標準解讀
《GB/T 8754-2006 鋁及鋁合金陽極氧化 陽極氧化膜絕緣性的測定 擊穿電位法》相較于《GB/T 8754-1988 鋁及鋁合金陽極氧化 應(yīng)用擊穿電位測定法檢驗絕緣性》,在內(nèi)容上進行了多方面的更新與調(diào)整。這些變更主要包括:
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標準名稱有所變化,從“應(yīng)用擊穿電位測定法檢驗絕緣性”改為“陽極氧化膜絕緣性的測定 擊穿電位法”,更加明確地指出了該標準適用的具體測試方法及其目的。
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在術(shù)語定義部分,《GB/T 8754-2006》對一些關(guān)鍵術(shù)語進行了重新定義或補充說明,使得相關(guān)概念更為清晰準確。
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測試條件方面,《GB/T 8754-2006》細化了試驗環(huán)境的要求,比如溫度、濕度等參數(shù)的具體范圍,并且對于試樣的準備也提出了更為詳細的規(guī)定,確保了不同實驗室之間結(jié)果的一致性和可比性。
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關(guān)于測試步驟,《GB/T 8754-2006》增加了對儀器設(shè)備校準的要求以及操作過程中的注意事項,以提高測試精度和可靠性。
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結(jié)果表示與處理上,《GB/T 8754-2006》明確了數(shù)據(jù)記錄方式、計算公式等內(nèi)容,并給出了具體示例,幫助使用者更好地理解和執(zhí)行標準。
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此外,《GB/T 8754-2006》還增加了一些附錄材料,包括但不限于參考文獻列表、與其他國際標準的比較分析等,為用戶提供更廣泛的信息支持。
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文檔簡介
ICS25.220.20H20中華人民共和國國家標準GB/T8754一2006代替GB/T8754-1988鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜絕緣性的測定擊穿電位法AnodizingofaluminiumanditsalloysInsulationcheckbymeasurementofbreakdownpotential(ISO2376:1972,Anodization(anodieoxidation)ofaluminiumanditsaloysnsulationcheckbymeasurementofbreakdownpotential,MOD)2006-09-26發(fā)布2007-02-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會
GB/T8754-2006前本標準修改采用ISO2376:1972《鋁及鋁合金陽極氧化用擊穿電位測量檢驗絕緣性》英文版)為了方便比較,在附錄A中列出了本標準章條和對應(yīng)的國際標準章條的對照一覽表。本標準根據(jù)EN12373-17:2001《鋁及鋁合金陽極氧化擊穿電位測量》.在采用國際標準時進行了修改。這些技術(shù)差異用垂直單線標識在它們所涉及的條款的頁邊空白處。這些技術(shù)差異如下:第第1章范圍中增加了三個注釋,說明適用范圍和影響因素:將原國際標準中第3部分原理中第一段作為注釋增加到國家標準的第1章中:第4章試驗步驛分成4.1節(jié)~4.4節(jié);增加了第6章“試驗報告”。本標準代替GB/T8754—1988《鋁及鋁合金陽極氧化應(yīng)用擊穿電位測定法檢驗絕緣性》本標準與GB/T8754—1988相比,主要變化如下:第1章增加三個注釋;第4章分成4.1節(jié)~4.4節(jié);新增第6章“試驗報告”。本標準的附錄A為資料性附錄本標準由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出本標準由全國有色金屬標準化技術(shù)委員會歸口并負責解釋。本標準負責起草單位:北京有色金屬研究總院。本標準參加起草單位:中國有色金屬工業(yè)標準計量質(zhì)量研究所本標準主要起草人:朱祖芳、李永豐、紀紅、何耀祖、葛立新、馬存真、席歡本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T8754-1988。
GB/T8754-2006鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜絕緣性的測定擊穿電位法1范圍本標準規(guī)定了用擊穿電位法測定鋁及鋁合金陽極氧化膜的絕緣性。本標準適用于以絕緣性能為目的和以擊穿電位原理制定工藝規(guī)范的陽極氧化膜。注1:本標準一般僅適用于封孔和干燥后的陽極氧化膜,不適用于涂漆或其他覆蓋層。注2:本方法對未封孔的陽極氧化膜不能給出滿意結(jié)果注3:擊穿電位受相對濕度的影響方法原理2.1在電流第一時間通過氧化膜的瞬間測量陽極氧化膜被電擊穿時的電壓,從而確定擊穿電位。擊穿電位的測量原理基于陽極氧化膜的介電性能和絕緣性能,2.2擊穿電位的大小取決于氧化膜的厚度及許多其他因素,尤其是表面狀態(tài)、基體金屬成分、封孔質(zhì)量、工件的干燥及陳化程度等。3儀器3.1檢測裝置應(yīng)能夠提供連續(xù)可變交流電壓,電壓讀數(shù)靈敏度為10V,供電頻率為50Hz或60Hz.3.2以下兩種測試電極系統(tǒng)可選:a)單電極系統(tǒng):直徑為3mm~8mm的金屬球電極與待測面相接觸;另一個電極與基體金屬固定相連。雙電極系統(tǒng):由兩個直徑在3mm~8mm之間、且直徑相同的金屬球作為兩個電極,電極相距在25mm之間。4試驗步驛4.1在金屬球上施加0.5N~1N的力.電壓上升速度為25V/s.按儀器使用說明書進行試驗4.2兩個電極放在平滑或經(jīng)過加工的試件上時.間距應(yīng)在10mm~50mm。兩個電極也可放在曲率半徑大于5mm的曲面上,但應(yīng)距銳角邊緣5mm以上。4.3對于窄試樣,檢驗應(yīng)在長軸上進行,但電極應(yīng)距邊角至少1mm.4.4試樣的各個部位測量10次,記錄陽極氧化膜被電擊穿時的電壓。5試驗結(jié)果5.1膜的擊穿電位值取試件上10個不同測試點所
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