標準解讀

《GB/T 6351-1998 半導體器件 分立器件 第2部分:整流二極管 第一篇 100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范》相對于《GB 6351-1986》,在內容上進行了多方面的更新與調整,以適應技術進步和國際標準的變化。具體來說:

  • 在標準編號上,《GB 6351-1986》升級為推薦性國家標準《GB/T 6351-1998》,這表明了該標準性質從強制性轉變?yōu)橥扑]性。
  • 新版本增加了對整流二極管特別是雪崩整流二極管的技術要求描述,使得對于這類特殊用途的二極管有了更加明確的規(guī)定。
  • 對于測試條件及方法,《GB/T 6351-1998》提供了更為詳細的說明,并引入了一些新的測試項目,旨在提高產品的可靠性和一致性。
  • 標準中關于術語定義的部分也得到了擴充和完善,確保了專業(yè)術語使用的準確性與統一性。
  • 針對產品分類、標志、包裝等方面的要求,《GB/T 6351-1998》給出了更具體的指導原則,有助于提升行業(yè)內相關產品的標準化水平。


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  • 現行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1998-11-17 頒布
  • 1999-06-01 實施
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GB/T 6351-1998半導體器件分立器件第2部分:整流二極管第一篇100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范_第1頁
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GB/T 6351-1998半導體器件分立器件第2部分:整流二極管第一篇100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范_第3頁
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文檔簡介

ICS31.080.10L43中華人民共和國國家標準GB/T6351—1998idtIEC747-2-1:1989QC750108半導體器件分立器件第2部分:整流二極管第一篇100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范Semiconductordevices--DiscretedevicesPart2:RectifierdiodesSectionne--Blankdetailspecificationforrectifierdiodes(includingavalancherecti-fierdiodes).ambientandcase-rated,upto100A1998-11-17發(fā)布1999-06-01實施國家質量技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T6351-1998前本規(guī)范等同采用IEC747-2-1:1989《半導體器件、分立器件100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范》。本規(guī)范是GB/T6351一1987的修訂版。本規(guī)范與GB/T6351一1986的主要差別是:在第5章中增加了5.5總耗散功率。原來的5.5熱阻改為5.6,刪去了C2d分組熱阻。除非另有規(guī)定,在本規(guī)范第8章中引用的條號對應于GB/T4589.1一1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》IEC747-10:1984)的條號,測試方法引自GB/T4023一1997《半導體器件分立器件第2部分:整流二極管》IEC747-2:83);試驗方法引自GB/T4937-1995《半導體器件機械和氣候試驗方法》IEC749:1984)。本規(guī)范由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本規(guī)范由全國半導體器件標準化技術委員會歸口本規(guī)范由電子工業(yè)部標準化研究所負責起草。本規(guī)范主要起草人:于志賢、劉東才、王保禎。

GB/T6351—1998IEC前言1)IEC(國際電工委員會)在技術問題上的正式決議或協議,是由對這些問題特別關切的國家委員會參加的技術委員會制定的,對所涉及的問題盡可能地代表了國際上的一致意見。2)這些決議或協議,以推薦標準的形式供國際上使用,并在此意義上為各國家委員會所認可,3)為了促進國際間的統一,IEC希望各國家委員會在本國條件許可的情況下,采用IEC標準的文本作為其國家標準,IEC標準與相應國家標準之間的差異,應盡可能在國家標準中指明。本標準由IEC第47技術委員會(半導體器件)制定。本標準是100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范本標準文本以下列文件為依據:六個月法表決報告47(C095947(C01009表決批準本標準的所有資料均可在上表所列的表決報告中查閱。本標準封面上出現的QC號是IEC電子元器件質量評定體系(IECQ)的規(guī)范號本標準中引用的其他IEC標準:IEC68-2-17:1978基木環(huán)境試驗程序第2部分:試驗,試驗Q:密封IEC191-2:1966半導體器件的機械標準化第2部分:尺寸(在修訂中)IEC747-2:1983半導體器件分立器件第2部分:整流二極管IEC747-10:1984半導體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范IEC747-11:1985半導體器件第11部分:分立器件分規(guī)范IEC749:1984半導體器件機械和氣候試驗方法

中華人民共和國國家標準半導體器件分立器件第2部分:整流二極管第一篇高100A以下環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)空白詳細規(guī)范.1998QC750108Semiconductordevices-Discretedevices代薦GB/T6351—1986Part2:RectifierdiodesSectionOne-Blankdetailspecificationforrectifierdiodes(includingavalancherecti-fierdiodes).ambientandcase-rated.upto100A引本空白詳細規(guī)范規(guī)定了制定環(huán)境或管殼額定整流二極管(包括雪崩整流二極管)詳細規(guī)范的基本原則,制定該范圍內的所有詳細規(guī)范應盡可能與本空白詳細規(guī)范相一致。本標準是與GB/T4589.1—1989《半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》IEC747-10:1984)和GB/T12560-1990《半導體器件分立器件分規(guī)范》IEC747-11:1985)有關的一系列空白詳細規(guī)范中的·個要求資料下列所要求的各項內容,應列入規(guī)定的相應空欄中詳細規(guī)范的識別:「11授權起草詳細規(guī)范的國家標準機構的名稱[21IECQ詳細規(guī)范號?!?總規(guī)范號和分規(guī)范號以及年代號【4詳細規(guī)范號、發(fā)布日期和國家體系要求的更多的資料。器件的識別:L57器件型號,【6典型結構和應用資料。如果設計一種器件滿足若干應用,則應在詳細規(guī)范中指出。這些應用的特性、極限值和檢驗要求均應予以滿足。如果器件對靜電敏感或含有害物質,例如氧化皺·則應在詳細規(guī)范中附加注意事項。【7外形圖和(或)引用有關的外形標準。L81質量評定類別?!?能在各器件型號之間比較的最重要

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