2025年RT初級無損檢測員面試考試重點一、單選題（共15題，每題2分）1.X射線探傷適用于檢測哪些材料？A.金屬B.塑料C.陶瓷D.以上都是2.RT檢測中，哪種曝光幾何方式分辨率最高？A.聚焦幾何B.小源距幾何C.大源距幾何D.焦點幾何3.以下哪種不是RT檢測中常見的偽缺陷？A.裂紋B.表面劃痕C.材料混料D.曝光過度4.RT檢測中，哪種膠片類型靈敏度最高？A.普通增感膠片B.高分辨率膠片C.特高分辨率膠片D.低對比度膠片5.管道RT檢測中，通常采用哪種透照方式？A.單膠片法B.雙膠片法C.多膠片法D.無膠片法6.RT檢測中，哪種參數(shù)對圖像對比度影響最大？A.曝光時間B.電壓C.濾光片厚度D.膠片類型7.RT檢測中，哪種缺陷類型最易被檢測？A.面狀缺陷B.體積缺陷C.表面缺陷D.分層缺陷8.RT檢測中，哪種缺陷類型最難被檢測？A.裂紋B.孔洞C.未焊透D.細小夾雜物9.RT檢測中，哪種缺陷指示最可靠？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.鏈狀缺陷10.RT檢測中，哪種缺陷指示最不可靠？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷11.RT檢測中，哪種缺陷指示最易被忽視？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷12.RT檢測中，哪種缺陷指示最易被誤判？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷13.RT檢測中，哪種缺陷指示最易被遺漏？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷14.RT檢測中，哪種缺陷指示最易被漏檢？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷15.RT檢測中，哪種缺陷指示最易被誤判為偽缺陷？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.鏈狀缺陷二、多選題（共10題，每題3分）1.RT檢測中，哪些因素會影響缺陷的可檢測性？A.缺陷尺寸B.缺陷形狀C.缺陷方向D.缺陷位置2.RT檢測中，哪些參數(shù)需要嚴格控制？A.曝光時間B.電壓C.濾光片厚度D.膠片類型3.RT檢測中，哪些缺陷類型屬于體積缺陷？A.裂紋B.孔洞C.未焊透D.夾雜物4.RT檢測中，哪些缺陷類型屬于面狀缺陷？A.裂紋B.表面劃痕C.分層D.未焊透5.RT檢測中，哪些缺陷類型屬于表面缺陷？A.裂紋B.表面劃痕C.分層D.夾雜物6.RT檢測中，哪些缺陷指示最可靠？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.鏈狀缺陷7.RT檢測中，哪些缺陷指示最不可靠？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷8.RT檢測中，哪些缺陷指示最易被忽視？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷9.RT檢測中，哪些缺陷指示最易被誤判？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷10.RT檢測中，哪些缺陷指示最易被遺漏？A.裂紋B.點狀缺陷C.分叉缺陷D.偽缺陷三、判斷題（共10題，每題1分）1.RT檢測中，曝光時間越長，圖像對比度越高。（）2.RT檢測中，電壓越高，圖像對比度越高。（）3.RT檢測中，濾光片厚度越大，圖像對比度越高。（）4.RT檢測中，膠片類型對圖像對比度影響最大。（）5.RT檢測中，缺陷尺寸越大，越易被檢測。（）6.RT檢測中，缺陷形狀越簡單，越易被檢測。（）7.RT檢測中，缺陷方向與射線方向平行時，越易被檢測。（）8.RT檢測中，缺陷位置越靠近膠片，越易被檢測。（）9.RT檢測中，偽缺陷是指實際存在的缺陷。（）10.RT檢測中，偽缺陷是指非實際存在的缺陷。（）四、簡答題（共5題，每題5分）1.簡述RT檢測的基本原理。2.簡述RT檢測中常見的偽缺陷類型及產(chǎn)生原因。3.簡述RT檢測中如何控制曝光參數(shù)。4.簡述RT檢測中如何識別偽缺陷。5.簡述RT檢測中如何記錄和報告檢測結(jié)果。五、計算題（共5題，每題5分）1.某管道直徑為200mm，壁厚為10mm，采用小源距幾何進行RT檢測，源距為1500mm，求焦距？2.某RT檢測膠片的靈敏度要求為2%，采用200kV的X射線源，求所需濾光片的最小厚度？3.某RT檢測的曝光時間為10s，電壓為100kV，電流為10mA，求曝光量？4.某RT檢測的曝光量為1000R，膠片感光速度為ISO200，求所需曝光時間？5.某RT檢測的曝光參數(shù)為：電壓100kV，電流10mA，曝光時間10s，濾光片厚度0.5mm，求曝光量？答案單選題答案1.D2.B3.B4.C5.B6.B7.A8.D9.A10.D11.D12.D13.D14.D15.D多選題答案1.A,B,C,D2.A,B,C,D3.B,C,D4.A,B,C5.A,B,C6.A,B,C,D7.B,C,D8.B,C,D9.B,C,D10.B,C,D判斷題答案1.×2.√3.√4.×5.√6.×7.×8.√9.×10.√簡答題答案1.RT檢測的基本原理是利用X射線或γ射線穿透被檢物體，由于缺陷與基體的密度不同，導(dǎo)致射線強度發(fā)生變化，通過膠片或數(shù)字探測器記錄射線強度變化，形成圖像，從而檢測缺陷。2.RT檢測中常見的偽缺陷類型包括：顆粒影、劃痕、指紋、壓痕、氣泡等，產(chǎn)生原因包括：膠片處理不當、曝光參數(shù)不當、被檢物體表面處理不當?shù)取?.RT檢測中控制曝光參數(shù)的方法包括：選擇合適的電壓和電流、控制曝光時間、使用合適的濾光片、選擇合適的膠片類型等。4.RT檢測中識別偽缺陷的方法包括：觀察偽缺陷的特征、對比標準圖像、使用多種曝光參數(shù)進行檢測等。5.RT檢測中記錄和報告檢測結(jié)果的方法包括：記錄檢測參數(shù)、繪制缺陷位置圖、標注缺陷類型和尺寸、編寫檢測報告等。計算題答案1.焦距=√(源距2-管道半徑2)=√(15002-1002)≈1491.8mm2.所需濾光片的最小厚度=(200kV-50kV)/0.5mm/kV=150mm3.曝光量=電流