材料研究方法（二）智慧樹知到期末考試答案2024年材料研究方法（二）改變勵(lì)磁電流可以改變電磁透鏡的（）

A:焦距，正焦距變動(dòng)B:焦距，負(fù)焦距變動(dòng)C:焦距，由正變負(fù)D:焦距，由負(fù)變正答案:焦距，正焦距變動(dòng)面心立方晶體的衍射圖像中，能夠觀察到的衍射斑（）

A:(110)B:(113)C:(211)D:(102)答案:(113)(hkl)為面心立方晶體一個(gè)晶面，當(dāng)()時(shí)衍射斑點(diǎn)不出現(xiàn)。

A:h、k、l奇偶同性B:h+k+l為奇數(shù)C:h+k+l為偶數(shù)D:h、k、l中有奇數(shù)也有偶數(shù)答案:h、k、l中有奇數(shù)也有偶數(shù)掃描電子顯微鏡的掃描線圈的作用是（）

A:使電子束發(fā)生衍射，并在樣品表面實(shí)現(xiàn)光柵掃描和角光柵掃描B:使電子束發(fā)生發(fā)散，并在樣品表面實(shí)現(xiàn)光柵掃描和角光柵掃描C:使電子束發(fā)生聚焦，并在樣品表面實(shí)現(xiàn)光柵掃描和角光柵掃描D:使電子束發(fā)生偏轉(zhuǎn)，并在樣品表面實(shí)現(xiàn)光柵掃描和角光柵掃描答案:使電子束發(fā)生偏轉(zhuǎn)，并在樣品表面實(shí)現(xiàn)光柵掃描和角光柵掃描掃描電鏡中的電磁透鏡（）

A:均是成像用的，能將電子束斑聚焦縮小B:均是成像用的，將電子束斑放大C:均不是成像用的，只是將電子束斑聚焦縮小D:部分是成像用的，能將電子束斑放大答案:均不是成像用的，只是將電子束斑聚焦縮小下面哪一種不是透射電鏡中的光闌（）

A:投影鏡光闌B:聚光鏡光闌C:選區(qū)光闌D:物鏡光闌答案:投影鏡光闌在透射電鏡中被稱為襯度光闌的是()

A:選取光闌B:聚光鏡光闌C:物鏡光闌D:投影鏡光闌答案:物鏡光闌掃描電子顯微鏡中電子束的直徑越細(xì)，其成像分辨率（）

A:波動(dòng)較大B:不變C:越高D:越低答案:越高掃描電子顯微鏡用于形貌分析的物理信號是（）

A:特征X射線B:反沖電子C:俄歇電子D:二次電子、背散射電子答案:二次電子、背散射電子電鏡的欠焦或過焦稱為離焦，可通過調(diào)整透射電子顯微鏡的（）來實(shí)現(xiàn)

A:勵(lì)磁電流B:電壓穩(wěn)定性C:加速電壓D:電流穩(wěn)定性答案:勵(lì)磁電流掃描電鏡中，背散射電子像與吸收電子像的襯度（）

A:互補(bǔ)B:沒有關(guān)系C:相同D:可能相同也可能不同答案:互補(bǔ)高分辨電子顯微像襯度為（）

A:衍射襯度B:質(zhì)厚襯度C:相位襯度D:應(yīng)力場襯度答案:相位襯度當(dāng)入射電子與核外電子碰撞時(shí)，入射電子被散射后其能量將顯著減小，是一種（）

A:非相干散射B:相干散射C:彈性散射D:非彈性散射答案:非彈性散射單晶體材料衍射花樣特點(diǎn)（）

A:衍射斑點(diǎn)B:漫散中心斑點(diǎn)C:半徑不同衍射圓環(huán)D:幾個(gè)同心暈圓答案:衍射斑點(diǎn)下面關(guān)于菊池帶的描述錯(cuò)誤的是（）

A:菊池帶為與衍射晶面平行的亮暗平行衍射線B:菊池帶的寬度與衍射晶面的面間距有關(guān)C:菊池帶之間的夾角即為所對應(yīng)晶面的夾角D:菊池帶中心線實(shí)際上即為反射晶面的投影答案:菊池帶之間的夾角即為所對應(yīng)晶面的夾角表面污染易造成假象和誤差，一般要求表面分析儀器（）

A:具有低真空度B:不需要真空C:具有高真空度D:在一定氣氛中答案:具有高真空度以下關(guān)于離子減薄說法不正確的是()

A:可用于非金屬材料的樣品制備B:成功率高C:效率高，節(jié)省時(shí)間D:可用于非均勻金屬的樣品制備答案:效率高，節(jié)省時(shí)間根據(jù)質(zhì)厚襯度原理，下面那種情況觀察的區(qū)域最亮（）

A:質(zhì)量小、厚區(qū)B:質(zhì)量大、厚區(qū)C:質(zhì)量大、薄區(qū)D:質(zhì)量小、薄區(qū)答案:質(zhì)量小、薄區(qū)體心立方的倒易點(diǎn)陣為（）點(diǎn)陣。

A:簡單立方B:體心斜方C:簡單六方D:面心立方答案:面心立方薄片狀晶體的倒易點(diǎn)形狀為（）

A:一定尺寸的桿B:一定半徑的球C:尺寸很小的點(diǎn)D:圓形薄片答案:一定尺寸的桿高分辨試樣的厚度與一般透射電鏡試樣相比（）

A:無特殊要求B:更厚C:更薄D:一樣厚答案:更薄一般情況下，高能電子衍射用的波長遠(yuǎn)比X射線衍射用的波長（）

A:不確定B:短C:一樣D:長答案:短掃描電子顯微鏡中電磁透鏡作用是（）

A:放大成像B:衍射成像C:投影放大D:會聚電子束答案:會聚電子束多晶體材料衍射花樣特點(diǎn)（）

A:衍射斑點(diǎn)B:漫散中心斑點(diǎn)C:半徑不同衍射圓環(huán)D:幾個(gè)同心暈圓答案:半徑不同衍射圓環(huán)電子背散射衍射主要用于分析材料的（）

A:化學(xué)成分B:晶體結(jié)構(gòu)C:取向差D:晶體取向答案:晶體結(jié)構(gòu)###晶體取向###取向差背散射電子可以進(jìn)行定性（）分析。

A:形貌B:成分C:織構(gòu)D:組織結(jié)構(gòu)答案:形貌;成分衍襯運(yùn)動(dòng)理論的三個(gè)基本假設(shè)（）

A:忽略多次散射B:忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng)C:忽略熱力學(xué)效應(yīng)D:忽略吸收效應(yīng)答案:忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng)###忽略多次散射###忽略吸收效應(yīng)以下哪些屬于透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)（）

A:聚光鏡B:中間鏡C:投影鏡D:物鏡答案:聚光鏡以下哪些是EBSD物相鑒定相比X射線衍射物相鑒定的優(yōu)勢？（）

A:獲得物相的空間分布狀態(tài)和相對含量B:可以檢測含量低的物相C:物相鑒定自動(dòng)化程度高D:僅可以獲得宏觀物相的定性或定量分析答案:可以獲得宏觀物相的定性或定量分析二次電子是在入射電子束作用下，被轟擊出來并離開樣品表面的樣品核外電子。（）

A:正確B:錯(cuò)誤答案:正確電子顯微分析中，電子的波長是由磁透鏡的強(qiáng)弱決定的。（）

A:對B:錯(cuò)答案:錯(cuò)保持像清晰，透鏡像平面允許的軸向偏差稱為焦長。（）

A:對B:錯(cuò)答案:對當(dāng)孔徑半角與色差系數(shù)一定時(shí)，電子束能量變化率越大，色差就越小。（）

A:錯(cuò)誤B:正確答案:錯(cuò)誤透鏡物平面允許的軸向偏差稱為焦長。（）

A:錯(cuò)B:對答案:錯(cuò)菊池線是樣品厚區(qū)產(chǎn)生非彈性散射的結(jié)果，它與晶體的取向無關(guān)。（）

A:錯(cuò)誤B:正確答案:錯(cuò)誤X射線光電子能譜可以對元素周期表上的所有元素進(jìn)行定性和定量分析。（）

A:錯(cuò)B:對答案:錯(cuò)根據(jù)電磁透鏡焦長的計(jì)算公式，當(dāng)放大倍率和分辨率一定時(shí)，孔徑半角α越小，電磁透鏡的焦長越大。（）

A:錯(cuò)B:對答案:對因?yàn)楦唠A勞厄花樣是由高階斑點(diǎn)和零層斑點(diǎn)組成的，所以高階勞厄花樣可以給出晶體更多的信息。（）

A:正確B:錯(cuò)誤答案:正確透射電子顯微鏡操作的過程中，將中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是衍射操作。（）

A:對B:錯(cuò)答案:錯(cuò)紅外光譜是（）

A:原子散射光譜