1、分離機(jī)械噪聲測(cè)試方法刖言本標(biāo)準(zhǔn)非等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 3744： 1994聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí) 反射面上方近似自由場(chǎng)的工程法。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB / T108941989分離機(jī)械噪聲聲功率級(jí)的測(cè)定 工程法。本標(biāo)準(zhǔn)與GB / T108941989標(biāo)準(zhǔn)相比主要變化如下：本標(biāo)準(zhǔn)介紹了測(cè)量分離機(jī)械噪聲的兩種方法，故標(biāo)準(zhǔn)名稱改為：分離機(jī)械噪聲測(cè)試方法；增加了十個(gè)比較常見(jiàn)的聲學(xué)術(shù)語(yǔ)和定義：原附錄A中混響時(shí)間法部分被刪除；原標(biāo)準(zhǔn)中附錄C混響室內(nèi)分離機(jī)械噪聲聲功率級(jí)測(cè)定方法部分被刪除，增加了參考文獻(xiàn)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C都是規(guī)范性附錄，附錄D是資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)

2、準(zhǔn)由全國(guó)分離機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：合肥通用機(jī)械研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人；席瑩本、趙揚(yáng)、王明珠。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T 108941989分離機(jī)械噪聲測(cè)試方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分離機(jī)械在一個(gè)反射平面上自由聲場(chǎng)條件下噪聲聲功率級(jí)的工程測(cè)定法，附錄C給出了分離機(jī)械噪聲聲壓級(jí)的測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類型離心機(jī)、分離機(jī)和過(guò)濾機(jī)噪聲的測(cè)定。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版 均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)。然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。

3、凡是不注日期的引用文件，其最新版本適 用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB 3102. 7 聲學(xué)的量和單位(GB 3102. 71993，eqv ISO 31-7： 1992)GB/ T 3241倍頻程和分?jǐn)?shù)倍頻程濾波器GB/T 3767聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí)反射面上方近似自由場(chǎng)的工程法(GB / T 37671996，eqv ISO 3744： 1994)GB/T 37681996聲學(xué) 聲壓法測(cè)定噪聲源聲功率級(jí) 反射面上方采用包絡(luò)測(cè)量表面的簡(jiǎn)易法(GB / T 37681996，eqv ISO 3746： 1995)GB/T 3785聲級(jí)計(jì)的電、聲性能及測(cè)試方法GB / T 3947 聲學(xué)名詞術(shù)語(yǔ)JJG

4、 176聲級(jí)校準(zhǔn)器試行檢定規(guī)程JJG 188聲級(jí)計(jì)試行檢定規(guī)程JJG 277標(biāo)準(zhǔn)聲源檢定規(guī)程3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。其他聲學(xué)術(shù)語(yǔ)、量和單位按照GB/T 3947和GB 3102. 7的規(guī)定。3. 1測(cè)量表面 measurement surface包絡(luò)聲源，面積為S,測(cè)定位于其上的一個(gè)假想幾何表面。測(cè)量表面終止于一個(gè)或多個(gè)反射面上。3.2自由場(chǎng) free field均勻的各向同性的媒質(zhì)中，邊界影響可忽略不計(jì)的聲場(chǎng)。實(shí)際上的自由聲場(chǎng)是在測(cè)試的頻率范圍內(nèi)邊界反射可忽略不計(jì)的聲場(chǎng)。3.3反射面上的自由聲場(chǎng) free field over a reflecting plane一個(gè)無(wú)限大的

5、，堅(jiān)硬的平坦表面上方半空間中均勻的各向同性的媒質(zhì)中的聲場(chǎng)。被測(cè)聲源位于次表面上。3.4基準(zhǔn)體 reference box恰好包絡(luò)聲源終止于一個(gè)或多個(gè)反射面上的最小矩形平行六面體假想表面。3. 5特性距離 d0 characteristic source dimension d0由基準(zhǔn)體和其在鄰接反射面內(nèi)的虛像形成的箱體對(duì)角線長(zhǎng)度的一半。6測(cè)量距離 d measurement distance d基準(zhǔn)體與箱形測(cè)量表面之間的垂直距離。3.7測(cè)量半徑 r measurement radius r半球測(cè)量表面的半徑。3.8背景噪聲 background noise來(lái)自被測(cè)聲源以外所有的其他聲源的噪聲。

6、注：背景噪聲包括空氣聲、結(jié)構(gòu)傳導(dǎo)的振動(dòng)、儀器的電噪聲等。3.9背景噪聲修正 K1 background noise correction K1由背景噪聲對(duì)表面聲壓級(jí)的影響而引入的一個(gè)修正項(xiàng)，dB。K1與頻率有關(guān)，在A計(jì)權(quán)情況下，用KlA表示。3.10環(huán)境修正 K2 environmental correction K2由聲反射或聲吸收對(duì)表面聲壓級(jí)的影響而引入的一個(gè)修正項(xiàng)，dB。K2與頻率有關(guān)，在A計(jì)權(quán)情況下，用K2A表示。3.11指向性指數(shù) dirdetivity index聲源主要向某一個(gè)方向輻射聲間的程度，dB。3.12測(cè)試的頻率范圍 frequency range of interest

7、一般來(lái)說(shuō)，測(cè)試的頻率范圍包括中心頻率為125 Hz8 000 Hz的倍頻程帶。4 測(cè)試儀器1概述測(cè)試儀器使用GB/T 3785中規(guī)定的I型或I型以上的聲級(jí)計(jì)，以及精度相當(dāng)?shù)钠渌麥y(cè)試儀器。2校準(zhǔn)每次測(cè)量前、后，應(yīng)用精度優(yōu)于o. 5 dB的聲級(jí)核準(zhǔn)器在一個(gè)或多個(gè)頻率上對(duì)整個(gè)測(cè)試儀器系統(tǒng)進(jìn)行核準(zhǔn)，若測(cè)量前、后兩次核準(zhǔn)值 相差超過(guò)ldB，則測(cè)量無(wú)效。聲級(jí)核準(zhǔn)器應(yīng)按JJG 176,聲級(jí)計(jì)及其他測(cè)試儀器應(yīng)按JJG 188定期檢定，以保證測(cè)試儀器的準(zhǔn)確度。5需測(cè)定的量及其測(cè)量誤差1需測(cè)定的量測(cè)定A計(jì)權(quán)聲功率級(jí)和其中心頻率在125 Hz8 000 Hz之間的7個(gè)倍頻帶聲功率級(jí)。5.2 測(cè)量誤差按照本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)

8、量，A計(jì)權(quán)聲功率級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)偏差不大于2 dB，倍頻帶聲功率級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)偏差不大于表1規(guī)定的值。倍頻帶中心籟率標(biāo)準(zhǔn)佩是E12525。5001 0004 OOD1.5I8 0002,5度：甜址誤差此處系指由各種因察所造成的家汁抓唯謖差，但不包括各吹測(cè)扯中因機(jī)器安裝和遠(yuǎn)行狀態(tài)改舉 引起的機(jī)器本身田功率的變化.6測(cè)量環(huán)境1測(cè)量環(huán)境的要求理想的測(cè)量環(huán)境是一個(gè)反射平面上的自由聲場(chǎng)。反射平面應(yīng)由混凝土、瀝青或同樣堅(jiān)實(shí)的其他材料構(gòu)成，尺寸應(yīng)大于測(cè)量表面在其上的 投影。適合本標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量環(huán)境為：a）提供一個(gè)反射平面上方自由聲場(chǎng)的實(shí)驗(yàn)房間。b）具有上述反射平面的室外場(chǎng)地，在距測(cè)點(diǎn)位置10m之內(nèi)沒(méi)有聲反射物。c）環(huán)境修正值

9、K不大于2. 2 dB的場(chǎng)地，如普通房間和不滿足b）要求的戶外。這些場(chǎng)地要求具有上述性質(zhì)的反射平面，并按附錄A規(guī) 定的方法確定環(huán)境修正值K，以便使測(cè)量值修正到半自由場(chǎng)條件下的結(jié)果。注：聲反射物主要指建筑物和一些較大的設(shè)備，若靠近聲源的物體的寬度（如樁或支撐構(gòu)件的直徑）大于它距聲源距離的十分之一時(shí)，則 認(rèn)為這個(gè)物體是聲反射物。2背景噪聲要求測(cè)量應(yīng)在安靜的環(huán)境中進(jìn)行，在整個(gè)測(cè)量環(huán)境中，分離機(jī)械工作時(shí)各測(cè)點(diǎn)測(cè)得的聲壓級(jí)與背景噪聲聲壓級(jí)之差不小于6 dB。注：如果背景噪聲與聲源噪聲聲壓級(jí)之差小于6 dB，應(yīng)采用GB/T 37681996的8. 2規(guī)定的方法進(jìn)行修正。3風(fēng)速測(cè)量時(shí)測(cè)點(diǎn)附近的風(fēng)速應(yīng)小于6m

10、/s（相當(dāng)于四級(jí)風(fēng)），當(dāng)風(fēng)速大于1 m/s時(shí)，傳聲器應(yīng)使用風(fēng)罩。7分離機(jī)械的安裝和運(yùn)行1分離機(jī)械的安裝1. 1分離機(jī)械應(yīng)按有關(guān)技術(shù)條件的規(guī)定安裝，所有的附件都應(yīng)安裝完整，但不應(yīng)額外增加隔聲和吸聲部件。1. 2 一般分離機(jī)械應(yīng)直接放在地面上或?qū)嶒?yàn)平臺(tái)上進(jìn)行噪聲測(cè)量，也可根據(jù)實(shí)際安裝位置進(jìn)行測(cè)量，在測(cè)試報(bào)告中應(yīng)說(shuō)明。7.2 分離機(jī)械的運(yùn)行2. 1分離機(jī)械應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的工況下穩(wěn)定運(yùn)行后，進(jìn)行噪聲測(cè)量。2. 2對(duì)有孔轉(zhuǎn)鼓的離心機(jī)，在空載測(cè)量時(shí)，允許在轉(zhuǎn)鼓內(nèi)附設(shè)紙或過(guò)濾介質(zhì)，以防止孔洞轉(zhuǎn)動(dòng)后帶來(lái)的附加噪聲影響；對(duì)全封閉式離 心機(jī)允許進(jìn)、出口堵住測(cè)量，以防止進(jìn)、出口風(fēng)的附加噪聲。8聲功率法中聲壓級(jí)的測(cè)

11、定1基準(zhǔn)體為確定測(cè)量表面和傳聲器的位置，應(yīng)取一個(gè)恰好包絡(luò)被測(cè)分離機(jī)械并位于反射平面上的最小矩形六面體作為基準(zhǔn)體。確定基準(zhǔn)體時(shí)，對(duì) 分離機(jī)械上凸出的小部件如手柄、連接管等聲功率的非主要輻射體不予考慮。2測(cè)量表面測(cè)量表面分為半球測(cè)量表面和矩形六面體測(cè)量表面，見(jiàn)附錄B中的圖B. 1和圖B. 2,優(yōu)先選用半球測(cè)量表面。2. 1半球測(cè)量表面半球測(cè)量表面的中心是基準(zhǔn)體幾何中心在反射平面上的投影，半球測(cè)量表面的半徑r應(yīng)不小于特性距離的兩倍。特性距離d0由式(1)計(jì)算：do=(0. 5L1)2+(0. 5L2)2+L321/2(1)式中：d0特性距離，單位為米(m)；L1、L2、L3基準(zhǔn)體的長(zhǎng)、寬、高，單位為

12、米(m)。半球面半徑r優(yōu)先選取1 m或2 m。2. 1. 1特性距離d0大于l m時(shí)，則應(yīng)選用8. 2. 2所述的矩形六面體測(cè)量表面。2. 1. 2半球測(cè)量表面的面積由式(2)計(jì)算：S1 = 2nr2(2)式中：半球測(cè)量表面面積，單位為平方米(m2)；r半球測(cè)量表面半徑，單位為米(m)。8.2.2 矩形六面體測(cè)量表面矩形六面體測(cè)量表面應(yīng)位于反射平面上，各面與基準(zhǔn)體對(duì)應(yīng)面平行，各對(duì)應(yīng)面間的距離為1m。矩形六面體測(cè)量表面面積由式(3)計(jì)算：S2=4(ab+bc+ac)(3)式中：矩形六面體測(cè)量表面面積，單位為平方米(m2)；a、b矩形六面體測(cè)量表面長(zhǎng)、寬的一半，單位為米(m)；c矩形六面體測(cè)量表面

13、高，單位為米(m)。8. 3測(cè)點(diǎn)位置所有的測(cè)點(diǎn)都應(yīng)在8. 2所確定的測(cè)量表面上。8. 3. 1在半球測(cè)量表面上布置10個(gè)測(cè)點(diǎn)，測(cè)點(diǎn)位置與坐標(biāo)見(jiàn)附錄B的圖B. 1和表B. 1。8. 3. 2矩形六面體測(cè)量表面上的測(cè)點(diǎn)分基本測(cè)點(diǎn)和附加測(cè)點(diǎn)，基本測(cè)點(diǎn)為9個(gè)，附加測(cè)點(diǎn)為8個(gè)，測(cè)點(diǎn)位置與坐標(biāo)見(jiàn)附錄B的圖B. 2 和表B. 2。以下情況應(yīng)加附加測(cè)點(diǎn)：基本測(cè)點(diǎn)上測(cè)得的聲壓級(jí)最大和最小兩者分貝差超過(guò)測(cè)點(diǎn)數(shù)目；基準(zhǔn)體任一邊尺寸大于2 m。8.4 測(cè)量測(cè)量時(shí)傳聲器應(yīng)正對(duì)被測(cè)分離機(jī)械方向。聲級(jí)計(jì)應(yīng)采用“慢”時(shí)間計(jì)權(quán)特性測(cè)量。當(dāng)聲級(jí)計(jì)指針擺動(dòng)不大于3 dB時(shí)，用目測(cè)法讀取平 均值。中心頻率為125 Hz的倍頻帶，觀測(cè)

14、時(shí)間至少為30 s，A計(jì)權(quán)和其他的倍頻帶，觀測(cè)時(shí)間至少為l0 s。當(dāng)聲級(jí)計(jì)指針擺動(dòng)大于3 dB時(shí)，則應(yīng)使用具有較長(zhǎng)時(shí)間常數(shù)的模擬儀器或數(shù)字積分式聲級(jí)計(jì)進(jìn)行測(cè)量。8. 5背景噪聲的修正8. 5. 1下列情況之一僅在一個(gè)測(cè)點(diǎn)位置上測(cè)量背景噪聲：a）背景噪聲聲壓級(jí)比分離機(jī)械噪聲聲壓級(jí)低10 dB以上;b）基準(zhǔn)體最大尺寸小于1 m。否則，應(yīng)在每一個(gè)測(cè)點(diǎn)上測(cè)量背景噪聲。8. 5. 2背景噪聲按表2進(jìn)行修正。* 2單n為灸臭篇得的分離機(jī)被堆聲與背加噪聲聲壓瓠之葬隊(duì)M據(jù)的681.09 10。,5!008. 6測(cè)量環(huán)境的修正當(dāng)測(cè)試環(huán)境中有不必要的反射物存在時(shí)，則必須對(duì)測(cè)量結(jié)果加以修正。確定環(huán)境修正值K的方法見(jiàn)

15、附錄A。9測(cè)量表面平均聲壓級(jí)和聲功率級(jí)的計(jì)算9. 1測(cè)量表面平均聲壓級(jí)U按式W計(jì)算：E -（4）式穌蒯量表面平均A計(jì)權(quán)或倍頻帶聲壓級(jí)，單位為分貝（dB）（基準(zhǔn)值為20暮按規(guī)定對(duì)背景噪聲修正后的第，點(diǎn)的A計(jì)權(quán)或倍頻帶聲壓級(jí)，單位為分貝基準(zhǔn) 值為20產(chǎn)1版）*N測(cè)點(diǎn)總數(shù)。9-2聲功率級(jí)的計(jì)算聲功率級(jí)按式（5）計(jì)算，_1* （/,# K）+1。也（S/Sn）（5 ）式中：J A訐權(quán)或倍頻帶聲功率級(jí)，單位為分貝（出泌基準(zhǔn)值為】pWXK環(huán)境修正值，單位為分貝（dB）；S測(cè)量表面面積，單位為平方米（mJ）iS（l基準(zhǔn)面積取為1 m氣10記錄內(nèi)容測(cè)試記錄應(yīng)包括如下內(nèi)容，記錄表格的形式見(jiàn)附錄D。10. 1被測(cè)

16、分離機(jī)械a）分離機(jī)械的型號(hào)、名稱、制造廠、出廠編號(hào)等有關(guān)參數(shù)；b）分離機(jī)械的測(cè)試工況。10.2 測(cè)試環(huán)境a）反射平面的情況并繪制聲源位置草圖；b）測(cè)試室的尺寸及吸聲處理情況；c）測(cè)試環(huán)境的描述。10. 3測(cè)試儀器a）儀器的型號(hào)、名稱、出廠編號(hào)和生產(chǎn)廠；b）儀器檢驗(yàn)的日期和部門(mén)。10. 4測(cè)試數(shù)據(jù)a）基準(zhǔn)體的尺寸、測(cè)量表面的尺寸和表面積；b）測(cè)點(diǎn)位置并繪制草圖；c）所有測(cè)點(diǎn)的A計(jì)權(quán)聲壓級(jí)及倍頻帶聲壓級(jí)；d）測(cè)點(diǎn)上背景噪聲聲壓級(jí)和相應(yīng)的修正值；e）按附錄A確定環(huán)境修正值；f）測(cè)量表面平均聲壓級(jí)，計(jì)算A計(jì)權(quán)聲功率級(jí)和倍頻帶聲功率級(jí)，并用頻譜圖表示。10. 5其他測(cè)量人員、時(shí)間、地點(diǎn)及其他需說(shuō)明的情況

17、。11測(cè)定報(bào)告分離機(jī)械噪聲測(cè)定報(bào)告應(yīng)包括如下內(nèi)容，其形式見(jiàn)附錄D。a）分離機(jī)械的型號(hào)、名稱、出廠編號(hào)和制造廠；b）測(cè)試工況；c）A計(jì)權(quán)聲功率級(jí)和倍頻帶聲功率級(jí)；d）注明聲功率級(jí)是按本標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)定的。附錄A（規(guī)范性附錄）環(huán)境修正值K的確定A. 1對(duì)環(huán)境修正值K的要求A.1.1在給定的測(cè)試室內(nèi)，房間吸聲量A與測(cè)量表面的面積S之比A/S應(yīng)大于6,按本附錄方法所確定的環(huán)境修正值K應(yīng)不大于2.2dB。A. 1. 2當(dāng)環(huán)境修正值K大于2. 2 dB時(shí)，應(yīng)采用吸聲措施或另?yè)Q測(cè)試環(huán)境以減少K值。A. 1. 3當(dāng)環(huán)境修正值K大于2. 2 dB且小于7 dB時(shí)。按本標(biāo)準(zhǔn)給出的測(cè)試程序測(cè)定A計(jì)權(quán)聲功率級(jí)。如用于同類

18、機(jī)組在相同的測(cè)試 環(huán)境中聲功率級(jí)的比較，其標(biāo)準(zhǔn)偏差不大于3 dB。A.2 環(huán)境修正本附錄規(guī)定用絕對(duì)比較測(cè)試法（標(biāo)準(zhǔn)聲源法）確定環(huán)境修正值。A.2.1 修正方法按JJG 277檢定合格的標(biāo)準(zhǔn)聲源，放置在與被測(cè)分離機(jī)械相同位置的測(cè)試環(huán)境中，并按第8和第9章的方法測(cè)量和計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)聲源的聲功 率級(jí)（令環(huán)境修正項(xiàng)為零），當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)聲源放置在多個(gè)位置時(shí)，則測(cè)量如平均聲政均#搜式g, int( $=】。聞僉e 1式中： 篇?jiǎng)僨it老而平均聲引級(jí)，敝位為分廈3痔 N 一-點(diǎn)尊櫻| JW標(biāo)鹿肉源歆跳.點(diǎn)敏1L* 第E個(gè),點(diǎn)上.集項(xiàng)個(gè)怵脫m卻故置點(diǎn)的聲氏蟆單位為分 卸境修正依K由旦TA3計(jì)算|式中，K耳境帷正WU在段場(chǎng)博摘到的怖準(zhǔn)產(chǎn)赦聲功率級(jí)，喧位為錚UHdRH就椎ff為1 pW)i“標(biāo)/聲跚探足的V率揪，單位為分魄WBH輯布伉為I PW)tA. 2. 2標(biāo)準(zhǔn)聲源的放置 標(biāo)準(zhǔn)聲源的放置分替代法與側(cè)置法兩種。A. 2. 2. 1當(dāng)被測(cè)分