標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 29309-2012 電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程 高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn),旨在為電工電子產(chǎn)品的高加速壽命測試提供指導(dǎo)。該標(biāo)準(zhǔn)適用于通過施加超過正常使用條件下的環(huán)境應(yīng)力來評(píng)估產(chǎn)品可靠性的場合,目的是在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計(jì)或制造缺陷。
根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),高加速壽命試驗(yàn)(HALT)是一種用于提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的方法,它通過逐步增加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效的方式來識(shí)別其極限。這些應(yīng)力可以是溫度、振動(dòng)或其他環(huán)境因素的組合。HALT的主要目標(biāo)不是為了模擬實(shí)際使用情況下的條件,而是要快速地暴露出產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的弱點(diǎn),從而允許制造商在產(chǎn)品開發(fā)階段就做出改進(jìn)。
標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)規(guī)定了如何進(jìn)行試驗(yàn)準(zhǔn)備、實(shí)施過程以及結(jié)果分析等步驟。其中包括選擇適當(dāng)?shù)膽?yīng)力類型與水平、確定測試樣品數(shù)量、設(shè)定停止準(zhǔn)則等內(nèi)容。此外,還強(qiáng)調(diào)了記錄整個(gè)試驗(yàn)過程中所有相關(guān)信息的重要性,以便于后續(xù)分析及報(bào)告編寫。
對(duì)于參與此類測試的所有人員來說,理解并遵循本標(biāo)準(zhǔn)所提供的指南至關(guān)重要,以確保能夠有效地利用高加速壽命試驗(yàn)技術(shù)提升產(chǎn)品質(zhì)量。同時(shí),正確執(zhí)行HALT還能幫助企業(yè)減少因產(chǎn)品故障導(dǎo)致的成本支出,并加快新產(chǎn)品上市速度。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-12-31 頒布
- 2013-06-01 實(shí)施
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GB/T 29309-2012電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡介
ICS19040
K04.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T29309—2012
電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程
高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則
Acceleratedstresstestingproceduresforelectricandelectronicproducts—
Guidanceforhighlyacceleratedlifetest
2012-12-31發(fā)布2013-06-01實(shí)施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T29309—2012
目次
前言…………………………
Ⅰ
范圍………………………
11
規(guī)范性引用文件…………………………
21
術(shù)語和定義………………
31
一般要求…………………
43
試驗(yàn)準(zhǔn)備…………………
54
試驗(yàn)方法…………………
65
相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息…………………
710
試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)給出的信息…………………
810
附錄資料性附錄高加速壽命試驗(yàn)裝置……………
A()12
附錄資料性附錄試驗(yàn)流程圖………………………
B()15
附錄資料性附錄應(yīng)力隔離…………
C()16
附錄規(guī)范性附錄應(yīng)力極限確認(rèn)……………………
D()17
GB/T29309—2012
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國質(zhì)量監(jiān)管重點(diǎn)產(chǎn)品檢驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC374)。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測研究院中檢華納北京質(zhì)量技術(shù)中心有限公司
:、()。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人楊彥彰朱建華張華李巖張燦文陳顯顧
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T29309—2012
電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗(yàn)規(guī)程
高加速壽命試驗(yàn)導(dǎo)則
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了高加速壽命試驗(yàn)的一般要求試驗(yàn)準(zhǔn)備和試
(HighlyAcceleratedLifeTest,HALT)、
驗(yàn)方法
。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的高加速壽命試驗(yàn)施加的試驗(yàn)應(yīng)力包括高溫步進(jìn)低溫步進(jìn)快速溫度變化循環(huán)六自
,、、、
由度非高斯寬帶隨機(jī)振動(dòng)等應(yīng)力
。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品及其電子部件印制電路板組件等對(duì)于大型整機(jī)宜優(yōu)先考慮在前端
、。,
的裝配級(jí)別如印制電路板組件子模塊上進(jìn)行試驗(yàn)
(、)。
本標(biāo)準(zhǔn)還適用于電工電子產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)和或試產(chǎn)階段也可用于批量生產(chǎn)階段
、(),。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南
GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語
GB/T2422—1995(eqvIEC60068-5-2:1990)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫
GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-
1:2007,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫
GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-
1:2007,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)溫度變化
GB/T2423.22—20022:N:
(IEC60068-2-14:1984,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法振動(dòng)沖擊和類似動(dòng)力學(xué)
GB/T2423.43—20082:、
試驗(yàn)樣品的安裝
(IEC60068-2-47:2005,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)寬帶隨機(jī)振動(dòng)
GB/T2423.56—20062:Fh:
數(shù)字控制和導(dǎo)則
()(IEC60068-2-64:1993,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GB/T2424.5—2006(IEC60068-3-5:2001,IDT)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.13—2002
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