測井曲線代碼RD、RS—深、淺側(cè)向電阻率RSC—環(huán)境校正后的深、淺側(cè)向電阻率VRS—垂直校正后的深、淺側(cè)向電阻率DEN—密度DENC—環(huán)境校正后的密度VDEN—垂直校正后的密度CNL—補(bǔ)償中子CNC—環(huán)境校正后的補(bǔ)償中子垂直校正后的補(bǔ)償中子GR—自然伽馬GRC—環(huán)境校正后的自然伽馬VGR—垂直校正后的自然伽馬AC—聲波VAC—垂直校正后聲波PE—有效光電吸取截面指數(shù)垂直校正后的有效光電吸取截面指數(shù)SP—自然電位VSP—垂直校正后的自然電位CAL—井徑垂直校正后井徑KTh—無鈾伽馬GRSL—能譜自然伽馬U—鈾釷K—鉀磁性定位套管中子套管伽馬R25—2.5米底部梯度電阻率DEV—井斜角AZIM—井斜方位角TEM—井溫RM—井筒鉆井液電阻率POR2—次生孔隙度POR—孔隙度PORW—含水孔隙度沖洗帶含水孔隙度PORT—總孔隙度PERM—滲透率SW－含水飽和度SXO—沖洗帶含水飽和度SH—泥質(zhì)含量CAL0—井徑差值HF—累計(jì)烴米數(shù)PF—累計(jì)孔隙米數(shù)DGA—視顆粒密度分別為砂巖，石灰?guī)r，白云巖，硬石膏含量VPO2—垂直校正次生孔隙度VPOR—垂直校正孔隙度VPOW—垂直校正含水孔隙度垂直校正沖洗帶含水孔隙度VPOT—垂直校正總孔隙度VPEM—垂直校正滲透率VSW－垂直校正含水飽和度垂直校正沖洗帶含水飽和度VSH—垂直校正泥質(zhì)含量VCAO—垂直校正井徑差值VDGA—垂直校正視顆粒密度分別為垂直校正砂巖，石灰?guī)r，白云巖，硬石膏含量巖石力學(xué)參數(shù)PFD1—裂開壓力梯度上覆壓力梯度地層壓力梯度POIS—泊松比固有剪切強(qiáng)度UR—單軸抗壓強(qiáng)度YMOD—楊氏模量SMOD—切變模量體積彈性模量CB—體積壓縮系數(shù)BULK—出砂指數(shù)MACMAC—偶極子陣列聲波穿插偶極子陣列聲波DTC1—縱波時(shí)差DTS1—橫波時(shí)差DTST1—斯通利波時(shí)差DTSDTC-縱橫波速度比TFWV10-單極子全波列波形TXXWV10-XXTXYWV10-XYTYXWV10-YXTYYWV10-YY計(jì)算各向異性開窗時(shí)間計(jì)算各向異性關(guān)窗時(shí)間DTSF-計(jì)算的快橫波時(shí)差DTSS-計(jì)算的慢橫波時(shí)差固井磁性定位CBL—聲幅聲波變密度〔二維〕AC—聲波CAL—裸眼井徑自然伽馬主要測井曲線及其含義一、自然電位測井：測量在地層電化學(xué)作用下產(chǎn)生的電位。自然電位極性的“正”、“負(fù)”以及幅度的大小與泥漿濾液電阻率RmfRw，SPRmf＞RwSP；Rmf＜Rw，SP在滲透層表現(xiàn)為正特別。自然電位測井定地層水電阻率。⑤推斷水淹層。⑥沉積相爭論。自然電位正特別Rw〔淺部地層〕〔相對與地層水電阻率而言〕自然電位測井自然電位曲線在水淹層消滅基線偏移二、一般視電阻率測井〔R4、R2.5〕中的電場分布特點(diǎn)就可確定介質(zhì)的電阻率。校正。⑤地層比照。電極系測井2.5井圖上可能無屏蔽尖，這時(shí)可用曲線回零時(shí)的半幅點(diǎn)向上推一個(gè)電極距的長度即可。頂：低點(diǎn)；底：高值。三、微電極測井〔ML〕微電極測井是一種微電阻率測井方法。其縱向區(qū)分力量強(qiáng)，可直觀地推斷滲透層。Rxohmc。微電極測井砂質(zhì)泥巖、泥巖，微電極曲線的幅度及幅度差，應(yīng)漸漸減小。四、雙感應(yīng)測井導(dǎo)率隨井深變化的曲線就是感應(yīng)測井曲線。層。油層：RILD＞RILM＞RFOC水層：RILD＜RILM＜RFOC五、雙側(cè)向測井題。油、水層。六、八側(cè)向測井和微球形聚焦測井.確定沖洗帶電阻率測井中較好的一種方法。七、井徑測井主要用途：計(jì)算固井水泥量；致密層一般應(yīng)接近鉆頭直徑值。八、聲波時(shí)差測井依據(jù)巖石的聲學(xué)物理特性進(jìn)展起來的一種測井方法，它測量地層聲波速度。含氣層，聲波時(shí)差消滅周波跳動現(xiàn)象，或者測井值變大。▲在大井眼處〔0.4九、補(bǔ)償聲波測井補(bǔ)償聲波測井〔如孤東地區(qū)上館陶補(bǔ)償中子、補(bǔ)償密度或巖性密度計(jì)算的地層孔隙度值根本全都。滲透層不得消滅與地層無1200m/h十、自然伽馬測井自然伽馬測井是在井內(nèi)測量巖層中自然存在的放射性核素衰變過程中放射出來的γ的強(qiáng)度來爭論地質(zhì)問題的一種測井方法。大井眼處，自然伽馬低值顯示十一、補(bǔ)償中子測井〔CNL，Φ%〕補(bǔ)償中子測井是承受雙源距比值法的熱中子測井，它沿井剖面測量由中子源所造成的熱中孔隙度值曲線。假設(shè)巖石骨架為其它巖性，則為視石灰?guī)r孔隙度。③ΦD—ΦN補(bǔ)償密度曲線重疊推斷氣層。補(bǔ)償中子測井致密層測井值應(yīng)與巖石骨架值相吻合。十二、補(bǔ)償密度測井〔DEN，g/cm3〕強(qiáng)度與地層的巖石體積密度有關(guān)，故稱為密度測井。測井曲線與補(bǔ)償中子、補(bǔ)償聲波、自然伽馬曲線有相關(guān)性。十三、高頻等參數(shù)感應(yīng)測井高頻感應(yīng)是一個(gè)五線圈系探測系統(tǒng)，每個(gè)線圈系由一個(gè)放射線圈和兩個(gè)接收線圈組成。五0.875MHz。直接測量結(jié)果為五條相位差曲線，通過相位差與電阻率之間的對應(yīng)關(guān)系，計(jì)算后得到五條電阻率曲線。的分布。⑥評價(jià)儲集層的滲流力量較高的縱向區(qū)分率/水分界面高頻感應(yīng)與雙感應(yīng)的比較裸眼井測井系列的選擇砂泥巖剖面：泥巖、砂巖為主的地層。碳酸鹽巖剖面：灰?guī)r、白云巖為主的地層。測井系列選擇原則能表達(dá)其先進(jìn)性、有效性及可行性；能定量計(jì)算儲層孔隙度、滲透率、含水飽和度及其它地質(zhì)參數(shù)；能有效地推斷油、氣、水層；能進(jìn)展地層比照。測井資料質(zhì)量檢查測井曲線的質(zhì)量。的技術(shù)方法。用中子—密度交會圖檢查測井曲線質(zhì)量測井資料的解釋滲透率等地質(zhì)參數(shù)，評價(jià)油氣層的質(zhì)量等。定性解釋人工定性地推斷油氣水層一般承受比較分析的方法，是一項(xiàng)地區(qū)性、閱歷性很強(qiáng)的工作。⑴首先劃分滲透層；⑵再對儲集層的物性〔孔隙性、滲透性等〕進(jìn)展分析；⑶最終分段解然后逐層作出結(jié)論。用微電極曲線確定分層界面扣除夾層〔泥層和致密層，厚層細(xì)分★劃分界面：SP、GR、微電極、聲波、感應(yīng)、CNL、DENR4、R2.5SPCNLDENCAL〔平直〕倍以上。巖性越粗，含油飽和度越高，電阻率數(shù)值也越高；②自然電位特別幅度略小于鄰近水層；③淺探測電阻率小于或等于深探測電阻率數(shù)值，即侵入性質(zhì)為低侵或無侵；④計(jì)50%，60-80%。水層的電性特征：①自然電位特別幅度大，一般大于油層；②深探測電阻率數(shù)值低。砂泥0，30%。定性解釋的方法①油層最小電阻率法；②標(biāo)準(zhǔn)水層比照法；③鄰井資料比照法；④徑向電阻率法。徑向電阻率法--泥漿侵入剖面地層水或剩余油氣。未侵入帶：未受泥漿侵入的原狀地層。高侵剖面泥漿高侵:Rxo>>Rt。用淡水泥漿鉆井的水層一般形成典型的高侵剖面，局部具有高礦化度RxoRt低侵剖面一般是油氣層具有典型的低侵剖面〔RxoRt，局部水層Rmf<RwRxoRt定量解釋層系的巖電變化規(guī)律；鉆井過程中的油氣顯示、鉆井取心、井壁取心、巖屑錄井、氣測資料、試油試水資料系。地層水電阻率確實(shí)定地層水有時(shí)也稱作原生水或孔隙水，是飽和在多孔地層巖石中未被鉆井泥漿污染的水。地〔或含油飽和度〕時(shí)，Rw水分析資料自然電位曲線〔水層〕SSP=Klg(Rmf/Rt)〔水層〕F=Rt/Rw=a/φm依據(jù)地區(qū)統(tǒng)計(jì)規(guī)律儲層參數(shù)計(jì)算—孔隙度：Φ=〔Δt-Δtma〕/(Δtmf-Δtma)/CpH〕Δtma180620ΔtDEN計(jì)算：Φ=(ρ-ρma〕/〔ρf-ρma〕ρf，ρma2.87。ρCNL：直接讀出儲層參數(shù)計(jì)算—飽和度：F=Ro/Rw=a/φmI=Rt/Ro=b/SwnSw=〔abRw/φmRt〕1/nm=2.06，得出：儲層參數(shù)計(jì)算—滲透率lgK=D1+1.7lgMd+7.1lgФ7~9.5lgMd=C0+C1ΔGR(C0、C1C0=lgMd0，Md00.20；C1=-1.75-lgMd0ΔGR=(GR-GRmin)/〔GRmax-GRmin〕儲層參數(shù)計(jì)算—泥質(zhì)含量Vsh:V