標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 19502-2004是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《表面化學(xué)分析 輝光放電發(fā)射光譜方法通則》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用輝光放電發(fā)射光譜法(Glow Discharge Optical Emission Spectrometry, GD-OES)對(duì)固體材料表面及亞表層化學(xué)成分進(jìn)行分析時(shí)的方法原理、儀器要求、樣品制備、測(cè)量程序、數(shù)據(jù)處理以及結(jié)果報(bào)告等內(nèi)容。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概述:
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范圍:明確了標(biāo)準(zhǔn)適用的范圍,即使用GD-OES技術(shù)對(duì)金屬及其合金、半導(dǎo)體材料等固體表面以及一定深度范圍內(nèi)的元素含量進(jìn)行定性和定量分析。
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術(shù)語(yǔ)和定義:對(duì)輝光放電、發(fā)射光譜、背景校正等關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)給出了明確的定義,幫助用戶理解標(biāo)準(zhǔn)中的專業(yè)詞匯。
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引用文件:列出了實(shí)施本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)需要參考的其他相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和文獻(xiàn),確保測(cè)試方法的一致性和可比性。
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原理:闡述了GD-OES的基本工作原理,即在低氣壓下,通過(guò)輝光放電產(chǎn)生的等離子體使樣品表面或亞表層的原子或離子激發(fā)至高能態(tài),當(dāng)這些粒子返回到基態(tài)時(shí)會(huì)發(fā)射出特征光譜,通過(guò)對(duì)這些光譜的檢測(cè)和分析來(lái)確定樣品中元素的種類和含量。
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儀器要求:詳細(xì)描述了進(jìn)行GD-OES分析所必需的儀器設(shè)備的性能指標(biāo),包括放電室、光譜儀、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成部分的技術(shù)要求。
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樣品制備:規(guī)定了樣品的選取、預(yù)處理、形狀和尺寸要求,以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
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測(cè)量程序:包括了從樣品安裝、放電條件設(shè)置、光譜采集到測(cè)量過(guò)程中的質(zhì)量控制措施,確保測(cè)試過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)化。
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數(shù)據(jù)處理:介紹了光譜數(shù)據(jù)的基線校正、干擾校正、定量分析方法(如內(nèi)標(biāo)法、外標(biāo)法)等處理步驟。
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結(jié)果報(bào)告:規(guī)范了測(cè)試結(jié)果應(yīng)包含的信息,如樣品描述、測(cè)試條件、檢測(cè)限、不確定度評(píng)估及最終的元素含量等,確保報(bào)告的完整性和透明度。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 19502-2023
- 2004-04-30 頒布
- 2004-12-01 實(shí)施
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GB/T 19502-2004表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS71.040.50G04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19502—2004/ISO14707:2000表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則Surfacechemicalanalysis-Glowdischargeopticalemissionspectrometry(GD-0SE)一Introductiontouse(ISO14707:2000,IDT)2004-04-30發(fā)布2004-12-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T19502-2004/ISO14707:2000次前言引言1范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語(yǔ)和定義……4原理5儀器5.1輝光放電發(fā)射光源5.2光學(xué)單元··…·:::5.3光電檢測(cè)器和測(cè)量裝置6,分析步驃6.1檢定6.2測(cè)定附錄A(規(guī)范性附錄)安全
GB/T19502-2004/ISO14707:2000前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO14707:2000《表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則》本標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)施應(yīng)用中應(yīng)同時(shí)引用ISO3497:1990金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)定X射線光譜法》等相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為規(guī)范性附錄本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:寶山鋼鐵股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張毅、陳英穎、沈電洪、張志穎。
GB/T19502-2004/IS014707:2000輝光放電發(fā)射光譜法(GD-OES)用于測(cè)定固體樣品的化學(xué)成分,它既可以進(jìn)行體材分析.也可以進(jìn)行深度部析。體材分析時(shí),對(duì)樣品中元素含量在深度方向上的變化認(rèn)為是可以忽略的;而深度部析的主要目的通常是要獲得濃度隨深度變化的信息。輝光放電發(fā)射光譜法深度部面的厚度范圍從幾個(gè)納米到一百微米左右。與任何一種儀器分析方法一樣,輝光放電發(fā)射光譜分析的質(zhì)量主要取決于如何使儀器處于最佳狀態(tài)和如何正確地使用儀器。為確保輝光放電發(fā)射光譜分析的質(zhì)量,應(yīng)遵循本標(biāo)準(zhǔn)所提供的方法通則。
GB/T19502-2004/IS014707:2000表面化學(xué)分析輝光放電發(fā)射光譜方法通則1范圍本標(biāo)準(zhǔn)為采用輝光放電發(fā)射光譜法進(jìn)行體材分析和深度部析提供了方法通則。這里所討論的方法通則僅限于剛性的固體樣品的分析,不包括粉末、氣體或溶液的分析。結(jié)合將來(lái)其他特定的標(biāo)準(zhǔn)方法.本方法通則應(yīng)能夠?qū)崿F(xiàn)儀器的規(guī)范管理和測(cè)量條件的控制。盡管在近年來(lái)有不同類型的輝光放電發(fā)射光源問(wèn)世.但本通則中仍以Grimm型光源為例。這是因?yàn)榭紤]到目前在用的輝光放電光譜儀絕大多數(shù)采用Grimm型光源。應(yīng)該明確的是,本通則包含的條款同樣適用于其他類型(如Marcus型)的光源.Grimm型光源僅作為一個(gè)實(shí)例。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。ISO3497:1990金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)定X射線光譜法(MetalliccoatingsMeasurementofcoatingthickness-X-rayspectrometricmethods)ISO5725-1:1994測(cè)量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度)第一部分:基本原理和定義(Accura-cy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults-Part1:Generalprinciplesanddefinitions)測(cè)量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度)1SO5725-2:1994)第二部分:標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法重復(fù)性和再現(xiàn)性測(cè)定的基本方法(Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults-Part2:Basicmethodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasurementmethod)ISO5725-3:1994測(cè)量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度)第三部分:標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法精密度的中位測(cè)量(Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults-Part3:lntermediatemeasuresoftheprecisionofastandardmeasurementmethod)1SO5725-4:1994測(cè)量方法和結(jié)果的準(zhǔn)確度(真值和精度)第四部分:標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法真值測(cè)定的基木方法(Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresultsPart4:Basicmethodsforthedeterminationofthetruenessofastandardmeasurementmethod)1SO6955:1982分析光譜學(xué)方法火焰發(fā)射、原子吸收和原于熒光詞匯(Analyticalspectro-seopiemcthods-Flameemissionsatomicabsorption.andatomicfl
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