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文檔簡(jiǎn)介
團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
T/GZGQXXXX-2024
有機(jī)發(fā)光二極管顯示器表面云紋
(Mura)缺陷量化方法
Organiclightemittingdiodedisplays–Quantitativeevaluation
methodsofsurfaceMura
征求意見稿
2024-XX-XX發(fā)布2024-XX-XX實(shí)施
XXXXXXXXXXXX發(fā)布
-1-
有機(jī)發(fā)光二極管顯示器表面云紋(Mura)缺陷量化方法
1.范圍
本文件規(guī)定了有機(jī)發(fā)光二極管顯示器表面云紋(Mura)缺陷量化的分級(jí)標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)驗(yàn)
條件、方法。
本文件主要適用于有機(jī)發(fā)光二極管顯示器。
2.規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的
版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適
用于本文件。
GB/T20871.2-2007有機(jī)發(fā)光二極管顯示器第2部分:術(shù)語與文字符號(hào)
GB/T20871.61-2013有機(jī)發(fā)光二極管顯示器第6-1部分:光學(xué)和光電參數(shù)測(cè)試方
法
20213159-T-339有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件第6-2部分:測(cè)試方法——視覺質(zhì)量和
亮室性能
GB/T20871.63-2021有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件第6-3部分:圖像質(zhì)量測(cè)試方法
3.術(shù)語和定義
下列術(shù)語和定義適用于本文件
5.2.1主觀量化實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)人員在一定條件下通過自己的主觀感受對(duì)缺陷等級(jí)做出判斷的實(shí)驗(yàn)。
5.2.2目視檢查
通過人眼觀察顯示器上的缺陷來進(jìn)行缺陷等級(jí)評(píng)估的方法。
5.2.3限度樣本
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用于判定某一無法量化的質(zhì)量特性的參考標(biāo)準(zhǔn)。
5.2.4云紋缺陷
顯示器局部的細(xì)微亮度或顏色變化區(qū)域。
5.2.5線缺陷
顯示器上可被觀察到的平行于一行或列的水平或豎直的亮線或暗線缺陷。
5.2.6點(diǎn)缺陷
顯示器件上可被觀察到的局部亮度輕微偏暗或偏亮的區(qū)域。
5.2.7劃痕缺陷
顯示為單條或多條線或條狀的缺陷,一般在暗背景下較明顯。
5.2.8對(duì)比度
顯示器件中明暗區(qū)域最亮的白和最暗的黑之間不同亮度層級(jí)。
5.2.9亮度云紋缺陷
除像素缺陷外,亮度與顯示器件的背景不同的部分。
5.2.10色度云紋缺陷
除像素缺陷外,色度與顯示器件的背景不同的部分。
4.略縮語
下列略縮語適用于本文件。
SEMI國(guó)際半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì)(SemiconductorEquipmentandMaterials
International)
CSF對(duì)比度敏感函數(shù)(ContrastSensitivityFunction)
JND最小可覺差(JustNoticeableDifference)
5.主觀實(shí)驗(yàn)方法
5.1概述
為了獲取人眼對(duì)Mura缺陷不同嚴(yán)重程度的評(píng)價(jià)數(shù)據(jù),首先要進(jìn)行主觀量化實(shí)驗(yàn)來
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采集數(shù)據(jù)。國(guó)際電信聯(lián)盟(InternationalTelecommunicationUnion,ITU)發(fā)布了
一系列針對(duì)此類主觀評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)的建議和標(biāo)準(zhǔn)。Mura缺陷主觀量化實(shí)驗(yàn)根據(jù)ITU標(biāo)準(zhǔn)的指
導(dǎo)進(jìn)行設(shè)計(jì)。該實(shí)驗(yàn)采用雙刺激度對(duì)照實(shí)驗(yàn)方法,以減少主觀因素對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響。
除顯示器件內(nèi)部因素外,實(shí)驗(yàn)場(chǎng)景中的其他外部條件也會(huì)影響最終結(jié)果。因此,實(shí)驗(yàn)
根據(jù)Mura缺陷特性和人們?nèi)粘J褂檬謾C(jī)的習(xí)慣,選擇合適的客觀因素進(jìn)行控制。
5.2量化因素
在本標(biāo)準(zhǔn)中,量化模型所選擇的量化因素為對(duì)比度、尺寸及類型。
5.2.1對(duì)比度因素
缺陷對(duì)比度因素會(huì)直接影響Mura缺陷的顯著程度,因此作為首要考慮因素,其值
通過Mura缺陷區(qū)域內(nèi)外平均灰度進(jìn)行計(jì)算,同時(shí)為了減少全局光照不均帶來的影響,
通常選取計(jì)算的整個(gè)背景區(qū)域替換為周圍一定大小背景區(qū)域,平均對(duì)比度C由下式進(jìn)行
計(jì)算:
??
其中,和分別表示缺陷區(qū)域和?背=景區(qū)域的灰度均值。該方法適用于黑白Mura
??
缺陷區(qū)域?qū)Ρ??度?的?計(jì)算,對(duì)于彩色Mura,通過亮度進(jìn)行進(jìn)行對(duì)比度計(jì)算。首先參照附
件B中圖B.1色域轉(zhuǎn)換的方式,將圖片從RGB色彩空間轉(zhuǎn)換為XYZ色域。在XYZ色域中,Y
分量表示亮度。平均對(duì)比度C由下式進(jìn)行計(jì)算:
??
其中,和分別表示缺陷區(qū)域和?背=景區(qū)域的亮度均值。
??
針對(duì)彩?色?Mu?r?a缺陷區(qū)域的平均對(duì)比度計(jì)算,本標(biāo)準(zhǔn)僅提供轉(zhuǎn)換方法,其余因素的
選擇可參考本標(biāo)準(zhǔn)。
5.2.2尺寸因素
尺寸因素通過計(jì)算缺陷區(qū)域(灰階差與背景不同的部分)的像素?cái)?shù)量獲得:
?????
?=