ICS.35.160L62中華人民共和國國家標準GB/T9813一2000微型計算機通用規(guī)范Genericspecificationformicrocomputers2000-10-17發(fā)布2001-08-01實施國家質量技術監(jiān)督局發(fā)布

GB/T9813-2000前言范圍2引用標準3定義、符號和縮略語…·3.1定義……3.2縮略語4枝技術要求4.1主要設計要求4.2主要技術性能4.3外觀和結構要求4.44.5電源適應能力4.64.7電磁兼容性4.8環(huán)境條件4.9可靠性5試驗方法5.1試驗環(huán)境條件5.2外觀和結構檢查5.3功能和性能檢查5.45.5電源適應能力試驗5.6聲試驗·……5.7電磁兼容性試驗5.8環(huán)境試驗5.9可靠性試驗………6檢驗規(guī)則…………·6.1一般規(guī)定…6.2檢驗分類…………6.3定型檢驗………6.4交收檢驗…·6.5／標志、包裝、運輸和貼存……附錄A（標準的附錄）檢查程序編制原則附錄B（標準的附錄）故障的分類與判據(jù)附錄C(提示的附錄）LCD壞點可接受標準

GB/T9813-2000前本標準是GB/T9813—1988《微型數(shù)字電子計算機通用技術條件》的修訂版本標準與原標準的主要差別如下：a）名稱修改為《微型計算機通用規(guī)范》；b）適用范圍作了較大調整，涵盞了臺式微型機、便攜式微型機、PC-工作站和PC-服務器，但不包括手持式個人信息處理設備.并針對不同產品在某些要求中作了區(qū)分：（）引用標準作了較大調整，特別是引用了新版的安全、電磁兼容、噪聲以及有關中文字符編碼和漢字字型標準等；d）某些技術指標如可靠性、試驗方法和檢驗規(guī)則以及附錄作了調整本標準自生效起同時代替GB/T9813—1988。本標準的附錄A和附錄B是標準的附錄，附錄C是提示的附錄。本標準由中華人民共和國信息產業(yè)部提出。本標準由中國電子技術標準化研究所歸口。本標準主要起草單位：中國電子技術標準化研究所、中國長城計算機深圳股份有限公司、聯(lián)想(北京）有限公司、方正科技電腦有限公司。本標準主要起草人：王立建、馮惠、甘強、姚友良、張丙仁、劉鴻京，

中華人民共和國國家標準GB/T9813-2000微型計算機通用規(guī)范代替GB/T9813-1988Genericspecificationformicrocomputers范圍本標準規(guī)定了微型計算機(以下簡稱微型機)的技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標志、包裝、運輸、廣存等。本標準適用于微型機(包括臺式微型機、便攜式微型機、PC-工作站和PC-服務器)的設計和制造本標準是制定產品標準的依據(jù)。引用標準下列標準所包含的條文，通過在本標準中引用而構成為本標準的條文。本標準出版時.所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性GB191—1990包裝儲運圖示標志GB/T1988—1998信息技術信息交換用七位編碼字符集(eqvISO/IEC646:1991)GB2099.1—1996家用和類似用途插頭插座第一部分:通用要求（eqvIEC884-1:1994)GB2312—1980信息交換用漢字編碼字符集基本集GB/T2421—1999電工電子產品環(huán)境試驗第1部分：總則(eqvIEC68-1:1988)GB/T2422—1995電工電子產品環(huán)境試驗術語（eqvIEC68-5-2:1990）GB/T2423.1—1989電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法(eqvIEC68-2-1:1974）GB/T2423.2—1989電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法（eqvIEC68-2-2:1974)GB/T2423.3—1993電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程美試驗Ca:恒定濕熱試驗方法（eqvIEC68-2-3:1984)電工電子產品環(huán)境試驗GB/T2423.5-1995第二部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊(idtIEC68-2-27:1987)GB/T2423.6-1995，電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Eb和導則：碰撞(eqvIEC68-2-29:1987）GB/T2423.10—1995電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法：試驗Fc和導則：振動(正)(idtIEC68-2-6:1982)GB/T2828—1987逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB/T4857.2—1992包裝運輸包裝件溫濕度調節(jié)處理(eqvISO2233:1986)GB/T4857.5—1992包裝運輸包裝件跌落試