犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜５１７０．１４—２００９

代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備

基本參數(shù)檢驗方法

振動（正弦）試驗用電動振動臺

犐狀狊狆犲犮狋犻狅狀犿犲狋犺狅犱狊犳狅狉犫犪狊犻犮狆犪狉犪犿犲狋犲狉狊狅犳犲狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾

狋犲狊狋犻狀犵犲狇狌犻狆犿犲狀狋狊犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犈犾犲犮狋狉狅犱狔狀犪犿犻犮狏犻犫狉犪狋犻狀犵狋狔狆犲犿犪犮犺犻狀犲狊犳狅狉狏犻犫狉犪狋犻狅狀（狊犻狀狌狊狅犻犱犪犾）狋犲狊狋

２００９０５０６發(fā)布２００９１１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜５１７０．１４—２００９

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４檢驗項目!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

５檢驗用主要儀器及要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

６檢驗條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

７一般規(guī)定!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

８檢驗方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

９數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

１０檢驗周期!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

附錄Ａ（資料性附錄）檢驗項目的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

附錄Ｂ（資料性附錄）基本參數(shù)允許誤差!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

Ⅰ

書

犌犅／犜５１７０．１４—２００９

前言

ＧＢ／Ｔ５１７０分為如下部分：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機(jī)械振

動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振

動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振

動臺

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機(jī)

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順

序試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／濕度組合循環(huán)試驗

設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動（正弦）綜合試

驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２０電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備

———ＧＢ／Ｔ５１７０．２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（隨機(jī)）試驗用液壓振

動臺

本部分是ＧＢ／Ｔ５１７０的第１４部分。

本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）

試驗用電動振動臺》。

本部分與ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：

———標(biāo)準(zhǔn)名稱《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》改

為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動（正弦）試驗用電動振動臺》。

———增加了“范圍”一章。

———增加了“規(guī)范性引用文件”一章。

———增加了“術(shù)語和定義”一章。

———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了檢驗用儀器的測量結(jié)果擴(kuò)展不確定度（犽＝２）的

要求。

———增加了“檢驗條件”一章。

———在“一般規(guī)定”一章，要求檢驗用負(fù)載“表面光潔度不低于７級”改為“表面粗糙度犚犪優(yōu)于

６．４μｍ”；將“第３條”移至“范圍”一章。

Ⅲ

犌犅／犜５１７０．１４—２００９

———在“檢驗方法”一章，對圖１進(jìn)行了修改，刪除了圖２～圖７；關(guān)于最大動態(tài)力的檢驗，“運動部件

等效質(zhì)量”改用“動圈質(zhì)量”，并刪除了對應(yīng)的附錄“運動部件等效質(zhì)量的測量方法”；增加了

“８．３．４臺面一階共振頻率的檢驗”和圖２；加速度單位由“犵”改為“ｍ／ｓ２”；“加速度波形失真

度的檢驗”改為“臺面加速度諧波失真度的檢驗”；對“臺面加速度幅值均勻度的檢驗”１條進(jìn)行

了修改；“本底噪聲加速度的檢驗”改為“試驗系統(tǒng)加速度信噪比的檢驗”；修改了“８．１２掃頻

速率誤差的檢驗”。

———增加了“數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果”一章。

———增加了“檢驗周期”一章。

———附錄Ａ改為資料性附錄，并對檢驗項目的選擇作出了修改。

———附錄Ｂ改為資料性附錄，并對基本參數(shù)的指標(biāo)要求作出了修改。

本部分的附錄Ａ、附錄Ｂ為資料性附錄。

本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。

本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：鄭術(shù)力、肖建紅。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ５１７０．１４—１９８５。

Ⅳ

犌犅／犜５１７０．１４—２００９

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備

基本參數(shù)檢驗方法

振動（正弦）試驗用電動振動臺

１范圍

本部分規(guī)定了振動（正弦）試驗用電動振動臺在進(jìn)行定型鑒定、出廠檢驗和定期檢驗時的檢驗項目、

檢驗用主要儀器及要求、檢驗條件、檢驗時的一般規(guī)定、檢驗方法及檢驗結(jié)果等內(nèi)容。

本部分適用于對ＧＢ／Ｔ２４２３．１０《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｆｃ和導(dǎo)則：

振動（正弦）》進(jìn)行振動試驗用電動振動臺系統(tǒng)（以下簡稱振動臺）基本參數(shù)的檢驗方法。

對于帶有水平工作臺的振動臺，檢驗項目中除頻率指示誤差、頻率穩(wěn)定度、振動幅值指示誤差、掃頻

速率誤差、臺面溫度外，其余均應(yīng)參照檢驗方法中的相應(yīng)條款進(jìn)行檢驗。

本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條