標(biāo)準(zhǔn)解讀
《JJG 1015-2006 通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)》是一項(xiàng)由中國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布的計(jì)量檢定規(guī)程,該標(biāo)準(zhǔn)旨在規(guī)范通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的性能指標(biāo)及其檢定方法。根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn),可以確保這類測(cè)試設(shè)備在使用過(guò)程中的準(zhǔn)確性和可靠性,從而為電子產(chǎn)品的生產(chǎn)和研發(fā)提供技術(shù)支持。
標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)定義了通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的術(shù)語(yǔ)和定義,包括但不限于測(cè)試系統(tǒng)的基本構(gòu)成、工作原理以及關(guān)鍵參數(shù)等。它還明確了不同類型的測(cè)試項(xiàng)目所需達(dá)到的技術(shù)要求,比如時(shí)序精度、電壓電平精度、頻率范圍等,并對(duì)這些技術(shù)規(guī)格提出了具體數(shù)值上的限定。
此外,《JJG 1015-2006》也規(guī)定了一套完整的檢定程序與方法,用以評(píng)估測(cè)試系統(tǒng)的各項(xiàng)性能是否符合既定標(biāo)準(zhǔn)。這其中包括了環(huán)境條件設(shè)定、預(yù)處理步驟、實(shí)際檢測(cè)流程及結(jié)果分析等內(nèi)容。通過(guò)執(zhí)行這套標(biāo)準(zhǔn)化的檢定流程,能夠客觀公正地評(píng)價(jià)出被測(cè)設(shè)備的實(shí)際狀況,進(jìn)而保證其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2006-12-08 頒布
- 2007-03-08 實(shí)施
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JJG 1015-2006通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程
JJG1015—2006
通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)
GeneralDigitalIntegratedCircuitTestingSystem
2006-12-08發(fā)布2007-03-08實(shí)施
國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
JJG1015—2006
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通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)??????????????
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檢定規(guī)程?—?
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VerificationRegulationofGeneralDigital
IntegratedCircuitTestingSystem
本規(guī)程經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局年月日批準(zhǔn)并自
2006128,
年月日起實(shí)施
200738。
歸口單位:全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
本規(guī)程委托全國(guó)無(wú)線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋
JJG1015—2006
本規(guī)程主要起草人:
陳大為信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
吳京燕信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
參加起草人:
周旭信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
王酣信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
JJG1015—2006
目錄
范圍……………………
1(1)
引用文件………………
2(1)
概述……………………
3(1)
計(jì)量性能要求…………
4(1)
器件電源……………
4.1(1)
精密測(cè)量單元………………………
4.2(2)
驅(qū)動(dòng)單元……………
4.3(2)
比較單元……………
4.4(2)
系統(tǒng)時(shí)鐘……………
4.5(2)
通用技術(shù)要求…………
5(2)
計(jì)量器具控制…………
6(2)
檢定條件……………
6.1(2)
檢定項(xiàng)目及檢定方法………………
6.2(3)
檢定結(jié)果的處理……………………
6.3(10)
檢定周期……………
6.4(10)
附錄數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)檢定證書及檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁(yè)格式……………
A(11)
JJG1015—2006
通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)檢定規(guī)程
1范圍
本規(guī)程適用于數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)包括混合集成電路及存貯器測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字
,
部分的首次檢定后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)
、。
2引用文件
測(cè)量不確定度評(píng)定與表示
JJF1059—1999《》
注使用本規(guī)程時(shí)應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本
:,。
3概述
通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試對(duì)象是數(shù)字邏輯集成電路器件可用于圓晶片的測(cè)
。
試和封裝后的器件測(cè)試及產(chǎn)品檢驗(yàn)分析篩選等測(cè)試典型結(jié)構(gòu)由驅(qū)動(dòng)比較單元
、、。/、
圖形發(fā)生器時(shí)鐘發(fā)生器精密測(cè)量單元器件電源及控制單元組成混合電路測(cè)試系
、、、。
統(tǒng)及存貯器測(cè)試系統(tǒng)中的數(shù)字測(cè)試單元與數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)基本一致對(duì)于它
。
們的數(shù)字測(cè)試單元的檢定等同于通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)以下為數(shù)字信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)
。
結(jié)構(gòu)示意圖
。
圖集成電路測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖
1
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