ICS2903501

K15..

中華人民共和國國家標準化指導性技術文件

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

聚合物長期輻射老化

第2部分預測低劑量率下老化的程序

:

Long-termradiationageinginpolymers—

Part2Proceduresforredictinaeinatlowdoserates

:pggg

(IEC/TS61244-2:1996,IDT)

2012-11-05發(fā)布2013-02-01實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

目次

前言…………………………

Ⅲ

引言…………………………

Ⅳ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

指數(shù)外推法………………

31

簡介…………………

3.11

試驗程序……………

3.21

評估和外推…………………………

3.32

局限性………………

3.42

示例…………………

3.52

依賴于時間的疊加數(shù)據(jù)…………………

43

簡介…………………

4.13

試驗程序……………

4.23

評估…………………

4.33

局限性………………

4.44

示例…………………

4.54

DED數(shù)據(jù)疊加……………

55

簡介…………………

5.15

試驗程序……………

5.25

評估…………………

5.35

局限性………………

5.45

示例…………………

5.56

結論………………………

66

參考文獻……………………

20

Ⅰ

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

前言

聚合物長期輻射老化由部分組成

GB/Z28820《》3:

第部分監(jiān)測擴散限制氧化的技術

———1:;

第部分預測低劑量率下老化的程序

———2:;

第部分低壓電纜材料在役監(jiān)測程序

———3:。

本部分為的第部分

GB/Z288202。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用聚合物長期輻射老化第部分預測低劑量

IEC/TS61244-2:1996《2:

率下老化的程序

》。

本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出

。

本部分由全國電氣絕緣材料與絕緣系統(tǒng)評定標準化技術委員會歸口

(SAC/TC301)。

本部分起草單位機械工業(yè)北京電工技術經濟研究所上海電纜研究所深圳市旭生三益科技有限

:、、

公司中國電器工業(yè)協(xié)會標準化工作委員會上海核工業(yè)研究設計院上海特纜電工科技有限公司江蘇

、、、、

上上電纜集團有限公司上海電纜廠有限公司臨海市亞東特種電纜料廠上海凱波特種電纜料廠有限

、、、

公司無錫江南電纜有限公司常州八益電纜股份有限公司上海至正道化高分子材料有限公司上海創(chuàng)

、、、、

新高溫線纜廠浙江萬馬電纜股份有限公司深圳市沃爾核材股份有限公司北京北重汽輪機電機有限

、、、

責任公司北京新福潤達絕緣材料有限責任公司

、。

本部分主要起草人劉亞麗劉淑芬孫建生盧偉居學成郭麗平顧申杰孫萍王松明王怡瑤

:、、、、、、、、、、

周才輝段春來趙文明周敘元侯海良沈彧唐松柏康樹峰劉鳳娟劉琦煥

、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

引言

聚合物在輻射條件下的行為特性受輻照環(huán)境的影響很大尤其是有氧氣存在的情況下當聚合物

,。

在含氧環(huán)境中受到輻照時通常觀察發(fā)現(xiàn)達到一定降解程度所需要的輻照劑量隨劑量率變化盡管多

,。

年以前人們就已經知道聚合材料輻射老化中這種劑量率影響但對于影響過程直到近年來才有足夠了

,

解并制定預測方法聚合物中劑量率影響的類型如圖所示[1]其中DED等效破壞劑量定義為達

,。1,()

到特定破壞參數(shù)如斷裂伸長率拉伸強度壓縮形變等所需要的劑量

(、、)。

圖給出了大多數(shù)但不是全部聚合物比較常見的行為特性在惰性氣體環(huán)境中用曲線表示

1()。,1,

在超過大劑量率范圍內聚合物的降解與劑量率無關當劑量率低至熱老化影響占主導時曲線將接

。,1

近惰性條件下熱老化的曲線在如圖的雙對數(shù)曲線圖中熱老化將用一條斜率等于的直線來表示

。1,1。

當有氧存在時在擴散限制氧化和依賴于時間的化學反應等多個過程中會體現(xiàn)出劑量率的影響

,。

在高劑量率條件下擴散限制氧化變得比較重要如圖所示在該區(qū)域內DED將隨劑量率的增大而

,(1);

增大應當注意到圖只是一個原理圖僅能用于說明可能發(fā)生的行為特性的類型尤其是擴散限制區(qū)

。1,,

域要取決于聚合物的類型和厚度氧的滲透率以及材料對表面性能的敏感性等多種因素所觀察到的

,、。

降解受氧化層厚度的影響很大當劑量率足夠高時氧化將發(fā)生在很淺的表層而不會影響到大多數(shù)聚

。,,

合物的總體性能在這種情況下觀察到的降解和在惰性環(huán)境中觀察到的降解相似且DED會接近惰性

。

老化線發(fā)生非均相氧化之前允許的最大劑量率可根據(jù)理論方法或使用剖面技術進行確定這些程序

。。

在本部分中有詳細論述在均相氧化區(qū)域大多數(shù)聚合物的劑量率影響都不大當劑量率減小時

。,。,

DED劑量率雙對數(shù)曲線的斜率通常為常數(shù)或近似為常數(shù)如圖中曲線所示直到劑量率低至熱

-(1Ⅱ),

老化占主導時為止對類行為特性DED劑量率圖的斜率由主導化學反應的反應速率確定如果

。Ⅱ,-。

反應速率相對于初始反應速率比較高時則斜率較小并且可能接近而當反應速率較低時斜率較大

,0;,

但仍小于

1。

對于含氧環(huán)境中受到輻照的幾種聚合物在均相氧化區(qū)域中觀察到更加復雜的劑量率影響例如

,(

圖中曲線具有類行為特性的一個很好的例子是一般認為這是由于輻照生成中間過氧

1Ⅲ)。ⅢPVC,

化氫物的裂化所致[2-4]詳見

,5.5。

Ⅳ

GB/Z288202—2012/IEC/TS61244-21996

.:

聚合物長期輻射老化

第2部分預測低劑量率下老化的程序

:

1范圍

的本部分內容適用于預測低劑量率下老化的程序

GB/Z28820。

本部分給出了種根據(jù)高劑量率試驗數(shù)據(jù)外推得到一般使用條件下低劑量率數(shù)據(jù)的方法這些方

3。

法均假設在試驗條件下已實現(xiàn)均相氧化本部分適用于各種彈性體熱塑性材料和部分熱固性材料

。、。

各種方法本身也在不斷改進與完善之中為了能夠對低劑量率條件進行預測需要相當多的試驗數(shù)據(jù)

。,。

指數(shù)外推法主要用于等溫數(shù)據(jù)而疊加法可利用各種不同溫度條件下得到的數(shù)據(jù)

,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第部分輻射相互作用和劑量測

GB/T26168.1—20101:

定

(IEC60544-1:1994,IDT)

電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第部分輻照和試驗程序

GB/T26168.2—20102:

(IEC60544-2:1991,IDT)

電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第部分輻射環(huán)境下應用的分級

GB/T26168.3—20103:

體系

(IEC60544-4:2003,IDT)

聚合物長期輻射老化第部分監(jiān)測擴散限制氧化的技術

GB/Z28820.1—20121:(IEC/

TS61244-1:1993,IDT)

3指數(shù)外推法

31簡介

.

指數(shù)外推法是基于在空氣或過氧的環(huán)境中和等溫條件下對不同輻射劑量時得到的實驗數(shù)據(jù)進行