品質(zhì)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)品質(zhì)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)第第#頁共19頁側(cè)鍵測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；測(cè)試目的：側(cè)鍵壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)測(cè)試方法：將手機(jī)設(shè)置成關(guān)機(jī)狀態(tài)固定在測(cè)試夾具上以7N的力度對(duì)側(cè)鍵進(jìn)行6萬次按壓按鍵測(cè)試。進(jìn)行到每1萬次時(shí)各檢查手機(jī)按鍵彈性及功能一次。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)按鍵彈性及功能正常，手機(jī)按鍵彈性及功能正常，絲印無掉色按鍵無破裂，塌陷。按鍵表面劃傷可接受。I/O口插拔測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20-25C）；測(cè)試目的：充電器插拔壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：4臺(tái)手機(jī)。試驗(yàn)方法：將充電器接上電源，連接手機(jī)充電接口，等待手機(jī)至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機(jī)不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進(jìn)行到2000次、2500次和3000次時(shí)進(jìn)行中間/結(jié)束檢查一次。完成后進(jìn)行1000次人手插拔。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。手寫筆插拔及拉拔測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20-25C）；測(cè)試目的：手寫筆插拔，拉拔壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。試驗(yàn)方法：1,將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，筆插在手機(jī)筆插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)20，000次。進(jìn)行到每5000次時(shí)檢查手機(jī)筆插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。手寫筆固定一頭，另一頭作伸縮20,000次。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。手寫筆伸縮自如，允許有沙沙的摩擦聲，無漏油，鍍層無破損。點(diǎn)擊試驗(yàn)試驗(yàn)條件：觸摸屏測(cè)試儀（手機(jī)自帶的手寫筆）測(cè)試目的：觸摸屏點(diǎn)擊壽命測(cè)試樣品數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：將手機(jī)設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)，點(diǎn)擊LCD的中心位置250，000次，點(diǎn)擊力度為150g；點(diǎn)擊速度：1次/秒；（點(diǎn)擊力度可按規(guī)格書要求設(shè)定）檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)觸屏失靈，書寫缺劃，漂移，電性能不良現(xiàn)象；表面不應(yīng)有損傷，凹點(diǎn)（對(duì)第一次引進(jìn)的供應(yīng)商或更換材質(zhì)應(yīng)按其規(guī)格書進(jìn)行測(cè)試）。劃線試驗(yàn)試驗(yàn)條件：觸摸屏測(cè)試儀，（手機(jī)自帶的寫筆）測(cè)試目的：觸摸屏劃線疲勞測(cè)試樣品數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：將手機(jī)設(shè)置為開機(jī)狀態(tài)，在同一位置劃線至少100,000次，力度為150g；滑行速度：30mm/s滑行長(zhǎng)度：25mm檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)觸屏失靈，書寫缺劃，漂移，電性能不良現(xiàn)象；表面允許有劃痕,不應(yīng)

有劃傷。(對(duì)第一次引進(jìn)的供應(yīng)商或更換材質(zhì)應(yīng)按其規(guī)格書進(jìn)行測(cè)試)。熱封強(qiáng)度測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫(20-25°C)測(cè)試目的：觸屏封膠強(qiáng)度樣品數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：用拉力計(jì)對(duì)觸摸屏的封膠X/Y/Z方向作拉力測(cè)試，要求Fx>2Kg,Fy>500g,Fz>150g拉力保持1分鐘檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：不允許脫膠電池/電池蓋拆裝測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫(20-25C)；測(cè)試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)。試驗(yàn)方法：將電池/電池蓋反復(fù)拆裝2000次。進(jìn)行到500次、800次和1000次時(shí)檢查手機(jī)及電池/電池蓋各項(xiàng)功能、及外觀是否正常。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)及電池卡扣功能正常無變形，電池蓋配合手感良好，與殼體有磨痕可接受，不允許與電池表面有磨痕。電池觸片、電池連接器應(yīng)無下陷、變形的現(xiàn)象，電池金手指在拆裝10次以內(nèi)不允許出現(xiàn)磨痕(金屬電池蓋拆裝次數(shù)可為1000次)。SIM卡拆裝測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫(20~25C)；測(cè)試目的：SIM卡拆裝壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。試驗(yàn)方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復(fù)1000次，每插拔100次檢查開機(jī)是否正常，讀卡信息正常。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guān)正常無下陷、變形，手機(jī)讀卡功能使用正常。存儲(chǔ)卡插拔測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫(20~25C)；測(cè)試目的：存儲(chǔ)卡插拔壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。試驗(yàn)方法：插上存儲(chǔ)卡，待手機(jī)屏幕出現(xiàn)存儲(chǔ)卡標(biāo)志，然后取下存儲(chǔ)卡，再重新裝上，反復(fù)1000次，每插拔100次需進(jìn)入卡內(nèi)測(cè)試存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)能否正常讀取。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：存儲(chǔ)卡觸片、自鎖開關(guān)正常，手機(jī)存儲(chǔ)卡檢測(cè)功能及讀卡功能使用正常。耳機(jī)插拔測(cè)試(HeadsetTest)測(cè)試環(huán)境：室溫(20~25C)；測(cè)試目的：耳機(jī)插拔壽命測(cè)試測(cè)試數(shù)量：2臺(tái)手機(jī)。試驗(yàn)方法：將手機(jī)處于開機(jī)狀態(tài)，耳機(jī)插在耳機(jī)插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)3000次。進(jìn)行到2000、2500次和3000次時(shí)各檢查一次。完成后人手1000次檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：實(shí)驗(yàn)后檢查耳機(jī)插座無焊接故障，耳機(jī)插頭無損傷，使用耳機(jī)通話接收與送話無雜音（通話過程中轉(zhuǎn)動(dòng)耳機(jī)插頭），耳機(jī)插入手機(jī)耳機(jī)插孔時(shí)不會(huì)松動(dòng)（可以承受得住手機(jī)本身的重量）。鈴聲老化測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；測(cè)試目的：揚(yáng)聲器抗大音量連續(xù)沖擊的能力樣機(jī)數(shù)量：12臺(tái)試驗(yàn)方法：音量調(diào)到最大，選取《superstar》《獨(dú)家試唱》mp3歌曲聲或聲音響度最大鈴聲，使手機(jī)一直處于MP3播放或響鈴狀態(tài)，連續(xù)工作5天。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)SPK聲音正常，無破音、雜音、聲小及無聲。聽筒老化測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；測(cè)試目的：聽筒抗大音量連續(xù)沖擊的能力樣機(jī)數(shù)量：12臺(tái)試驗(yàn)方法：聽筒音量調(diào)至最大，對(duì)方彩鈴選擇《superstar》《獨(dú)家試唱》或聲音響度最大的彩鈴聲，樣機(jī)一直處于拔號(hào)響鈴狀態(tài)，連續(xù)工作5天（或采用粉紅噪聲單體老化）。檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)聽筒聲音正常，無破音、雜音、聲小及無聲。振子壽命測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；測(cè)試目的：振動(dòng)馬達(dá)的壽命測(cè)試樣機(jī)數(shù)量：3臺(tái)試驗(yàn)方法：將手機(jī)裝入電池并插上旅充，然后開機(jī)，進(jìn)入測(cè)試模式，選擇振動(dòng)測(cè)試，使其連續(xù)振動(dòng)72H,或振動(dòng)馬達(dá)單體老化（振2秒停1秒，共72H）每隔10H檢查基本功能一次。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：整機(jī)振動(dòng)功能正常，無停振或振動(dòng)雜音的問題。攝像頭測(cè)試（選作）測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；測(cè)試目的：攝像頭壽命測(cè)試樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：將手機(jī)裝入電池并插上旅充，然后開機(jī)進(jìn)入攝像狀態(tài)（模式），持續(xù)72H，每隔10H檢查一次。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：攝像功能正常，無攝像死機(jī)及花屏等不良。LED燈老化測(cè)試（選作）測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）；測(cè)試目的：LED壽命測(cè)試樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：將手機(jī)裝入電池并插上旅充，然后開機(jī)，并將LED設(shè)為常亮，持續(xù)72H,每隔10H檢查一次。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：LED燈功能正常，無燈暗、不亮等不良膠塞拉力測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25°C）測(cè)試目的：檢驗(yàn)保護(hù)I/O端口的膠塞是否易掉.樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：用拉力測(cè)試儀拔除膠塞，可通過lkg拉力.試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：膠塞無脫落，斷。按鍵拉力測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25C）測(cè)試目的：驗(yàn)證按鍵粘貼強(qiáng)度的可靠性樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：用502膠水將棉線均勻覆蓋粘貼在待測(cè)試按鍵上，靜止一段時(shí)間待膠水充分粘合后，將棉線的一頭固定在拉力計(jì)上，使用1.5kg的拉力持續(xù)5秒鐘（雙面膠粘合的按鍵可以0.7Kg為準(zhǔn)）.試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：要求按鍵帽無脫落，允許硅膠撕裂。數(shù)據(jù)線搖擺測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25C）測(cè)試目的：數(shù)據(jù)線端口可靠性樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：兩固定點(diǎn)之間距離60cm（不足60cm時(shí)以實(shí)際能達(dá)到的最長(zhǎng)線計(jì)算），以一90度與+90度的角度，插頭端承受吊重500g，每分鐘來回?fù)u擺30次，要求測(cè)試數(shù)量總計(jì)1000次試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試后要求插頭搖晃接頭不能有任何接觸不良和功能異常。耳機(jī)線搖擺測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25C）測(cè)試目的：耳機(jī)線端口可靠性樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：兩固定點(diǎn)之間距離60cm（不足60cm時(shí)以實(shí)際能達(dá)到的最長(zhǎng)線計(jì)算），以一60度與+60度的角度，插頭端承受吊重300g，耳殼端承受吊重200g，mic端承受吊重200g。每分鐘來回?fù)u擺30次，要求測(cè)試數(shù)量總計(jì)3000次。（單線以200g,雙線以300g為搖擺標(biāo)準(zhǔn)）試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試后要求插頭、MIC殼、喇叭處線材不能斷裂、明顯磨損、通話中用手搖晃3處接頭不能有任何接觸不良和功能異常。同時(shí)符合性能要求。鋅合金高溫存儲(chǔ)測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25C）測(cè)試目的：鍍層高溫性能樣機(jī)數(shù)量：2臺(tái)試驗(yàn)方法：鋅合金高溫存儲(chǔ)150°C,2小時(shí)，銅材高溫存儲(chǔ)250°C，鋼材高溫存儲(chǔ)280（主要針對(duì)渡金，PVD）試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：鍍層膠落，起皮，凸點(diǎn)，變色安全器件測(cè)試充電器性能測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25C）測(cè)試目的：漏電及產(chǎn)品安全樣機(jī)數(shù)量：8臺(tái)試驗(yàn)方法：1?過壓：100V、220V、240V滿載時(shí)，輸入一個(gè)高于6.8V到低于10V的直流電壓，自動(dòng)保護(hù)。過流保護(hù)：輸入100V、220V、240V,輸出負(fù)載達(dá)到650-900mA之間。自動(dòng)保護(hù)電壓小于IV。絕緣強(qiáng)度AC3750V/DC500V,1min.絕緣電阻＞50兆歐。跌落1m,12次。輸出曲線恒壓模式：0.0A－0.650A;4.75－5.25V恒流模式:0.300-0.900A;0-5.25V6?短路保護(hù)輸出電流W600mA。7?輸入高壓保護(hù):分別輸入電壓264、300V,且滿載，應(yīng)能正常工作。8?輸入低壓保護(hù)：輸入電壓分別為：60、90V滿載（CV模式），正常工作48H。9.效率輸入電壓94V、264V分別加滿載效率值在60%以上（應(yīng)達(dá)到泰爾要求）。其它參見《旅行充電器技術(shù)規(guī)范》要求。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：符合《旅行充電器技術(shù)規(guī)范》要求。電池性能測(cè)試測(cè)試環(huán)境：室溫（20~25C）測(cè)試目的：漏電及產(chǎn)品安全樣機(jī)數(shù)量：8臺(tái)試驗(yàn)方法：1.常溫以0.2C放電，時(shí)間大于5h常溫以1C放電時(shí)間大于51min恒濕40°C,93%.48h后，1C放電大于36分鐘高溫60°C存儲(chǔ)2h后，1C放電大于51min低溫-20°C存儲(chǔ)16h后，0.2C放電大于3h自由跌落1m,每個(gè)面2次，再進(jìn)行1放電時(shí)間大于51min電池容量測(cè)試（測(cè)試的容量大于電池額定容量）保護(hù)板鹽霧測(cè)試（參照來料鹽霧測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）其它參見《電池技術(shù)規(guī)范》試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：符合《電池技術(shù)規(guī)范》要求。電池鼓脹測(cè)試測(cè)試環(huán)境：(35°C,90%RH)測(cè)試目的：電池是否有安全隱患樣機(jī)數(shù)量：100臺(tái)試驗(yàn)方法：取100片電池，充電到4.1V，放置到溫度為35C，濕度在90%RH的環(huán)境下，放置15天。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：電池?zé)o鼓脹現(xiàn)象。最終檢驗(yàn)可靠性實(shí)驗(yàn)后的檢驗(yàn)最終檢驗(yàn)不僅要對(duì)樣機(jī)進(jìn)行