標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 15877-1995 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范》。此標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了蝕刻工藝制成的雙列封裝(DIP, Dual In-line Package)引線框架的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存要求,旨在確保此類封裝材料的質(zhì)量與可靠性,適用于半導(dǎo)體器件的封裝制造過(guò)程。
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容概覽:
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范圍:明確了標(biāo)準(zhǔn)適用的產(chǎn)品類型,即通過(guò)蝕刻技術(shù)加工而成,用于承載集成電路芯片并實(shí)現(xiàn)外部電氣連接的雙列封裝引線框架。
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引用標(biāo)準(zhǔn):列出了實(shí)施該標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),這些標(biāo)準(zhǔn)通常涉及基礎(chǔ)材料性能、測(cè)試方法等。
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術(shù)語(yǔ)和定義:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中使用的一些專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了界定,幫助讀者準(zhǔn)確理解標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容。
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分類與標(biāo)記:規(guī)定了引線框架的分類方法及產(chǎn)品標(biāo)記規(guī)則,便于生產(chǎn)、檢驗(yàn)及使用過(guò)程中對(duì)產(chǎn)品的識(shí)別與區(qū)分。
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技術(shù)要求:
- 材料:規(guī)定了制作引線框架所用材料的種類及其性能要求,如金屬材料的純度、機(jī)械強(qiáng)度等。
- 尺寸和外形:詳細(xì)描述了引線框架的尺寸公差、引腳排列和間距、外形尺寸等指標(biāo)。
- 表面質(zhì)量:包括表面光潔度、無(wú)缺陷要求等,以確保良好的焊接性和可靠性。
- 電鍍層:針對(duì)有電鍍要求的部分,規(guī)定了鍍層材質(zhì)、厚度及均勻性等要求。
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試驗(yàn)方法:介紹了如何進(jìn)行尺寸測(cè)量、材料性能測(cè)試、表面質(zhì)量檢查及電鍍層檢測(cè)的具體操作步驟和評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)。
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檢驗(yàn)規(guī)則:包括出廠檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)的項(xiàng)目、抽樣方案及合格判定準(zhǔn)則,確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
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標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存:規(guī)定了產(chǎn)品包裝上應(yīng)包含的信息、包裝方式、在運(yùn)輸和儲(chǔ)存過(guò)程中的環(huán)境條件要求,以防止損傷或變質(zhì)。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替
- 1995-12-22 頒布
- 1996-08-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
TC3..31.200L55中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15877-1995蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范SpecificationofDIPducedlbyetchingT1995-12-22發(fā)布1996-08-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范GB/T15877-1995SpecificationofDIPleadframesproducedbyetching主題內(nèi)容與適用范圍主題內(nèi)容本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架(以下簡(jiǎn)稱引線框架)的技術(shù)要求及檢驗(yàn)規(guī)1.2!適用范圍本規(guī)范適用于半導(dǎo)體集成電路塑料雙列封裝引線框架,其他封裝形式引線框架也可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB7092-93半導(dǎo)體集成電路外形尺寸GB/T14112—93半導(dǎo)體集成電路塑料雙列封裝沖制型引線框架規(guī)范GB/T14113-93半導(dǎo)體集成電路封裝術(shù)語(yǔ)SJ/Z9007-87計(jì)數(shù)檢套抽樣方案和程序術(shù)語(yǔ)、符號(hào)、代號(hào)本規(guī)范所用術(shù)語(yǔ)、符號(hào)和代號(hào)應(yīng)按GB/T14113的規(guī)定技術(shù)要求4.1設(shè)計(jì)引線框架的外形尺寸應(yīng)符合GB7092的有關(guān)規(guī)定,并符合引線框架設(shè)計(jì)的要求。4.1.1引線鍵合區(qū)的最小面積引線鍵合區(qū)應(yīng)保證其寬度不小于0.2mm,長(zhǎng)度不小于0.635mm,由于蝕刻工藝中的鉆蝕是難以避免的,并將產(chǎn)生端頭倒圓現(xiàn)象,因此在長(zhǎng)度計(jì)量時(shí)應(yīng)從距端部0.25mm處起進(jìn)行計(jì)算,4.1.2金屬間的間隔引線框架各內(nèi)引線之間,內(nèi)引線與芯片粘接區(qū)之間的距離不小于0.15mm.4.2引線框架形狀和位置公差4.2.1引線框架的側(cè)彎應(yīng)小于標(biāo)稱條長(zhǎng)的0.5%.4.2.2引線框架的卷曲應(yīng)小于標(biāo)稱條長(zhǎng)的0.3%4.2.3引線框架的橫彎引線框架的最大橫彎尺寸應(yīng)符
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