1、 醫(yī)療機(jī)構(gòu)醫(yī)院醫(yī)用數(shù)字X射線攝影（DR）系統(tǒng)質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了醫(yī)用數(shù)字X射線攝影（DR）系統(tǒng)質(zhì)量控制檢測(cè)的一般要求、檢測(cè)項(xiàng)目和檢測(cè)方法及其技術(shù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于醫(yī)用數(shù)字X射線攝影（DR）系統(tǒng)的質(zhì)量控制檢測(cè)，包括采用線陣或面陣掃描影像探測(cè)器的DR系統(tǒng)。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于乳腺數(shù)字X射線攝影（乳腺DR）、牙科數(shù)字X射線攝影、數(shù)字雙能攝影和數(shù)字體層合成攝影的質(zhì)量控制檢測(cè)。規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。WS 76 醫(yī)用常規(guī)X射線診斷設(shè)備影像質(zhì)量控制檢測(cè)規(guī)范

2、術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。醫(yī)用數(shù)字X射線攝影系統(tǒng) medical digital radiography system采用數(shù)字化X射線影像探測(cè)器技術(shù)實(shí)現(xiàn)X射線攝影的一種醫(yī)學(xué)成像裝置。它的影像直接從影像探測(cè)器讀出，通常由X射線發(fā)生裝置、數(shù)字化X射線影像裝置和機(jī)械輔助裝置組成。簡(jiǎn)稱數(shù)字X射線攝影（digital radiography，DR）。信號(hào)傳遞特性 signal transfer property；STPDR系統(tǒng)的影像探測(cè)器入射面影像中心區(qū)域測(cè)量的平均像素值和影像探測(cè)器接受的入射空氣比釋動(dòng)能之間的一種相互關(guān)系的描述。對(duì)于不同生產(chǎn)廠的影像探測(cè)器兩者之間有不同的相互關(guān)系，如線性、對(duì)

3、數(shù)或方根關(guān)系。探測(cè)器劑量指數(shù) detector dose index曝光指數(shù) exposure index用于表示DR系統(tǒng)劑量性能指標(biāo)的一個(gè)參數(shù)量。探測(cè)器劑量指示 detector dose indicator；DDI為建立和顯示影像探測(cè)器劑量指數(shù)而采用的一種方法。感興趣區(qū) region of interest；ROI在影像中劃定的像素區(qū)域（圓形或矩形）。利用軟件工具提供該區(qū)域的平均像素值和標(biāo)準(zhǔn)偏差等。偽影 artifact影像上明顯可見(jiàn)的圖形，它既不體現(xiàn)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，也不能用噪聲或系統(tǒng)調(diào)制傳遞函數(shù)來(lái)解釋。殘影 image retention鬼影 ghost image由于影像探測(cè)器的前次影

4、像信號(hào)清除不徹底而導(dǎo)致在隨后一次讀出影像中出現(xiàn)的前次影像的部分或全部。平野 flat field影像采集過(guò)程中為消除非均勻性的影響而進(jìn)行的一種影像校正程序，達(dá)到對(duì)影像探測(cè)器的非均勻性和靈敏度空間變化的補(bǔ)償，使影像探測(cè)器通過(guò)平野校正實(shí)現(xiàn)影像之間的非均勻性和靈敏度變化在空間上一致性。預(yù)處理影像 pre-processed image未處理過(guò)的影像 unprocessed image 經(jīng)過(guò)像素缺陷校正和平野校正后的影像，但是這種影像并沒(méi)有進(jìn)行后處理過(guò)的。響應(yīng)均勻性 response uniformity平野均勻性 flat field uniformityDR系統(tǒng)的影像探測(cè)器接受面上不同區(qū)域?qū)θ肷淇?/p>

5、氣比釋動(dòng)能響應(yīng)的差異。低對(duì)比度細(xì)節(jié) low contrast details 低對(duì)比分辨力 low contrast resolution在規(guī)定測(cè)量條件下，從一均勻背景中能分辨出來(lái)的規(guī)定形狀和面積的最低對(duì)比度細(xì)節(jié)，以%表示。尼奎斯特頻率 Nyquist frequency；fNyquist極限空間分辨力 Limiting spatial resolution 由采樣間距a確定的空間頻率，關(guān)系式為：fNyquist=1/（2a） 。質(zhì)量控制檢測(cè)的一般要求對(duì)DR系統(tǒng)XX裝及大修后應(yīng)進(jìn)行驗(yàn)收檢測(cè)，使用中應(yīng)定期進(jìn)行狀態(tài)檢測(cè)和穩(wěn)定性檢測(cè)。具體要求參照WS 76實(shí)施。對(duì)檢測(cè)結(jié)果評(píng)價(jià)及處理原則按照WS 76

6、要求實(shí)施。對(duì)質(zhì)量保證的記錄和資料按照WS 76要求實(shí)施。質(zhì)量控制檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求對(duì)DR系統(tǒng)的質(zhì)量控制檢測(cè)項(xiàng)目分為通用檢測(cè)項(xiàng)目和專用檢測(cè)項(xiàng)目?jī)刹糠?。通用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)中的附錄A中表A.1要求，具體檢測(cè)方法參照WS 76要求實(shí)施。專用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求應(yīng)符合本標(biāo)準(zhǔn)中的附錄A中表A.2要求，具體檢測(cè)方法參照本標(biāo)準(zhǔn)第6章要求實(shí)施。應(yīng)對(duì)檢測(cè)指標(biāo)的合格與否給予判定，等于或優(yōu)于規(guī)定值的指標(biāo)判定為合格，否則為不合格。專用檢測(cè)項(xiàng)目中的低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)所選用模體參見(jiàn)附錄B 。DR系統(tǒng)的專用檢測(cè)項(xiàng)目所需要設(shè)備與用具參見(jiàn)附錄C中表C.1 。對(duì)于采用一個(gè)以上數(shù)字X射線影像探測(cè)器的DR系統(tǒng)，應(yīng)對(duì)每一個(gè)數(shù)

7、字X射線影像探測(cè)器及其成像時(shí)所使用的X射線發(fā)生裝置分別進(jìn)行質(zhì)量控制檢測(cè)。檢測(cè)報(bào)告的基本內(nèi)容應(yīng)包括：委托單位基本信息、設(shè)備信息、檢測(cè)項(xiàng)目、相應(yīng)檢測(cè)要求、檢測(cè)結(jié)果及其和相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)要求的比較。專用檢測(cè)項(xiàng)目的檢測(cè)方法與評(píng)價(jià)暗噪聲如果有可能，取出濾線柵。 關(guān)閉遮線器，用一塊面積15 cm15cm、厚2mm的鉛板完全覆蓋在遮線器出線口，設(shè)置最低管電流和管電壓進(jìn)行手動(dòng)曝光并獲取一幅空白影像。在預(yù)處理影像中央選取面積約10cm10cm感興趣區(qū)（ROI），讀取平均像素值，或者記錄DDI值。評(píng)價(jià)：適當(dāng)調(diào)整窗寬和窗位，目視檢查影像均勻，不應(yīng)看到偽影。所獲得像素值或DDI值應(yīng)在生產(chǎn)廠家規(guī)定值范圍內(nèi)。如果生產(chǎn)廠家沒(méi)有提供

8、規(guī)定值，則以測(cè)量的像素值或記錄的DDI值建立基線值。探測(cè)器劑量指示（DDI）如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置焦點(diǎn)影像探測(cè)器距離（SID）為180cm，如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。調(diào)整照射野完全覆蓋影像探測(cè)器，用1.0mm銅濾過(guò)板擋住遮線器出線口，設(shè)置70kV，對(duì)影像探測(cè)器入射空氣比釋動(dòng)能選取參考劑量約10Gy進(jìn)行曝光，記錄DDI的數(shù)值。在上述相同的條件下重復(fù)曝光3次，記錄DDI數(shù)值，計(jì)算平均值。如果DR系統(tǒng)沒(méi)有DDI的指示，就獲取每一幅預(yù)處理影像中央面積約10 cm10cm ROI像素值，并計(jì)算三幅影像平均像素值。 根據(jù)生產(chǎn)廠家提供DDI公式進(jìn)行驗(yàn)證，記錄的DDI平均值應(yīng)與公式提供在參考劑量約1

9、0Gy入射空氣比釋動(dòng)能計(jì)算出DDI值20%內(nèi)一致。驗(yàn)收檢測(cè)中獲得DDI平均值作為基線值，狀態(tài)檢測(cè)和穩(wěn)定性檢測(cè)的值與基線值比較應(yīng)在20%內(nèi)一致。如果生產(chǎn)廠家未能提供DDI值與入射空氣比釋動(dòng)能計(jì)算公式，則以在6.2.2中使用曝光條件下獲得影像中ROI區(qū)所計(jì)算平均像素值建立基線值，狀態(tài)檢測(cè)或穩(wěn)定性檢測(cè)的值與基線值比較應(yīng)在20%內(nèi)一致。信號(hào)傳遞特性（STP）如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm，如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。調(diào)整照射野完全覆蓋影像探測(cè)器，用1.0mm銅濾過(guò)板蓋住遮線器出線口，設(shè)置70kV，分別選取影像探測(cè)器入射空氣比釋動(dòng)能約1Gy、5Gy、10Gy、20Gy和30Gy進(jìn)行曝光

10、，獲取每一幅預(yù)處理影像。在每一幅影像中央選取面積約10 cm10cm ROI，獲取每幅影像ROI的平均像素值。對(duì)于線性響應(yīng)的DR系統(tǒng)，以平均像素值為縱坐標(biāo)，影像探測(cè)器表面入射空氣比釋動(dòng)能為橫坐標(biāo)作圖擬合直線（如P = aK + b），計(jì)算線性相關(guān)系數(shù)的平方R2。對(duì)于非線性響應(yīng)的DR系統(tǒng)（XX對(duì)數(shù)相關(guān)），應(yīng)參考廠家提供的信息進(jìn)行直線擬合（如P = aln（K） + b），計(jì)算線性相關(guān)系數(shù)的平方R2。評(píng)價(jià)：驗(yàn)收檢測(cè)要求 R20.98，狀態(tài)檢測(cè)要求R20.95。響應(yīng)均勻性從6.2檢測(cè)中，選取任一幅預(yù)處理影像，使用分析軟件在影像中選取五個(gè)面積約4cm4cm ROI，分別獲取像素值，要求ROI分別從影像

11、中央?yún)^(qū)和四個(gè)象限中央?yún)^(qū)各取一個(gè)，記錄每個(gè)選點(diǎn)實(shí)測(cè)像素值Vi。按式（1）計(jì)算像素值的變異系數(shù)：.（1）式中：第次測(cè)量ROI的像素值；5個(gè)ROI的平均像素值；變異系數(shù)，%。 評(píng)價(jià)：CV（%）5%。測(cè)距誤差設(shè)置SID為180cm，如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。選用兩個(gè)帶有米制刻度的鉛尺，相互交叉垂直放置在影像探測(cè)器表面中央，用50kV和約10mAs進(jìn)行曝光，獲取一幅影像。用測(cè)距軟件對(duì)水平和垂直兩個(gè)方向上的鉛尺刻度不低于10cm的影像測(cè)量距離（Dm），與真實(shí)長(zhǎng)度（Do）進(jìn)行比較。評(píng)價(jià)：按公式（2）計(jì)算它們的偏差（E），垂直和水平方向上應(yīng)在2%以內(nèi)符合。 E =（Dm-Do）/Do100% .（2）式中

12、：Dm影像測(cè)量距離，單位為厘米（cm）；Do真實(shí)長(zhǎng)度，單位為厘米（cm）；E偏差。殘影如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm，如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。關(guān)閉遮線器，再用一塊面積15 cm15cm，厚2mm的鉛板完全擋住遮線器出線口，設(shè)置最低管電壓和最低管電流進(jìn)行第一次曝光，獲取一幅空白影像。打開(kāi)遮線器取走鉛板，在探測(cè)器表面中央部位放置一塊面積4 cm4cm ，厚4mm的鉛塊。在70kVp和探測(cè)器入射面約5Gy 空氣比釋動(dòng)能進(jìn)行第二次曝光。按6.6.2程序重復(fù)進(jìn)行第三次曝光，再獲得一幅空白影像，這次曝光應(yīng)在第二次曝光后1.5min內(nèi)完成。調(diào)整窗寬和窗位，在工作站監(jiān)視器上目視觀察第三次

13、曝光后的空白影像中不應(yīng)存在第二次曝光影像中殘影（一部分或全部）。若發(fā)現(xiàn)殘影，則利用分析軟件在殘影區(qū)和非殘影區(qū)各取相同的ROI面積獲取平均像素值，殘影區(qū)中平均像素值相對(duì)非殘影區(qū)中平均像素值的誤差5%。偽影設(shè)置SID為180cm，如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。將屏/片X射線攝影密著檢測(cè)板放在影像探測(cè)器上面，在60kV和約10mAs進(jìn)行曝光，獲取一幅預(yù)處理影像。評(píng)價(jià)：在工作站監(jiān)視器上觀察影像，適當(dāng)調(diào)整窗寬和窗位，通過(guò)目視檢查影像探測(cè)器的影像不應(yīng)存在偽影。如果發(fā)現(xiàn)偽影，檢查偽影隨影像移動(dòng)或擺動(dòng)情況，若偽影隨影像移動(dòng)或擺動(dòng)表示來(lái)自影像探測(cè)器，不移動(dòng)則表示來(lái)自監(jiān)視器。應(yīng)記錄和描述所觀察到的偽影情況。極限空

14、間分辨力如果有可能，取出濾線柵。設(shè)置SID為180cm，如達(dá)不到則調(diào)節(jié)SID為最大值。取二塊相同鉛厚度為0.05mm的分辨力測(cè)試卡（最大線對(duì)數(shù)不低于5lp/mm），分別放置在影像探測(cè)器表面，并與其面呈水平和垂直方向。按生產(chǎn)廠家給出條件進(jìn)行曝光。如生產(chǎn)廠家未給出條件，選用適當(dāng)曝光條件（如60kV和約3mAs）進(jìn)行曝光。調(diào)整窗寬和窗位，使其分辨力最優(yōu)化。從監(jiān)視器上觀察出最大線對(duì)組數(shù)目。評(píng)價(jià)：在垂直和水平方向上分別與生產(chǎn)廠家保證的極限空間分辨力的規(guī)定值比較，應(yīng)90%。如果得不到規(guī)定值應(yīng)與fNyquist進(jìn)行比較，80%。驗(yàn)收檢測(cè)的結(jié)果作為基線值，狀態(tài)檢測(cè)與基線值進(jìn)行比較（90% 基線值）。低對(duì)比度細(xì)

15、節(jié)檢測(cè)在附錄B中選擇任一種低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)模體，放置在影像探測(cè)器上面，根據(jù)模體說(shuō)明書(shū)要求，選擇適當(dāng)?shù)墓茈妷?、濾過(guò)和SID，照射野完全覆蓋住影像探測(cè)器，通常對(duì)影像探測(cè)器入射空氣比釋動(dòng)能選擇三個(gè)劑量水平，在一個(gè)以上量級(jí)范圍（如約1Gy、5Gy和10Gy）進(jìn)行三次曝光獲取影像。根據(jù)在臨床上對(duì)影像最常使用評(píng)價(jià)方式觀察影像，應(yīng)調(diào)節(jié)窗寬和窗位使每一細(xì)節(jié)尺寸為最優(yōu)化，在監(jiān)視器上觀察影像細(xì)節(jié)，并進(jìn)行記錄。評(píng)價(jià)：驗(yàn)收檢測(cè)按檢測(cè)模體說(shuō)明書(shū)要求判斷或建立基線值。狀態(tài)檢測(cè)與基線值進(jìn)行比較，不得超過(guò)基線值的兩個(gè)細(xì)節(jié)變化。自動(dòng)曝光控制（AEC）性能AEC靈敏度設(shè)置電壓為70kV，用1mm銅濾過(guò)板擋住遮線器出線口，照射野應(yīng)

16、覆蓋住影像探測(cè)器，在AEC下曝光，記錄mA、s，或mAs（按AEC方式不同而定），或者記錄DDI值。在驗(yàn)收檢測(cè)中建立基線值（mA、s，或mAs，或DDI值），狀態(tài)檢測(cè)應(yīng)與基線值在25%內(nèi)一致。AEC電離室之間一致性選70kV，用1mm銅濾過(guò)板擋住遮線器出線口，關(guān)閉其他電離室，選擇一個(gè)電離室，在AEC下曝光。曝光后記錄機(jī)器顯示mA、s，或mAs（按AEC方式不同而定），或DDI值。然后分別選擇其他任一個(gè)電離室按上述相同條件進(jìn)行曝光，記錄機(jī)器顯示mA、s，或mAs，或DDI值。 將每一個(gè)電離室的測(cè)量值（如mA、s，或mAs，或DDI）進(jìn)行相互比較，計(jì)算平均值最大偏差。驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)平均值最大偏差在10

17、%內(nèi)一致，狀態(tài)檢測(cè)時(shí)平均值最大偏差在15%內(nèi)一致。AEC 管電壓變化一致性照射野應(yīng)覆蓋住影像探測(cè)器，用1mm銅濾過(guò)板擋住遮線器出線口，在無(wú)濾線柵和床面衰減條件下，分別設(shè)置電壓為70kV 、80kV、90kV和100kV ，在AEC下曝光，分別測(cè)量4個(gè)電壓檔的影像探測(cè)器表面入射空氣比釋動(dòng)能，記錄劑量值，比較不同電壓檔的劑量值偏差。驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)影像探測(cè)器在4個(gè)電壓檔的劑量平均值的最大偏差在15%內(nèi)，狀態(tài)檢測(cè)時(shí)劑量平均值的最大偏差在20%內(nèi)。（規(guī)范性附錄）質(zhì)量控制檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求DR系統(tǒng)的通用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求應(yīng)符合表A.1。DR系統(tǒng)的通用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求序號(hào)檢測(cè)項(xiàng)目檢測(cè)要求驗(yàn)收檢測(cè)判定標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)檢

18、測(cè)判定標(biāo)準(zhǔn)穩(wěn)定性檢測(cè)判定標(biāo)準(zhǔn)周期1管電壓指示的偏離數(shù)字式高壓測(cè)量?jī)x5.0%或5.0 kV內(nèi)，以較大者控制5.0%或5.0 kV內(nèi)，以較大者控制2輸出量重復(fù)性測(cè)量5次10%10%10%三個(gè)月3有用線束半值層/mmAl80kV2.3 2.34曝光時(shí)間指示的偏離t100ms10%內(nèi)10%內(nèi)三個(gè)月t100ms2 ms內(nèi)或15%內(nèi)2ms內(nèi)或15%內(nèi)三個(gè)月5有用線束垂直度偏離檢測(cè)筒和檢測(cè)板333三個(gè)月6光野與照射野四邊的偏離/cm1m SID任一邊1.0內(nèi)任一邊1.0內(nèi)任一邊1.0內(nèi)三個(gè)月DR系統(tǒng)的專用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求應(yīng)符合表A.2。DR系統(tǒng)的專用檢測(cè)項(xiàng)目與技術(shù)要求序號(hào)檢測(cè)項(xiàng)目驗(yàn)收檢測(cè)判定標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)檢測(cè)判

19、定標(biāo)準(zhǔn)穩(wěn)定性檢測(cè)判定標(biāo)準(zhǔn)周期1暗噪聲像素值或DDI在規(guī)定值內(nèi)，或建立基線值，影像均勻無(wú)偽影像素值或DDI在規(guī)定值內(nèi)或基線值50%，影像均勻無(wú)偽影像素值或DDI在規(guī)定值內(nèi)，或基線值50%，影像均勻無(wú)偽影三個(gè)月2探測(cè)器劑量指示（DDI） DDI（10Gy ）計(jì)算值與測(cè)量值20%，DDI或平均像素值建立基線值基線值20%_3信號(hào)傳遞特性（STP）R20.98R20.95R20.95三個(gè)月4響應(yīng)均勻性CV5% CV5% CV5% 三個(gè)月5測(cè)距誤差2%內(nèi)2%內(nèi)_6殘影不存在殘影或有殘影而像素值誤差5%_不存在殘影或有殘影而像素值誤差5%三個(gè)月7偽影無(wú)偽影無(wú)偽影無(wú)偽影三個(gè)月8極限空間分辨力90%廠家規(guī)定值

20、，或80% fNyquist，建立基線值90% 基線值_9低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)建立基線值與基線值比較不超過(guò)2個(gè)細(xì)節(jié)變化_10AEC靈敏度建立基線值基線值25%內(nèi)_11AEC電離室之間一致性10%內(nèi)15%內(nèi)_12AEC 管電壓變化一致性15%內(nèi)20%內(nèi)_（資料性附錄）六種低對(duì)比度細(xì)節(jié)檢測(cè)模體示例IEC低對(duì)比度模體此器件包含有一組直徑為1cm孔徑（共19個(gè)圓孔）的鋁制圓形盤(pán)構(gòu)成。如果使用一塊衰減體模提供在自動(dòng)曝光控制下使X射線衰減和硬化，例如IEC推薦為40mmPMMA加1mm厚的銅濾過(guò)板，則這種組合的模體，使這些圓盤(pán)產(chǎn)生X射線輻射的對(duì)比度從1%到20%的變化，每一個(gè)圓盤(pán)的所產(chǎn)生一級(jí)近似對(duì)比度如下：

21、1.0%，1.4%，1.8%，2.3%，2.7%，3.3%，3.9%，4.5%，5.5%，6.6%，7.6%，8.6%，10.8%，12.3%，14.5%，16.0%，18.0%，20.0%。更詳細(xì)資料見(jiàn)參考文獻(xiàn)5和6。UAB低對(duì)比度模體（UAB美國(guó)伯明翰亞拉巴馬大學(xué)）該試驗(yàn)器件由三個(gè)各為1mm厚銅衰減板和二個(gè)6.1mm厚鋁制靶板（分別編號(hào)為A板和B板）所組成。每個(gè)靶板上有按順序排列的直徑1.1cm不同孔深的9個(gè)圓孔。靶板外部尺寸為15.2cm15.2cm。靶板上圓孔有三列，每列有三個(gè)圓孔，相鄰孔之間有3%對(duì)比度變化。中間一列圓孔的對(duì)比度逐漸降低，外面二列圓孔對(duì)比度逐漸增加。當(dāng)在80kV和用2

22、mm銅衰減板，則A板的圓孔對(duì)比度范圍從1%到9%（整數(shù)），而B(niǎo)板的圓孔對(duì)比度范圍從0.5%到8.5%（半整數(shù)），同一排相鄰圓孔的對(duì)比度增量為3%。為了獲得0.5%對(duì)比度精度范圍可使用兩塊板的測(cè)量，選取最小值。更詳細(xì)資料見(jiàn)參考文獻(xiàn)7。低對(duì)比度測(cè)試卡測(cè)試卡由20mm厚的鋁板制成。在該鋁板上均布1cm孔徑圓孔，孔的深度（mm）及對(duì)比度（括號(hào)內(nèi)數(shù)值%）從0.07mm（0.35%）到3.2mm（16%）變化，共計(jì)19個(gè)圓孔。它們分別是：0.07（0.35%），0.11（0.55%），0.15（0.75%），0.19（0.95），0.22（1.1%），0.26（1.3%），0.32（1.6%），0.36（

23、1.8%），0.44（2.2%），0.52（2.6%），0.88（4.4%），1.06（5.3%），1.36（6.8%），1.48（7.4%），1.76（8.8%），2.14（10.7%），2.5（12.5%），2.9（14.5%），3.2（16%）。更詳細(xì)資料見(jiàn)參考文獻(xiàn)8。TO-16或TO-20低對(duì)比度細(xì)節(jié)模體用于CR或DR系統(tǒng)影像質(zhì)量快速而定量化檢驗(yàn)和評(píng)價(jià)。兩種模體均為一個(gè)直徑250mm和厚度10mm的圓形板，板中有12組不同細(xì)節(jié)尺寸排列，每個(gè)有12個(gè)直徑相同的細(xì)節(jié)，12組的細(xì)節(jié)直徑尺寸從0.25mm到11mm的變化范圍，共有144個(gè)細(xì)節(jié)得到從0.0014到0.924（在75kV和1.5m

24、m銅濾過(guò)）12組不同對(duì)比度范圍。兩種模體均可以提供60kV、65kV、70kV和80kV在1.5mm銅濾過(guò)條件下獲取的影像12組不同對(duì)比度范圍值。其最終測(cè)量結(jié)果可顯示一個(gè)閾探測(cè)指數(shù)曲線圖。更詳細(xì)資料見(jiàn)參考文獻(xiàn)9。CDRAD低對(duì)比度模體為一塊尺寸264mm264mm76mmPMMA材料板構(gòu)成，板上含有15行和15列方形區(qū)分布225柵格組成的矩陣，每一個(gè)方形柵格中前三行僅有一個(gè)檢測(cè)點(diǎn)（成像點(diǎn)），其他行有二個(gè)檢測(cè)點(diǎn)，一個(gè)在柵格中央，另一個(gè)隨機(jī)地選在一個(gè)角上，檢測(cè)點(diǎn)的光密度比之均勻背景光密度要高，且檢測(cè)點(diǎn)的深度和直徑呈對(duì)數(shù)變化，其范圍從0.3mm到8.0mm（精度0.02mm），在矩陣同一行的檢測(cè)點(diǎn)有相同直徑而其深度變化導(dǎo)致對(duì)比度變化，而矩陣同一列是檢測(cè)點(diǎn)深度相同即對(duì)比度相同而其直徑變化，因而使檢測(cè)點(diǎn)的深度和直徑在矩陣中分別以15的對(duì)數(shù)階形式從0.3mm到0.8mm變化。通過(guò)CDRAD獲取一幅影像可以得到最低可探測(cè)檢測(cè)點(diǎn)對(duì)比度與該點(diǎn)直徑之間關(guān)系圖，用