I級(jí)超聲波探傷人員考核參考題超聲波是振動(dòng)頻率超過(guò)人耳聽(tīng)覺(jué)范圍的聲波，是機(jī)械波的一種，其頻率1．20000Hz 2.2MHz 3.2KHz 4.200KHz100001.10KHz 2.100KHz 3.100MHz 4.0.1KHz1.5-25KHz 2.0.2-25MHz 3.1-200MHz 4.15-100MHz1波的振幅 2.波的脈沖長(zhǎng)度 3.波的頻率 4.波長(zhǎng)1.1MHz 2.2.5MHz 3.5MHz 4.10MHzl.一樣 2.增長(zhǎng) 3.減短 4.成倍增長(zhǎng)l.縱波 2.橫波 表面波 萊姆波1.切變波l.切變波切變波2.橫波3.縱波4.表面波2.橫波3.縱波4.表面波2.橫波1.切變波l.切變波切變波2.橫波3.縱波4.表面波2.橫波3.縱波4.表面波2.橫波3.縱波4.萊姆波1.機(jī)油 2.鋁 3.冰 4.銅頻率 2.波長(zhǎng) 3.聲速 4.脈沖長(zhǎng)度l.波的頻率 2.波長(zhǎng) 3.材料特性 4.振動(dòng)周15，若所有的其它因素都相同，下列幾種波型中聲速最大的:1.切變波 2.橫波 3.縱波 4.表面波脈沖長(zhǎng)度 2.頻率 3.聲波的傳播介質(zhì)和它的波型 4.上述都不對(duì)聲速加快 聲速減低 3.聲速不變 上述都不對(duì)18．若在均質(zhì)的材料表面下15mm處的縱波聲速為0.6cm/μs，則在表面下50mm處的聲速1.15mm處聲速的1/4 2.15mm處聲速的1/2 3.與15mm處的聲速相同4.上述都不對(duì)二倍 2.四倍 3.二分之一 4.十分之九20·材料的聲速與密度的乘積，可決定超聲波在界面上的聲能反射率和透過(guò)率，這一乘積稱

l.聲阻抗 2.聲速 3.波長(zhǎng) 4.穿透力l.反射體 2.折射體 3.界面 4.標(biāo)記1./空氣 2.鋼/水 鋼鎢 4./鋼超聲波垂直入射至界面上時(shí)，其透過(guò)波方向1.改變 2.不變 3.翻轉(zhuǎn)180° 4.不一定l.衰減 2.散射3.壓縮 4.折射大于反射角2.小于反射角 3.等于與入射波波型相同的反射波反射角4.與反射角無(wú)關(guān)聲速相同 2.尺寸相同 3.是固體4.一個(gè)是固體另一個(gè)是液27.在圖1中的角Φ1稱:1.入射角 2.反射角 3.折射角 4.上述都不圖11Φ2入射角 2.反射角3.折射角 4.上述都不對(duì)在圖lΦ3入射角 2.反射角3.折射角 4.上述都不對(duì)反射定律 2.衍射定律 3.折射定律 4.萊姆定律1500m/s1800m/s,當(dāng)用縱波以301.45° 2.3.4.組成界面的兩種材料聲速同上，為要求獲得折射橫波的折射角為60°，則入射角約等1.2.3.4.萊姆波 2.縱波 3.橫波 4.表面波21·在工件內(nèi)發(fā)擴(kuò)散) 2.在工件內(nèi)收聚焦) 3.在工件內(nèi)直線傳播l.Al.A2.C3.X4.帶狀圖表記錄50.顯示試件橫截面表示超聲波探傷結(jié)果的方法稱為:l.A型顯示 2.B型顯示 3.C型顯示 4.X-Y記錄儀顯示51，最適用于高速自動(dòng)探傷結(jié)果顯示的方法: l.A型顯示 2.B型顯示 3.速度一振幅圖表 4.回波高度一深度圖表C缺陷深度和尺寸 2.缺陷深度、尺寸和取向 3.缺陷深度和位置4.缺陷位置和尺寸(平面視圖)53，圖3是典型的:l．A型顯示 2.B型顯示 3.C型顯示 4.D型顯示35.為了使超聲波束聚焦，可在探頭晶片前面加裝一塊具有適當(dāng)曲率的板,這塊板稱為:1.清洗器探傷儀類型2.聲透鏡"3.斜契波束的擴(kuò)散程度主2.晶片背襯的致密性4.延遲塊要取決于:3.頻率和晶片尺寸。4.脈沖長(zhǎng)度37·直徑和頻率均相同的探頭發(fā)射的波束在同一材料中傳播，擴(kuò)散程度最大的波型是:1.切變波 2.橫波 3.縱波 4.表面波38·直徑與頻率均相同的探頭所發(fā)射的波束在下列材料中傳播，擴(kuò)散程度最大的1.水 2.鋼 3.有機(jī)玻璃 4.鋁

A型顯示 2.B型顯示 3.C型顯示 4.上述都不是49.以平面視圖顯示或記錄缺陷的顯示方式，稱為:39，靠近探頭的干涉區(qū)，常稱妁:54.圖4是典型的:1.近場(chǎng)區(qū) 2.聲阻抗3.指數(shù)場(chǎng)4.相位區(qū)l.A型顯示2.B型顯示3.C型顯示4.D型顯示40.近場(chǎng)區(qū)以遠(yuǎn)的區(qū)域，稱為:55.圖5是典型的:1.超聲場(chǎng) 2.遠(yuǎn)場(chǎng)3.繞射區(qū)4.無(wú)聲區(qū)l.A型顯示2.B型顯示3.C型顯示4.D41，下列幾種直探頭在探測(cè)同一材料時(shí)，具有最大干涉區(qū)的是:1.直徑14、1MHz 2.直徑14、2，5MHz 3.直徑20、1MHz 4.直徑30、2.5MHzl.反射 2.折射 3.重復(fù)性 4衰減檢測(cè)顯示的特征 2.被檢材料的參數(shù) 3.探頭的特性 4.探傷方式聲速 2.衰減 3.聲阻抗 4.折射角鍛件 2.粗晶鑄件 3.擠壓件 4.以上工件衰減都相同下列哪種頻率的超聲波在檢測(cè)粗晶材料,最易在界面上產(chǎn)生散1.1MHz 2.2.5MHz 3.5MHz 4.10MHzA型顯示 2.B型顯示 3.C型顯示 4.X-Y記錄儀顯示

A超聲波反射能量的大小 2.探頭的移動(dòng)距離 3.超聲波傳播的時(shí)間或距離 上述都不對(duì)Al.返回到探頭的超聲波能量的大小 2.探頭的移動(dòng)距離 3.超聲脈沖發(fā)射后經(jīng)過(guò)的間 4.被檢材料的厚度衰減器 2.接收放大器 3.同步發(fā)生器 4.電源衰減器 2.接收放大器 3.同步發(fā)生器 4.脈沖發(fā)生60.將接收到的信號(hào)放大并使之變?yōu)楹线m的信號(hào)輸至示波管的電路稱:1.掃描電路 2.接收放大電路 3.同步發(fā)生器 4.脈沖發(fā)生器產(chǎn)生水平基線 2.觸發(fā)脈沖發(fā)生器工作 3.控制脈沖發(fā)射次數(shù) 4.抑制雜波A視頻顯示 2.射頻顯示 3.音頻顯示 4.調(diào)頻顯示始脈沖 2.時(shí)/距離線 3.時(shí)標(biāo) 4.掃描線將電能轉(zhuǎn)換為機(jī)械能 2.將機(jī)械能轉(zhuǎn)換為電能 3.1和2都對(duì) 4.1和2都不對(duì)64.便利不熟練的操作者發(fā)聲裝置 2.掃查架 3.探頭控制器 4.探測(cè)管l.4.便利不熟練的操作者發(fā)聲裝置 2.掃查架 3.探頭控制器 4.探測(cè)管l.掃查管 2.掃查架 3.探頭控制器 4.指示系統(tǒng)清洗器 2.晶片校直器 3.角度調(diào)整器4.對(duì)比試塊孔徑相同 2.孔徑不同距離相同 3.孔至探測(cè)面深度不一 上述都不對(duì)雙晶片垂直探傷 2.斜射法探傷 3.縱波垂直法探傷 4.上述三者均可聯(lián)合雙探頭 2.分割式探頭 3.組合收發(fā)式探頭 4.陣列式探頭背襯材料 2.波型轉(zhuǎn)換器 3.壓電晶片或換能器 4.保護(hù)膜在水中會(huì)溶解 2.發(fā)射聲波效率低 3.機(jī)械和電氣性能不穩(wěn)定 4.易老化可最有效地發(fā)射超聲波 2.可最有效地接收超聲波 3.在水中不會(huì)溶解4.能用于700℃高溫可最有效地發(fā)射超聲波 2.可最有效地接收超聲波 3.在水中不會(huì)溶解4.能用于700℃高溫1MHz 2.5MHz 3.10MHz 4.25MHzl.BX電纜 2.導(dǎo)線管 3.同軸電纜 4.超聲傳導(dǎo)電纜距離一振幅高度 2.吸收電平 3.垂直極限 4.分辨率極限檢出平行于超聲波束的缺陷 2.檢出位于鍛件中心部位的小缺陷 3.檢出表面缺陷4.檢出近表面缺陷靈敏度 2.穿透力 3.分離 4.分辨力

1MHz 2.5MHz 3.10MHz 4.25MHz可檢出缺陷較小 2.可檢驗(yàn)厚度大 3.上述都對(duì) 4.上述都不對(duì)適用于穿透法探傷 2.適用于高速掃描技術(shù) 3.檢出傾斜缺陷1.孔的直徑 2.孔底的角度 3.孔至探測(cè)面的距離 4.孔的長(zhǎng)度與孔軸和試塊軸線的不平行度幫助探傷人員獲得最大底面回波 2.在儀器上獲得最大靈敏度 3.獲得一個(gè)一致的用來(lái)校正探傷靈敏度和對(duì)比缺陷大小的參考基準(zhǔn)， 4.上述都不86，標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)、形狀、尺寸和人工缺陷形式與對(duì)比試塊的不同，主要表現(xiàn)在:1.須與所檢工件及要求檢出的缺陷一樣 經(jīng)過(guò)主管機(jī)關(guān)檢定認(rèn)可3.不一定有人工缺陷 外表面必須精磨光87;超聲波探傷用的面積一幅度對(duì)比試塊的人工缺陷形式:1.平底孔 2.橫通孔 3.圓錐孔 4.V型88，用對(duì)比或標(biāo)準(zhǔn)試塊調(diào)整探傷儀的過(guò)程稱:1.角度調(diào)整 2.校正 3.衰減調(diào)節(jié) 4.對(duì)比缺陷回波幅度降低 2.發(fā)射脈沖寬增加 3.盲區(qū)加大4.上述都對(duì)濕潤(rùn)劑 2.耦合劑 3.傳聲劑 4.潤(rùn)滑劑l.潤(rùn)滑接觸面，盡量減小探頭磨損 2.持除探頭與探測(cè)面間的空氣，否則會(huì)使超聲波全射 3.晶片與探測(cè)面直接接觸時(shí)就不會(huì)振動(dòng) 4.使探頭可靠接地調(diào)節(jié)粘度 2.消除水中氣泡 3.防止渾濁 4.上述都不對(duì)掃查 2.測(cè)定 3.校正 4.潤(rùn)滑將超聲波以脈沖形式發(fā)射到被檢工件內(nèi),然后根據(jù)接收到的回波情況來(lái)判斷缺陷、材質(zhì)等的方法稱為:脈沖反射法 2.連續(xù)波法 3.共振法 4.上述都不對(duì)接觸法 2.表面波法 3.穿透法 萊姆波法1.垂直法 2.表面波法 3.斜射法 4.穿透法垂直法 2.水浸法 3.斜射法 4.穿透法探頭晶片與試件探測(cè)面不平行的探傷方法稱為，垂直法 2.水浸法 3.斜射法 4.穿透法垂直法 2.共振法 3.斜射法 4.穿透100·探頭與被探工件表面直接接觸的方法可用來(lái)作，l.垂直法探傷 2.斜射法探傷 3.表面波探傷 4.上述三者都可101.將被檢工件漫在水或其它液體槽內(nèi)進(jìn)行探傷的方法稱為:102.液浸法探傷的優(yōu)點(diǎn)是;加快檢測(cè)速度2.方便控制和保持波束方向3.適用于自動(dòng)化探傷4上述都是橫波法 2.縱波法 3.102.液浸法探傷的優(yōu)點(diǎn)是;加快檢測(cè)速度2.方便控制和保持波束方向3.適用于自動(dòng)化探傷4上述都是橫波法 2.縱波法 3.自動(dòng)超聲波探傷 4.手動(dòng)超聲波探傷(A示被屏最左側(cè)的幅度較高的信號(hào) 2.靠近示波屏右例的第一個(gè)信號(hào)3.示波屏最左側(cè)必定是第二個(gè)脈沖 4.示波屏上時(shí)隱時(shí)現(xiàn)的一種信號(hào)105.7

7E第二次底面回波2.第一次缺陷回波 3.第二次缺陷回波 4.第一次底面回波在直接接觸法探傷中，有時(shí)把試件探測(cè)面的回波稱為：始脈沖 2.發(fā)射脈沖 3.上述兩者都是 4.上述兩者都不是雜波 2.始波 3.發(fā)射脈沖 4.底面回波底面多次回波 2.探測(cè)面多次回波 3.雜波 4.共振信號(hào)裂紋 2.大夾渣 3.材料的粗晶 4.氣孔掃描線變暗 2.時(shí)基線變形 3.始脈沖消失 4.屏幕上出現(xiàn)幻象輪廓的反射 2.側(cè)壁效應(yīng) 3.表面狀態(tài) 4.上述都是8B第一次界面回波 2.始脈沖 3.第一次缺陷回波 4.第一次底面回波118.圖8中脈沖C代表:其脈沖A代表:1.第一次界面回波2.第一次缺陷回波3.第一次底面回波4.第二次界面回波1.始脈沖2.第一次缺陷回波3.第一次底面4.都不是119.8D圖71.第一次界面回波2.第一次缺陷回波3.第二次缺陷回波4.第二次界面回波120.8A和脈沖B120.8A和脈沖B1.試件探測(cè)面至缺陷的距離4.上述均不是2.試件厚度3.探頭晶片表面至探測(cè)面的水層距離121.水中的縱波聲速約為鋼或鋁中縱波聲速的1/4，因此水浸法垂直探傷的水層距離最小應(yīng)為:1.試件厚度的四倍對(duì)2.試件厚度的5倍3.1/46mm4.上述均不122.水浸探傷中，當(dāng)探頭垂直于探瀏面時(shí)，則:界面回波幅度最大 2.水層多次回波消失 3.波長(zhǎng)適當(dāng) 4.始脈沖幅度最大始脈沖 2.第一次缺陷回波 3.第一次底面 4.都不是7C第二次底面回波2.第一次缺陷回波 3.第二次缺陷回波 4.第一次底面回波7D第二次底面回波2.第一次缺陷回波 3.第二次缺陷回波 4.第一次底面回波

有表面缺陷 2.表面有油污 3.表面有積垢 4.上述均有可能棱角處無(wú)反射 2.棱角處有反射 3.能越過(guò)棱角，但在其下面產(chǎn)生反射 4.被棱角收阻擋所有聲波的傳播 2.使聲波衰減 3.對(duì)探傷沒(méi)有影響4.使聲波衰減并在示波屏上顯示相應(yīng)的信號(hào)超聲波束盡可能地與缺陷最大表面垂直 2.超聲波束盡可能地與缺陷最大表面平行 3.底面回波次數(shù)盡可能地多 4.超聲波束與試件底面垂直則:改變頻率 2.調(diào)整波束入射角 3.打磨探測(cè)面 4.提高探傷靈敏度最大表面與軋制面平行的分層缺陷 2.最大表面與軋制面垂直的橫向缺陷3.最大表面與軋制面傾斜的缺陷 4.上述都不對(duì)垂直法 2.斜射法 3.表面波法 4.上述都有效45°垂直法 2.斜射法 3.表面波法 4.上述都有效聯(lián)合雙探頭 2.普通直探頭 3.表面波探頭 4.橫波斜探頭抑制開(kāi)關(guān) 2.衰減器 3.掃描延遲控制 4.測(cè)距深度粗調(diào)和細(xì)調(diào)開(kāi)關(guān)(1050mm1.3和6上 2.2.5和5上 3.2和4上 5和10上儀器測(cè)距標(biāo)尺滿刻度己校準(zhǔn)為200mm(鋼)，如缺陷回波前沿顯示于刻度3.5上，則該缺陷的深度1.35mm 2.70mm 3.47.5mm 4.65mm9(10100mm發(fā)現(xiàn)一個(gè)深度和回波高度均與上述試塊平底孔回波相同的缺陷，則缺陷的當(dāng)量:1.等于Φ2平底孔 2.比Φ2平底孔大 比Φ2平底孔小 4.上述都不對(duì)3相同 2.▽2的比發(fā)現(xiàn)一個(gè)深度和回波高度均與上述試塊平底孔回波相同的缺陷，則缺陷的當(dāng)量:1.等于Φ2平底孔 2.比Φ2平底孔大 比Φ2平底孔小 4.上述都不對(duì)3相同 2.▽2的比的高 3.▽2的比的底 4.上述都不對(duì)以相同的探測(cè)靈敏度探測(cè)位于粗晶鑄件和經(jīng)過(guò)調(diào)質(zhì)鍍件中的缺如兩者狀態(tài)一樣，同處深度處的缺陷回波高度也一樣，則兩者的缺: ·136150mm45100mm81．120mm和60mmm 2.85mm和mm 3.60mm和20mm 4.85mm和42.5mm用45°的斜探頭探測(cè)鋼板中離探測(cè)面距離為50mm100mm1.5上 2.7上 3.3.5上 4.以上都不是任何一種超聲波探傷方法中，正確地解釋和評(píng)價(jià)缺陷回波是很重要的，通常使用的評(píng)價(jià)缺陷尺寸的

方法: J雙探頭檢測(cè)法 2.標(biāo)準(zhǔn)壓電元件法 3.波型轉(zhuǎn)換法 4.試塊對(duì)比法對(duì)一個(gè)缺陷回波用對(duì)比試塊中的平底孔高度比較，其中一個(gè)試塊的深度與缺陷深度相同直徑為2mm平底孔 2.4mm平底孔 3.3mm平底孔 4.5mm平底