ICS25.220.40H25中華人民共和國國」家標(biāo)準(zhǔn)GB/T8014.1-2005代代替GB/T8014—1987鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第1部分:測量原則Anodizingofaluminiumanditsalloys-Themeasuringmethodofthicknessofanodicoxidecoatings-Part1：Themeasuringprinciple(ISO2064:1996,Metallicandotherinorganiccoatings-Definitionsandconventionsconcerningthemeasurementofthickness,MOD)2005-07-04發(fā)布2005-12-01實(shí)施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)鋁及鋁合金陽極氧化氯化膜厚度的測量方法第1部分：測量原則GB/T8014.1-2005中中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼：100045電話：63787337、637874472005年11月第一版2005年11月電子版制作書號(hào)：155066·1-26658版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話：（010)68533533

GB/T8014.1-2005GB/T8014《鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法》分為如下3個(gè)部分：（B/T8014.1—2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第1部分:測量原則GB/T8014.2—2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第2部分：質(zhì)量損大法鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法-GB/T8014.3-2005第3部分：分光束顯微鏡法本部分為GB/T8014的第1部分，本部分修改采用ISO2064:1996《金屬鍍層和其他無機(jī)涂層——定義和有關(guān)測量厚度的規(guī)定》(英文版).并根據(jù)ISO2064:1996重新起草。為方便比較,在資料性附錄中列出了本部分章條和對(duì)應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)章條的對(duì)照一覽表。本部分與ISO2064:1996的主要差異在于本部分對(duì)厚度測量方法的類別及方法概述、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)和適用范圍作出了說明,該差異用垂直單線標(biāo)識(shí)在它們所涉及的條款的頁面空白處本部分代替GB/T8014—1987《鋁及鋁合金陽極氧化陽極氧化膜厚度的定義和有關(guān)測量厚度的規(guī)定》本部分與GB/T8014—1987相比.主要變化如下：第二章的術(shù)語和定義全部按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO2064:1996重新翻譯;重重量法改為“質(zhì)量損失法”,重量改為“質(zhì)量”.重量損失改為“質(zhì)量損失”第2.7節(jié)平均厚度的定義之后增加“注",對(duì)于大批量小零件的平均厚度作出說明：對(duì)厚度測量方法的類別及方法概述執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)和適用范用作出了說明本部分的附錄A為資料性附錄，本部分由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出本部分由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本部分負(fù)責(zé)起草單位：北京有色金屬研究總院。本部分參加起草單位：廣東堅(jiān)美鋁型材廠有限公司、深圳華加日鋁業(yè)有限公司本部分主要起草人：朱祖芳、李永豐、戴悅星、譚群燕、熊進(jìn)平、章吉林。本部分由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋。本部分所代替歷次版本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布情況為：GB/T8014-1987。

GB/T8014.1-2005鋁及鋁合金陽極氧化氧化膜厚度的測量方法第1部分：測量原則范圍本部分規(guī)定了鋁及鋁合金陽極氧化膜厚度測量的一般原則本部分適用于鑄造或變形鋁及鋁合金生成的所有陽極氧化膜。范性引用文件下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修改版均不適用于本部分,但鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T4957—1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法（ISO2360—1982.NEQ)GB/T6462—1986金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量方法(ISO1463—1982.NEQ)術(shù)語、定義下列術(shù)語、定義適用于本部分31有效表面significantsurface覆有氧化膜或待覆氧化膜的物件表面。其氧化膜對(duì)物件的適用性和(或)外觀起重要作用.須滿足所有規(guī)定要求32測量面積measuringarea在有效表面上作單一測量的面積對(duì)于下列具體測量方法,測量面積"分別定義如下）質(zhì)量損失法，指氧化膜被除去的面積：b）陽極溶解法，指由密封環(huán)圍繞封閉的電解池面積C）顯微鏡法.指規(guī)定放大倍數(shù)下的視野：無損檢驗(yàn)法.指探頭或影響讀數(shù)的面積。3.3考察面積referencearea規(guī)定作若