ICS3122010

L23..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

電子設(shè)備用機電元件

基本試驗規(guī)程及測量方法

第25-2部分試驗25b衰減插入損耗

::()

Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—

Basictestingproceduresandmeasuringmethods—

Part25-2Test25bAttenuationinsertionloss

::()

[IEC60512-25-2:2002,Connectorsforelectronicequipment—Testsand

measurements—Part25-2:Test25b:Attenuation(insertionloss),IDT]

2021-03-09發(fā)布2021-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

目次

前言

…………………………Ⅰ

總則

1………………………1

范圍和目的

1.1…………………………1

術(shù)語和定義

1.2…………………………1

試驗設(shè)施

2…………………1

設(shè)備

2.1…………………1

裝置

2.2…………………1

試驗樣品

3…………………2

說明

3.1…………………2

試驗程序

4…………………2

裝置衰減

4.1……………3

樣品衰減測量

4.2………………………3

阻抗分析儀開路短路法

4.3(/)…………4

追加測量

4.4……………4

時域法

4.5………………4

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定的細則

5…………………5

試驗記錄文件

6……………5

附錄規(guī)范性附錄裝置和設(shè)備的示意圖

A()……………6

附錄資料性附錄實用指南

B()…………10

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

.:

前言

電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法按試驗方法分為若干部分

GB/T5095《》。

的第部分為信號完整性試驗已經(jīng)發(fā)布或計劃發(fā)布的部分如下

GB/T509525,:

第部分試驗串?dāng)_比

———25-1:25a:;

第部分試驗衰減插入損耗

———25-2:25b:();

第部分試驗上升時間衰減

———25-3:25c:;

第部分試驗傳輸時延

———25-4:25d:;

第部分試驗回波損耗

———25-5:25e:;

第部分試驗眼圖和抖動

———25-6:25f:;

第部分試驗阻抗反射系數(shù)和電壓駐波比

———25-7:25g:、(VSWR);

第部分信號完整性試驗試驗外來串?dāng)_

———25-9:25i:。

本部分為的第部分

GB/T509525-2。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分使用翻譯法等同采用電子設(shè)備用連接器試驗和測量第部

IEC60512-25-2:2002《25-2

分試驗衰減插入損耗

:25b:()》。

本部分做了下列編輯性修改

:

標(biāo)準(zhǔn)名稱由電子設(shè)備用連接器試驗和測量第部分試驗衰減插入損耗修

———《25-2:25b:()》

改為電子設(shè)備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第部分試驗衰減插入損

《25-2:25b:(

耗

)》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別這些專利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國電子設(shè)備用機電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC166)。

本部分起草單位四川華豐企業(yè)集團有限公司中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

:、。

本部分主要起草人龐斌朱茗肖淼劉俊汪其龍

:、、、、。

Ⅰ

GB/T50952502—2021/IEC60512-25-22002

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電子設(shè)備用機電元件

基本試驗規(guī)程及測量方法

第25-2部分試驗25b衰減插入損耗

::()

1總則

11范圍和目的

.

的本部分適用于電連接器插座電纜組件或互連系統(tǒng)

GB/T5095、、。

本部分描述了測量作為頻率函數(shù)的衰減插入損耗的頻域法和時域法

/。

注本文件從始至終引用了衰減一詞當(dāng)按樣品和傳輸線類型進行測量的專業(yè)試驗人員總結(jié)和報告試驗測量結(jié)

:“”。

果時必須使用合適的術(shù)語衰減或插入損耗

,()。

12術(shù)語和定義

.

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

121

..

衰減attenuation

在樣品從輸入到輸出的傳輸過程中功率的減少通常測量值以分貝為單位

。,(dB)。

122

..

插入損耗insertionloss

由于連接器或類似器件插入傳輸線中所產(chǎn)生的功率損耗通常測量值以分貝為單位

。,(dB)。

123

..

樣品環(huán)境阻抗specimenenvironmentimpedance

由裝置在樣品信號線上引起的阻抗該阻抗是由傳輸線路終端電阻附裝的接收器或信號源以及

,、、

裝置的寄生效應(yīng)產(chǎn)生的

。

2試驗設(shè)施

21設(shè)備

.

211頻域

..

優(yōu)先選用網(wǎng)絡(luò)分析儀當(dāng)要求較大頻率范圍時可采用信號發(fā)生器和頻譜分析儀或矢量網(wǎng)絡(luò)分