標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJF 1100-2003 平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范》與《JJG 336-1983》相比，在內(nèi)容和要求上進(jìn)行了多方面的更新和完善。首先，《JJF 1100-2003》更加注重對(duì)平面等厚干涉儀的技術(shù)性能指標(biāo)進(jìn)行詳細(xì)規(guī)定，包括但不限于儀器的分辨率、測(cè)量范圍以及環(huán)境條件下的穩(wěn)定性等方面的要求，這在《JJG 336-1983》中可能并未得到充分強(qiáng)調(diào)或明確。

其次，在校準(zhǔn)方法上，《JJF 1100-2003》提出了更為科學(xué)合理的方案，不僅明確了使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)作為參考來進(jìn)行校準(zhǔn)的具體步驟，還增加了對(duì)于不同型號(hào)或者規(guī)格的平面等厚干涉儀采用適當(dāng)校準(zhǔn)方法的指導(dǎo)性意見，使得整個(gè)校準(zhǔn)過程更加規(guī)范化、標(biāo)準(zhǔn)化。

此外，《JJF 1100-2003》加強(qiáng)了對(duì)不確定度評(píng)估的要求，要求在校準(zhǔn)報(bào)告中必須包含不確定度分析的結(jié)果，并且給出了如何正確計(jì)算不確定度的方法指南，這一點(diǎn)在《JJG 336-1983》中并沒有具體提及。


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  • 2003-05-12 頒布
  • 2003-11-12 實(shí)施
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JJF 1100-2003平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1100—2003

平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationforFlatEqual

ThicknessInterferometers

2003-05-12發(fā)布2003-11-12實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1100—2003

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平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范??????????????

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FlatEqualThicknessInterferometers

本規(guī)范經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局于年月日批準(zhǔn)并自

20030512,

年月日起施行

20031112。

歸口單位:全國(guó)幾何量工程參量計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

負(fù)責(zé)起草單位:中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院

本規(guī)范由歸口單位負(fù)責(zé)解釋

JJF1100—2003

本規(guī)范主要起草人:

冉慶中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院

()

陳永康中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院

()

參加起草人:

李建民中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院

()

曹箭中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院

()

JJF1100—2003

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻(xiàn)………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計(jì)量特性………………

4(1)

干涉條紋間距測(cè)量的重復(fù)性………

4.1(1)

測(cè)微目鏡的示值誤差………………

4.2(1)

物鏡系統(tǒng)引起的條紋彎曲量………

4.3(1)

儀器的示值誤差……………………

4.4(2)

校準(zhǔn)條件………………

5(3)

環(huán)境條件……………

5.1(3)

校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器及相應(yīng)設(shè)備…………

5.2(4)

校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法…………………

6(4)

干涉條紋間距測(cè)量的重復(fù)性………

6.1(4)

測(cè)微目鏡的示值誤差………………

6.2(4)

物鏡系統(tǒng)引起的條紋彎曲量………

6.3(4)

儀器的示值誤差……………………

6.4(5)

校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)…………

7(5)

復(fù)校時(shí)間間隔…………

8(5)

附錄校準(zhǔn)證書內(nèi)容…………………

A(6)

附錄平面等厚干涉儀示值誤差的測(cè)量不確定度分析………………

B(7)

JJF1100—2003

平面等厚干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于平面等厚干涉儀的校準(zhǔn)不適用于只能估讀干涉條紋彎曲量的同類干

,

涉裝置的校準(zhǔn)

。

2引用文獻(xiàn)

通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義

JJF1001—1998

測(cè)量不確定度評(píng)定與表示

JJF1059—1999

平晶檢定規(guī)程

JJG28—2000

平面平晶

JB/T7401—1994

使用本規(guī)范時(shí)應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本

,。

3概述

平面等厚干涉儀以下簡(jiǎn)稱儀器是采用等厚光波干涉原理用于測(cè)量物體表面平

(),

面度的光學(xué)計(jì)量?jī)x器根據(jù)儀器示值誤差可分為一級(jí)和二級(jí)按其結(jié)構(gòu)分為用鈉光做光

,。

源不帶標(biāo)準(zhǔn)平面平晶和用激光做光源帶標(biāo)準(zhǔn)平面平晶的兩種平面等厚干涉儀其外

、、。

形結(jié)構(gòu)與光學(xué)原理分別見圖圖和圖圖

1、23、4。

圖不帶標(biāo)準(zhǔn)平晶的外形結(jié)構(gòu)圖

1

4計(jì)量特性

干涉條紋間距測(cè)量的重復(fù)性

4.1

重復(fù)性不超過

0.020mm。

測(cè)微目鏡的示值誤差

4.2

在任意內(nèi)不超過在全程不超過

1mm

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