標準解讀
GB/T 35099-2018《微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析》是一項國家標準,旨在規(guī)范使用掃描電子顯微鏡(SEM)結合能量色散X射線光譜儀(EDS或稱能譜儀)對大氣中細小顆粒物進行形態(tài)觀察及化學成分分析的方法。該標準適用于環(huán)境科學、材料科學等領域內對空氣懸浮顆粒物的研究工作。
根據(jù)此標準,首先明確了所需儀器設備的基本要求,包括但不限于掃描電子顯微鏡應具備足夠的分辨率以清晰顯示樣品表面細節(jié);能譜儀需具有良好的能量分辨率和檢測效率,能夠準確測定出從輕到重各種元素的存在情況。此外還規(guī)定了制樣過程中的注意事項,比如如何避免污染、怎樣選擇合適的基底材料等。
在樣品準備階段,推薦采用適當?shù)氖占椒ǐ@取待測的大氣顆粒物,并通過物理或化學手段將其固定于適合SEM觀測的載體上。對于特別細小或者容易移動的顆粒,則可能需要采取額外措施如噴金處理來增加其導電性,從而提高成像質量。
接下來是對具體實驗步驟的描述,包括設置SEM的工作參數(shù)(加速電壓、放大倍數(shù)等)、調整EDS系統(tǒng)以便于獲得最佳的能量分辨率和計數(shù)率,以及如何操作軟件來進行數(shù)據(jù)采集與處理。在此過程中強調了正確校準的重要性,確保所得到的結果真實反映了樣品本身的特性而非外界因素干擾所致。
最后,標準提供了關于結果報告的一些建議,指出應當詳細記錄實驗條件、使用的儀器型號及其性能指標、樣品信息等內容,并且要客觀地呈現(xiàn)形貌特征及元素組成的數(shù)據(jù),必要時還需附上原始圖像或圖表作為支持材料。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-05-14 頒布
- 2019-04-01 實施
文檔簡介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國國家標準
GB/T35099—2018
微束分析掃描電鏡-能譜法
大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析
Microbeamanalysis—Scanningelectronmicroscopywithenergydispersive
X-rayspectrometry—Morphologyandelementanalysisofsinglefineparticles
inambientair
2018-05-14發(fā)布2019-04-01實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T35099—2018
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術語和定義
3………………1
分析原理
4…………………1
儀器和材料
5………………2
樣品采集與保存
6…………………………2
樣品分析
7…………………3
數(shù)據(jù)處理和結果計算
8……………………4
分析結果發(fā)布
9……………5
附錄資料性附錄核孔膜及核孔膜上顆粒物掃描電鏡形貌
A()………6
附錄資料性附錄掃描電鏡單顆粒分析記錄表格參考格式
B()………7
附錄資料性附錄環(huán)境空氣中顆粒物主要種類單顆粒典型形貌及能譜特征
C()、……8
Ⅰ
GB/T35099—2018
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標準由全國微束標準化技術委員會提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標準起草單位國家環(huán)境分析測試中心北京化工大學
:、。
本標準主要起草人董樹屏殷惠民李玉武陳航宇任立軍杜禎宇徐仲均
:、、、、、、。
Ⅲ
GB/T35099—2018
引言
近年來環(huán)境空氣中細粒子污染防控已成為我國社會廣泛關注的環(huán)境問題準確識別細
,(PM2.5)。
粒子來源類型為有針對性地治理顆粒物污染改善環(huán)境空氣質量提供技術支持是我國科技工作者面臨
,、
的一項艱巨任務對不同粒徑顆粒物來源進行定性識別和定量解析是大氣顆粒物研究的主要內容之
。
一是環(huán)境政策制定和污染防治的重要依據(jù)
,。
目前環(huán)境空氣細粒子來源解析的主要方法是以環(huán)境樣品采集與全樣品化學分析結果為基礎的受
,
體模型法對環(huán)境空氣細粒子的研究已經(jīng)從早期的全樣品化學分析逐步拓展到了單顆粒分析因為單
。。
顆粒分析所需采樣時間短很少量的樣品就可以進行分析這使得對環(huán)境空氣細粒子短期組分變化的測
,,
量更精確此外單顆粒分析的數(shù)據(jù)可以用來作為自然源或人為源的指紋單顆粒分析已經(jīng)成為國
。,“”。
內外表征環(huán)境空氣細粒子特征的重要技術手段
。
掃描電子顯微鏡與能譜儀聯(lián)用是簡便快捷的單顆粒表征技術之一該技術可直觀識
(SEM-EDS)。
別區(qū)分顆粒物種類對其來源類型作出直觀和清晰的判斷并且根據(jù)顆粒物數(shù)目的計數(shù)統(tǒng)計給出源貢獻
,,
率得到不同粒徑范圍的顆粒物污染特征該技術和原有的全樣品分析手段相結合使源解析工作更全
,。,
面更準確特別是針對特定污染源的識別有其特有的優(yōu)勢可望在霧霾污染防治工作中發(fā)揮重要作用
、,,。
Ⅳ
GB/T35099—2018
微束分析掃描電鏡-能譜法
大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析
1范圍
本標準規(guī)定了利用掃描電子顯微鏡及能譜儀觀測環(huán)境空氣中細粒子單顆粒形貌定
(SEM)(EDS)、
性分析元素對環(huán)境空氣顆粒物進行分類的方法掃描電鏡用于顆粒物的形貌觀察和粒徑測量射線
,。,X
能譜儀用于顆粒物主要元素定性分析
。
本標準適用于在電子束轟擊下穩(wěn)定的顆粒物分析不適用于硝酸鹽銨鹽等熱不穩(wěn)定的顆粒物
,、
分析
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
檢測和校準實驗室能力的通用要求
GB/T27025
環(huán)境空氣和的測定重量法
HJ618PM10PM2.5
3術語和定義
下列術語和定義適用于本文件
。
31
.
單顆粒singleparticle
環(huán)境空氣中粒徑尺寸范圍在的單個顆粒物
0.5μm~10μm。
32
.
核孔膜capillary-porepolycarbonateaerosolfilters
采用核徑跡蝕刻制備的專用聚碳酸酯膜
。
4分析原理
掃描電鏡工作原理經(jīng)高壓加速后的聚集電子束轟擊放在樣品室內的樣品并產生二次電
(SEM):
子由探測器探測二次電子信號并轉成電信號經(jīng)放大器放大后在顯示器上顯示出樣品的表面形貌及粒
,,
徑大小
。
射線能譜儀工作原理
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