2026年電磁兼容性測試方法及案例分析一、單選題（共10題，每題2分）1.在進行輻射發(fā)射測試時，若被測設(shè)備（EUT）的尺寸較小，應(yīng)優(yōu)先選擇哪種天線進行測試？A.對數(shù)周期天線B.短波天線C.漏纜天線D.環(huán)形天線2.傳導(dǎo)騷擾測試中，若發(fā)現(xiàn)電源線上的差模噪聲超標，應(yīng)采取哪種措施優(yōu)先抑制？A.增加濾波電容B.使用共模扼流圈C.改變接地方式D.減少電源線長度3.在進行靜電放電抗擾度測試時，若EUT的表面有金屬部件，應(yīng)重點測試哪種類型放電？A.人體模型放電B.導(dǎo)體模型放電C.機器模型放電D.空氣放電4.電磁兼容性測試中，若發(fā)現(xiàn)EUT在特定頻率點存在強輻射發(fā)射，應(yīng)優(yōu)先排查哪種原因？A.電源線干擾B.開關(guān)電源模塊C.天線位置不當D.散熱不良5.在進行浪涌抗擾度測試時，若EUT的輸入端口為直流電源，應(yīng)選擇哪種測試配置？A.電壓注入型B.電流注入型C.線路注入型D.接地注入型6.若EUT在輻射抗擾度測試中因強干擾導(dǎo)致功能異常，應(yīng)優(yōu)先采取哪種措施改進？A.增加屏蔽層B.改進濾波電路C.調(diào)整PCB布局D.更換高頻元器件7.在進行電壓暫降測試時，若EUT的敏感度為±10%，應(yīng)選擇哪種測試波形？A.半正弦波B.方波C.正弦波D.梯形波8.若EUT在傳導(dǎo)騷擾測試中因數(shù)字電路干擾超標，應(yīng)優(yōu)先排查哪種原因？A.布線耦合B.供電噪聲C.元器件選型D.接地設(shè)計9.在進行射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試時，若EUT的通信模塊受影響，應(yīng)重點測試哪種頻率范圍？A.30MHz-300MHzB.300MHz-3GHzC.3GHz-30GHzD.30GHz-300GHz10.若EUT在靜電放電測試中因按鍵觸發(fā)導(dǎo)致誤操作，應(yīng)優(yōu)先采取哪種措施改進？A.增加放電距離B.改進屏蔽設(shè)計C.更換觸點材料D.優(yōu)化控制邏輯二、多選題（共5題，每題3分）1.在進行傳導(dǎo)騷擾測試時，若發(fā)現(xiàn)諧波干擾超標，可能的原因包括哪些？A.整流電路設(shè)計不當B.開關(guān)電源模塊未濾波C.線路對地耦合增強D.接地電阻過大E.高頻元器件參數(shù)錯誤2.若EUT在輻射抗擾度測試中因內(nèi)部振蕩導(dǎo)致超標，可能的原因包括哪些？A.PCB布線不合理B.元器件布局不當C.電源噪聲未抑制D.接地環(huán)路存在E.高頻濾波器失效3.在進行電壓暫降測試時，若EUT的敏感度為±5%，應(yīng)選擇哪些測試波形組合？A.50%暫降B.100%暫降C.200%暫降D.半正弦波E.方波4.若EUT在靜電放電測試中因金屬外殼觸發(fā)導(dǎo)致誤操作，應(yīng)采取哪些改進措施？A.增加表面導(dǎo)電涂層B.改進屏蔽接地設(shè)計C.使用導(dǎo)電膠帶D.優(yōu)化外殼結(jié)構(gòu)E.更換內(nèi)部傳感器5.在進行射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試時，若EUT的無線模塊受影響，可能的原因包括哪些？A.天線位置不當B.電磁屏蔽不足C.信號完整性問題D.電源線濾波失效E.接地設(shè)計不合理三、判斷題（共10題，每題1分）1.輻射發(fā)射測試中，若EUT的輻射水平隨距離增加而快速衰減，通常說明干擾源位于設(shè)備內(nèi)部。（×）2.傳導(dǎo)騷擾測試中，若發(fā)現(xiàn)電源線上的共模噪聲超標，應(yīng)優(yōu)先使用差模扼流圈進行抑制。（×）3.靜電放電抗擾度測試中，若EUT的表面有塑料部件，通常不需要測試導(dǎo)體模型放電。（√）4.浪涌抗擾度測試中，若EUT的輸入端口為通信接口，應(yīng)選擇線路注入型測試配置。（×）5.輻射抗擾度測試中，若EUT的輻射水平隨頻率增加而迅速上升，通常說明存在天線諧振。（√）6.電壓暫降測試中，若EUT的敏感度為±15%，應(yīng)選擇50%暫降和100%暫降進行測試。（×）7.傳導(dǎo)騷擾測試中，若發(fā)現(xiàn)信號地線上的噪聲超標，應(yīng)優(yōu)先排查接地設(shè)計問題。（√）8.靜電放電測試中，若EUT的按鍵觸點易受干擾，應(yīng)重點測試人體模型放電。（√）9.射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試中，若EUT的通信模塊受影響，應(yīng)重點測試300MHz-3GHz頻率范圍。（√）10.電壓暫降測試中，若EUT的敏感度為±10%，應(yīng)選擇半正弦波和方波進行測試。（√）四、簡答題（共5題，每題5分）1.簡述輻射發(fā)射測試中常用的屏蔽室設(shè)計要點，并說明其作用。2.在傳導(dǎo)騷擾測試中，若發(fā)現(xiàn)電源線上的差模噪聲超標，應(yīng)從哪些方面排查原因？3.簡述靜電放電抗擾度測試中，人體模型放電（HMD）的測試步驟及注意事項。4.在進行浪涌抗擾度測試時，若EUT的輸入端口為直流電源，應(yīng)如何選擇測試配置？說明理由。5.簡述射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試中，天線架設(shè)的基本要求，并說明其目的。五、案例分析題（共3題，每題10分）1.案例背景：某公司生產(chǎn)的工業(yè)控制設(shè)備在輻射發(fā)射測試中，在300MHz-1GHz頻率范圍內(nèi)多個頻點超標，且超標幅度隨距離增加而明顯衰減。設(shè)備內(nèi)部主要包含微控制器、電源模塊和無線通信模塊。問題：請分析可能的原因，并提出改進措施。2.案例背景：某公司生產(chǎn)的醫(yī)療設(shè)備在傳導(dǎo)騷擾測試中，發(fā)現(xiàn)電源線上的共模噪聲在150kHz-30MHz頻率范圍內(nèi)超標，且在開機瞬間尤為明顯。設(shè)備內(nèi)部主要采用開關(guān)電源和數(shù)字電路。問題：請分析可能的原因，并提出改進措施。3.案例背景：某公司生產(chǎn)的汽車電子設(shè)備在靜電放電抗擾度測試中，因觸摸金屬外殼導(dǎo)致通信模塊誤操作。設(shè)備內(nèi)部主要包含GPS模塊、藍牙模塊和電源接口。問題：請分析可能的原因，并提出改進措施。答案及解析一、單選題答案及解析1.答案：A解析：對數(shù)周期天線適用于寬頻段輻射發(fā)射測試，尤其適合小型EUT的測試需求。短波天線適用于較低頻率測試，漏纜天線適用于線纜測試，環(huán)形天線適用于特定方向測試。2.答案：B解析：差模噪聲主要源于開關(guān)電源等對稱電路，使用共模扼流圈可有效抑制共模噪聲，而差模噪聲需通過增加濾波電容或改進電路設(shè)計進行抑制。3.答案：B解析：金屬部件易引發(fā)導(dǎo)體模型放電，其放電能量較大，對設(shè)備影響更顯著。人體模型放電主要針對非金屬表面。4.答案：B解析：開關(guān)電源模塊是常見的輻射發(fā)射源，尤其在開關(guān)頻率及其諧波附近。電源線干擾和天線位置不當也可能導(dǎo)致超標，但優(yōu)先排查開關(guān)電源模塊。5.答案：C解析：線路注入型測試適用于直流電源輸入端口，可直接模擬線路上的浪涌干擾。電壓注入型和電流注入型適用于交流電源或通信端口。6.答案：A解析：強輻射發(fā)射通常源于電磁屏蔽不足，增加屏蔽層可顯著降低輻射水平。其他措施也有一定效果，但屏蔽優(yōu)先級最高。7.答案：A解析：半正弦波是電壓暫降測試的標準波形，其上升時間較短，能更真實地模擬實際暫降情況。方波上升時間較長，不適合模擬暫降。8.答案：A解析：數(shù)字電路的布線耦合是傳導(dǎo)騷擾的主要來源之一，尤其在高速信號線附近。其他原因也可能存在，但布線耦合優(yōu)先排查。9.答案：B解析：通信模塊通常工作在300MHz-3GHz頻段，因此該頻段是射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾測試的重點頻率范圍。10.答案：A解析：增加放電距離可減少靜電放電的能量傳遞，從而降低誤操作風(fēng)險。其他措施也有一定效果，但增加距離是最直接的方法。二、多選題答案及解析1.答案：A、B、C解析：諧波干擾主要源于整流電路和開關(guān)電源模塊未濾波，線路對地耦合增強也會加劇諧波干擾。接地電阻過大主要影響浪涌抗擾度。2.答案：A、B、C解析：PCB布線不合理和元器件布局不當會導(dǎo)致內(nèi)部振蕩，電源噪聲未抑制也會加劇輻射。接地環(huán)路和濾波器失效主要影響傳導(dǎo)干擾。3.答案：A、B、D解析：±5%敏感度需測試50%和100%暫降，半正弦波是標準暫降波形。方波不適合模擬暫降。4.答案：A、B、D解析：增加表面導(dǎo)電涂層和改進屏蔽接地設(shè)計可減少靜電積累和放電。優(yōu)化外殼結(jié)構(gòu)也可減少金屬部件的易觸發(fā)性。5.答案：A、B、E解析：天線位置不當和電磁屏蔽不足會導(dǎo)致射頻感應(yīng)增強。信號完整性、電源線濾波和接地設(shè)計主要影響傳導(dǎo)干擾。三、判斷題答案及解析1.×解析：輻射水平隨距離增加快速衰減通常說明干擾源位于設(shè)備表面或屏蔽不當，而非內(nèi)部。2.×解析：共模噪聲需使用共模扼流圈抑制，差模噪聲需使用差模濾波器或改進電路設(shè)計。3.√解析：導(dǎo)體模型放電主要針對金屬部件，塑料部件通常不需要測試該類型放電。4.×解析：通信接口應(yīng)選擇線路注入型測試，直流電源輸入端口應(yīng)選擇電壓注入型或電流注入型。5.√解析：天線諧振會導(dǎo)致輻射水平在特定頻率點急劇上升，是常見的輻射發(fā)射超標原因。6.×解析：±15%敏感度需測試100%和200%暫降，半正弦波是標準暫降波形。方波不適合模擬暫降。7.√解析：信號地線上的噪聲超標通常源于接地設(shè)計不合理或線路干擾，需優(yōu)先排查接地問題。8.√解析：按鍵觸點易受靜電放電影響，人體模型放電能模擬實際觸摸放電情況。9.√解析：通信模塊通常工作在300MHz-3GHz頻段，是該頻段測試的重點對象。10.√解析：±10%敏感度需測試50%和100%暫降，半正弦波是標準暫降波形。方波不適合模擬暫降。四、簡答題答案及解析1.答案：-屏蔽室設(shè)計要點：1.使用導(dǎo)電材料（如銅）建造屏蔽體，確保連續(xù)性；2.接地良好，減少接地環(huán)路；3.門窗采用低輻射設(shè)計，減少泄漏；4.內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡潔，避免反射和共振。-作用：隔離外部電磁場，確保測試結(jié)果僅源于EUT自身，提高測試準確性。2.答案：-排查原因：1.布線耦合：檢查信號線與電源線是否靠得太近；2.元器件選型：差模電感或電容參數(shù)是否合適；3.電路設(shè)計：是否存在共模轉(zhuǎn)差模的耦合路徑。-改進措施：增加濾波元件、調(diào)整布線間距、優(yōu)化電路設(shè)計。3.答案：-測試步驟：1.將EUT置于開闊場地，模擬實際使用環(huán)境；2.使用HMD（直徑8mm金屬球）模擬人體放電；3.在距離EUT表面10mm處進行放電，放電次數(shù)和位置按標準規(guī)定；4.觀察設(shè)備功能是否正常。-注意事項：放電電壓需符合標準，避免重復(fù)放電導(dǎo)致設(shè)備過熱。4.答案：-測試配置選擇：選擇電壓注入型測試配置。-理由：直流電源輸入端口主要受電壓浪涌影響，電壓注入型可直接模擬線路上的電壓暫降，電流注入型適用于交流電源或通信端口。5.答案：-天線架設(shè)要求：1.天線高度為1.5m，水平極化；2.天線與EUT距離3m或10m（取決于標準）；3.天線方向與EUT法線成0°、90°、180°、270°。-目的：確保測試覆蓋不同方向的輻射，模擬實際電磁環(huán)境，提高測試全面性。五、案例分析題答案及解析1.答案：-可能原因：1.開關(guān)電源模塊未充分濾波；2.PCB布線不合理，導(dǎo)致高頻信號耦合；3.無線通信模塊天線設(shè)計不當，產(chǎn)生寄生輻射。-改進措施：1.增加高頻濾波電容和磁珠；2.優(yōu)化PCB布線，減少信號交叉耦合；3.調(diào)整天線位置和設(shè)計，減少寄生輻射。2.答案：-可