ICS25.040.99

CCSN18

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

代替GB/T15969.2--2007

`

可編程序控制器第2部分：設(shè)備要求和測

試

Programmablecontrollers—Part2:Equipmentrequirementsandtests

IEC61131–2:2017,IDT

（征求意見稿）

在提交反饋意見時，請將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。

XXXX-XX-XX發(fā)布XXXX-XX-XX實施

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定

起草。

本文件是GB/T15969《可編程序控制器》的第2部分。GB/T15969已發(fā)布了以下部分：

----第1部分：通用信息；

----第2部分：設(shè)備要求和測試；

----第3部分：編程語言；

----第4部分：用戶導(dǎo)則；

----第5部分：通信；

----第6部分：功能安全；

----第7部分：模糊控制編程；

----第8部分：編程語言的應(yīng)用和實現(xiàn)導(dǎo)則；

----第9部分：用于小型傳感器和執(zhí)行器的單點數(shù)字通信接口(SDCI)。

本文件代替GB/T15969.2-2007可編程序控制器第2部分：設(shè)備要求和測試。

本文件相對以前的版本作了如下方面的重大技術(shù)改進(jìn)：

——刪除了安全需求并將其指向GB4793.2-210；

——增加負(fù)數(shù)字邏輯輸入輸出；

——增加了3-d型數(shù)字輸入；

——增加了從2.7GHZ到6GHZ的射頻電磁幅度調(diào)制抗干擾度要求；

——增加了溫度試驗說明；

——增加了型式實驗說明；

——刪除了一些不再推薦的技術(shù)；

——增加了多方面功能和EMC的一般更新；

——更改了一些條款以更緊密地聯(lián)系需求和驗證；

本文件等同采用IEC61131-2：2017Industrial-processmeasurementandcontrol–

Programmablecontrollers–Part2:Equipmentrequirementsandtests。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。

本文件由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。

本文件由全國工業(yè)過程測量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會可編程序控制器及系統(tǒng)分技術(shù)委員會

（SAC/TC124/SC5）歸口。

本文件起草單位：北京機械工業(yè)自動化研究所有限公司

本文件主要起草人：。

本文件于1995年首次發(fā)布，2007年第一次修訂，2017年第二次修訂，本次為第三次修訂。

II

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

引言

可編程序控制器自1969年問世以來，已在工業(yè)自動化的各個領(lǐng)域中廣泛使用，并成為工業(yè)自動

化系統(tǒng)的重要支柱?？删幊绦蚩刂破骷夹g(shù)的發(fā)展十分迅速，首先已由單一機型發(fā)展為整套系列(微型、

小型、中型、大型、特大型)，且通信、聯(lián)網(wǎng)、運算、自適應(yīng)控制等功能大大增強；其次，應(yīng)用范

圍亦由邏輯控制擴(kuò)展到運動控制、過程控制、批量控制、配方控制等；第三，控制范圍亦由單機擴(kuò)

展到整個車間以至全廠范圍和無線電遠(yuǎn)程控制，從而覆蓋了一部分由DCS、NC、機器人控制系統(tǒng)的

應(yīng)用領(lǐng)域。總之，可編程序控制器已不斷朝縱向和橫向集成擴(kuò)展。

GB/T15969可編程序控制器系列標(biāo)準(zhǔn)也在隨著可編程序控制器技術(shù)的發(fā)展不斷的修改和擴(kuò)充，

對PLC的軟件、硬件、外圍設(shè)備及其相關(guān)指南進(jìn)行了系統(tǒng)的規(guī)范。

GB/T15969由十部分構(gòu)成：

——第1部分：通用信息。建立可編程序控制器及其相關(guān)外圍設(shè)備的相關(guān)定義，并確認(rèn)與可編程

序控制器及其外圍設(shè)備的選擇和應(yīng)用相關(guān)的主要特點。

——第2部分：設(shè)備要求和測試。規(guī)定了可編程序控制器（PLC）及其外圍設(shè)備的裝置要求和相

關(guān)試驗。

——第3部分：編程語言。為可編程序控制器最常用的編程語言定義主要的應(yīng)用場合、語法和語

義規(guī)則、簡單而完整的編程元素的基本集、可采用的試驗和手段，基于此制造商可擴(kuò)展或

采納這些基本集，用于廠商可編程序控制器的實現(xiàn);

——第4部分：用戶導(dǎo)則。為PLC最終用戶提供GB/T15969的通用綜合信息和應(yīng)用導(dǎo)則。

——第5部分：通信。定義了可編程序控制器與其他電子系統(tǒng)間的通信，;

——第6部分：功能安全。定義了對可編程序控制器及其相關(guān)外圍設(shè)備的功能安全要求，目的是

將PLC及其外圍設(shè)備作為電氣/電子/可編程電子（E/E/PE）安全相關(guān)系統(tǒng)的邏輯子系統(tǒng)，是

IEC61508安全標(biāo)準(zhǔn)要求的產(chǎn)品特定實現(xiàn);

——第7部分：模糊控制編程。定義了用于模糊控制的編程語言，規(guī)定了將模糊控制應(yīng)用集成到

GB/T15969.3編程語言中的基本方法，并提供了不同編程系統(tǒng)之間交互移植模糊控制程序

的可能性。

——第8部分：編程語言的應(yīng)用和實現(xiàn)導(dǎo)則。提供在第3部分中所定義的編程語言的應(yīng)用和實現(xiàn)

的導(dǎo)則。

——第9部分：用于小型傳感器和執(zhí)行器的單點數(shù)字通信接口(SDCI)。定義了用于PLC主站和設(shè)

備單點數(shù)字通信接口（SDCI）的通信服務(wù)和協(xié)議，是將第2部分中的數(shù)字輸入和輸出接口向

點對點的通信連接擴(kuò)展。

——第10部分：PLC的XML開放交互格式。規(guī)定了GB/T15969.3工程導(dǎo)入導(dǎo)出時的XML交互格式，

以實現(xiàn)GB/T15969.3程序甚至是整個GB/T15969.3工程在不同開發(fā)環(huán)境中的交換。第10部

分尚未發(fā)布。

III

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

可編程序控制器第2部分：設(shè)備要求和測試

1范圍

GB/T15969的本部分規(guī)定了以下工業(yè)控制設(shè)備的功能和電磁兼容性要求以及相關(guān)驗證測試：

可編程序控制器（PLC）；

可編程自動控制器（PAC）；

遠(yuǎn)程I/O；

編程和調(diào)試工具（PADTs）；

工業(yè)PC（計算機）和工業(yè)面板PC；

面向工業(yè)用途的顯示和人機界面（HMI）；

分布式控制系統(tǒng)（DCS），和在本范圍所列舉的DCS組件；

任何主要目的是執(zhí)行工業(yè)控制設(shè)備功能的產(chǎn)品，包括PLC和/或PAC，和/或其相關(guān)外圍設(shè)

備，其預(yù)定用途為控制和命令機器，自動化制造和工業(yè)過程，如離散，批量和連續(xù)控制；

在本文件中，“控制設(shè)備（controlequipment）”等同于“工業(yè)控制設(shè)備(industrialcontrol

equipment)，正如可編程序控制器(PLC)與可編程自動控制器(PAC)的關(guān)系。

圖1在本范圍內(nèi)的設(shè)備和不在本范圍內(nèi)的設(shè)備

1

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

本文件范圍內(nèi)的上述設(shè)備的組件（參見圖1）包括：

（輔助）獨立電源；

外圍設(shè)備，例如數(shù)字和模擬I/O；

工業(yè)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備；

控制設(shè)備及相關(guān)外圍設(shè)備用于工業(yè)環(huán)境中，可作為開放式或封閉式設(shè)備使用。

如果控制設(shè)備或其相關(guān)外圍設(shè)備用于其他環(huán)境（輕工業(yè)、商業(yè)、住宅），則控制設(shè)備及其相關(guān)外圍

設(shè)備應(yīng)附加適用于那些環(huán)境的特殊要要求、標(biāo)準(zhǔn)和安裝規(guī)范。

本文件涵蓋的設(shè)備旨在低壓設(shè)備中的Ⅱ類過電壓（GB/T16935.1）下使用，這些設(shè)備的額定設(shè)備電

源電壓不超過交流1000Vr.m.s.(50/60HZ)，或直流1000V。如果控制設(shè)備或其相關(guān)外圍設(shè)備在Ⅲ類過

電壓裝置下使用，則應(yīng)進(jìn)行額外分析以確定此設(shè)備對這些應(yīng)用的適用性。

本文件的目的是定義和確定與控制設(shè)備及其相關(guān)外圍設(shè)備的選擇和應(yīng)用相關(guān)的主要特征。

本文件還規(guī)定了：

a)控制設(shè)備及其外圍設(shè)備的服務(wù)（操作、儲存和運輸）要求（第五章）；

b)控制設(shè)備及其外圍設(shè)備的功能要求（第六章）；

c)控制設(shè)備及其外圍設(shè)備的EMC要求（第七章）；

d)制造廠應(yīng)提供的信息（第八章）。

控制設(shè)備及其外圍設(shè)備的安全性要求在GB4793.2-210中規(guī)定。

IEC指南106“指定設(shè)備性能額定值的環(huán)境條件指南”和IEC指南107“電磁兼容性-電磁兼容性出版

物起草指南”的要求已納入本文件。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T2423.1環(huán)境試驗第2-1部分:試驗方法試驗A:低溫

GB/T2423.5環(huán)境試驗第2-2部分:試驗方法試驗B:干熱

GB/T2423.10環(huán)境試驗第2-6部分:試驗方法試驗Fe:振動（正弦）

GB/T2423.22環(huán)境試驗第2-14部分:試驗方法試驗N:溫度變化

GB/T2423.57環(huán)境試驗第2-27部分:試驗方法試驗Ea和指導(dǎo):沖擊

GB/T2423.4環(huán)境試驗第2-30部分:試驗方法試驗Db:濕熱,循環(huán)的(12+12h周期)

GB/T2423.7環(huán)境試驗第2-31部分:試驗方法試驗Ee:粗處理沖擊,主要用于設(shè)備采樣

GB/T5465.2設(shè)備上使用的圖形符號（在/equiment可用)

GB14048.5-1低壓開關(guān)設(shè)備和逆變器第5-1部分:控制電路裝置和開關(guān)元件-機電控制電路設(shè)備

GB/T17626.2電磁兼容性(EMC)第4-2部分:試驗和測量技術(shù)-靜電放電抗擾度試驗

GB/T17626.3電磁兼容性(EMC)第4-3部分:試驗和測量技術(shù)-射頻電磁場輻射抗擾度試驗

GB/T17626.4電磁兼容性(EMC)第4-4部分:試驗和測量技術(shù)-電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

GB/T17626.5電磁兼容性(EMC)第4-5部分:試驗和測量技術(shù)-浪涌抗擾度試驗

GB/T17626.6電磁兼容性(EMC)第4-6部分:試驗和測量技術(shù)-抗射頻場引傳導(dǎo)干擾

GB/T17626.8電磁兼容性(EMC)第4-8部分:試驗和測量技術(shù)-工頻磁場抗擾度試驗

2

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

GB/T17626.11電磁兼容性(EMC)第4-11部分:試驗和測量技術(shù)-電壓暫降、短時中斷和電壓漸變干

擾試驗

GB/T17626.18電磁兼容性(EMC)第4-18部分:試驗和測量技術(shù)-阻尼振蕩波抗擾試驗

GB17799.1電磁兼容性(EMC)第6-1部分:通用標(biāo)準(zhǔn)-住宅、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境的抗擾度標(biāo)準(zhǔn)

GB17799.2電磁兼容性(EMC)第6-2部分:通用標(biāo)準(zhǔn)-工業(yè)環(huán)境抗擾度標(biāo)準(zhǔn)

GB17799.4電磁兼容性(EMC)第6-4部分:通用標(biāo)準(zhǔn)-工業(yè)環(huán)境的發(fā)射標(biāo)準(zhǔn)

2

IEC61010-2-201:–測量、控制和實驗室用電氣設(shè)備的安全要求第2-201部分:控制設(shè)備的特殊

要求

GB/T15969.1可編程控制器第1部分：概要信息

GB/T15969.3可編程控制器第3部分：編程語言

GB/T15969.9可編程控制器第9部分：用于小型傳感器和驅(qū)動器的單點數(shù)字通信接口(SOC/)

IECTR61131-4可編程控制器第4部分：用戶指南

IEC61158(所有部分)工業(yè)通信網(wǎng)絡(luò)-現(xiàn)場總線規(guī)范

IEC61784(所有部分)工業(yè)通信網(wǎng)絡(luò)-概述

ISO7000設(shè)備上使用的圖形符號-已注冊的符號(在/obp可用)

ANSI/ISA-50.00.01-1975-(R2012)電子工業(yè)過程設(shè)備模擬信號兼容性

HCF_SPEC-13可尋址遠(yuǎn)程傳感器高速通道（HART）開放通信協(xié)議規(guī)范，修訂版7.5

3術(shù)語、定義和縮略語

3.1術(shù)語和定義

GB/T15969.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。

3.1.1

環(huán)境溫度ambienttemperature

在規(guī)定條件下測定的設(shè)備周圍空氣的溫度

3.1.2

模擬輸入analoginput

將連續(xù)信號轉(zhuǎn)換成離散值的多位二進(jìn)制數(shù)的裝置，供控制設(shè)備使用。

3.1.3

模擬輸出analogoutput

將連續(xù)信號轉(zhuǎn)換成離散值的多位二進(jìn)制數(shù)的裝置，供控制設(shè)備使用。

3.1.4

電池battery

可充電或不可充電的一種電化學(xué)能源。

3

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

3.1.5

電流阱currentsinking

接受電流的作用。

3.1.6

電流源currentsourcing

提供電流的作用。

3.1.7

d.c.電網(wǎng)d.c.powernetwork

一個場地或建筑物基礎(chǔ)設(shè)施中的局部直流供電網(wǎng)絡(luò)，供一個或多個不同類型的設(shè)備使用，獨立于公

共電網(wǎng)的條件提供電力。

注：直流電網(wǎng)的示例為125Vd.c.和400Vd.c.電網(wǎng)，用于公用事業(yè)發(fā)電廠、機場雷達(dá)UPS、電信UPS等應(yīng)用中。由于

高電壓降損耗，低壓（如24Vd.c.，48Vd.c.）不適合配電。因此，這些低壓電源不被視為直流電網(wǎng)。

3.1.8

數(shù)字輸入digitalinput

將基本上是兩態(tài)信號轉(zhuǎn)換成單位二進(jìn)制數(shù)的裝置。

3.1.9

數(shù)字輸出digitaloutput

把一個單比特二進(jìn)制數(shù)字轉(zhuǎn)換成一種兩態(tài)信號的器件。

3.1.10

地earth

地球的導(dǎo)電物質(zhì)，在其任一點上的電位按慣例都被視為零。

[來源：IEC60050-195:1998，195-01-01]

3.1.11

電磁兼容EMCelectromagneticcompatibility

一個裝置或系統(tǒng)在其所處的電磁環(huán)境下能夠令人滿意地正常工作的能力，而對此環(huán)境中的其他事物

不產(chǎn)生不可容許的電磁干擾。

[來源：IEC60050-161:1990，161-01-07]

3.1.12

封閉式裝置enclosedequipment

設(shè)備包括具有安全能力的外殼，或具有安全能力的外殼的組合，以及在所有側(cè)面封閉的安裝裝置（可

能的安裝表面除外），以防止人員意外接觸危險帶電體，其中包含的熱或活動部件，并滿足機械強度、

4

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

易燃性和穩(wěn)定性要求（如適用）

注：示例為便攜式和手持設(shè)備

[來源：IEC61010-2-201:-，3.102]

3.1.13

外殼enclosure

提供適用于預(yù)期應(yīng)用保護(hù)類型和保護(hù)等級的殼體。

[來源：IEC60050-195:1998，195-02-35]

3.1.14

被測裝置equipmentundertest（EUT）

按制造廠規(guī)定用于型式試驗的具有代表性的配置（見第4.2）。

注：本注釋僅適用于法語。

3.1.15

現(xiàn)場接線fieldwiring

控制設(shè)備的接線，未安裝在控制設(shè)備制造廠的設(shè)施內(nèi)。

注：現(xiàn)場接線示例包括電源、數(shù)字和模擬輸入和輸出接線。

注：控制設(shè)備制造廠的，例如預(yù)裝配或模壓電纜不被視為現(xiàn)場布線。

[來源：IEC61010-2-201:-，3.105]

3.1.16

固定設(shè)備fixedequipment

固定在支架上或固定在特定位置的電氣設(shè)備

[來源：IEC60050-826:2004，826-16-07]

3.1.17

功能接地functionalearth

系統(tǒng)、裝置或設(shè)備中用于接地的一個或多個點，用于電氣安全以外的目的。

3.1.18

手持裝置hand-heldequipment

一種可用一手提攜而另一只手操作的裝置。

在正常使用過程中手持的電氣設(shè)備

[來源：IEC60050-826:2004，826-16-05]

3.1.19

抗擾性immunity（toadisturbance）

在出現(xiàn)電磁干擾的情況下，設(shè)備、裝置或系統(tǒng)不受影響地正常運行的能力。

注：在本部分中不專指EMC，它還指（例如）振動、濕度等。

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

[來源：IEC60050-161:1990，161-01-20]

3.1.20

抗擾性型式試驗（抗擾性試驗）immunitytypetest(immunitytest)

驗證基本PLC操作不因施加所規(guī)定的接近于正常工作情況出現(xiàn)的干擾量而改變的型式試驗。

3.1.21

接口interface

所考慮的系統(tǒng)與另一個系統(tǒng)之間、或一個系統(tǒng)的部件之間的共享界面，通過它傳輸信息或電能。

3.1.22

隔離的（器件，電路）isolated（devices，circuits）

彼此之間沒有電連接的器件或電路。

3.1.23

模塊module

可編程序控制器系統(tǒng)的一部分，包含可插入背板或基座的已識別功能（微處理器、模擬輸入等）

3.1.24

多信道模塊multi-channelmodule

包含多個輸入和/或輸出信號接口的模塊。這些信號接口彼此之間可以被隔離，也可以不被隔離。

3.1.25

正常使用normaluse

根據(jù)使用說明或明顯的預(yù)期用途進(jìn)行操作，包括備用操作。

注：正常使用條件見第5條。

3.1.26

開放式裝置openequipment

不能防止人員意外接觸其中包含的危險帶電或活動部件的設(shè)備，也不能滿足機械強度、易燃性和穩(wěn)

定性的要求（如適用）

[來源：IEC61010-2-201:-，3.107]

3.1.27

操作員operator

通過與控制設(shè)備相連的人機界面指揮和監(jiān)控機器或過程的人員

注1：操作員不改變操作員不改變控制設(shè)備硬件配置、軟件或應(yīng)用程序。未經(jīng)培訓(xùn)的人員不得使用控制設(shè)備。

注2：假設(shè)操作員了解工業(yè)環(huán)境中的一般危害。

3.1.28

6

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

過電壓類別（線路或在電氣系統(tǒng)內(nèi)）overvoltagecategory(ofacircuitorwithinanelectrical

system)

以限制（或控制）線路中（或一個具有不同標(biāo)稱電壓的電氣系統(tǒng)內(nèi)）可能出現(xiàn)的瞬時過電壓為基礎(chǔ)，

并依據(jù)用來影響過電壓所采用的措施而進(jìn)行的分類。

注1：在一個電氣系統(tǒng)中，從一個過電壓類別降至另一個較低等級的過電壓類別，其間的轉(zhuǎn)換是通過適當(dāng)?shù)姆辖?/p>

口要求的措施來實施的。這些接口要求可以是過電壓保護(hù)器件或串并聯(lián)阻抗，它們能夠耗散、吸收或轉(zhuǎn)換有關(guān)浪涌

電流的能量，以使瞬時過電壓值降低到所期望的較低過電壓類別的值。

注2：本部分中所涉及的裝置將用于過電壓類別Ⅱ。

3.1.29

永久性設(shè)備permanentinstallation

控制設(shè)備的一部分，只能用工具與控制設(shè)備連接或斷開

3.1.30

端口port

對設(shè)備或網(wǎng)絡(luò)的訪問，在這里可以提供或接收電磁能量或信號，或者可以觀察或測量設(shè)備或網(wǎng)絡(luò)變

量。

注：最常用于EMC。

[來源：IEC60050-131:2002，131-12-60，修改-條目注釋1已修改。]

3.1.31

便攜式裝置portableequipment

擬用手搬運且在正常使用期間未固定的設(shè)備。

3.1.32

公共網(wǎng)絡(luò)publicmains

來自公用設(shè)施配電系統(tǒng)的導(dǎo)線/干線的電力

3.1.33

輸出模塊的）總輸出電流totaloutputcurrent（ofanoutputmodule）

一個多信道輸出模塊在最不利的組合情況下正常工作時能夠提供的電流，而它的任何部分（絕緣，

端子，外露的導(dǎo)電部件等）都不超過規(guī)定的溫度限值。

注：對于多信道模塊而言，總輸出電流一般小于各信道輸出電流的總和。

3.1.34

型式試驗typetest

對產(chǎn)品的一個或多個具代表性項目所做的符合性測試。

[來源：IEC60050-151:2001，151-16-16]

3.1.35

7

GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

單元unit

單元是一個完整的組合件(由在該組合件內(nèi)插入的或連接的模塊組成)，對于永久性安裝的單元用電

纜與系統(tǒng)內(nèi)的其他單元連接，對于便攜式單元用電纜或其他方法與系統(tǒng)內(nèi)的其他單元連接。

3.1.36

耐型式試驗（耐受性試驗）withstandtypetest(withstandtest)

一種型式試驗，它驗證對基本PLC系統(tǒng)施加多種嚴(yán)重干擾量并不降低其完成預(yù)期任務(wù)的能力。

3.2縮略語

下列縮略語適用于本文件。

a.c．：或者“AC”或“交流電”都是等效的

BCD：二進(jìn)制編碼的十進(jìn)制（Binary-CodedDecimal）

BIOS：基本輸入輸出系統(tǒng)（BasicInput/OutputSystem）

CON：耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)（Coupling/DecouplingNetwork）

CISPR：國際無線電干擾特別委員會（SpecialInternationalCommitteeOnRadioInterference）

CMRR：共模抑制比（Common-ModeRejectionRatio）

CMV：共模電壓（Common-ModeVoltage）

d.c.：或者“DC”或“直流電”都是等效的（or"DC"or"directcurrent"areallequivalent）

DCS：分布式控制系統(tǒng)（DistributedControlSystem）

DIN：德國標(biāo)準(zhǔn)化研究所（DeutschesInstitutfürNormung）

EMC：電磁兼容性（ElectromagneticCompatibility）

EMI：電磁干擾（ElectromagneticInterference）

ESD：靜電放電（ElectrostaticDischarge）

EU：歐洲聯(lián)盟（EuropeanUnion）

EUT：受試設(shè)備（EquipmentUnderTest）

FDIS：國際標(biāo)準(zhǔn)最終草案（FinalDraftInternationalStandard）

FF：基金會現(xiàn)場總線（FoundationFieldbus）

HART：可尋址遠(yuǎn)程傳感器高速公路協(xié)議（HighwayAddressableRemoteTransducer）

HMI：人機界面（HumanMachineInterface）

I/O：輸入/輸出（Input/Output）

IEC：國際電工委員會（InternationalElectrotechnicalCommission）

IEEE：電氣與電子工程師學(xué)會（InstituteofElectricalandElectronicsEngineers）

IEV：國際電工詞匯（InternationalElectrotechnicalVocabulary）

ISO：國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（InternationalOrganizationforStandardization）

LSB：最低有效位（LeastSignificantBit）

MOV：金屬氧化壓敏電阻（MetalOxideVaristor）

MTBF：平均故障間隔時間（MeanTimeBetweenFailures）

NC：常閉式（NormallyClosed）

ND：未定義（NotDefined）

NO：常開（NormallyOpen）

ODVA：開放式設(shè)備網(wǎng)供應(yīng)商協(xié)會（OpenDeviceNetVendor’sAssociation）

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

OS：操作系統(tǒng)（OperatingSystem）

OTH：工作溫度和濕度（OperatingTemperature&Humidity）

PAC：可編程自動控制器（ProgrammableAutomationController）

PADT：編程和調(diào)試工具（ProgrammingandDebuggingTool）

PAS：公共可用規(guī)范（PubliclyAvailableSpecification）

PC：個人電腦（PersonalComputer）

PELV：保護(hù)超低電壓（ProtectedExtra-LowVoltage）

PFVP：運作的核查程序（ProperFunctioningVerificationProcedures）

PLC：可編程序控制器（ProgrammableLogicController）

PNO：Profibus現(xiàn)場總線用戶組織（ProfibusNutzer(User)Organization）

PS：電源（PowerSupply）

RC：電阻電容器（ResistorCapacitor）

RIOS：遠(yuǎn)程輸入/輸出站（RemoteInput/OutputStation）

RMS：均方根（RootMeanSquare）

RTD：電阻溫度裝置（ResistiveTemperatureDevice）

SC：小組委員會（Subcommittee）

SDCI：單點數(shù)字通信接口（Single-dropDigitalCommunicationInterface）

SDL：關(guān)閉限制（ShutDownLimit）

SELV：安全特低電壓（SafetyExtra-LowVoltage）

STH：儲存溫度和濕度（StorageTemperature&Humidity）

TC：熱電偶（Thermocouple）

TE：試驗設(shè)備（TestEquipment）

TTH：運輸溫度和濕度（TransportationTemperature&Humidity）

TM：散熱模塊（ThermalModule）

USB：通用串行總線（UniversalSerialBus）

4符合和型式試驗

4.1符合本標(biāo)準(zhǔn)

可以通過多種方式聲明符合本標(biāo)準(zhǔn)，

a)完全符合此標(biāo)準(zhǔn)：

“符合GB/T15969.2”

這表明此設(shè)備符合所有條款；

b)符合一個或多個條款聲明，例如：

“符合GB/T15969.2:-第9章”或“符合GB/T15969.2:-,第6.2節(jié)和第9章”

這表明此設(shè)備只符合聲明的條款/分條款；

c)符合功能聲明，例如：

“功能：3類數(shù)字輸入，符合GB/T15969.2”和/或

“環(huán)境溫度范圍：0℃至60℃，符合GB/T15969.2”

這表明此設(shè)備符合本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的功能項目。

第7章規(guī)定的電磁兼容性（EMC）要求除外，所有設(shè)備必須符合此條款。

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

如果允許制造廠在正常使用條件的多個選項中進(jìn)行選擇，則目錄和或數(shù)據(jù)表應(yīng)明確說明本設(shè)備已經(jīng)

被評估的選項，這適用于例如環(huán)境溫度范圍，電壓暫降的嚴(yán)酷等級（例如PS1或PS2）以及數(shù)字輸入類型

（如1類或3類）。

4.2型式試驗

4.2.1概述

4.2節(jié)的目的是規(guī)定如何驗證控制設(shè)備及其相關(guān)外圍設(shè)備對本標(biāo)準(zhǔn)中所提出要求的符合性。這種符

合性驗證包括：

a)通過相應(yīng)章節(jié)中給出的型式試驗進(jìn)行驗證；

b)通過合適的檢查、外觀檢查和/或測量進(jìn)行驗證。

這些試驗是質(zhì)量鑒定試驗，與控制設(shè)備使用方法無關(guān)。根據(jù)本部分的適用范圍，上述符合性驗證可

以不涉及控制設(shè)備為滿足預(yù)期自動化系統(tǒng)要求所具備的能力的驗證。

注：不在本標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)與控制設(shè)備在同一環(huán)境中使用的外圍設(shè)備，可以按照與控制設(shè)備相同的要求進(jìn)行評估。

應(yīng)當(dāng)記住，型式試驗旨在測試一個目標(biāo)設(shè)備—EUT。但是在型式試驗環(huán)境中,EUT可以指EUT、單個

目標(biāo)設(shè)備，例如單獨的模塊或作為試驗EUT一部分的同一單個目標(biāo)設(shè)備（例如模塊、電源、通信模塊和

機架）。

4.2.2被測設(shè)備（EUT）

本文件范圍內(nèi)的控制設(shè)備被廣泛用于各種應(yīng)用中。大多數(shù)控制設(shè)備的模塊化設(shè)計以及廣泛的可組合

遠(yuǎn)程I/O、工業(yè)PC和HMI產(chǎn)生了極其廣泛的各種系統(tǒng)配置。由于常見的實際原因，在大多數(shù)情況下，不可

能在與用戶構(gòu)建系統(tǒng)相同的EUT上進(jìn)行型式試驗，而工程判斷是必要的。因此，要求制造廠定義EUT，并

編制相應(yīng)的試驗計劃和試驗程序，以滿足以下原則。

試驗/EUT/試驗程序的組合應(yīng)該是這樣的，你可以合理地認(rèn)為由用戶根據(jù)制造廠規(guī)定和安裝指南而

構(gòu)建的任何配置都將令人滿意地通過相同的試驗，并且它們在常規(guī)操作中能正常地工作，而上述這些方

面也正是希望通過這些試驗?zāi)軌虻玫津炞C的。

除非本文件中另有規(guī)定，制造廠應(yīng)選用各種EUT以達(dá)到特定型式試驗的目的。

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

本地擴(kuò)展總線≤3米

圖2EUT的配置

EUT的每個子部分（如圖2所示）可以構(gòu)一個成EUT，如為EUTA,B,C,D,E和/或F。為了運用每個EUT

的不同特性、能力、端口等，制造廠可定義子系統(tǒng)，并依次試驗這些不同的EUT。

在任何時候只有一個子系統(tǒng)處于被測，其他子系統(tǒng)被視為輔助裝置。

示例：

a)為了試驗EUTA的抗振動能力，可接入其他EUT的設(shè)備，但它們不處于測試臺中。

b)為了檢查EUT的抗電干擾，制造廠可以在以下兩種可采納的方式中進(jìn)行選擇：

1)構(gòu)建一個包含PADT/TE/RIOS的單一全局EUT，并檢查整個配置；

2)定義一套較簡單的EUT（例如，一個不包括任何PADT/TE/RIOS的EUT，以及單個PADT、

單個RIOS、單個PADT和單個TE，或者由它們中的某些部分組合而成的任何其他合理組

合），但通過測試臺（測試該EUT所必需的實驗室裝置）的某個設(shè)備部件相應(yīng)地運用每

個EUT的合適端口充當(dāng)實際不存在的PADT/TE/RIOS。由于實際原因，制造廠可以選擇使

用實際的PADTs/TEs/RIOS來作為EUT端口。

如果在單個EUT中包含太多的產(chǎn)品系列，那么制造廠應(yīng)定義如下若干個EUT：

—對很相似的模塊系列（即采用同一原理和基本構(gòu)造的模塊，其主要差別是（例如）輸入和輸出的

個數(shù)不同）的型式試驗，制造廠可以選擇包括在基本EUT之內(nèi)的該系列中的任一模塊進(jìn)行試驗。如果型

式試驗與這些模塊之間的差別有關(guān)，則不得使用單一系列的模塊。

—應(yīng)選取合適的產(chǎn)品，如電源單元、應(yīng)用存儲器、處理單元等來構(gòu)成相關(guān)EUT(s)。

—如果本地總線擴(kuò)展屬于EUT的一部分，而且如果其最大電纜長度3米，則應(yīng)考慮它是一個內(nèi)部

設(shè)備總線。這樣，不應(yīng)將它視為試驗的一個端口。

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

—如果本地總線擴(kuò)展屬于EUT的一部分，而且它能夠驅(qū)動的電纜長度3米，那么只有該鏈接的一

個終端才屬于EUT的組成部分，而且應(yīng)將它視為一個通信端口。

如果代表一個控制設(shè)備或一個遠(yuǎn)程I/Os(RIOS)的EUT是模塊化結(jié)構(gòu)，那么它應(yīng)滿足以下最低要求：

—應(yīng)在一個或幾個EUT配置中表達(dá)所有類型的模塊，在配置中允許模塊的任意組合。

—應(yīng)在這些EUT中配置所有類型的模塊，并應(yīng)對這些模塊至少試驗一次。

注：對于數(shù)量大的I/O而言（例如大于100個），適宜考慮基于樣品的滿意準(zhǔn)則。

EUT的每種類型I/O端口中或具代表性的若干I/O端口中，必須接入至少一個I/O端口并且它能正常地

工作。

考慮到只能試驗最典型的設(shè)備功能，因此應(yīng)選擇具有代表性的功能模式。

EUT應(yīng)按照制造廠的安裝指南進(jìn)行試驗。

所有試驗應(yīng)以明確的和可重復(fù)的方式進(jìn)行。

被試裝置（EUT）位于指定的試驗室、試驗大樓、試驗場所，而且試驗支持裝置都應(yīng)位于試驗環(huán)境

的影響范圍之外。

應(yīng)將所有輸入/輸出電纜構(gòu)成環(huán)路用以監(jiān)視和試驗，和/或應(yīng)該在末端連接負(fù)載。。

對于多通道I/OEUT，應(yīng)復(fù)核電路設(shè)計以確定用于試驗的最壞情況。應(yīng)試驗On/Off（導(dǎo)通/關(guān)斷）狀

態(tài)以及允許的負(fù)載范圍。

某些試驗可容易地針對單一項目完成，其他一些試驗更適用于組態(tài)在一起的一組項目。需試驗的裝

置必須反映這種需要。關(guān)于EUT的建議，請參閱特定試驗的相關(guān)章節(jié)。

在發(fā)布控制設(shè)備產(chǎn)品目錄（已通過本部分規(guī)定的試驗）之后推出新單元/模塊時，可規(guī)定比原先所

使用的試驗配置更簡單的EUT。但只有在這類EUT和制造廠所提供的相關(guān)試驗程序承諾正確驗證的情況下

才允許這樣做，如同這些新單元/模塊已經(jīng)在原先試驗的的EUT內(nèi)進(jìn)行過試驗一樣。

除非本部分另有規(guī)定，制造廠可以選擇每個型式試驗使用一個新的EUT，或者在同一EUT上連續(xù)地完

成若干型式試驗。

通過考慮電氣特性和特定設(shè)備的使用情況，可以確定有些試驗是不合適的，因此是不必要的。在這

種情況下，需要在試驗報告中記錄不試驗的決定和理由。

4.2.3EMC試驗的特殊細(xì)則

進(jìn)行ESD試驗時，通信端口應(yīng)按正常使用的方式連接。

合格/不合格的判斷標(biāo)準(zhǔn)位于表1中。

4.2.4耐壓試驗條件

一般來說，應(yīng)該對模塊單獨進(jìn)行試驗。詳細(xì)參考有關(guān)耐壓試驗的條款。參見5.2.1，5.3.4，5.4.4，

，，，.3，0.4，0.4和。

4.2.5氣候試驗

試驗在無包裝的裝置上進(jìn)行。

通?？梢杂删S修人員進(jìn)行維修和拆卸溫度敏感元件，如果制造廠要求，也可以拆卸。

氣候試驗是根據(jù)GB/T2423系列的適用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的。

4.2.6帶有溫度條件的功能驗證

通用方法

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

該試驗方法用于驗證帶溫度條件的設(shè)備功能；例如，模擬I/0特性。

如果可以證明且明文記載溫度范圍對設(shè)備沒有任何影響，則無需執(zhí)行此操作。

設(shè)備應(yīng)安裝在對其最不利的位置或方向，環(huán)境溫度應(yīng)等于其額定環(huán)境溫度的最大值或最小值。

應(yīng)配置EUT，以使其產(chǎn)生對其最不利的熱耗散。應(yīng)當(dāng)指出，最不利的情況可能是炎熱或寒冷的情況

（即最高耗散或最低耗散）。這種耗散可能是由負(fù)載電流、輸入電壓、輸入頻率、I/O占空比等綜合因

素造成的。

EUT的接線應(yīng)使用適用于制造商的說明書規(guī)定的最大額定電流的最小尺寸的線。

EUT周邊的試驗室或腔室或箱（尺寸不是試驗標(biāo)準(zhǔn)）環(huán)境不應(yīng)被非EUT引起的空氣流動影響，即該環(huán)

境應(yīng)為自然對流環(huán)境。見圖3。

注1：為了減少和阻止EUT周圍試驗室或恒溫箱內(nèi)被動的空氣流動，可以將EUT放置在部分或完全封閉的試驗箱中，

以使空氣流動/自然對流僅由EUT自然引起?；蛘呖梢栽贓UT周圍使用由任何合適材料制成的屏障來阻止空氣流動。

圖3一般溫度試驗環(huán)境

在達(dá)到穩(wěn)態(tài)時進(jìn)行溫度測量。

如果EUT要用作獨立單元，則應(yīng)單獨試驗，例如，獨立的HMI或通信交換機或路由器。參見4.2。

如果EUT不是用作單獨單元，例如，模塊化設(shè)備系統(tǒng)的I/O模塊，則應(yīng)使用一個代表性的EUT進(jìn)行試

驗。該EUT應(yīng)代表對EUT實際最不利的條件組合。參見4.2。

注2：實際最不利條件組合是指EUT可以在現(xiàn)實世界中使用的實際情況，而不是永遠(yuǎn)不會在實踐中使用的理論組合。

這種實際最不利的組合至少應(yīng)是EUT正常運行所必須的項目，例如電源模塊、通信模塊（圖4的TM’

s）和EUT。在制造廠文檔允許的范圍內(nèi)，應(yīng)在EUT兩側(cè)放置真實模塊或“模擬模塊”（熱型試驗?zāi)K，

圖4中的TM），代表EUT最嚴(yán)酷的熱環(huán)境，即在EUT周圍放置更多模塊不會導(dǎo)致EUT溫度進(jìn)一步升高。試驗

報告中應(yīng)提供試驗配置的依據(jù)。

注3：試驗?zāi)K化系統(tǒng)的I/O模塊EUT的實例配置可以是：

EUT（I/O模塊），

電源模塊，

通信模塊，

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在EUT左側(cè)滿載運行三個同類型I/O模塊，

在EUT右側(cè)滿載運行三個同類型I/O模塊，以及

在EUT兩側(cè)添加更多I/O模塊不會導(dǎo)致EUT溫度改變。

對于通過自然空氣對流冷卻的有通風(fēng)口的設(shè)備，其環(huán)境溫度為該設(shè)備氣流入口點平面處不超過50mm

且不小于25mm處的進(jìn)風(fēng)溫度（見圖4）。圖4中的點d1,d2,d3是可能的測量點。溫度最低的點應(yīng)用作環(huán)境

溫度。

注4：通風(fēng)孔是有目的的空氣開口，旨在使空氣通過設(shè)備進(jìn)行冷卻的風(fēng)口，而不是附帶的開孔，例如開關(guān)軸或通信

插孔的開孔。

圖4通風(fēng)設(shè)備

對于通過自然空氣對流冷卻的不通風(fēng)設(shè)備，環(huán)境溫度是指在設(shè)備垂直中心所在的水平面上，距離設(shè)備不

超過50mm且不小于25mm點處的空氣溫度（見圖5）。圖5中的點d2到d5是可能的測量點。其中所有點中測得的

最低溫度應(yīng)作為環(huán)境溫度。

由于安裝要求，某些測量點可能無法實際使用。

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圖5不通風(fēng)設(shè)備

特殊方法，面板設(shè)備

對面板設(shè)備有一些特殊考慮，見圖6

在這種情況下，設(shè)備的一部分（）可能處于一個周圍環(huán)境，例如周圍環(huán)境#1，并且此設(shè)備剩

余部分（）可能處于另一個周圍環(huán)境，例如周圍環(huán)境#2。設(shè)備搭建技術(shù)可能有很大不同，例如（見

圖6），在環(huán)境一種開放/通風(fēng)，在環(huán)境二中封閉/不通風(fēng)。

應(yīng)當(dāng)記住的是，可能必須同時應(yīng)用兩種不同環(huán)境，以確保獲得最不利條件。

設(shè)備的每一部分（和）應(yīng)根據(jù)其自身環(huán)境分別進(jìn)行評估。

關(guān)于試驗條件和最不利的EUT配置、方向等，應(yīng)遵循中所述的一般方法。

下文提供了三種試驗面板設(shè)備的特殊方法：

a)設(shè)備安裝時應(yīng)確保EUT兩個部分（和）處于其各自特定的環(huán)境中。

注1：這樣提供了最準(zhǔn)確的結(jié)果，但最難試驗。

b)整個EUT(EUTa+EUTb)應(yīng)安裝在一個單一環(huán)境中，其環(huán)境溫度應(yīng)取兩部分中額定溫度較高者。

并且額定溫度較低的部分所測得的溫度應(yīng)使用該部分的最高額定環(huán)境溫度與實際試驗環(huán)境溫

度之間的差值來校正。

例1：如果的最大額定環(huán)境溫度為60℃，的最大額定環(huán)境溫度為50℃，試驗將以

環(huán)境溫度為60℃來執(zhí)行。的溫度將被-10℃來校正（50℃-60℃）。

注2：本方法不如a）準(zhǔn)確，但與c）相比將產(chǎn)生比較保守的結(jié)果。

c)整個EUT(EUTa+EUTb)應(yīng)安裝在一個單一環(huán)境中，其環(huán)境溫度應(yīng)取兩部分中額定溫度較低者。

并且額定溫度較高的部分所測得的溫度應(yīng)使用該部分的最高額定環(huán)境溫度與實際試驗環(huán)境溫

度之間的差值來校正。

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例2：如果的最大額定環(huán)境溫度為60℃，的最大額定環(huán)境溫度為50℃，試驗將以環(huán)

境溫度為50℃來執(zhí)行，的溫度將被+10℃來校正（60℃-50℃）。

注3：本方法不如a）準(zhǔn)確，并且產(chǎn)生的結(jié)果不如b）保守。

圖6穿過柜壁的面板安裝設(shè)備

特殊方法,大型或重型設(shè)備

如果測量溫度用EUT的最高額定環(huán)境溫度與實際試驗室內(nèi)環(huán)境溫度之間的差值進(jìn)行校正，太大或太

重的設(shè)備可在室內(nèi)環(huán)境溫度下試驗。

如果采用這種方法進(jìn)行試驗，應(yīng)在實驗報告中提供理由。

4.2.7驗證規(guī)程

除非本文另有規(guī)定，型式試驗應(yīng)在4.2.2和4.2.3規(guī)定的EUT（s）上進(jìn)行。

對于每項試驗，制造廠應(yīng)：

規(guī)定配置，其布置和外部連接；

提供在試驗期間必須運行的測試程序；

提過適當(dāng)?shù)牟僮黩炞C規(guī)程，例如，包括測量模擬I/O精度和瞬態(tài)偏差的方法。

由制造廠提供的合適的試驗程序和適當(dāng)?shù)墓δ茯炞C規(guī)程應(yīng)符合4.2.8中給出的要求。

4.2.8制造廠提供的試驗程序和適當(dāng)?shù)墓δ茯炞C規(guī)程（PFVP）的要求

在型式試驗期間不應(yīng)發(fā)生：

硬件損壞；

修改操作系統(tǒng)和試驗程序和/或更改其執(zhí)行；

系統(tǒng)和應(yīng)用存儲或交換的數(shù)據(jù)被非預(yù)期地修改；

EUT的無規(guī)律或非預(yù)期的行為；

模擬I/O的偏差超出表48第4項和表52第3項規(guī)定的限值。

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EUT的所有相關(guān)功能和部件（即單元和模塊）應(yīng)以使這些功能和部件之間的信息路徑得以使用的方

式運行。

EUT的所有I/O和通信信道應(yīng)被使用。

對于大量I/O等（例如，大于100）允許采用基于樣本的統(tǒng)計準(zhǔn)則。

型式試驗不意味著要試驗EUT的每種可能的操作模式或能力。型式試驗的目的是在其操作模式和/

或能力的邊界上運用EUT。因此工程上判斷對確定試驗和驗證的配置是必要的，以驗證其綜合能力。這

是一組實際的試驗和結(jié)果，并沒有實際試驗所有的可能性。

以下非詳盡列表包含在定義型式試驗時要考慮的EUT的實例項目，這些項目與EUT的執(zhí)行有關(guān)。

a)EUT的配置：

外部和內(nèi)部狀態(tài)信息報告手段；

顯示屏；

警報信號；

自檢結(jié)果寄存器；

I/O；

試驗程序長度；

操作模式，例如，啟動，關(guān)閉，冷/暖/熱重啟，正常運行；

性能。

b)型式試驗應(yīng)側(cè)重于EUT的最不利條件，以試驗其邊界。因此，可能需要不同的試驗設(shè)置在不

同的條件下（例如，EMC條件，氣候條件）來試驗EUT邊界。

c)對于每個EUT，都應(yīng)有一個規(guī)范，說明如何以及在何處可以確定恰當(dāng)功能的極限。

4.2.9EMC性能標(biāo)準(zhǔn)

驗證實驗方法的性能標(biāo)準(zhǔn)。

表1驗證EUT抗EMC干擾的性能等級

性能等級

等級操作

實驗中試驗后

AEUT應(yīng)繼續(xù)按預(yù)期運行。根據(jù)PFVPs(4.2.8)EUT應(yīng)繼續(xù)按預(yù)期運行

沒有功能或性能損失

B可接受的性能下降EUT應(yīng)繼續(xù)按照預(yù)期運行，暫時性的性能損失

例如：模擬值在制造廠規(guī)定的限值范圍內(nèi)應(yīng)是可自我恢復(fù)的

變化a、通信延遲在制造廠規(guī)定的限值范圍

內(nèi)變化、HMI顯示器上出現(xiàn)閃爍，等。

操作模式?jīng)]有改變

例如：通信時丟失數(shù)據(jù)、出現(xiàn)未糾正的錯

誤，EUT或測試裝置等看到非期望的數(shù)字

I/O狀態(tài)的改變。

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

根據(jù)FFVPs(4.2.8)，沒有不可逆的存儲數(shù)

據(jù)丟失

C可接受的功能丟失，但是軟硬件沒有損壞在手動重啟或關(guān)機/開機后，EUT應(yīng)自動的按

（程序或數(shù)據(jù)）照預(yù)期繼續(xù)運行

a見表48,項目4)和表52,項目3).

4.2.10試驗的一般設(shè)施或?qū)嶒炇覘l件

試驗應(yīng)按照適當(dāng)?shù)氖窃囼炓?guī)程進(jìn)行。

試驗應(yīng)在表2所給出的一般試驗條件下進(jìn)行，本標(biāo)準(zhǔn)中其他條件規(guī)定的試驗除外，例如氣候試驗或

電壓中斷的EMC試驗。

除非另有說明，型式實驗不附加任何順序。

表2試驗的一般設(shè)施/實驗室條件

試驗條件范圍

溫度15℃to35℃

相對濕度75%

氣壓86kPato106kPa(650mmHgto800mmHg)

4.3試驗報告

應(yīng)使用試驗報告來證明符合本標(biāo)準(zhǔn)或本標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)特定條款或子條款(見4.1)

試驗報告應(yīng)對照本標(biāo)準(zhǔn)的每個條款和/或子條款及其標(biāo)題，申明哪些項目符合并通過測試。

在適用的情況下，應(yīng)確定條款和/或子條款中的各種試驗以及要試驗的設(shè)備的值和/或測量的值。

試驗報告應(yīng)該包含所有重現(xiàn)試驗的所有必要信息。至少應(yīng)記錄以下信息：

EUT硬件和任何相關(guān)設(shè)備（類如，模塊化部件、電纜等）的標(biāo)識信息，包括版本和/或序

列號；

EUT系統(tǒng)軟件（例如，BIOS）、操作系統(tǒng)的標(biāo)識信息，包括版本和/或序列號；

試驗設(shè)備的標(biāo)識信息，包括型號、品牌和校準(zhǔn)細(xì)節(jié)；

氣候條件，包括溫度、濕度和大氣壓；

使用這種軟硬件結(jié)合的理論基礎(chǔ)；

實驗結(jié)果，包括合格/不合格，試驗中/試驗后對EUT的影響；

為了符合要求所需的任何特定條件（例如，外殼、屏蔽層、接地、降額和其他）。

5正常工作條件和要求

5.1概述

設(shè)備是設(shè)計用于工業(yè)環(huán)境的。

工作條件包含操作、運輸和存貯。

5.2操作條件和要求

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GB/T15969.2—20XX/IEC61131-2—2017

5.2.1環(huán)境溫度和相對濕度

表3提供了一系列推薦的裝置操作環(huán)境條件范圍。

封閉式的PLC/PAC裝置應(yīng)至少適用于操作環(huán)境OTH2（表3綠色高亮部分）所列出的環(huán)境溫度和相

對濕度范圍。開放式的則應(yīng)至少適用于操作環(huán)境OTH3（表3藍(lán)色高亮部分）

表3操作環(huán)境，環(huán)境溫度和相對濕度

最低環(huán)境溫最高環(huán)境溫最小相對濕最大相對濕

操作環(huán)境裝置類型應(yīng)用示例

度度度度3

空調(diào)全面開

OTH1封閉式20℃25℃20%75%

放，DCS

OTH2封閉式5℃40℃5%85%工業(yè)PC

OTH3開放式5℃55℃5%85%HMI,PLC，PAC

OTH4開放式0℃60℃10%95%PLC

PLC，現(xiàn)場設(shè)

OTH5開放式-25℃70℃10%100%

備

OTH6封閉式-40℃70℃10%100