千分尺千分尺檢定規(guī)程（JJG21-2019）千分尺的檢定或校準(zhǔn)千分尺1一、范圍本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測(cè)量上限至500mm的外徑千分尺;測(cè)量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力為0.001mm，0.0001mm，測(cè)量上限至500mm的數(shù)顯外徑千分尺的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。一、范圍本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測(cè)2二、概述千分尺是由尺架、測(cè)砧、測(cè)微螺桿、測(cè)力裝置、鎖緊裝置和讀數(shù)裝置等組成。如圖所示：二、概述千分尺是由尺架、測(cè)砧、測(cè)微螺桿、測(cè)力裝置、鎖緊裝置和3二、概述二、概述4二、概述二、概述5二、概述二、概述6二、概述二、概述7二、概述二、概述8三、計(jì)量性能要求1、測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)均不大于0.01mm。2、測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量應(yīng)不超過(guò)表1規(guī)定。三、計(jì)量性能要求1、測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)9表1測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量mm三、計(jì)量性能要求表1測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量mm三、計(jì)10三、計(jì)量性能要求3、測(cè)力千分尺的測(cè)力（系指測(cè)量面與球面接觸時(shí)所作用的力）應(yīng)為（5～10）N。4、刻線寬度及寬度差微分筒刻線寬度為（0.08～0.20）mm，固定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差均應(yīng)不大于0.03mm。帶刻度盤的刻線寬度為（0.20～0.30）mm，其寬度差應(yīng)不大于0.05mm三、計(jì)量性能要求3、測(cè)力11三、計(jì)量性能要求5、指針與刻度盤的相對(duì)位置板厚千分尺刻度盤上的指針末端應(yīng)蓋住刻線盤短刻線長(zhǎng)度的30%～80%，指針末端上表面至刻線度盤表面的距離應(yīng)不大于0.7mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應(yīng)一致，差值應(yīng)不大于0.05mm。6、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的距離應(yīng)不大于0.4mm。

三、計(jì)量性能要求5、指針與刻度盤的12三、計(jì)量性能要求7、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對(duì)準(zhǔn)時(shí)，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應(yīng)相切，若不相切，壓線不大于0.05mm，離線不大于0.1mm。三、計(jì)量性能要求7、微分筒錐面的端面13三、計(jì)量性能要求8、測(cè)量面的平面度外徑千分尺測(cè)量面的平面度度應(yīng)補(bǔ)大于0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺測(cè)量面的平面度應(yīng)不大于1.5μm。數(shù)顯外徑千分尺測(cè)量面平面度應(yīng)不大于0.3μm。9、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性不大于1μm。三、計(jì)量性能要求8、測(cè)量面的平面度14三、計(jì)量性能要求10、數(shù)顯外徑千分尺任意位置時(shí)數(shù)值漂移應(yīng)不大于1μm/h。11、兩測(cè)量面的平面度外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開(kāi)時(shí)，千分尺兩工作面的平行度均應(yīng)不超過(guò)表2規(guī)定。三、計(jì)量性能要求10、數(shù)顯外徑千分尺任15三、計(jì)量性能要求表2外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩側(cè)量面的平面度測(cè)量范圍/mm最大允許誤差/μm兩測(cè)量面的平行度/μm0～25，25～50±4250～75，75～100±53100～125，125～150±64150～175，175～200±75200～225，225～250±86250～275，275～300±97300～325，325～350±109350～375，375～400±11400～425，425～450±1211450～475，475～500±13三、計(jì)量性能要求表2外徑千分尺示值的最大16三、計(jì)量性能要求板厚千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)不超過(guò)4μm數(shù)顯外徑千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)不超過(guò)表3規(guī)定。三、計(jì)量性能要求板厚千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)17三、計(jì)量性能要求表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩測(cè)量面的平面度5±6300～325，325～350350～375，375～4006±7400～425，425～450450～475，475～5004±5250～275，275～3003.5±4200～225，225～2503±4150～175，175～2002.5±3100～125，125～1502.0±350～75，75～1001.5±20～25，25～50兩測(cè)量面的平行度/μm最大允許誤差/μm測(cè)量范圍/mm三、計(jì)量性能要求表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允18三、計(jì)量性能要求12示值誤差外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)表2規(guī)定。壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)±8μm。數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)表3規(guī)定對(duì)于測(cè)量上限大于150mm的千分尺可只檢測(cè)微頭示值誤差，測(cè)微頭各點(diǎn)相對(duì)零點(diǎn)的示值最大允許誤差不超過(guò)±3μm。三、計(jì)量性能要求12示值誤差19三、計(jì)量性能要求13數(shù)顯外徑千分尺細(xì)分誤差數(shù)顯外徑千分尺數(shù)顯裝置的細(xì)分誤差應(yīng)不超過(guò)±2μm。14校對(duì)用的量桿14.1外徑千分尺校對(duì)用的量桿外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量應(yīng)不超過(guò)表4規(guī)定。三、計(jì)量性能要求13數(shù)顯外徑千分尺細(xì)分誤20三、計(jì)量性能要求表4外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量校對(duì)量桿標(biāo)稱尺寸/mm尺寸偏差/μm變動(dòng)量/μm25，50±2175±31.5100±32125±42150±42.5175±52.5200±53.5225，250±63.5275，300±73.5325，350，375，400±94425，450，475±115三、計(jì)量性能要求表4外徑千分尺校對(duì)用量桿21三、計(jì)量性能要求14.2數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量應(yīng)不超過(guò)表5規(guī)定。三、計(jì)量性能要求14.2數(shù)顯外徑千分尺校22三、計(jì)量性能要求表5數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量標(biāo)稱尺寸/mm尺寸偏差/μm變動(dòng)量/μm25，50±1.25175±1.51100±21125，150，175±2.51.5200，225，250±3.51.5275，300±42325，350，375，400±4.52.5425，450，475±53三、計(jì)量性能要求表5數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的23四、通用技術(shù)要求1外觀1.1千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有碰傷、腐蝕，帶礠或其他缺陷，標(biāo)尺刻線應(yīng)清晰、均勻，數(shù)顯外徑千分尺數(shù)字顯示應(yīng)清晰、完整。1.2千分尺應(yīng)附有調(diào)整零位工具，測(cè)量上限大于或等于25mm的千分尺應(yīng)附有校對(duì)用的量桿。千分尺應(yīng)具有測(cè)力裝置、隔熱裝置和鎖緊裝置。校對(duì)量桿應(yīng)有隔熱裝置。四、通用技術(shù)要求1外觀24四、通用技術(shù)要求1.3千分尺上應(yīng)標(biāo)有分度值、測(cè)量范圍、制造廠名（或廠標(biāo)）及出廠編號(hào)。1.4后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)的千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有影響使用準(zhǔn)確度的外觀缺陷。四、通用技術(shù)要求1.3千分尺上應(yīng)標(biāo)25四、通用技術(shù)要求2各部分的相互作用2.1微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)和測(cè)微螺桿的移動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)無(wú)卡滯現(xiàn)象。2.2可調(diào)或可換測(cè)砧的調(diào)整或裝卸應(yīng)順暢，作用要可靠，調(diào)零和緊鎖裝置的作用應(yīng)切實(shí)有效。2.3帶有表盤的千分尺，表針移動(dòng)應(yīng)靈活、無(wú)卡滯現(xiàn)象。2.4數(shù)顯外徑千分尺各工作按鈕應(yīng)靈活可靠。四、通用技術(shù)要求2各部分的相互作26五、計(jì)量器具控制計(jì)量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢定。1檢定條件1.1環(huán)境條件檢定千分尺的室內(nèi)溫度和被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間均應(yīng)符合表6規(guī)定。室內(nèi)濕度不大于70%RH五、計(jì)量器具控制計(jì)量器具控制包括首次檢27五、計(jì)量器具控制表6室內(nèi)溫度及被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間受檢千分尺名稱受檢千分尺測(cè)量范圍/mm室內(nèi)溫度對(duì)20℃的允許偏差/℃平衡溫度的時(shí)間/h千分尺校對(duì)用的量桿外徑、板厚、壁厚～100±5±32>100～500±4±23數(shù)顯～100±3±13>100～200±2±14>200～500±1±15五、計(jì)量器具控制表6室內(nèi)溫度及被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的28五、計(jì)量器具控制1.2檢定設(shè)備主要檢定設(shè)備見(jiàn)表7。2檢定項(xiàng)目檢定項(xiàng)目見(jiàn)表7。五、計(jì)量器具控制1.2檢定設(shè)29千分尺校準(zhǔn)教程-課件30五、計(jì)量器具控制3檢定方法3.1外觀目力觀察。3.2各部分的相互作用手動(dòng)試驗(yàn)和目力觀察。3.3測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)一般情況下用手感檢驗(yàn)測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)。有異議時(shí)，可按下列方法檢定。五、計(jì)量器具控制3檢定方法31五、計(jì)量器具控制3.3.1測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)，用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，杠桿千分表與測(cè)微螺桿測(cè)量面接觸，沿測(cè)微螺桿軸向方向分表返加力3N～5N，如圖7所示。桿杠千分表示值變化，即為軸向竄動(dòng)量。3.3.2測(cè)微螺桿的徑向擺動(dòng)亦用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，將測(cè)微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測(cè)微螺桿端部，再沿杠桿千分表測(cè)量方向加力2N～3N，然后在相反方向加同樣大小的力，此時(shí)杠桿千分表示值的變化即為徑向擺動(dòng)。徑向擺動(dòng)的檢定應(yīng)在測(cè)微螺桿相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行。五、計(jì)量器具控制3.3.1測(cè)微螺32五、計(jì)量器具控制3.4測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移一般情況下目力觀察千分尺測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移，(0～25)mm的千分尺可使兩測(cè)量面直接接觸觀察其偏移量，測(cè)量上限大于25mm的千分尺可借助校對(duì)量桿進(jìn)行檢定。如有異議時(shí)，可按下列方法進(jìn)行檢定。五、計(jì)量器具控制3.4測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量33五、計(jì)量器具控制測(cè)量范圍為（0～25）mm的用塞尺比較；測(cè)量上限大于25mm的外徑千分尺用專用檢具測(cè)出偏移量。在平板上用杠桿百分表檢定；對(duì)于測(cè)量范圍大于300mm的千分尺用百分表檢定。檢定時(shí)借助千斤頂放置在平板上(圖9),調(diào)整千斤頂使千分尺的測(cè)微螺桿與平板工作面平行，然后用百分表測(cè)出測(cè)砧與測(cè)微螺桿在這一方位上的偏移量х，然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90°，按上述方法測(cè)出測(cè)砧與測(cè)微螺桿在另一方位上的偏移量у。測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量△按下式求得：△=

五、計(jì)量器具控制測(cè)量范圍為（0～25）m34五、計(jì)量器具控制3.5測(cè)力用分度值不大于0.2N的專用測(cè)力計(jì)檢定。檢定時(shí)，使測(cè)量面與測(cè)力計(jì)的球工作面接觸后進(jìn)行。3.6刻線寬度及寬度差在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至任意抽檢3條刻線。此項(xiàng)檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。五、計(jì)量器具控制3.5測(cè)力35五、計(jì)量器具控制3.7指針與刻線的相對(duì)位置指針末端與刻度盤短刻線的相對(duì)位置可用目力估計(jì)。指針末端上表面至刻度盤表面的距離應(yīng)用塞尺進(jìn)行檢定。上述檢定應(yīng)在刻度盤上均勻分布的3各位置上進(jìn)行。指針末端與刻度盤的刻線的寬度差在工具顯微鏡上檢定。此項(xiàng)檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。五、計(jì)量器具控制3.7指針與刻線的相對(duì)36五、計(jì)量器具控制3.8微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離在工具顯微鏡上檢定。也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定，檢定時(shí)在微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)一周內(nèi)不少于3各位置上進(jìn)行。3.9微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切時(shí)，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱向刻線的偏移量。五、計(jì)量器具控制3.8微分筒37五、計(jì)量器具控制3.10測(cè)量面的平面度對(duì)于新制的和修理后的千分尺，用二級(jí)平晶以光波干涉法檢定，將平面平晶的測(cè)量面與千分尺測(cè)量面研合，調(diào)整平晶使測(cè)量面上的干涉環(huán)或干涉帶的數(shù)目盡可能少。外徑千分尺測(cè)量面不應(yīng)出現(xiàn)2條以上，壁厚千分尺，板厚千分尺不應(yīng)出現(xiàn)5條以上，數(shù)顯千分尺不應(yīng)出現(xiàn)1條以上相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶。對(duì)于后續(xù)檢定的可用刀口尺用光隙法檢定在距測(cè)量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計(jì)。五、計(jì)量器具控制3.10測(cè)量38五、計(jì)量器具控制3.11數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性在相同測(cè)量條件下重復(fù)測(cè)量5次分別讀數(shù)。示值重復(fù)性以最大與最小讀數(shù)的差值確定。3.12數(shù)顯外徑千分尺任意位置時(shí)數(shù)值漂移在測(cè)量范圍內(nèi)的任意位置鎖緊測(cè)微螺桿，觀察1h內(nèi)顯示值的變化不超過(guò)規(guī)定值。五、計(jì)量器具控制3.11數(shù)顯外徑千39五、計(jì)量器具控制3.13量測(cè)量面的平行度測(cè)量上限至100mm千分尺兩測(cè)量面的平行度用4塊厚度差為1/4測(cè)微螺桿螺距的平行平晶檢定，也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。測(cè)量上限大于100mm的千分尺兩測(cè)量面的平行度用鋼球檢具檢定。兩測(cè)量面的平行度也可用其他相應(yīng)準(zhǔn)確度的儀器檢定。五、計(jì)量器具控制3.13量測(cè)40五、計(jì)量器具控制使用平行平晶檢定時(shí)，依次將4塊厚度差為1/4螺距的平行平晶放入兩測(cè)量面間，使量測(cè)量面與平行平晶接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)棘輪機(jī)構(gòu)，并輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)平晶，使兩測(cè)量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目減至最少。分別讀取量測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)，取兩測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長(zhǎng)值的計(jì)算結(jié)果作為兩測(cè)量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上速程序分別進(jìn)行檢定，取其中最大值作為受檢千分尺的兩測(cè)量面平行度測(cè)量結(jié)果。五、計(jì)量器具控制使用平行平晶檢定時(shí)，依41五、計(jì)量器具控制使用量塊檢定時(shí)，采用其尺寸差為1/4螺距的4塊量塊進(jìn)行。每個(gè)量塊以其同一部位放入測(cè)量面間的4個(gè)位置上分別在微分筒上讀數(shù)，并求出其差值。以四組差值中最大值作為被檢千分尺兩測(cè)量面的平行度。

五、計(jì)量器具控制使用量塊檢定時(shí)，采用42五、計(jì)量器具控制3.14示值誤差外徑、壁厚、板厚千分尺示值誤差用5等專用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等專用量塊檢定。各種千分尺的受檢點(diǎn)應(yīng)均勻分布于測(cè)量范圍的5點(diǎn)上，如表8中所示。得出千分尺示值與相應(yīng)量塊尺寸的差值，各點(diǎn)上的示值誤差均不超過(guò)表2或表3最大允許誤差的要求。五、計(jì)量器具控制3.14示值誤43五、計(jì)量器具控制測(cè)量上限大于100mm的千分尺，將專用量塊依次研合在相當(dāng)于千分尺測(cè)量范圍下限的5等量塊上依稀進(jìn)行檢定。各點(diǎn)上的示值誤差均不應(yīng)超過(guò)表2或表3中的規(guī)定。對(duì)于測(cè)量范圍大于25mm的千分尺應(yīng)以相應(yīng)的千分尺測(cè)量下限的量塊對(duì)零。五、計(jì)量器具控制測(cè)量上限大于100mm的千分尺44五、計(jì)量器具控制表8各種千分尺受檢點(diǎn)測(cè)量范圍/mm受檢點(diǎn)尺寸/mm0～102.124.256.378.50100～153.126.249.3712.50150～255.1210.2515.3720.525或5.1210.2415.3621.525大于25A+5.12A+10.25A+15.37A+20.5A+25或A+5.12A+10.24A+15.36A+21.5A+25注:表中A為千分尺的測(cè)量下限。五、計(jì)量器具控制表8各種千分尺受檢點(diǎn)測(cè)量45五、計(jì)量器具控制對(duì)于測(cè)量上限大于150mm的千分尺在平面度、平行度、測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移等計(jì)量性能均滿足要求情況下，可以只檢定測(cè)微頭的示值誤差。用專用量塊借助專用檢具按（0～25）mm的千分尺受檢點(diǎn)檢定。3.15數(shù)顯千分尺細(xì)分誤差在測(cè)量范圍任意位置上，沿測(cè)量方向轉(zhuǎn)動(dòng)微分筒，每間隔0.04mm檢定一次，共檢定12點(diǎn)，分別讀出各受檢點(diǎn)數(shù)顯裝置的顯示值與微分筒讀數(shù)值之差。其最大差值應(yīng)符合要求。對(duì)于沒(méi)有微分筒的數(shù)顯千分尺，可用量塊檢定。

五、計(jì)量器具控制對(duì)于測(cè)量上限大于15046五、計(jì)量器具控制3.16校對(duì)用量桿外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸及變動(dòng)量在光學(xué)計(jì)或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上采用4等量塊以比較法進(jìn)行檢定。數(shù)顯千分尺校對(duì)用量桿的尺寸及變動(dòng)量在立式接觸干涉儀或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上采用3等量塊以比較法進(jìn)行檢定。也可用同等準(zhǔn)確度的其他儀器檢定。對(duì)于平測(cè)量面的校對(duì)用量桿應(yīng)采用球面測(cè)帽在5點(diǎn)上進(jìn)行檢定，各點(diǎn)尺寸偏差均不應(yīng)超過(guò)表4或表5中尺寸偏差規(guī)定。五、計(jì)量器具控制3.16校對(duì)用量桿47五、計(jì)量器具控制最大尺寸與最小尺寸之差不應(yīng)超過(guò)表4或表5中變動(dòng)量的規(guī)定。對(duì)于球測(cè)量面的校對(duì)量桿，應(yīng)用直徑為8mm的平面測(cè)帽進(jìn)行檢定。4檢定結(jié)果的處理經(jīng)檢定符合本規(guī)程要求的出具檢定證書，校對(duì)用量桿應(yīng)給出實(shí)測(cè)值的最大值。不符合本規(guī)程要求的出具檢定結(jié)果通知書，并注明不合格項(xiàng)目。五、計(jì)量器具控制最大尺寸與最小尺寸之差不48五、計(jì)量器具控制5檢定周期千分尺的檢定周期不超過(guò)1年。五、計(jì)量器具控制5檢定周期49

謝謝欣賞！THEEND謝謝欣賞！50千分尺千分尺檢定規(guī)程（JJG21-2019）千分尺的檢定或校準(zhǔn)千分尺51一、范圍本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測(cè)量上限至500mm的外徑千分尺;測(cè)量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力為0.001mm，0.0001mm，測(cè)量上限至500mm的數(shù)顯外徑千分尺的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。一、范圍本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測(cè)52二、概述千分尺是由尺架、測(cè)砧、測(cè)微螺桿、測(cè)力裝置、鎖緊裝置和讀數(shù)裝置等組成。如圖所示：二、概述千分尺是由尺架、測(cè)砧、測(cè)微螺桿、測(cè)力裝置、鎖緊裝置和53二、概述二、概述54二、概述二、概述55二、概述二、概述56二、概述二、概述57二、概述二、概述58三、計(jì)量性能要求1、測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)均不大于0.01mm。2、測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量應(yīng)不超過(guò)表1規(guī)定。三、計(jì)量性能要求1、測(cè)微螺桿的軸向串動(dòng)和徑向擺動(dòng)59表1測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量mm三、計(jì)量性能要求表1測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量mm三、計(jì)60三、計(jì)量性能要求3、測(cè)力千分尺的測(cè)力（系指測(cè)量面與球面接觸時(shí)所作用的力）應(yīng)為（5～10）N。4、刻線寬度及寬度差微分筒刻線寬度為（0.08～0.20）mm，固定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差均應(yīng)不大于0.03mm。帶刻度盤的刻線寬度為（0.20～0.30）mm，其寬度差應(yīng)不大于0.05mm三、計(jì)量性能要求3、測(cè)力61三、計(jì)量性能要求5、指針與刻度盤的相對(duì)位置板厚千分尺刻度盤上的指針末端應(yīng)蓋住刻線盤短刻線長(zhǎng)度的30%～80%，指針末端上表面至刻線度盤表面的距離應(yīng)不大于0.7mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應(yīng)一致，差值應(yīng)不大于0.05mm。6、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的距離應(yīng)不大于0.4mm。

三、計(jì)量性能要求5、指針與刻度盤的62三、計(jì)量性能要求7、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對(duì)準(zhǔn)時(shí)，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應(yīng)相切，若不相切，壓線不大于0.05mm，離線不大于0.1mm。三、計(jì)量性能要求7、微分筒錐面的端面63三、計(jì)量性能要求8、測(cè)量面的平面度外徑千分尺測(cè)量面的平面度度應(yīng)補(bǔ)大于0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺測(cè)量面的平面度應(yīng)不大于1.5μm。數(shù)顯外徑千分尺測(cè)量面平面度應(yīng)不大于0.3μm。9、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性不大于1μm。三、計(jì)量性能要求8、測(cè)量面的平面度64三、計(jì)量性能要求10、數(shù)顯外徑千分尺任意位置時(shí)數(shù)值漂移應(yīng)不大于1μm/h。11、兩測(cè)量面的平面度外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開(kāi)時(shí)，千分尺兩工作面的平行度均應(yīng)不超過(guò)表2規(guī)定。三、計(jì)量性能要求10、數(shù)顯外徑千分尺任65三、計(jì)量性能要求表2外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩側(cè)量面的平面度測(cè)量范圍/mm最大允許誤差/μm兩測(cè)量面的平行度/μm0～25，25～50±4250～75，75～100±53100～125，125～150±64150～175，175～200±75200～225，225～250±86250～275，275～300±97300～325，325～350±109350～375，375～400±11400～425，425～450±1211450～475，475～500±13三、計(jì)量性能要求表2外徑千分尺示值的最大66三、計(jì)量性能要求板厚千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)不超過(guò)4μm數(shù)顯外徑千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)不超過(guò)表3規(guī)定。三、計(jì)量性能要求板厚千分尺兩測(cè)面的平行度應(yīng)67三、計(jì)量性能要求表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩測(cè)量面的平面度5±6300～325，325～350350～375，375～4006±7400～425，425～450450～475，475～5004±5250～275，275～3003.5±4200～225，225～2503±4150～175，175～2002.5±3100～125，125～1502.0±350～75，75～1001.5±20～25，25～50兩測(cè)量面的平行度/μm最大允許誤差/μm測(cè)量范圍/mm三、計(jì)量性能要求表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允68三、計(jì)量性能要求12示值誤差外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)表2規(guī)定。壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)±8μm。數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差應(yīng)不超過(guò)表3規(guī)定對(duì)于測(cè)量上限大于150mm的千分尺可只檢測(cè)微頭示值誤差，測(cè)微頭各點(diǎn)相對(duì)零點(diǎn)的示值最大允許誤差不超過(guò)±3μm。三、計(jì)量性能要求12示值誤差69三、計(jì)量性能要求13數(shù)顯外徑千分尺細(xì)分誤差數(shù)顯外徑千分尺數(shù)顯裝置的細(xì)分誤差應(yīng)不超過(guò)±2μm。14校對(duì)用的量桿14.1外徑千分尺校對(duì)用的量桿外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量應(yīng)不超過(guò)表4規(guī)定。三、計(jì)量性能要求13數(shù)顯外徑千分尺細(xì)分誤70三、計(jì)量性能要求表4外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量校對(duì)量桿標(biāo)稱尺寸/mm尺寸偏差/μm變動(dòng)量/μm25，50±2175±31.5100±32125±42150±42.5175±52.5200±53.5225，250±63.5275，300±73.5325，350，375，400±94425，450，475±115三、計(jì)量性能要求表4外徑千分尺校對(duì)用量桿71三、計(jì)量性能要求14.2數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量應(yīng)不超過(guò)表5規(guī)定。三、計(jì)量性能要求14.2數(shù)顯外徑千分尺校72三、計(jì)量性能要求表5數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量標(biāo)稱尺寸/mm尺寸偏差/μm變動(dòng)量/μm25，50±1.25175±1.51100±21125，150，175±2.51.5200，225，250±3.51.5275，300±42325，350，375，400±4.52.5425，450，475±53三、計(jì)量性能要求表5數(shù)顯外徑千分尺校對(duì)用量桿的73四、通用技術(shù)要求1外觀1.1千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有碰傷、腐蝕，帶礠或其他缺陷，標(biāo)尺刻線應(yīng)清晰、均勻，數(shù)顯外徑千分尺數(shù)字顯示應(yīng)清晰、完整。1.2千分尺應(yīng)附有調(diào)整零位工具，測(cè)量上限大于或等于25mm的千分尺應(yīng)附有校對(duì)用的量桿。千分尺應(yīng)具有測(cè)力裝置、隔熱裝置和鎖緊裝置。校對(duì)量桿應(yīng)有隔熱裝置。四、通用技術(shù)要求1外觀74四、通用技術(shù)要求1.3千分尺上應(yīng)標(biāo)有分度值、測(cè)量范圍、制造廠名（或廠標(biāo)）及出廠編號(hào)。1.4后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)的千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有影響使用準(zhǔn)確度的外觀缺陷。四、通用技術(shù)要求1.3千分尺上應(yīng)標(biāo)75四、通用技術(shù)要求2各部分的相互作用2.1微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)和測(cè)微螺桿的移動(dòng)應(yīng)平穩(wěn)無(wú)卡滯現(xiàn)象。2.2可調(diào)或可換測(cè)砧的調(diào)整或裝卸應(yīng)順暢，作用要可靠，調(diào)零和緊鎖裝置的作用應(yīng)切實(shí)有效。2.3帶有表盤的千分尺，表針移動(dòng)應(yīng)靈活、無(wú)卡滯現(xiàn)象。2.4數(shù)顯外徑千分尺各工作按鈕應(yīng)靈活可靠。四、通用技術(shù)要求2各部分的相互作76五、計(jì)量器具控制計(jì)量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢定。1檢定條件1.1環(huán)境條件檢定千分尺的室內(nèi)溫度和被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間均應(yīng)符合表6規(guī)定。室內(nèi)濕度不大于70%RH五、計(jì)量器具控制計(jì)量器具控制包括首次檢77五、計(jì)量器具控制表6室內(nèi)溫度及被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的時(shí)間受檢千分尺名稱受檢千分尺測(cè)量范圍/mm室內(nèi)溫度對(duì)20℃的允許偏差/℃平衡溫度的時(shí)間/h千分尺校對(duì)用的量桿外徑、板厚、壁厚～100±5±32>100～500±4±23數(shù)顯～100±3±13>100～200±2±14>200～500±1±15五、計(jì)量器具控制表6室內(nèi)溫度及被檢千分尺在室內(nèi)平衡溫度的78五、計(jì)量器具控制1.2檢定設(shè)備主要檢定設(shè)備見(jiàn)表7。2檢定項(xiàng)目檢定項(xiàng)目見(jiàn)表7。五、計(jì)量器具控制1.2檢定設(shè)79千分尺校準(zhǔn)教程-課件80五、計(jì)量器具控制3檢定方法3.1外觀目力觀察。3.2各部分的相互作用手動(dòng)試驗(yàn)和目力觀察。3.3測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)一般情況下用手感檢驗(yàn)測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)。有異議時(shí)，可按下列方法檢定。五、計(jì)量器具控制3檢定方法81五、計(jì)量器具控制3.3.1測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)，用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，杠桿千分表與測(cè)微螺桿測(cè)量面接觸，沿測(cè)微螺桿軸向方向分表返加力3N～5N，如圖7所示。桿杠千分表示值變化，即為軸向竄動(dòng)量。3.3.2測(cè)微螺桿的徑向擺動(dòng)亦用杠桿千分表檢定。檢定時(shí)，將測(cè)微螺桿伸出尺架10mm后，使杠桿千分表接觸測(cè)微螺桿端部，再沿杠桿千分表測(cè)量方向加力2N～3N，然后在相反方向加同樣大小的力，此時(shí)杠桿千分表示值的變化即為徑向擺動(dòng)。徑向擺動(dòng)的檢定應(yīng)在測(cè)微螺桿相互垂直的兩個(gè)方向進(jìn)行。五、計(jì)量器具控制3.3.1測(cè)微螺82五、計(jì)量器具控制3.4測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移一般情況下目力觀察千分尺測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移，(0～25)mm的千分尺可使兩測(cè)量面直接接觸觀察其偏移量，測(cè)量上限大于25mm的千分尺可借助校對(duì)量桿進(jìn)行檢定。如有異議時(shí)，可按下列方法進(jìn)行檢定。五、計(jì)量器具控制3.4測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量83五、計(jì)量器具控制測(cè)量范圍為（0～25）mm的用塞尺比較；測(cè)量上限大于25mm的外徑千分尺用專用檢具測(cè)出偏移量。在平板上用杠桿百分表檢定；對(duì)于測(cè)量范圍大于300mm的千分尺用百分表檢定。檢定時(shí)借助千斤頂放置在平板上(圖9),調(diào)整千斤頂使千分尺的測(cè)微螺桿與平板工作面平行，然后用百分表測(cè)出測(cè)砧與測(cè)微螺桿在這一方位上的偏移量х，然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90°，按上述方法測(cè)出測(cè)砧與測(cè)微螺桿在另一方位上的偏移量у。測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量△按下式求得：△=

五、計(jì)量器具控制測(cè)量范圍為（0～25）m84五、計(jì)量器具控制3.5測(cè)力用分度值不大于0.2N的專用測(cè)力計(jì)檢定。檢定時(shí)，使測(cè)量面與測(cè)力計(jì)的球工作面接觸后進(jìn)行。3.6刻線寬度及寬度差在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至任意抽檢3條刻線。此項(xiàng)檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。五、計(jì)量器具控制3.5測(cè)力85五、計(jì)量器具控制3.7指針與刻線的相對(duì)位置指針末端與刻度盤短刻線的相對(duì)位置可用目力估計(jì)。指針末端上表面至刻度盤表面的距離應(yīng)用塞尺進(jìn)行檢定。上述檢定應(yīng)在刻度盤上均勻分布的3各位置上進(jìn)行。指針末端與刻度盤的刻線的寬度差在工具顯微鏡上檢定。此項(xiàng)檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。五、計(jì)量器具控制3.7指針與刻線的相對(duì)86五、計(jì)量器具控制3.8微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離在工具顯微鏡上檢定。也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定，檢定時(shí)在微分筒轉(zhuǎn)動(dòng)一周內(nèi)不少于3各位置上進(jìn)行。3.9微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)位置當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切時(shí)，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱向刻線的偏移量。五、計(jì)量器具控制3.8微分筒87五、計(jì)量器具控制3.10測(cè)量面的平面度對(duì)于新制的和修理后的千分尺，用二級(jí)平晶以光波干涉法檢定，將平面平晶的測(cè)量面與千分尺測(cè)量面研合，調(diào)整平晶使測(cè)量面上的干涉環(huán)或干涉帶的數(shù)目盡可能少。外徑千分尺測(cè)量面不應(yīng)出現(xiàn)2條以上，壁厚千分尺，板厚千分尺不應(yīng)出現(xiàn)5條以上，數(shù)顯千分尺不應(yīng)出現(xiàn)1條以上相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶。對(duì)于后續(xù)檢定的可用刀口尺用光隙法檢定在距測(cè)量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計(jì)。五、計(jì)量器具控制3.10測(cè)量88五、計(jì)量器具控制3.11數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性在相同測(cè)量條件下重復(fù)測(cè)量5次分別讀數(shù)。示值重復(fù)性以最大與最小讀數(shù)的差值確定。3.12數(shù)顯外徑千分尺任意位置時(shí)數(shù)值漂移在測(cè)量范圍內(nèi)的任意位置鎖緊測(cè)微螺桿，觀察1h內(nèi)顯示值的變化不超過(guò)規(guī)定值。五、計(jì)量器具控制3.11數(shù)顯外徑千89五、計(jì)量器具控制3.13量測(cè)量面的平行度測(cè)量上限至100mm千分尺兩測(cè)量面的平行度用4塊厚度差為1/4測(cè)微螺桿螺距的平行平晶檢定，也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。測(cè)量上限大于100mm的千分尺兩測(cè)量面的平行度用鋼球檢具檢定。兩測(cè)量面的平行度也可用其他相應(yīng)準(zhǔn)確度的儀器檢定。五、計(jì)量器具控制3.13量測(cè)90五、計(jì)量器具控制使用平行平晶檢定時(shí)，依次將4塊厚度差為1/4螺距的平行平晶放入兩測(cè)量面間，使量測(cè)量面與平行平晶接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)棘輪機(jī)構(gòu)，并輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)平晶，使兩測(cè)量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目減至最少。分別讀取量測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)，取兩測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長(zhǎng)值的計(jì)算結(jié)果作為兩測(cè)量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上速程序分別進(jìn)行檢定，取其中最大值作為受檢千分尺的兩測(cè)量面平行