ICS1322020

C82..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T168406—2012

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電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法

第6部分SEM微觀形貌分析法

:

Technicaldeterminationmethodsforelectricalfireevidence—

Part6Micro-morholoicalanalsismethodusin

:pgyg

scanningelectronmicroscope

2012-12-31發(fā)布2013-10-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法

第6部分SEM微觀形貌分析法

:

GB/T16840.6—2012

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100013)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

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年月第一版

20135

*

書號

:155066·1-46913

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T168406—2012

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前言

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法由以下部分組成

GB/T16840《》:

第部分宏觀法

———1:;

第部分剩磁檢測法

———2:;

第部分俄歇分析法

———3:;

第部分金相分析法

———4:;

第部分電氣火災(zāi)物證識別和提取方法

———5:;

第部分微觀形貌分析法

———6:SEM。

本部分為的第部分

GB/T168406。

本部分依據(jù)給出的規(guī)則編寫

GB/T1.1—2009。

本部分由中華人民共和國公安部提出

。

本部分由全國消防標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)火災(zāi)調(diào)查分技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC113/SC11)。

本部分起草單位公安部沈陽消防研究所

:。

本部分主要起草人邸曼張明趙長征夏大維齊梓博高偉吳瑩

:、、、、、、。

本部分為首次發(fā)布

。

Ⅰ

GB/T168406—2012

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電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法

第6部分SEM微觀形貌分析法

:

1范圍

的本部分規(guī)定了電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法中掃描電子顯微鏡微觀形貌

GB/T16840(SEM)

分析法的術(shù)語和定義原理儀器設(shè)備試樣制備觀察部位和判據(jù)

、、、、。

本部分適用于火災(zāi)調(diào)查中應(yīng)用對火災(zāi)現(xiàn)場金屬熔化痕跡的微觀形貌分析根據(jù)熔痕的微觀

SEM,

形貌特征鑒別熔痕的熔化性質(zhì)

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

分析儀器術(shù)語

GB/T13966

電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法第部分宏觀法

GB/T16840.11:

3術(shù)語和定義

和中界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T13966GB/T16840.1。

31

.

二次電子secondaryelectrons

樣品中原子的外層電子受入射電子的激發(fā)而發(fā)射到樣品以外的非彈性散射電子

。

32

.

二次電子成像secondaryelectronimage

二次電子被檢測器接收后成像

。

33

.

SEM的分辨本領(lǐng)solvingpowerforSEM

在二次電子圖像上測出能明顯分開的兩個(gè)物點(diǎn)之間的最小距離與放大倍率之比

。

34

.

放大倍率magnifyingpower

物體放大后的長度與原實(shí)物的長度的比值

。

35

.

有效放大倍率effectivemagnifyingpower

人眼的分辨率與儀器的分辨率的比值

。

36

.

熔痕meltedmark

在外界火焰或短路電弧高溫作用下在金屬表面特別是銅鋁導(dǎo)線上形成的圓狀凹坑狀瘤狀尖

,,、、、、

狀及其他不規(guī)則的微熔或全熔痕跡