ICS1704030

J42..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T26095—2010

電子柱電感測(cè)微儀

Electroniccolumnmicrometer

2011-01-10發(fā)布2011-10-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T26095—2010

前言

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國量具量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC132)。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位中原量?jī)x股份有限公司

:。

本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位中國計(jì)量學(xué)院江蘇麥克龍測(cè)量技術(shù)有限公司廣西壯族自治區(qū)計(jì)量檢測(cè)研

:、、

究院河南省計(jì)量科學(xué)研究院

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人金國順孔明黃曉賓蔡旭平賈曉杰皇甫真才

:、、、、、。

Ⅰ

GB/T26095—2010

電子柱電感測(cè)微儀

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子柱電感測(cè)微儀的術(shù)語和定義型式和基本參數(shù)要求檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)規(guī)則標(biāo)志

、、、、、

與包裝等

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于分度值為以電子柱發(fā)光單元顯示的電子柱電感測(cè)微儀以

0.1μm、0.2μm、1μm,()(

下簡(jiǎn)稱測(cè)微儀

“”)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款凡是注日期的引用文件其隨后所有

。,

的修改單不包括勘誤的內(nèi)容或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)然而鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

(),,

是否可使用這些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)

。,。

包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志

GB/T191—2008(ISO780:1997,MOD)

外殼防護(hù)等級(jí)代碼

GB4208—2008(IP)(IEC60529:2001,IDT)

防銹包裝

GB/T4879—1999

防潮包裝

GB/T5048—1999

運(yùn)輸包裝收發(fā)貨標(biāo)志

GB/T6388—1986

工業(yè)產(chǎn)品使用說明書總則

GB/T9969—2008

工業(yè)產(chǎn)品保證文件總則

GB/T14436—1993

幾何量測(cè)量器具術(shù)語基本術(shù)語

GB/T17163—2008

幾何量測(cè)量器具術(shù)語產(chǎn)品術(shù)語

GB/T17164—2008

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2—2006(IEC61000-4-2:2001,

IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.3—2006(IEC61000-4-

3:2002,IDT)

低壓電氣設(shè)備的高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分定義和試驗(yàn)要求

GB/T17627.1—1998:

(eqvIEC61180-1:1992)

3術(shù)語和定義

中確立的術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)

GB/T17163—2008、GB/T17164—2008。

4型式和基本參數(shù)

41型式

.

測(cè)微儀由電子柱顯示器和傳感器組成其型式見圖所示圖示僅供圖解說明