計(jì)算機(jī)四級(jí)軟件測(cè)試考試的應(yīng)試技巧試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.下列哪個(gè)選項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試的基本原則？

A.可重復(fù)性

B.可靠性

C.可維護(hù)性

D.可擴(kuò)展性

2.以下哪種測(cè)試不屬于靜態(tài)測(cè)試？

A.單元測(cè)試

B.代碼審查

C.源代碼靜態(tài)分析

D.代碼覆蓋率分析

3.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪種方法屬于黑盒測(cè)試？

A.回歸測(cè)試

B.灰盒測(cè)試

C.白盒測(cè)試

D.性能測(cè)試

4.以下哪種測(cè)試屬于集成測(cè)試？

A.單元測(cè)試

B.系統(tǒng)測(cè)試

C.驗(yàn)收測(cè)試

D.安裝測(cè)試

5.以下哪種測(cè)試屬于非功能性測(cè)試？

A.兼容性測(cè)試

B.功能性測(cè)試

C.性能測(cè)試

D.穩(wěn)定性測(cè)試

6.以下哪個(gè)工具不屬于缺陷跟蹤工具？

A.Bugzilla

B.Jira

C.Subversion

D.Selenium

7.以下哪種測(cè)試屬于負(fù)載測(cè)試？

A.壓力測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.響應(yīng)時(shí)間測(cè)試

D.停機(jī)測(cè)試

8.以下哪種測(cè)試屬于回歸測(cè)試？

A.功能性測(cè)試

B.系統(tǒng)測(cè)試

C.驗(yàn)收測(cè)試

D.回歸測(cè)試

9.以下哪種測(cè)試屬于安全性測(cè)試？

A.網(wǎng)絡(luò)測(cè)試

B.壓力測(cè)試

C.安全性測(cè)試

D.性能測(cè)試

10.以下哪個(gè)階段不屬于軟件開(kāi)發(fā)生命周期？

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)

C.編碼

D.維護(hù)

答案：

1.D

2.A

3.C

4.B

5.C

6.C

7.A

8.D

9.C

10.D

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.確保軟件滿足需求

B.識(shí)別軟件中的缺陷

C.評(píng)估軟件的質(zhì)量

D.確保軟件的安全性

2.以下哪些是軟件測(cè)試的常見(jiàn)類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.性能測(cè)試

3.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪些活動(dòng)屬于測(cè)試設(shè)計(jì)階段？

A.測(cè)試用例設(shè)計(jì)

B.測(cè)試環(huán)境搭建

C.缺陷報(bào)告編寫(xiě)

D.測(cè)試執(zhí)行

4.以下哪些是軟件測(cè)試的關(guān)鍵原則？

A.全面性

B.可重復(fù)性

C.可維護(hù)性

D.可行性

5.以下哪些是軟件測(cè)試的常用方法？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.灰盒測(cè)試

D.自動(dòng)化測(cè)試

E.手動(dòng)測(cè)試

6.以下哪些是軟件測(cè)試的常用工具？

A.Jira

B.Selenium

C.SonarQube

D.Git

E.Jenkins

7.以下哪些是軟件測(cè)試的常見(jiàn)缺陷類型？

A.功能性缺陷

B.性能缺陷

C.界面缺陷

D.安全缺陷

E.穩(wěn)定性缺陷

8.以下哪些是軟件測(cè)試的常見(jiàn)測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法？

A.等價(jià)類劃分

B.邊界值分析

C.決策表

D.狀態(tài)圖

E.等價(jià)類合并

9.以下哪些是軟件測(cè)試的常見(jiàn)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容？

A.缺陷數(shù)量

B.缺陷優(yōu)先級(jí)

C.缺陷類型

D.缺陷狀態(tài)

E.測(cè)試執(zhí)行時(shí)間

10.以下哪些是軟件測(cè)試的常見(jiàn)測(cè)試管理活動(dòng)？

A.測(cè)試計(jì)劃制定

B.測(cè)試資源分配

C.測(cè)試進(jìn)度監(jiān)控

D.測(cè)試團(tuán)隊(duì)溝通

E.測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)管理

答案：

1.A,B,C

2.A,B,C,D,E

3.A,B

4.A,B,C

5.A,B,C,D,E

6.A,B,C

7.A,B,C,D,E

8.A,B,C,D

9.A,B,C,D,E

10.A,B,C,D,E

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的最后一個(gè)階段。（×）

2.靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試都是通過(guò)運(yùn)行程序來(lái)進(jìn)行的。（×）

3.單元測(cè)試通常由程序員自己執(zhí)行。（√）

4.軟件測(cè)試的目的是確保軟件沒(méi)有缺陷。（×）

5.灰盒測(cè)試介于黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試之間。（√）

6.集成測(cè)試是在系統(tǒng)測(cè)試之前進(jìn)行的。（×）

7.性能測(cè)試關(guān)注的是軟件的執(zhí)行速度和資源消耗。（√）

8.缺陷跟蹤工具主要用于記錄和管理缺陷報(bào)告。（√）

9.回歸測(cè)試是為了驗(yàn)證修復(fù)后的缺陷沒(méi)有引入新的問(wèn)題。（√）

10.軟件測(cè)試的目的是為了提高軟件的可用性。（×）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的四個(gè)階段，并簡(jiǎn)要說(shuō)明每個(gè)階段的主要任務(wù)。

2.解釋什么是等價(jià)類劃分，并說(shuō)明如何應(yīng)用等價(jià)類劃分來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例。

3.簡(jiǎn)述黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的區(qū)別，并說(shuō)明各自適用的場(chǎng)景。

4.描述性能測(cè)試的基本概念，并列舉幾種常用的性能測(cè)試方法。

5.解釋什么是缺陷生命周期，并描述缺陷從發(fā)現(xiàn)到關(guān)閉的各個(gè)階段。

6.簡(jiǎn)述測(cè)試用例設(shè)計(jì)過(guò)程中需要考慮的關(guān)鍵因素，并說(shuō)明如何提高測(cè)試用例設(shè)計(jì)的效率。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題答案及解析思路

1.D解析：軟件測(cè)試的基本原則包括可重復(fù)性、可靠性、可維護(hù)性等，但不包括可擴(kuò)展性。

2.A解析：?jiǎn)卧獪y(cè)試是針對(duì)單個(gè)模塊進(jìn)行的測(cè)試，屬于白盒測(cè)試，而其他選項(xiàng)屬于靜態(tài)測(cè)試或代碼審查。

3.C解析：黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，不考慮內(nèi)部實(shí)現(xiàn)，而白盒測(cè)試關(guān)注內(nèi)部邏輯和結(jié)構(gòu)。

4.B解析：集成測(cè)試是測(cè)試多個(gè)模塊組合后的行為，系統(tǒng)測(cè)試是測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)的行為，驗(yàn)收測(cè)試是客戶確認(rèn)軟件滿足需求的測(cè)試。

5.C解析：非功能性測(cè)試關(guān)注軟件的非功能特性，如性能、安全性、兼容性等。

6.C解析：Subversion是版本控制工具，不屬于缺陷跟蹤工具，而其他選項(xiàng)是缺陷跟蹤工具。

7.A解析：壓力測(cè)試是評(píng)估軟件在極端負(fù)載下的表現(xiàn)，屬于負(fù)載測(cè)試。

8.D解析：回歸測(cè)試是為了驗(yàn)證修復(fù)后的缺陷沒(méi)有引入新的問(wèn)題，屬于測(cè)試的一種類型。

9.C解析：安全性測(cè)試是評(píng)估軟件的安全性，屬于非功能性測(cè)試。

10.D解析：維護(hù)階段是軟件開(kāi)發(fā)生命周期的最后一個(gè)階段，包括軟件的維護(hù)和更新。

二、多項(xiàng)選擇題答案及解析思路

1.A,B,C,D,E解析：軟件測(cè)試的目的是確保軟件滿足需求、識(shí)別缺陷、評(píng)估質(zhì)量、確保安全性。

2.A,B,C,D,E解析：軟件測(cè)試的常見(jiàn)類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和性能測(cè)試。

3.A,B解析：測(cè)試設(shè)計(jì)階段包括測(cè)試用例設(shè)計(jì)和測(cè)試環(huán)境搭建。

4.A,B,C解析：軟件測(cè)試的關(guān)鍵原則包括全面性、可重復(fù)性、可維護(hù)性。

5.A,B,C,D,E解析：軟件測(cè)試的常用方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、灰盒測(cè)試、自動(dòng)化測(cè)試和手動(dòng)測(cè)試。

6.A,B,C解析：軟件測(cè)試的常用工具包括缺陷跟蹤工具Jira、Selenium、SonarQube。

7.A,B,C,D,E解析：軟件測(cè)試的常見(jiàn)缺陷類型包括功能性、性能、界面、安全性和穩(wěn)定性缺陷。

8.A,B,C,D解析：軟件測(cè)試的常見(jiàn)測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法包括等價(jià)類劃分、邊界值分析、決策表和狀態(tài)圖。

9.A,B,C,D,E解析：軟件測(cè)試的常見(jiàn)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容通常包括缺陷數(shù)量、優(yōu)先級(jí)、類型、狀態(tài)和測(cè)試執(zhí)行時(shí)間。

10.A,B,C,D,E解析：軟件測(cè)試的常見(jiàn)測(cè)試管理活動(dòng)包括測(cè)試計(jì)劃制定、資源分配、進(jìn)度監(jiān)控、團(tuán)隊(duì)溝通和風(fēng)險(xiǎn)管理。

三、判斷題答案及解析思路

1.×解析：軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的一個(gè)重要階段，但不是最后一個(gè)階段。

2.×解析：靜態(tài)測(cè)試是在不運(yùn)行程序的情況下進(jìn)行的，而動(dòng)態(tài)測(cè)試是運(yùn)行程序進(jìn)行的。

3.√解析：?jiǎn)卧獪y(cè)試通常由程序員自己執(zhí)行，以確保代碼的正確性。

4.×解析：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)缺陷，而不是確保軟件沒(méi)有缺陷。

5.√解析：灰盒測(cè)試結(jié)合了黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的特點(diǎn)，關(guān)注內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部功能。

6.×解析：集成測(cè)試通常在系統(tǒng)測(cè)試之前進(jìn)行，以確保模塊之間的正確集成。

7.√解析：性能測(cè)試關(guān)注軟件的執(zhí)行速度和資源消耗，以評(píng)估軟件的性能。

8.√解析：缺陷跟蹤工具用于記錄和管理缺陷報(bào)告，提高測(cè)試效率。

9.√解析：回歸測(cè)試確保修復(fù)后的缺陷沒(méi)有引入新的問(wèn)題，保持軟件的穩(wěn)定性。

10.×解析：軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)缺陷，提高軟件質(zhì)量，而不是直接提高可用性。

四、簡(jiǎn)答題答案及解析思路

1.解析：軟件測(cè)試的四個(gè)階段包括需求分析、設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)和測(cè)試。需求分析階段確定軟件需求；設(shè)計(jì)階段設(shè)計(jì)軟件架構(gòu)和模塊；實(shí)現(xiàn)階段編寫(xiě)代碼；測(cè)試階段驗(yàn)證軟件是否符合需求。

2.解析：等價(jià)類劃分是將輸入數(shù)據(jù)劃分為若干個(gè)等價(jià)類，每個(gè)等價(jià)類中的數(shù)據(jù)在測(cè)試中可以相互替代。設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)，只需從一個(gè)等價(jià)類中選擇一個(gè)代表性的數(shù)據(jù)即可。

3.解析：黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，不考慮內(nèi)部實(shí)現(xiàn)；白盒測(cè)試關(guān)注內(nèi)部邏輯和結(jié)構(gòu)；灰盒測(cè)試介于兩者之間，關(guān)注內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部