《GB/T30142-2013平面型電磁屏蔽材料屏蔽效能測量方法》

專題研究報告目錄標(biāo)準(zhǔn)溯源與核心定位:為何GB/T30142-2013是電磁屏蔽材料檢測的“定海神針”?專家視角剖析其行業(yè)價值測量設(shè)備與環(huán)境要求:達(dá)標(biāo)檢測需哪些“硬支撐”?專家解讀標(biāo)準(zhǔn)對設(shè)備精度與環(huán)境控制的嚴(yán)苛規(guī)范樣品制備與處理要點:細(xì)節(jié)如何影響測量結(jié)果?專家深挖標(biāo)準(zhǔn)中樣品制備的核心管控環(huán)節(jié)數(shù)據(jù)處理與結(jié)果評價:如何確保數(shù)據(jù)真實可靠?專家解讀標(biāo)準(zhǔn)中的數(shù)據(jù)校準(zhǔn)與效能分級邏輯標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用場景與實踐案例:多行業(yè)如何落地?專家分享GB/T30142-2013的實操應(yīng)用與效果驗證測量原理深度解碼:平面型電磁屏蔽效能測量的核心邏輯是什么?專家拆解標(biāo)準(zhǔn)中的關(guān)鍵技術(shù)內(nèi)核不同頻段測量方法全解析:從低頻到高頻如何精準(zhǔn)適配?專家剖析標(biāo)準(zhǔn)中的頻段差異化測量策略測量步驟與操作規(guī)范:一步錯全盤輸?專家梳理標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)化操作流程與關(guān)鍵控制點常見測量誤差與規(guī)避策略:哪些“坑”需警惕?專家剖析標(biāo)準(zhǔn)框架下誤差來源與精準(zhǔn)防控方法標(biāo)準(zhǔn)迭代展望與行業(yè)適配:未來3-5年如何升級?專家預(yù)判標(biāo)準(zhǔn)與電磁屏蔽行業(yè)發(fā)展的協(xié)同趨標(biāo)準(zhǔn)溯源與核心定位：為何GB/T30142-2013是電磁屏蔽材料檢測的“定海神針”？專家視角剖析其行業(yè)價值標(biāo)準(zhǔn)制定背景與行業(yè)需求：電磁污染防控下的檢測標(biāo)準(zhǔn)剛需1隨著電子信息產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展，電磁輻射污染問題凸顯，平面型電磁屏蔽材料廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備、通信、軍工等領(lǐng)域。此前行業(yè)檢測方法不統(tǒng)一，數(shù)據(jù)缺乏可比性，制約產(chǎn)業(yè)升級。本標(biāo)準(zhǔn)基于國際同類標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)驗，結(jié)合國內(nèi)產(chǎn)業(yè)實際，填補了平面型電磁屏蔽材料屏蔽效能測量的標(biāo)準(zhǔn)空白，為產(chǎn)品質(zhì)量管控提供統(tǒng)一依據(jù)。2（二）標(biāo)準(zhǔn)核心定位與適用范圍：精準(zhǔn)界定測量對象與應(yīng)用邊界標(biāo)準(zhǔn)核心定位為平面型電磁屏蔽材料屏蔽效能的實驗室測量提供統(tǒng)一方法，適用于金屬箔、導(dǎo)電織物、涂層等平面狀材料，頻率范圍覆蓋10kHz-18GHz。明確排除非平面材料及特殊環(huán)境下的現(xiàn)場測量，精準(zhǔn)劃分應(yīng)用邊界，避免檢測場景誤配導(dǎo)致的結(jié)果偏差，為行業(yè)檢測提供清晰指引。（三）標(biāo)準(zhǔn)的行業(yè)地位與核心價值：銜接產(chǎn)業(yè)上下游的技術(shù)紐帶1作為國內(nèi)首個針對平面型電磁屏蔽材料屏蔽效能的推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)，其核心價值在于統(tǒng)一檢測口徑，實現(xiàn)上下游數(shù)據(jù)互通。一方面為材料生產(chǎn)企業(yè)提供質(zhì)量管控依據(jù)，另一方面為下游應(yīng)用端提供選型參考，同時推動檢測機構(gòu)規(guī)范化運營，助力我國電磁屏蔽材料產(chǎn)業(yè)對標(biāo)國際先進(jìn)水平。2與國際同類標(biāo)準(zhǔn)的差異與銜接：立足本土適配國際趨勢01對比IEC、ASTM等國際標(biāo)準(zhǔn)，本標(biāo)準(zhǔn)在頻段覆蓋、樣品尺寸、環(huán)境要求等方面兼顧本土產(chǎn)業(yè)實際，降低中小企業(yè)檢測成本。同時關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)與國際接軌，確保檢測結(jié)果具有國際可比性。通過差異分析與銜接設(shè)計，既適配國內(nèi)產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，又為企業(yè)參與國際競爭提供技術(shù)支撐。02、測量原理深度解碼：平面型電磁屏蔽效能測量的核心邏輯是什么？專家拆解標(biāo)準(zhǔn)中的關(guān)鍵技術(shù)內(nèi)核屏蔽效能的核心定義與表征指標(biāo)：為何以衰減量為核心評價依據(jù)？01標(biāo)準(zhǔn)明確屏蔽效能（SE）為入射電磁波與透射電磁波的場強或功率衰減量，以分貝（dB）表示，核心表征指標(biāo)包括電場屏蔽效能、磁場屏蔽效能及功率屏蔽效能。選擇衰減量作為核心，因其一能直觀反映材料對電磁輻射的阻擋能力，二能實現(xiàn)不同材料間的量化對比，是行業(yè)公認(rèn)的核心評價維度。02（二）電磁屏蔽的基本原理：反射、吸收與多次反射的協(xié)同作用平面型電磁屏蔽材料的屏蔽作用源于三個核心過程：電磁波入射時的界面反射、穿透材料時的能量吸收、材料內(nèi)部與界面的多次反射。標(biāo)準(zhǔn)測量原理正是基于這一機制，通過測量入射與透射電磁波的能量差異，量化三者協(xié)同作用的總衰減效果，為不同材料的屏蔽機理分析提供數(shù)據(jù)支撐。（三）測量方法的核心分類與原理差異：遠(yuǎn)場與近場測量的邏輯區(qū)分01標(biāo)準(zhǔn)將測量方法分為遠(yuǎn)場（平面波）測量、近場（電場、磁場）測量，核心差異在于入射電磁波的場型特性。遠(yuǎn)場測量基于平面波入射假設(shè)，適用于高頻場景；近場測量則區(qū)分電場與磁場主導(dǎo)，適配低頻近距離場景。原理上通過控制場型，確保測量結(jié)果與材料實際應(yīng)用場景的場型匹配，提升檢測準(zhǔn)確性。02標(biāo)準(zhǔn)中測量原理的科學(xué)性驗證：數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性的底層保障01標(biāo)準(zhǔn)通過理論推導(dǎo)與實驗驗證雙重手段，確保測量原理的科學(xué)性。結(jié)合傳輸線理論、電磁感應(yīng)定律等基礎(chǔ)理論，建立屏蔽效能測量的數(shù)學(xué)模型；同時通過標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)、多實驗室比對實驗，驗證原理的實操可行性?？茖W(xué)性驗證為檢測數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性提供底層支撐，是標(biāo)準(zhǔn)權(quán)威性的核心保障。02、測量設(shè)備與環(huán)境要求：達(dá)標(biāo)檢測需哪些“硬支撐”？專家解讀標(biāo)準(zhǔn)對設(shè)備精度與環(huán)境控制的嚴(yán)苛規(guī)范核心測量設(shè)備的技術(shù)要求：信號源、接收器與天線的精度管控標(biāo)準(zhǔn)明確信號源需滿足頻率穩(wěn)定性≤±0.1%、輸出功率可調(diào)范圍≥30dB；接收器需具備足夠靈敏度，測量誤差≤±1dB；天線需適配對應(yīng)頻段，電壓駐波比（VSWR）≤2.0。這些要求確保信號傳輸與接收的精準(zhǔn)性，避免設(shè)備精度不足導(dǎo)致的測量偏差，是達(dá)標(biāo)檢測的核心硬件基礎(chǔ)。（二）輔助設(shè)備的配置規(guī)范：屏蔽暗室、夾具與校準(zhǔn)件的適配要求輔助設(shè)備中，屏蔽暗室需滿足歸一化場地衰減（NSA）偏差≤±4dB，減少外界電磁干擾；樣品夾具需保證樣品平整固定，且自身屏蔽效能≥40dB，避免夾具引入額外衰減；校準(zhǔn)件需采用經(jīng)計量認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)件，確保設(shè)備校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。輔助設(shè)備的規(guī)范配置為測量過程的穩(wěn)定性提供保障。（三）測量環(huán)境的核心控制指標(biāo)：電磁干擾、溫度濕度的嚴(yán)苛限制標(biāo)準(zhǔn)要求測量環(huán)境電磁干擾場強≤背景場強的1/10，避免外界信號干擾測量結(jié)果；溫度控制在23℃±5℃,相對濕度45%-75%，因溫濕度變化會影響材料導(dǎo)電性能，進(jìn)而改變屏蔽效能。通過環(huán)境指標(biāo)管控，減少外界因素對測量結(jié)果的影響，確保檢測條件的一致性。12設(shè)備校準(zhǔn)與維護(hù)要求：定期核查確保長期穩(wěn)定運行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定核心設(shè)備需每年至少校準(zhǔn)一次，校準(zhǔn)依據(jù)符合國家計量標(biāo)準(zhǔn)；日常使用中需定期核查設(shè)備性能，如信號源輸出穩(wěn)定性、天線增益等。設(shè)備校準(zhǔn)與維護(hù)能及時發(fā)現(xiàn)設(shè)備偏差，確保其長期穩(wěn)定運行，保障不同時期、不同批次檢測數(shù)據(jù)的一致性與可比性。12、不同頻段測量方法全解析：從低頻到高頻如何精準(zhǔn)適配？專家剖析標(biāo)準(zhǔn)中的頻段差異化測量策略低頻段（10kHz-30MHz）測量方法：磁場主導(dǎo)下的線圈耦合測量策略低頻段以磁場為主導(dǎo)，標(biāo)準(zhǔn)采用線圈耦合測量法。通過發(fā)射線圈產(chǎn)生低頻磁場，接收線圈測量透射磁場強度，計算屏蔽效能。核心要點為線圈間距、匝數(shù)匹配，避免線圈間寄生耦合。適配變壓器、電機等低頻電磁設(shè)備用材料檢測，確保測量結(jié)果與實際應(yīng)用場景匹配。12（二）中頻段（30MHz-1GHz）測量方法：平面波過渡區(qū)的天線法測量01中頻段處于近場向遠(yuǎn)場過渡區(qū)，標(biāo)準(zhǔn)采用天線法測量，兼顧電場與磁場特性。選用偶極子天線發(fā)射信號，接收天線測量透射信號，通過調(diào)整天線間距實現(xiàn)場型控制。測量中需重點校準(zhǔn)天線增益與相位，減少過渡區(qū)場型不穩(wěn)定導(dǎo)致的誤差，適配通信設(shè)備中頻段屏蔽材料檢測。02（三）高頻段（1GHz-18GHz）測量方法：遠(yuǎn)場平面波的波導(dǎo)/天線法測量01高頻段以遠(yuǎn)場平面波為主，標(biāo)準(zhǔn)提供波導(dǎo)法與天線法兩種方案。波導(dǎo)法適用于小尺寸樣品，通過矩形波導(dǎo)傳輸高頻信號，測量樣品前后功率衰減；天線法適用于大尺寸樣品，在屏蔽暗室中實現(xiàn)平面波入射。核心要求為場型均勻性控制，適配雷達(dá)、衛(wèi)星通信等高頻場景材料檢測。02頻段間測量方法的切換要點：避免頻段適配不當(dāng)導(dǎo)致的誤差標(biāo)準(zhǔn)明確頻段切換時需同步調(diào)整設(shè)備（天線、信號源參數(shù)）、校準(zhǔn)方法與環(huán)境控制。如低頻轉(zhuǎn)高頻時，需更換適配高頻的喇叭天線，調(diào)整屏蔽暗室歸一化場地衰減。切換過程中需進(jìn)行跨頻段校準(zhǔn)驗證，確保不同頻段測量數(shù)據(jù)的連續(xù)性與準(zhǔn)確性，避免因設(shè)備或方法適配不當(dāng)產(chǎn)生偏差。、樣品制備與處理要點：細(xì)節(jié)如何影響測量結(jié)果？專家深挖標(biāo)準(zhǔn)中樣品制備的核心管控環(huán)節(jié)樣品尺寸與形狀要求：適配不同測量方法的尺寸規(guī)范01標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)測量方法明確樣品尺寸：波導(dǎo)法樣品尺寸與波導(dǎo)截面匹配，誤差≤±0.1mm；天線法樣品最小尺寸≥入射波長的1/2，且邊緣無毛刺。形狀需為規(guī)則矩形，避免不規(guī)則形狀導(dǎo)致電磁波繞射，影響透射信號測量。尺寸與形狀的規(guī)范確保樣品與測量系統(tǒng)適配，減少邊界效應(yīng)誤差。02（二）樣品表面處理要求：清潔度與平整度的核心管控標(biāo)準(zhǔn)要求樣品表面無油污、灰塵、劃痕，清潔采用無水乙醇擦拭，避免化學(xué)試劑損傷材料表面導(dǎo)電層；表面平整度誤差≤樣品厚度的5%，避免凹凸不平導(dǎo)致電磁波反射路徑異常。表面處理不當(dāng)會改變材料表面阻抗，進(jìn)而影響屏蔽效能，因此是樣品制備的關(guān)鍵管控環(huán)節(jié)。（三）樣品厚度與均勻性要求：厚度偏差對測量結(jié)果的影響管控標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定樣品厚度測量需取至少5個均勻分布點，厚度偏差≤±5%；均勻性要求同一批次樣品厚度變異系數(shù)≤3%。因材料厚度直接影響電磁波吸收衰減量，厚度不均會導(dǎo)致屏蔽效能波動。通過厚度與均勻性管控，確保樣品自身特性一致，避免因樣品差異導(dǎo)致的測量結(jié)果偏差。樣品保存與預(yù)處理：避免存儲環(huán)境影響材料性能標(biāo)準(zhǔn)要求樣品保存于干燥、無電磁干擾、溫度20℃±5℃的環(huán)境，避免潮濕、高溫或化學(xué)腐蝕導(dǎo)致材料導(dǎo)電性能變化；測量前需將樣品在測量環(huán)境中放置至少2小時，進(jìn)行溫度平衡。預(yù)處理能消除存儲環(huán)境對材料性能的影響，確保測量時樣品處于穩(wěn)定狀態(tài)，提升結(jié)果準(zhǔn)確性。、測量步驟與操作規(guī)范：一步錯全盤輸？專家梳理標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)化操作流程與關(guān)鍵控制點測量前準(zhǔn)備：設(shè)備校準(zhǔn)、樣品核查與環(huán)境確認(rèn)的全流程測量前需完成三項核心準(zhǔn)備：設(shè)備校準(zhǔn)（信號源、接收器、天線等逐一校準(zhǔn)，記錄校準(zhǔn)數(shù)據(jù)）；樣品核查（尺寸、表面、厚度等指標(biāo)復(fù)核，確認(rèn)符合要求）；環(huán)境確認(rèn)（電磁干擾、溫濕度檢測，確保達(dá)標(biāo)）。準(zhǔn)備環(huán)節(jié)需留存完整記錄，為后續(xù)數(shù)據(jù)追溯提供依據(jù)，是測量準(zhǔn)確性的前提。（二）測量過程操作：信號發(fā)射、接收與數(shù)據(jù)采集的標(biāo)準(zhǔn)化步驟01標(biāo)準(zhǔn)化步驟為：設(shè)置信號源參數(shù)（頻率、功率）→啟動發(fā)射設(shè)備，穩(wěn)定30秒→無樣品時測量背景信號（入射信號）→放置樣品，確保固定牢固→測量透射信號，重復(fù)采集3次→記錄數(shù)據(jù)。操作中需避免樣品移位、設(shè)備觸碰，確保信號穩(wěn)定，重復(fù)采集能減少隨機誤差，提升數(shù)據(jù)可靠性。02（三）測量后整理：樣品回收、設(shè)備復(fù)位與記錄歸檔的規(guī)范要求01測量后需及時回收樣品，分類存放；設(shè)備恢復(fù)至待機狀態(tài)，關(guān)閉不必要的電源；記錄歸檔包括測量參數(shù)、校準(zhǔn)數(shù)據(jù)、樣品信息、環(huán)境數(shù)據(jù)等，確保記錄完整可追溯。規(guī)范整理能保護(hù)設(shè)備與樣品，同時為后續(xù)數(shù)據(jù)查詢、問題追溯提供支撐，符合實驗室規(guī)范化管理要求。02操作過程中的關(guān)鍵控制點：避免人為誤差的核心環(huán)節(jié)關(guān)鍵控制點包括：樣品放置居中無偏移，避免邊緣漏波；信號源功率穩(wěn)定后再采集數(shù)據(jù)，避免信號波動；測量人員避免在發(fā)射與接收天線間停留，減少人體干擾；數(shù)據(jù)記錄實時準(zhǔn)確，避免漏記或錯記。這些控制點能有效降低人為操作誤差，確保測量過程的標(biāo)準(zhǔn)化與規(guī)范化。、數(shù)據(jù)處理與結(jié)果評價：如何確保數(shù)據(jù)真實可靠？專家解讀標(biāo)準(zhǔn)中的數(shù)據(jù)校準(zhǔn)與效能分級邏輯原始數(shù)據(jù)校準(zhǔn)：背景信號與系統(tǒng)誤差的修正方法標(biāo)準(zhǔn)要求原始數(shù)據(jù)需進(jìn)行兩項校準(zhǔn)：背景信號校準(zhǔn)（用無樣品時的測量值修正樣品測量值，消除環(huán)境背景干擾）；系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)（結(jié)合設(shè)備校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，修正設(shè)備自身偏差）。校準(zhǔn)公式為SE=20lg(Ei/Et)（電場）或SE=20lg(Hi/Ht)（磁場），其中Ei、Hi為校準(zhǔn)后入射場強，Et、Ht為透射場強。12（二）數(shù)據(jù)有效性判斷：異常數(shù)據(jù)的識別與剔除標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定同一樣品3次重復(fù)測量結(jié)果的相對偏差≤5%，否則為異常數(shù)據(jù)。識別異常數(shù)據(jù)后，需排查原因（樣品移位、設(shè)備波動等），重新測量；若仍存在異常，需記錄原因并剔除，采用有效數(shù)據(jù)計算平均值。數(shù)據(jù)有效性判斷能避免異常值影響最終結(jié)果，確保數(shù)據(jù)真實可靠。（三）屏蔽效能結(jié)果表示：數(shù)值呈現(xiàn)與不確定度分析的要求A結(jié)果以“平均值±不確定度”形式呈現(xiàn)，不確定度需包含設(shè)備誤差、環(huán)境誤差、操作誤差等因素，計算方法符合國家計量技術(shù)規(guī)范。同時需標(biāo)注測量頻率、場型（電場/磁場/平面波）、樣品厚度等關(guān)鍵參數(shù)，確保結(jié)果完整可解讀。不確定度分析能客觀反映結(jié)果的可靠性范圍。B結(jié)果評價與分級：結(jié)合應(yīng)用場景的效能等級判定01標(biāo)準(zhǔn)雖未明確統(tǒng)一分級，但提供了結(jié)合應(yīng)用場景的評價邏輯：低頻段(≤30MHz）SE≥60dB為高性能，40-60dB為中等性能，<40dB為基礎(chǔ)性能；高頻段(≥1GHz）SE≥80dB為高性能，60-80dB為中等性能，<60dB為基礎(chǔ)性能。評價需適配實際應(yīng)用的電磁環(huán)境要求，為材料選型提供依據(jù)。02、常見測量誤差與規(guī)避策略：哪些“坑”需警惕？專家剖析標(biāo)準(zhǔn)框架下誤差來源與精準(zhǔn)防控方法設(shè)備類誤差：精度不足與校準(zhǔn)缺失導(dǎo)致的誤差及防控01設(shè)備類誤差主要源于信號源頻率漂移、天線增益偏差、接收器靈敏度不足等。防控策略：嚴(yán)格按標(biāo)準(zhǔn)定期校準(zhǔn)設(shè)備，選用精度符合要求的設(shè)備；測量前核查設(shè)備性能，確保參數(shù)穩(wěn)定；針對高頻測量，選用低駐波比天線，減少信號反射損耗。設(shè)備誤差防控是提升測量準(zhǔn)確性的核心。02（二）樣品類誤差：制備不當(dāng)與性能不穩(wěn)定導(dǎo)致的誤差及防控樣品類誤差包括尺寸偏差、表面污染、厚度不均、性能隨時間變化等。防控策略：嚴(yán)格按標(biāo)準(zhǔn)制備樣品，加強尺寸、表面、厚度的核查；測量前進(jìn)行樣品預(yù)處理，消除存儲環(huán)境影響；對易老化材料，縮短樣品存放時間，及時完成測量。樣品誤差防控需貫穿樣品制備全流程。（三）環(huán)境類誤差：電磁干擾與溫濕度波動導(dǎo)致的誤差及防控環(huán)境類誤差主要來自外界電磁干擾、溫濕度變化。防控策略：在屏蔽暗室中進(jìn)行測量，定期檢測暗室屏蔽效能；測量過程中實時監(jiān)控溫濕度，確保在標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)；避免測量設(shè)備與其他電磁設(shè)備同室運行，減少干擾源。環(huán)境誤差防控需構(gòu)建穩(wěn)定的測量環(huán)境。12操作類誤差：人為操作不當(dāng)導(dǎo)致的誤差及防控操作類誤差包括樣品放置偏移、參數(shù)設(shè)置錯誤、數(shù)據(jù)記錄失誤等。防控策略：制定標(biāo)準(zhǔn)化操作手冊，規(guī)范操作流程；測量人員經(jīng)專業(yè)培訓(xùn)后上崗，熟悉設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)要求；關(guān)鍵操作環(huán)節(jié)實行雙人復(fù)核，數(shù)據(jù)記錄實時核對，避免人為失誤。操作誤差防控需強化人員管理與流程管控。、標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用場景與實踐案例：多行業(yè)如何落地？專家分享GB/T30142-2013的實操應(yīng)用與效果驗證電子信息行業(yè)：設(shè)備外殼屏蔽材料的質(zhì)量管控應(yīng)用01某電子設(shè)備企業(yè)采用本標(biāo)準(zhǔn)對設(shè)備外殼用導(dǎo)電涂層材料進(jìn)行檢測，針對1GHz-5GHz頻段，采用天線法測量。通過標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用，將材料屏蔽效能不合格率從15%降至3%，有效提升設(shè)備電磁兼容性，降低電磁干擾導(dǎo)致的故障發(fā)生率。實踐中重點管控樣品表面平整度與測量環(huán)境電磁干擾。02（二）通信行業(yè)：基站天線屏蔽材料的性能驗證應(yīng)用1某通信企業(yè)在基站天線屏蔽材料選型中，依據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)對不同廠家樣品進(jìn)行多頻段（30MHz-18GHz）測量。通過對比屏蔽效能數(shù)據(jù)，篩選出高頻段SE≥80dB的材料，確保基站運行時電磁輻射符合國家標(biāo)準(zhǔn)。應(yīng)用中重點關(guān)注高頻段場型均勻性與數(shù)據(jù)不確定度分析。2（三）軍工行業(yè)：涉密設(shè)備屏蔽材料的嚴(yán)苛檢測應(yīng)用某軍工單位針對涉密設(shè)備用平面型屏蔽織物，依據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行全頻段（10kHz-18GHz）檢測，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)要求制定更嚴(yán)苛的企業(yè)內(nèi)控指標(biāo)（SE≥100dB）。通過標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用，確保材料屏蔽性能滿足涉密信息防泄漏要求，實踐中強化樣品均勻性核查與設(shè)備校準(zhǔn)精度管控。檢測機構(gòu)：標(biāo)準(zhǔn)化檢測服務(wù)的規(guī)范化應(yīng)用某第三方檢測機構(gòu)以本標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，搭建平面型電磁屏蔽材料檢測實驗室，開展面向全行業(yè)的檢測服務(wù)。通過嚴(yán)格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)中的設(shè)備校準(zhǔn)、環(huán)境控制、操作規(guī)范，檢測報告獲