標準解讀

《GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗》與《GB 2423.26-1981》相比，在內(nèi)容上進行了更新和細化，主要變化包括：

  • 標準性質(zhì)從強制性變?yōu)橥扑]性。這體現(xiàn)在標準編號由“GB”變更為“GB/T”，意味著該標準不再作為強制執(zhí)行的標準，而是供企業(yè)參考采用。
  • 對于試驗條件的描述更加具體。例如，《GB/T 2423.26-1992》中對溫度范圍、壓力水平以及兩者結(jié)合使用時的具體參數(shù)給出了更詳細的說明，有助于提高不同實驗室間測試結(jié)果的一致性和可比性。
  • 增加了關于樣品狀態(tài)的規(guī)定。新版標準中增加了對于被測樣品在進行試驗前后的處理要求，比如如何放置、是否需要預熱或冷卻等，確保了試驗過程中樣品的狀態(tài)符合實際應用情況。
  • 明確了試驗報告應包含的信息。《GB/T 2423.26-1992》詳細列出了完成本項試驗后報告中必須記錄的各項數(shù)據(jù)和觀察結(jié)果，使得試驗過程更加透明化，便于后續(xù)分析與復現(xiàn)。
  • 調(diào)整了部分術語定義。為了與其他相關標準保持一致，并且更準確地反映技術發(fā)展現(xiàn)狀，《GB/T 2423.26-1992》修訂了一些專業(yè)術語及其定義。

這些調(diào)整反映了技術進步及實踐經(jīng)驗積累對標準化工作的影響，旨在使標準更加科學合理、易于操作實施。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 2423.26-2008
  • 1992-07-01 頒布
  • 1993-03-01 實施
?正版授權
GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗_第1頁
GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗_第2頁
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GB/T 2423.26-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.3.001.4K04中華人民共和國國家標準GB/T2423.26—92電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗BasicenvironmentaltestingproceduresforelectricandelectronicproductsTestZ/BM:combineddryheat/lowairpressuretests1992-07-01發(fā)布1993-03-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗GB/T2423.26-92Basicenvironmentaltestingproceduresfor代替GB2423.26-81electricandelectronicproductsTestZ/BM：combineddryheat/lowairpressuretests本標準參照采用國際標準IC68-2-41(1976）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗）及其1983年的修改件。1主題內(nèi)容與適用范圍111主題內(nèi)容本標準規(guī)定了散熱和非散熱試驗樣品高溫(溫度漸變和突變)和低氣壓綜合試驗的試驗目的、試驗設備、嚴酷度等級和試驗程序。1.2適用范圍1.2.1本標準規(guī)定的綜合試驗通常只有在試驗樣品進行單一環(huán)境試驗不能得出綜合環(huán)境影響時使用。1.2.2本標準規(guī)定的試驗方法只適用于在試驗期間能夠達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品、1.2.3本本標準規(guī)定的試驗方法一次只能試驗一個散熱試驗樣品，散熱試驗樣品一般應按GB2423.2的規(guī)定在無強迫空氣循環(huán)的試驗箱中進行。1.2.4本標準僅適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗1.2.5有關高度、壓力和溫度的關系見GB1920。1.2.6GB2423.2中有關非做熱試驗樣品試驗和散熱試驗樣品試驗應用對比的指南也適用于本標準。注：非做熱試驗樣品的定義按GB2422中的規(guī)定，不應在低氣壓下測量其最熱點的溫度。2引用標準GB1920《標準大氣(30公里以下)》GB2421F電電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則（B2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程名詞術語GB2423.2電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.21電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法GB2424.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則（B2424.15電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導則3試驗目的和一般說明3.1試驗目的本試驗的目的是確定元件、設備和其

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