標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 33838-2017 微束分析 掃描電子顯微術(shù) 圖像銳度評(píng)估方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在提供一套系統(tǒng)的方法來評(píng)估通過掃描電子顯微鏡(SEM)獲得圖像的清晰程度。該標(biāo)準(zhǔn)適用于科研機(jī)構(gòu)、高等院校以及企業(yè)中使用SEM進(jìn)行材料表面形貌觀察與分析時(shí)對(duì)圖像質(zhì)量控制的需求。
根據(jù)這項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),首先定義了“圖像銳度”的概念,即圖像中邊緣或細(xì)節(jié)部分對(duì)比度的變化率,反映了圖像中細(xì)節(jié)信息的分辨能力。接著,介紹了幾種常用的圖像銳度定量測(cè)量方法,包括但不限于梯度法、傅里葉變換法等。這些方法都是基于數(shù)學(xué)模型,通過對(duì)原始圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后計(jì)算出一個(gè)能夠表征整個(gè)圖像或者局部區(qū)域銳利程度的數(shù)值指標(biāo)。
此外,《GB/T 33838-2017》還詳細(xì)規(guī)定了實(shí)驗(yàn)條件設(shè)置、樣本準(zhǔn)備要求、測(cè)試流程步驟等內(nèi)容,以確保不同實(shí)驗(yàn)室之間可以獲得可比性強(qiáng)的結(jié)果。例如,在準(zhǔn)備樣品時(shí)需要考慮其導(dǎo)電性是否足夠好;在調(diào)整SEM工作參數(shù)時(shí),則需關(guān)注加速電壓、探針電流等因素如何影響最終成像效果。
最后,該標(biāo)準(zhǔn)也提到了如何利用軟件工具來進(jìn)行自動(dòng)化的圖像銳度分析,并且給出了具體的操作指南及注意事項(xiàng)。這不僅提高了工作效率,也為非專業(yè)人士提供了便利。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2017-05-31 頒布
- 2018-04-01 實(shí)施
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ICS7104040
G04..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T33838—2017/ISO/TS245972011
:
微束分析掃描電子顯微術(shù)
圖像銳度評(píng)估方法
Microbeamanalysis—Scanningelectronmicroscopy—
Methodsofevaluatingimagesharpness
(ISO/TS24597:2011,IDT)
2017-05-31發(fā)布2018-04-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T33838—2017/ISO/TS245972011
:
目次
前言
…………………………Ⅰ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語(yǔ)和定義
3………………1
獲取圖像的步驟
4SEM…………………2
概述
4.1…………………2
試樣
4.2…………………2
試樣傾斜
4.3……………2
視場(chǎng)選擇
4.4……………2
像素大小選擇
4.5………………………3
圖像亮度和襯度
4.6……………………4
圖像襯噪比
4.7…………………………4
圖像聚焦和像散
4.8……………………6
外部因素干擾
4.9………………………6
錯(cuò)誤襯度
4.10……………6
圖像數(shù)據(jù)文件
4.11SEM………………6
圖像獲取及圖像區(qū)域選擇
5SEM…………6
評(píng)估方法
6…………………6
概述
6.1…………………6
襯噪比
6.2………………7
傅立葉變換法
6.3(FT)…………………7
襯度梯度法
6.4-(CG)…………………10
導(dǎo)數(shù)法
6.5(DR)………………………12
測(cè)試報(bào)告
7…………………14
概述
7.1…………………14
測(cè)試報(bào)告內(nèi)容
7.2………………………14
附錄規(guī)范性附錄襯噪比細(xì)節(jié)
A()(CNR)………………15
附錄規(guī)范性附錄傅立葉變換法細(xì)節(jié)
B()(FT)………19
附錄規(guī)范性附錄襯度梯度法細(xì)節(jié)
C()-(CG)…………32
附錄規(guī)范性附錄導(dǎo)數(shù)法細(xì)節(jié)
D()(DR)………………42
附錄資料性附錄評(píng)估圖像銳度的背景
E()……………59
附錄資料性附錄各種評(píng)估方法的特征和適用性
F()…………………63
附錄資料性附錄用于評(píng)估圖像銳度的試樣的制備方法
G()…………66
附錄資料性附錄測(cè)試報(bào)告示例
H()……………………68
參考文獻(xiàn)
……………………70
GB/T33838—2017/ISO/TS245972011
:
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用微束分析掃描電子顯微術(shù)圖像銳度評(píng)估方
ISO/TS24597:2011《
法
》。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下
:
微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)
———GB/T21636—2008(ISO22493:2008,IDT)。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理學(xué)院
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人丁澤軍阮矚
:、。
Ⅰ
GB/T33838—2017/ISO/TS245972011
:
微束分析掃描電子顯微術(shù)
圖像銳度評(píng)估方法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于評(píng)估掃描電子顯微鏡生成的數(shù)字圖像銳度的種方法傅立葉變換
(SEM)3:(FT)
法襯度梯度法導(dǎo)數(shù)法
、-(CG)、(DR)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求
GB/T27025—2008(ISO/IEC17025:2005,IDT)
微束分析掃描電鏡圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則
GB/T27788—2011(ISO16700:2004,IDT)
微束分析掃描電子顯微術(shù)術(shù)語(yǔ)
ISO22493(Microbeamanalysis-Scanningelectronmicro-
scopy—Vocabulary)
3術(shù)語(yǔ)和定義
和界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
GB/T27788—2011ISO22493。
31
.
像素pixel
數(shù)字圖像中不可再分的最小成像單位
SEM。
32
.
像素大小pixelsize
圖像中單位像素的試樣長(zhǎng)度單位納米
SEM,
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