理器一旦發(fā)生故障，整個(gè)系統(tǒng)將無(wú)法運(yùn)行，也就無(wú)法進(jìn)行下一步的測(cè)試。所以采用通常的功能測(cè)試、在線測(cè)試都難以準(zhǔn)確定位故障源。帶微處理器電路板的大部分功能是通過(guò)微處理器的控制來(lái)實(shí)現(xiàn)的，因?yàn)槟壳按蠖鄶?shù)集成電路芯片和電路板很少考慮到邊界掃描技術(shù)等可測(cè)性設(shè)計(jì)，所以采用板邊界掃描測(cè)試方法也難以對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。在這種情況下，性能測(cè)試應(yīng)運(yùn)而生，即對(duì)內(nèi)含LSI.VLSI等的總線結(jié)構(gòu)電路板，采用仿真技術(shù)進(jìn)行測(cè)試。20世紀(jì)80年代，國(guó)內(nèi)外共出現(xiàn)了四種仿真測(cè)試方法，即處理器仿真測(cè)試、存儲(chǔ)器仿真測(cè)試、總線周期仿真測(cè)試和存儲(chǔ)器直接訪問(wèn)仿真測(cè)試(簡(jiǎn)稱為DMA仿真測(cè)試)。到90年代又產(chǎn)生了一種新的通用總線仿真測(cè)試方法。測(cè)試儀器也因測(cè)試技術(shù)的發(fā)展而不斷發(fā)展和完善.芯片級(jí)測(cè)試又分在線測(cè)試和離線測(cè)試。所謂在線測(cè)試對(duì)焊接 在電路板上的各芯片做邏輯測(cè)試和故障診斷;而離線測(cè)試是對(duì)脫離電路板的芯片進(jìn)行測(cè)試和故障判斷。隨著數(shù)字集成電路的應(yīng)用日趨廣泛和國(guó)家對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展的支持，國(guó)內(nèi)TTL系列、CMOS系列數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)能力得到了長(zhǎng)足的發(fā)展。數(shù)字集成電路的應(yīng)用非常普及，常用的有TTL系列、CMOS系列等。在調(diào)試或維修電路工作中經(jīng)常需要對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試、分析。但是，一般設(shè)計(jì)公司不會(huì)去考慮生產(chǎn)線設(shè)備的開(kāi)發(fā)，而大多數(shù)家工廠沒(méi)有系統(tǒng)研發(fā)能力，因而國(guó)內(nèi)從事集成電路后到加工的企業(yè)所用的測(cè)試設(shè)備大部分是從國(guó)外引進(jìn)的。這些設(shè)備價(jià)格昂貴，操作復(fù)雜，在一定程度上增加了集成電路生產(chǎn)的成本。目前，有一些測(cè)試數(shù)字集成電路的測(cè)試儀，測(cè)試儀體積較大，操作麻煩，測(cè)量準(zhǔn)確性差，測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，使用起來(lái)很不方便。集成電路的測(cè)試是一件經(jīng)常性的工作，在一批電路里電路是好是壞從表面上是看不出來(lái)的。如用簡(jiǎn)單辦法，給電路加電源用萬(wàn)用表測(cè)，則是一件非常麻煩的事，這不僅對(duì)技術(shù)人員的素質(zhì)有很高的要求，而且故障診斷的速度慢，質(zhì)量差。因?yàn)橐粔K電路有好多腳，要按照真值表一拍一拍去測(cè)，是一件困難的事。對(duì)一般用戶而言，只需對(duì)數(shù)字電路進(jìn)行功能測(cè)試，也就是只要判別其邏輯功能是否符合真值表即可閣。1.3 本論文的研究?jī)?nèi)容本論文研究的內(nèi)容為芯片級(jí)數(shù)字集成電路邏輯功能測(cè)試系統(tǒng)，采用功能驗(yàn)證測(cè)試法產(chǎn)生測(cè)試矢量，離線完成24腳以下TTL74154COMS4000/4500系列芯片測(cè)試。本測(cè)試系統(tǒng)即可實(shí)現(xiàn)脫機(jī)工作，適應(yīng)野外作業(yè)，又可連機(jī)工作，享受PC機(jī)提供的強(qiáng)大功能和友好的人機(jī)界面。 本論文首先介紹測(cè)試原理和測(cè)試基本概念，接著提出測(cè)試生成算法，構(gòu)造測(cè)試系統(tǒng)硬件電路，用功能驗(yàn)證測(cè)試法建立各芯片測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)，最后給出程序流程圖和測(cè)試程序，實(shí)現(xiàn)脫機(jī)工作和連機(jī)工作。即一方面單片機(jī)系統(tǒng)獨(dú)立工作，通過(guò)小鍵盤(pán)鍵入芯片型號(hào)，按測(cè)試運(yùn)行鍵后，通過(guò)查表把固化在單片機(jī)ROM 中的部分芯片測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)調(diào)入內(nèi)部RAM中，進(jìn)行測(cè)試;另一方面根據(jù)芯片測(cè)試表在PC機(jī)上建立ACCESS數(shù)據(jù)庫(kù)，在VB環(huán)境中調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)，通過(guò)串行通信，把數(shù)據(jù)輸入到單片機(jī)內(nèi)部RAM，進(jìn)行測(cè)試。其中，硬件電路包括:PC機(jī)和單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)。單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)包括:中心控制單元，電源和地自動(dòng)控制單元，外設(shè)單元等。電源和地自動(dòng)控制單元就是通過(guò)573通過(guò)三極管8550控制待測(cè)芯片Vcc和GND引腳與電源和地線之間的接通與斷開(kāi)，從而實(shí)現(xiàn)待測(cè)芯片Vcc和GND引腳的自動(dòng)控制。而三極管導(dǎo)通與否，由AT89S52和573口的輸出來(lái)控制。 2總體方案設(shè)計(jì)及工作過(guò)程 74系列的芯片較常見(jiàn)的就有好多，不同型號(hào)的數(shù)字集成芯片其邏輯功能不同、引腳排列不同、甚至哪些引腳作為輸入，哪些引腳作為輸出都不固定，也就是說(shuō)，某個(gè)型號(hào)的集成芯片的其中一只引腳是輸入腳，而另一個(gè)型號(hào)的集成芯片的同一只引腳卻可能是輸出腳了。所以必須要有這樣的接口電路：和集成芯片引腳連接的檢測(cè)端口既可作為輸入，又可作為輸出。 單片機(jī)89C51的P1、P3端口是準(zhǔn)雙向I/O口：既可作為輸入口，又可作為輸出口;為檢測(cè)奠定了重要的基礎(chǔ)。檢測(cè)的基本原理是：根據(jù)芯片的功能、引腳排列情況、以及各引腳的輸入輸出特性，向芯片的輸入引腳發(fā)送輸入信號(hào)，再由芯片的輸出引腳接收輸出（響應(yīng)）信號(hào)，然后從輸出信號(hào)的邏輯值與正確的結(jié)果是否相符來(lái)判斷芯片的好壞。2.1 芯片檢測(cè)原理2.1.1 芯片檢測(cè)原理(1)首先檢測(cè)待測(cè)芯片是否接觸良好(見(jiàn)芯片引腳檢測(cè)原理).(2)根據(jù)真值表，計(jì)算出芯片的輸入輸出的關(guān)系，從單片機(jī)的ROM中取出真值表并輸出到待測(cè)芯片的端口。再通過(guò)檢測(cè)芯片的輸出是不是和預(yù)期的一樣，如果一致則進(jìn)行顯示芯片的具體型號(hào)，如果不一致則檢測(cè)下一組真值表。例如：74LS02的真值表計(jì)算后如下unsigned char code ls02_l4=0xff ,0xb7,0x6f, 0x27;/芯片左邊輸入值unsigned char code ls02_r4=0xff ,0x6f, 0xb7, 0x27;/芯片右邊輸入值unsigned char code ls02_test_l4=0xdb,0x93,0x4b,0x27;/芯片左邊輸出值unsigned char code ls02_test_r4=0xdb,0x4b,0x93,0x27;/芯片右邊輸出值從單片機(jī)中調(diào)出0xb7,0x6f輸出到芯片座左右邊。載檢測(cè)輸出結(jié)果是不是0x93,0x4b.依次檢測(cè)所有該型號(hào)的真值表。其中只要有一個(gè)不正確就檢測(cè)下一組真值表，全部正確則顯示該真值表對(duì)應(yīng)的型號(hào)等信息。2.1.2 芯片引腳檢測(cè)原理 單片機(jī)首先掃描待測(cè)芯片引腳是否接觸良好。過(guò)程如下：芯片引腳內(nèi)部都有方向二極管保護(hù)如圖所示。當(dāng)CD4051選通后，芯片引腳就加上負(fù)電壓，D1導(dǎo)通，電流經(jīng)過(guò)GND-D1-芯片引腳內(nèi)部電阻-CD4051(工作時(shí)相當(dāng)于120歐姆的電阻)-R1-R2-5v電源，形成電流回路(見(jiàn)圖紙I)。從原理圖* 處取出電壓與基準(zhǔn)電壓(由R3產(chǎn)生,約-1.4v)相比較(比較器LM311)。得出OUT信號(hào)，單片機(jī)檢測(cè)OUT信號(hào)，若是高電平則芯片接觸良好，如果是低電平則引腳接觸不良或者引腳損壞。依次下去直到全部引腳檢測(cè)完畢。引腳檢測(cè)的作用：(1) 可以判斷芯片是否正確放入插座(2) 判斷芯片的具體引腳個(gè)數(shù)(3) 初步判斷芯片是否完好(D1是否完好)幾點(diǎn)說(shuō)明：(1) CD4051是8路模擬開(kāi)關(guān),由ABC控制芯片OUT引腳與X0X7的相連，INH是使能信號(hào)(2) LM311是OC門(mén)輸出(開(kāi)漏輸出)，輸出必須接上拉電阻(3) 芯片引腳接觸良好時(shí)引腳(圖中已注明)電壓約-1.29v，未插入芯片是測(cè)該店電壓為-1.59v2.2 測(cè)試儀的原理、結(jié)構(gòu)和技術(shù)指標(biāo) 2.2.1 測(cè)試儀工作原理和總體結(jié)構(gòu)本設(shè)計(jì)方案要實(shí)現(xiàn)24腳以內(nèi)的TTL系列、CMOS系列雙列直插封裝數(shù)字集成電路邏輯功能的自動(dòng)測(cè)試。測(cè)試儀的基本原理是將被測(cè)集成電路器件的實(shí)際邏輯功能與存儲(chǔ)器中的標(biāo)準(zhǔn)邏輯功能表相比較，兩者一致證明被測(cè)器件是好的，不一致證明是壞的。圖3-1為IC芯片測(cè)試系統(tǒng)硬件框圖。測(cè)試儀由PC機(jī)、單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)及測(cè)試分析處理軟件構(gòu)成。單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)由單片機(jī)AT89S52、鍵盤(pán)、LCD顯示等組成。AT89S52是一種電擦寫(xiě)低功耗、高性能的8位CMO0btS5系S微控制器，內(nèi)含8ki閃爍存儲(chǔ)器，與工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)MC-1列全兼容。由于內(nèi)含EPROM和RAM，不需外接存儲(chǔ)器。EPROM中存有根據(jù)集成電路的測(cè)試原理求出的各種集成電路芯片的最小測(cè)試集和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果。RAM作為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和交換區(qū)。在電路中采用多支可編程拍接口芯片與測(cè)試座相連，原因在于在測(cè)試各種IC芯片時(shí)不盡相同，電路設(shè)計(jì)時(shí)的插座引腳一經(jīng)接好就不能動(dòng)。為了保證CPU輸出的信息能更有效的傳送到被側(cè)IC芯片的輸入端，還要保證CPU能有效的從被測(cè)IC芯片的輸出端讀入響應(yīng)值，就希望不更改硬件的連接，而又能根據(jù)IC芯片的不而更改輸入輸出引腳的位置，這只有使用可編程接口芯片才能完成1 1151。在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，先將待測(cè)芯片插好并通過(guò)鍵盤(pán)輸入被測(cè)芯片的型號(hào)，然后啟動(dòng)測(cè)試運(yùn)行鍵。由監(jiān)控測(cè)試程序分時(shí)分組送出被測(cè)芯片的測(cè)試集，并對(duì)測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理之后通過(guò)LCD顯示出來(lái)。好的芯片顯示芯片具體型號(hào)及真值表等信息，壞的芯片顯示檢測(cè)不通過(guò).在測(cè)試芯片時(shí)，流過(guò)被測(cè)芯片電源引腳VCC和接地引腳GND的電流較大，而Plo口不能輸送和流入這樣大的電流，所以不能作為芯片的供電電源和接地線。常用的數(shù)字IC芯片其VCC和GND引腳一般分別在芯片的左下角和右上角，但有些芯片并非如此，為了在測(cè)試不同芯片時(shí)，使測(cè)試插座能根據(jù)需要分別與電源和地線直接相連，可通過(guò)三極管控制引腳與電源或地線之間的接通與斷開(kāi)，而三極管導(dǎo)通與否，可用AT89S52和573鎖存器的輸出來(lái)控制，另外，測(cè)試儀不僅可以脫機(jī)工作，適應(yīng)野外作業(yè)，而且可以與計(jì)算機(jī)連機(jī)工作，通過(guò)串行通信，享受計(jì)算機(jī)提供的功能強(qiáng)大的用戶操作界面和軟件資源。連機(jī)運(yùn)行時(shí)，可將PC機(jī)程序庫(kù)中的測(cè)試矢量調(diào)入測(cè)試儀中，并將測(cè)試后的結(jié)果在PC機(jī)屏幕上顯示。屏幕同時(shí)顯示真值表全部?jī)?nèi)容和實(shí)測(cè)結(jié)果。也可以在PC機(jī)上對(duì)新增IC進(jìn)行編程，并將數(shù)據(jù)存入程序庫(kù)中。2.2.2 測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo) l.測(cè)試自動(dòng)化，24腳測(cè)試插座固定，測(cè)試范圍不受被測(cè)器件的輸入、輸出、電源和地的位置的限制。. 2.同型號(hào)大批量器件測(cè)試簡(jiǎn)捷方便，效率很高。 3能測(cè)試TTTL45, MOS/5000系列的門(mén)電路，計(jì)數(shù)器等器件。2.2.3 電路工作過(guò)程（1）待測(cè)芯片放入底座上，芯片底座24腳分別連接到3片CD4051共24腳上，4051為8路模擬開(kāi)關(guān)，8路輸入信號(hào)，一路輸出由使能信號(hào)及控制信號(hào)控制每一路的輸出，使能信號(hào)由單片機(jī)通過(guò)573鎖存器控制每一個(gè)模擬開(kāi)關(guān)的工作，CD4051每一路的輸出CMP分別輸入到LM311比較器進(jìn)行比較，比較后的信號(hào)LM311 OUT輸入到單片機(jī)P1.1口，直到比較完成，確定待測(cè)芯片管腳數(shù)目，這樣就對(duì)待測(cè)芯片進(jìn)行供電。當(dāng)知道待測(cè)芯片的管腳數(shù)目后，通過(guò)單片機(jī)寫(xiě)程序，由單片機(jī)P0口輸入到573鎖存器，再通過(guò)三極管8550的導(dǎo)通控制高電平的輸出到芯片電源位置，待測(cè)芯片上電工作。（2）單片機(jī)輸入真值表到待測(cè)芯片進(jìn)行比較。單片機(jī)通過(guò)573鎖存器輸入到待測(cè)芯片，由P0口每輸入到一573后，573暫時(shí)將其所存，全部輸出完成后，此3片573的打開(kāi)信號(hào)由單片機(jī)通過(guò)138譯碼器控制，三573全部打開(kāi)，數(shù)據(jù)輸入到芯片上，檢測(cè)芯片的輸出。此數(shù)據(jù)通過(guò)245雙向收發(fā)器輸入到單片機(jī)，此過(guò)程中245的使能信號(hào)也有138譯碼器控制，單片機(jī)的輸出與輸入進(jìn)行比較，如果相同，則此芯片正確，單片機(jī)發(fā)出指令，有245輸入到LCD顯示屏上進(jìn)行邏輯符號(hào)與真值表的顯示，此芯片檢測(cè)完成。如果比較不相同，單片機(jī)繼續(xù)輸出下一組真值表數(shù)據(jù)，重復(fù)上述步驟檢測(cè)，3硬件部分介紹單片機(jī)AT89S52時(shí)鐘電路復(fù)位電路鍵盤(pán)LCD顯示VCC自動(dòng)控制DUT插座31 AT89S52微處理器對(duì)單片機(jī)的要求是能夠方便地?cái)U(kuò)展顯示器、鍵盤(pán)、外設(shè)，其他并無(wú)特殊要求。常見(jiàn)的單片機(jī)有8051系列的單片機(jī)、8096系列的單片機(jī)、凌陽(yáng)的SPCE061A單片機(jī)等等。由于8051系列的單片機(jī)應(yīng)用范圍廣，價(jià)格便宜，功能齊全。因此我們選用了的8051系列的單片機(jī)。311 簡(jiǎn)介我們采用8051系列的AT89S52作為CPU，AT89S52是一種帶8K字節(jié)FLASH可編程可擦除只讀存儲(chǔ)器（FPEROMFlash Programmable and Erasable Read Only Memory）的低電壓，高性能CMOS8位微處理器。該器件采用ATMEL高密度非易失存儲(chǔ)器制造技術(shù)制造，與工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的MCS-51指令集和輸出管腳相兼容。312 主要特性1）與MCS-51兼容 ；2）8位字長(zhǎng)的CPU；3）可在線ISP編程的8KB片內(nèi)FLASH存儲(chǔ)器，用于程序存儲(chǔ)，可擦寫(xiě)1000次；4） 256B的片內(nèi)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，其中高128字節(jié)地址被特殊功能寄存器SFR占用；5）可編程的32根I/O口線（P0P3）；6）2個(gè)可編程16位定時(shí)器；7）一個(gè)數(shù)據(jù)指針DPTR；8）1個(gè)可編程的全雙工串行通信口；9）具有“空閑”和“掉電”兩種低功耗工作方式；10）可編程的3級(jí)程序鎖定位；11）工作電源的電壓為5（10.2）V；12）振蕩器最高頻率為24MHz；13）編程頻率3 24 MHz，編程電流1mA，編程電壓為5V。313 芯片引腳排列與名稱DIP封裝形式的AT89S51的芯片引腳排列與名稱如圖1所示。VCC：供電電壓。GND：接地。P0口：P0口為一個(gè)8位，并行， 圖1 AT89S51的芯片引腳排列與名稱漏極開(kāi)路雙向I/O口，作為輸出時(shí)可驅(qū)動(dòng)8個(gè)TTL負(fù)載。該口內(nèi)無(wú)上拉電阻，在設(shè)計(jì)中作為真值表輸入、輸出，DUT供電選擇的控制輸出以及液晶顯示器的數(shù)據(jù)口。P1口：P1口是一個(gè)內(nèi)部提供上拉電阻的8位雙向I/O口，P1口緩沖器能接收輸出4個(gè)TTL門(mén)電流。P1口管腳寫(xiě)入1后，被內(nèi)部上拉為高，可用作輸入，該口在設(shè)計(jì)中分開(kāi)作位控制器，具體見(jiàn)電路圖P2口：P2口為一個(gè)內(nèi)部上拉電阻的8位雙向I/O口，P2口緩沖器可接收/輸出4個(gè)TTL門(mén)電流，當(dāng)P2口被寫(xiě)“1”時(shí)，其管腳被內(nèi)部上拉電阻拉高，可作為輸入。在作為輸出時(shí)，P2口的管腳被外部拉低，將輸出電流。P3口：P3口管腳是帶內(nèi)部上拉電阻的8位雙向I/O口，可接收輸出4個(gè)TTL門(mén)電流。當(dāng)P3口寫(xiě)入“1”后，它們被內(nèi)部上拉為高電平，并用作輸入。作為輸入，由于外部下拉為低電平，P3口將輸出電流，這是由于上拉的緣故。P3口也可作為AT89S51的一些特殊功能口，如下表1所示：表1 各端口引腳與復(fù)用功能表端口引腳復(fù)用功能P3.0TXD（串行輸入口）P3.1RXD（串行輸出口）P3.2/INT0（外部中斷0）P3.3/INT1（外部中斷1）P3.4T0（記時(shí)器0外部輸入）P3.5T1（記時(shí)器1外部輸入）P3.6/WR（外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器寫(xiě)選通）P3.7/RD（外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器讀選通）RST：該引腳為復(fù)位信號(hào)輸入端，高電平有效。在振蕩器穩(wěn)定工作情況下，該引腳被置成高電平并持續(xù)兩個(gè)機(jī)器周期以上是系統(tǒng)復(fù)位。ALE/PROG：當(dāng)訪問(wèn)外部存儲(chǔ)器時(shí)，地址鎖存允許的輸出電平用于鎖存地址的地位字節(jié)。在FLASH編程期間，此引腳用于輸入編程脈沖。該引腳在設(shè)計(jì)中作為鎖存器器和A/D的時(shí)鐘信號(hào)。/PSEN：外部程序存儲(chǔ)器的選通信號(hào)。/EA/VPP：/EA為訪問(wèn)芯片內(nèi)部和芯片外部程序存儲(chǔ)器的選擇信號(hào)。在FLASH編程期間，此引腳也用于施加12V編程電源（VPP）。XTAL1：芯片內(nèi)振蕩器放大器的輸入及內(nèi)部時(shí)鐘工作電路的輸入。XTAL2：芯片內(nèi)振蕩器放大器的輸出。 3.2 ZLG7290 I C 接口鍵盤(pán)及LED 驅(qū)動(dòng)器 一 特點(diǎn) 1 I C 串行接口 提供鍵盤(pán)中斷信號(hào) 方便與處理器接口 2 可驅(qū)動(dòng)8位共陰數(shù)碼管或64只獨(dú)立LED和64個(gè)按鍵 3 可控掃描位數(shù) 可控任一數(shù)碼管閃爍 4 提供數(shù)據(jù)譯碼和循環(huán) 移位 段尋址等控制 5 8 個(gè)功能鍵 可檢測(cè)任一鍵的連擊次數(shù) 6 無(wú)需外接元件即直接驅(qū)LED ，可擴(kuò)展驅(qū)動(dòng)電流和驅(qū)動(dòng)電壓 7 提供工業(yè)級(jí)器件 多種封裝形式PDIP24 三 功能描述 1 鍵盤(pán)部分 ZLG7290可采樣 64 個(gè)按鍵或傳感器，可檢測(cè)每個(gè)按鍵的連擊次數(shù) 其基本功能如下 ： （1）鍵盤(pán)去抖動(dòng)處理 當(dāng)鍵被按下和放開(kāi)時(shí) 可能會(huì)出現(xiàn)電平狀態(tài)反復(fù)變化 稱作鍵盤(pán)抖動(dòng) 若不作處理會(huì)引起按鍵盤(pán)命令錯(cuò)誤所以要進(jìn)行去抖動(dòng)處理 以讀取穩(wěn)定的鍵盤(pán)狀態(tài)為準(zhǔn) （2）雙鍵互鎖處理 當(dāng)有兩個(gè)以上按鍵被同時(shí)按下時(shí) ZLG7290 只采樣優(yōu)先級(jí)高的按鍵 優(yōu)先順序?yàn)镾1S2S64 如同時(shí)按下S2和S18時(shí)采樣到S2 （3）連擊鍵處理 當(dāng)某個(gè)按鍵按下時(shí)，輸出一次鍵值后，如果該按鍵還未釋放，該鍵值連續(xù)有效，就像連續(xù)壓按該鍵一樣，這種功能稱為連擊。連擊次數(shù)計(jì)數(shù)器 RepeatCnt，可區(qū)別出單擊（某些功能不允許連擊如開(kāi)關(guān)）或連擊。判斷連擊次數(shù)可以檢測(cè)被按時(shí)間，以防止某些功能誤操作（如連續(xù)按5秒進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置狀態(tài)）。 （4）功能鍵處理 功能按鍵實(shí)現(xiàn)2個(gè)以上按鍵同時(shí)按下來(lái)擴(kuò)展按鍵數(shù)目或?qū)崿F(xiàn)特殊功能。如機(jī)上的“SHIFT”，“CTR”，等Alt 鍵 典型應(yīng)用圖中的S57S64 為功能鍵。2 顯示部分 在每個(gè)顯示刷新周期 ZLG7290 按照掃描位數(shù)寄存器 （ScanNum）指定的顯示位數(shù)N ，把顯示緩存DpRam DpRamN的內(nèi)容按先后循序送入LED 驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)顯示，減少N值可提高每位顯示掃描時(shí)間的占空比，以提高LED 亮度，顯示緩存中的內(nèi)容不受影響。修改閃爍控制寄存器 FlashOnOff，可改變閃爍頻率和占空比（亮和滅的時(shí)間）。 ZLG7290 提供兩種控制方式 寄存器映象控制和命令解釋控制 如上述對(duì)顯示部分的控制 寄存器映象控制是指直接訪問(wèn)底層寄存器 實(shí)現(xiàn)基本控制功能 這些寄存器須字節(jié)操作命令解釋控制是指通過(guò)解釋命令緩沖區(qū) CmdBuf0 CmdBuf中的指令，間接訪問(wèn)底層寄存器實(shí)現(xiàn)擴(kuò)展控制功能 如實(shí)現(xiàn)寄存器的位操作 對(duì)顯示緩存循環(huán) 移位 對(duì)操作數(shù)譯碼等操作 請(qǐng)參考指令詳解部分。四 寄存器詳解 系統(tǒng)狀態(tài)部分 1.系統(tǒng)寄存器（SystemReg）：地址00H，復(fù)位值11110000B。系統(tǒng)寄存器保存ZLG7290系統(tǒng)狀態(tài)，并可對(duì)系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行配置，其功能分位描述如下： KeyAvi（SystemReg.0）：置1時(shí)表示有效的按鍵動(dòng)作（普通鍵的單擊，連擊， 和功能鍵狀態(tài)變化）， /INT引腳信號(hào)有效（變?yōu)榈碗娖剑磺?時(shí)表示無(wú)按鍵動(dòng)作，/INT引腳信號(hào)無(wú)效（變?yōu)楦咦钁B(tài)）。有效的按鍵動(dòng)作消失后或讀Key后，KeyAvi位自動(dòng)清0。 鍵盤(pán)部分 2.鍵值寄存器（Key）：地址01H，復(fù)位值00H 。Key表示被壓按鍵的鍵值。當(dāng)Key=0時(shí)，表示沒(méi)有鍵被壓按 3.連擊次數(shù)計(jì)數(shù)器（RepeatCnt）：地址02H，復(fù)位值00H。RepeatCnt=0時(shí)，表示單擊鍵 。RepeatCnt大于0時(shí)，表示鍵的連擊次數(shù)。用于區(qū)別出單擊鍵或連擊鍵，判斷連擊次數(shù)可以檢測(cè)被按時(shí)間。 4.功能鍵寄存器（FunctionKey）：地址03H，復(fù)位值0FFH， FunctionKey對(duì)應(yīng)位的值=0表示對(duì)應(yīng)功能鍵被壓按（FunctionKey.7FunctionKey.0對(duì)應(yīng)S64 S57）。命令接口部分 5. 命令緩沖區(qū)（CmdBuf0 CmdBuf1）：地址07H08H，復(fù)位值00H00H，用于傳輸指令。 顯示部分 6.閃爍控制寄存器（FlashOnOff）：地址0CH，復(fù)位值0111B/0111B。高4位表示閃爍時(shí)亮的時(shí)間，低4位表示閃爍時(shí)滅的時(shí)間，改變其值同時(shí)也改變了閃爍頻率，也能改變亮和滅的占空比。FlashOnOff的1個(gè)單位相當(dāng)于150 250ms（亮和滅的時(shí)間范圍為116，0000B相當(dāng)1個(gè)時(shí)間單位），所有象素的閃爍頻率和占空比相同。 7掃描位數(shù)寄存器（ScanNum）：地址0DH,復(fù)位值7，用于控制最大的掃描顯示位數(shù)（有效范圍 為 07，對(duì)應(yīng)的顯示位數(shù)為 1 8），減少掃描位數(shù)可提高每位顯示掃描時(shí)間的占空比，以提高LED亮度，不掃描顯示的顯示緩存寄存器則保持不變，如ScanNum=3時(shí)，只顯示DpRam0DpRam3的內(nèi)容。 8.顯示緩存寄存器（DpRam0DpRam7）：地址10H17H，復(fù)位值00H00H。緩存中一位置1表示該像素亮，DpRam7DpRam0 的顯示內(nèi)容對(duì)應(yīng)Dig7Dig0 引腳。五 通信接口 ZLG729的I2C接口傳輸速率可達(dá)32kbit/s，容易與處理器接口。并提供鍵盤(pán)中斷信號(hào)，提高主處理器時(shí)間效率。ZLG7290 的從地址（slave address）為70H(01110000B)。 有效的按鍵動(dòng)作（普通鍵的單擊，連擊和功能鍵狀態(tài)變化），都會(huì)令系統(tǒng)寄存器（SystemReg）的KeyAvi位置1，/INT引腳信號(hào)有效（變?yōu)榈碗娖剑Ｓ脩舻逆I盤(pán)處理程序可由/INT引腳低電平中斷觸發(fā)，以提高程序效率；也可以不采樣/INT引腳信號(hào)節(jié)省系統(tǒng)的I/O數(shù)，而輪詢系統(tǒng)寄存器的KeyAvi位。要注意讀鍵值寄存器會(huì)令KeyAvi位清0，并會(huì)令/INT 引腳信號(hào)無(wú)效。為確保某個(gè)有效的按鍵動(dòng)作所有參數(shù)寄存器的同步性，建議利用I2C通信的自動(dòng)增址功能連續(xù)讀RepeatCnt FunctionKey和Key寄存器，但用戶無(wú)需太擔(dān)心寄存器的同步性問(wèn)題 應(yīng)為鍵參數(shù)寄存器變化速度較緩慢（典型250ms， 最快9ms）。 ZLG7290 內(nèi)可通過(guò)I2C總線訪問(wèn)的寄存器地址范圍為：00H 17H，任一寄存器都可按字節(jié)直接讀寫(xiě)，也可以通過(guò)命令接口間接讀寫(xiě)或按位讀寫(xiě)，請(qǐng)參考指令詳解部分。支持自動(dòng)增址功能（訪問(wèn)一寄存器后，寄存器子地址 （sub address自動(dòng)加一）和地址翻轉(zhuǎn)功能（訪問(wèn)最后一寄存器（子地址=17H） 后,寄存器子地址翻轉(zhuǎn)為00H）。ZLG7290的控制和狀態(tài)查詢?nèi)慷际峭ㄟ^(guò)讀寫(xiě)寄存器實(shí)現(xiàn)的，用戶只需象讀寫(xiě)24C02內(nèi)的單元一樣， 即可實(shí)現(xiàn)對(duì)ZLG7290 的控制。3.軟件部分編程軟件的介紹單片機(jī)開(kāi)發(fā)中除必要的硬件外，同樣離不開(kāi)軟件，我們寫(xiě)的匯編語(yǔ)言程序要變?yōu)镃PU可以執(zhí)行的機(jī)器碼有兩種方法，一種是手工匯編，另一種是機(jī)器匯編，目前已極少用手工匯編的方法了。機(jī)器匯編是通過(guò)匯編軟件講源程序變?yōu)闄C(jī)器碼，用于MCS-51單片機(jī)的匯編軟件有早期的A51,隨著單片機(jī)開(kāi)發(fā)技術(shù)的不斷發(fā)展，從普遍使用匯編語(yǔ)言到逐漸使用高級(jí)語(yǔ)言開(kāi)發(fā)，單片機(jī)的開(kāi)發(fā)軟件也在不斷發(fā)展，Keil軟件是目前最流行開(kāi)發(fā)MCS-51系列單片機(jī)的軟件。Keil提供了包括C編譯器，紅匯編，連接器，庫(kù)管理鶴一個(gè)功能強(qiáng)大的方針調(diào)試器等在內(nèi)的完整開(kāi)發(fā)方案，通過(guò)一個(gè)集成開(kāi)發(fā)環(huán)境（uVision）將這些部分組合在一起。1建立項(xiàng)目文件 在項(xiàng)目開(kāi)發(fā)中，并不是僅有一個(gè)源程序就行了，還要為這個(gè)項(xiàng)目選擇CPU（Keil支持?jǐn)?shù)百種CPU，而這些CPU的特性并不完全相同），確定編譯，匯編，連接的參數(shù)，指定調(diào)試的方式，有一些項(xiàng)目還會(huì)有多個(gè)文件組成等，為管理和使用方便，Keil使用工程（Project）這一概念，將這些參數(shù)設(shè)置和所需的所有文件都加在一個(gè)工程中，只能對(duì)工程而不能對(duì)單一的源程序進(jìn)行編譯（匯編）和連接等操作2 項(xiàng)目的詳細(xì)設(shè)置3編譯、鏈接設(shè)置好工程后，即可進(jìn)行編譯、鏈接。 選擇菜單Project-Build target,對(duì)當(dāng)前工程 進(jìn)行連接，如果當(dāng)前文件已修改，軟件會(huì)先對(duì)該文件進(jìn)行編譯，然后再鏈接以產(chǎn)生目標(biāo)代碼；如果選擇Rebuild All target files 將會(huì)對(duì)當(dāng)前工程中的所有文件重新進(jìn)行編譯然后連接，確保最終生成的目標(biāo)代碼是最新的。以上操作也可以通過(guò)工具欄按鈕直接進(jìn)行，圖8是有關(guān)編譯、設(shè)置的工具欄按鈕，從左到右分別是：編譯、編譯連接、全部重建、停止編譯和對(duì)工程進(jìn)行設(shè)置。編譯過(guò)程中的信息將出現(xiàn)在輸出窗口中的Build頁(yè)中，如果源程序中有語(yǔ)法錯(cuò)誤，會(huì)有錯(cuò)誤報(bào)告出現(xiàn)，雙擊該行，可以指定到出錯(cuò)的位置，對(duì)源程序反復(fù)修改之后，最終會(huì)得到如圖9所示的結(jié)果，提示獲得了名為exam1.hex的文件，該文件即可被編譯器讀入并寫(xiě)到芯片中，同時(shí)還產(chǎn)生了一些其它相關(guān)的文件，可被用于Keil的仿真與調(diào)試，這時(shí)可進(jìn)入下一步調(diào)試的工作。有關(guān)LCD的介紹所用為OCMJ12864，可顯示漢字，圖形，功能強(qiáng)大。一、概述TG12864B 是一種圖形點(diǎn)陣液晶顯示器， 它主要由行驅(qū)動(dòng)器/列驅(qū)動(dòng)器及128 64全點(diǎn)陣液晶顯示器組成?？赏瓿蓤D形顯示,也可以8 4個(gè)（ 16 16 點(diǎn)陣） 漢字。主要技術(shù)參數(shù)和性能：1. 電源： VDD： +2.7 +5V; 模塊內(nèi)自帶-10V 負(fù)壓， 用于LCD 的驅(qū)動(dòng)電壓。2. 顯示內(nèi)容： 128（ 列） 64（ 行） 點(diǎn)3. 全屏幕點(diǎn)陣4. 七種指令5. 與CPU接口采用8位數(shù)據(jù)總線并行輸入輸出和8條控制線6. 占空比1/647. 工作溫度： -10 +60 ， 儲(chǔ)存溫度： -20 +70 , 可選擇寬溫： -20 +70 （ 工作溫度）三、模塊主要硬件構(gòu)成說(shuō)明IC3 為行驅(qū)動(dòng)器， IC1， IC 為列驅(qū)動(dòng)器。IC1， IC2， IC3 含有如下主要功能器件。了解如下器件有利于對(duì)LCD模塊之編程。1. 指令寄存器（ IR）IR 是用來(lái)寄存指令碼， 與數(shù)據(jù)寄存器寄存數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)。當(dāng)D/I=1 時(shí)， 在E 信號(hào)下降沿的作用下， 指令碼寫(xiě)入IR。2. 數(shù)據(jù)寄存器DR是用來(lái)寄存數(shù)據(jù)的， 與指令寄存器寄存指令相對(duì)應(yīng)。當(dāng)D/I=1 時(shí)， 在E 信號(hào)的下降沿的作用下， 圖形顯示數(shù)據(jù)寫(xiě)入DR， 或在E信號(hào)高電平作用下由DR 讀到DB7DB0 數(shù)據(jù)總線。DR 和DDRAM 之間的數(shù)據(jù)傳輸是模塊內(nèi)部自動(dòng)執(zhí)行的。3. 忙標(biāo)志:BFBF 標(biāo)志提供內(nèi)部工作情況。BF=1 表示模塊在進(jìn)行內(nèi)部操作， 此時(shí)模塊不接受外部指令和數(shù)據(jù)。BF=0 時(shí)， 模塊為準(zhǔn)備狀態(tài)， 隨時(shí)可接受外部指令和數(shù)據(jù)。利用STATUS READ指令， 可以將BF 讀到DB7 總線， 從而檢驗(yàn)?zāi)K之工作狀態(tài)。4. 顯示控制觸發(fā)器DFF此觸發(fā)器是用于模塊屏幕顯示開(kāi)和關(guān)的控制。DFF=1 為開(kāi)顯示（ DISPLAY ON）， DDRAM 的內(nèi)容就顯示在屏幕上， DDF=0 為關(guān)顯示（ DISPLAY OFF）。DDF 的狀態(tài)是指令DISPLAY ON/OFF 和RST信號(hào)控制的。5. XY地址計(jì)數(shù)器XY地址計(jì)數(shù)器是一個(gè)9 位數(shù)計(jì)數(shù)器。高三位是X地址計(jì)數(shù)器， 低6 位為Y地址計(jì)數(shù)器， XY地址計(jì)數(shù)器實(shí)際上是作為DDRAM 的地址指針， X地址計(jì)數(shù)器為DDRAM 的頁(yè)指針， Y地址計(jì)數(shù)器為DDRAM 的Y地址指針。X地址計(jì)數(shù)器是沒(méi)有記數(shù)功能的， 只能用指令設(shè)置。Y地址計(jì)數(shù)器具有循環(huán)記數(shù)功能，各顯示數(shù)據(jù)寫(xiě)入后，Y地址自動(dòng)加1，Y地址指針從0 到63。6. 顯示數(shù)據(jù)RAM（ DDRAM）DDRAM 是儲(chǔ)存圖形顯示數(shù)據(jù)的。數(shù)據(jù)為1 表示顯示選擇，數(shù)據(jù)為0表示顯示非選擇。DDRAM與地址和顯示位置的關(guān)系見(jiàn)DDRAM 地址表（ 見(jiàn)第頁(yè)）。7. Z地址計(jì)數(shù)器Z地址計(jì)數(shù)器是一個(gè)6 位計(jì)數(shù)器， 此計(jì)數(shù)器具有循環(huán)記數(shù)功能， 它是用于顯示行掃描同步。當(dāng)一行掃描完成， 此地址計(jì)數(shù)器自動(dòng)加1， 指向下一行掃描數(shù)據(jù)， RST 復(fù)位后Z地址計(jì)數(shù)器為0Z地址計(jì)數(shù)器可以用指令DISPLAY START LINE 預(yù)置。因此， 顯示屏幕的起始行就由此指令控制， 即DDTAM 的數(shù)據(jù)從哪一行開(kāi)始顯示在屏幕的第一行。此模塊的DDRAM 共64 行， 屏幕可以循環(huán)滾動(dòng)顯示64 行。四、模塊的外部接口五. 指令說(shuō)明指令表1. 顯示開(kāi)關(guān)控制(DISPLAY ON/O