標準解讀

《GB/T 15653-1995 金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法》作為一項國家標準，規(guī)定了金屬氧化物半導體氣敏元件的性能測試和評價方法。然而，您提供的對比項似乎不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標準或版本進行比較。因此，直接對比變更內(nèi)容較為困難。但可以一般性地說明，當一個標準被更新或替代時，通常會涉及到以下幾個方面的可能變更：

  1. 測試方法的改進：新標準可能會引入更精確、更高效的測試技術或流程，以提高測試結果的準確性和可重復性。
  2. 參數(shù)定義的調(diào)整：隨著技術進步和應用需求的變化，某些關鍵性能指標的定義或測量范圍可能有所更新，以更好地反映產(chǎn)品實際使用中的表現(xiàn)。
  3. 新增或刪除測試項目：根據(jù)技術發(fā)展和市場需求，可能會增加新的測試項目來評估元件的新特性，或者淘汰不再適用的測試內(nèi)容。
  4. 標準適用范圍的擴展或收縮：新標準可能會擴大適用的產(chǎn)品類型，或是針對特定類型的氣敏元件制定更為詳細的要求。
  5. 引用標準的更新：為了保持與其他相關標準的一致性，新標準會引用最新的基礎標準或測試方法標準。
  6. 規(guī)范性附錄的修訂：提供更詳細的操作指導、計算公式或參考數(shù)據(jù)，幫助用戶更準確地執(zhí)行測試。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經(jīng)官方授權發(fā)布的權威標準文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1995-07-24 頒布
  • 1996-04-01 實施
?正版授權
GB/T 15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法_第1頁
GB/T 15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法_第2頁
GB/T 15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法_第3頁
免費預覽已結束，剩余9頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.383：621.317.3L15中華人民共和國國家標準GB/T15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法Measuringmethodsforgassensorsofmetal-oxidesemiconductor1995-07-24發(fā)布1996-04-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法GB/T15653--1995中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874471996年8月第一版2005年1月電子版制作書號：155066·1-12431版權專有侵權必究舉報電話：（010）68533533

中華人民共和國國家標準CB/r15653-1995金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法Measuringmethodsforgassensorsofmetal-oxidesemiconductor主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了金屬氧化物半導體氣敏元件(以下簡稱元件)性能參數(shù)測試方法的基本原理,沒有規(guī)定這些方法在實際使用時的技術細節(jié)，測試時可按相應的詳細規(guī)范的規(guī)定進行。本標準適用于金屬氧化物半導體氣敏元件性能參數(shù)的測試，其他氣敏元件亦可參照使用2引用標準GB24211電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)則總則GB3095大氣環(huán)境質量標準GB4475敏感元器件術語3術語、符號3.1術語本標準中所用術語應按GB4475的規(guī)定3.2符號本標準的參數(shù)符號應按本標準附錄A(補充件)的規(guī)定一般要求41側試箱測試箱的箱體材料應選擇不與檢測氣體反應的材料;箱體容積應保證其中每只元件平均占有容積不小于1L;箱內(nèi)應設有液體汽化裝置、溫濕度顯示裝置和氣體攪拌裝置4.2測試氣氰清潔空氣的要求應符合GB3095中規(guī)定的2級環(huán)境空氣標準。采用標定氣體檢測時，其濃度容許

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用，未經(jīng)授權，嚴禁復制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡傳播等，侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。?，因數(shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質量問題。

評論

0/150

提交評論