標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 13181-2024 固體閃爍體性能測量方法》相較于《GB/T 13181-2002 閃爍體性能測量方法》在內(nèi)容上進(jìn)行了多方面的更新與完善,主要體現(xiàn)在以下幾個方面:
一、標(biāo)準(zhǔn)名稱的變化:從“閃爍體性能測量方法”變更為“固體閃爍體性能測量方法”,明確了本標(biāo)準(zhǔn)適用的對象為固體閃爍體材料。
二、術(shù)語定義的調(diào)整:增加了對固體閃爍體及相關(guān)測試參數(shù)更精確的定義,有助于減少理解上的歧義,使標(biāo)準(zhǔn)更加科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)。
三、測試項(xiàng)目及要求的增補(bǔ):新增了部分測試項(xiàng)目,并對原有項(xiàng)目的測試條件、步驟等做了詳細(xì)說明或修訂,比如對于光輸出效率、時間分辨率等關(guān)鍵性能指標(biāo)提出了更高的測量精度要求。
四、實(shí)驗(yàn)裝置和環(huán)境條件的規(guī)定:細(xì)化了實(shí)驗(yàn)所需設(shè)備的技術(shù)規(guī)格以及實(shí)驗(yàn)室環(huán)境控制的具體要求,確保不同實(shí)驗(yàn)室間結(jié)果的一致性和可比性。
五、數(shù)據(jù)處理與報告格式:規(guī)范了測試數(shù)據(jù)記錄方式及分析方法,同時提供了統(tǒng)一格式的實(shí)驗(yàn)報告模板,便于信息交流共享。
六、附錄內(nèi)容的豐富:增加了關(guān)于常見問題解答和技術(shù)指導(dǎo)的附錄章節(jié),為使用者提供更多實(shí)用參考。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2024-05-28 頒布
- 2024-12-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS2712001
CCSF.80.
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T13181—2024
代替GB/T13181—2002
固體閃爍體性能測量方法
Methodsofperformancemeasurementforsolidscintilators
2024-05-28發(fā)布2024-12-01實(shí)施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T13181—2024
目次
前言
…………………………Ⅴ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語定義和縮略語
3、………………………1
術(shù)語和定義
3.1…………………………1
縮略語
3.2………………4
通則
4………………………5
測量環(huán)境條件
4.1………………………5
測量系統(tǒng)
4.2……………5
測量要求
4.3……………6
安全要求
4.4……………7
相對光輸出
5………………7
脈沖法全吸收峰法或康普頓分布邊緣法
5.1()………7
電流法
5.2………………8
封裝閃爍體的光輸出
5.3………………9
光輸出不均勻性
5.4……………………9
相對能量轉(zhuǎn)換效率
6………………………13
脈沖法全吸收峰法或康普頓分布邊緣法
6.1()………13
電流法
6.2………………13
比
7α-β……………………14
測量原理
7.1……………14
測量裝置
7.2……………14
測量步驟
7.3……………14
數(shù)據(jù)處理
7.4……………14
固有脈沖幅度分辨率
8……………………15
測量原理
8.1……………15
測量裝置
8.2……………15
測量步驟
8.3……………15
數(shù)據(jù)處理
8.4……………16
封裝閃爍體的固有脈沖幅度分辨率
8.5………………16
閃爍光衰減長度
9…………………………16
對待測閃爍體的要求
9.1………………16
測量原理
9.2……………16
Ⅰ
GB/T13181—2024
測量裝置
9.3……………17
脈沖法
9.4………………17
電流法
9.5………………17
其他說明
9.6……………18
發(fā)射光譜
10………………18
測量的波長范圍
10.1…………………18
測量原理
10.2…………………………18
測量裝置
10.3…………………………18
測量步驟
10.4…………………………19
數(shù)據(jù)處理
10.5…………………………20
其他測量方法
10.6……………………20
時間特性
11………………20
閃爍衰減時間
11.1……………………20
余輝
11.2………………24
符合分辨時間
11.3……………………25
輻照硬度
12………………27
測量原理
12.1…………………………27
測量裝置
12.2…………………………27
測量步驟
12.3…………………………27
數(shù)據(jù)處理
12.4…………………………27
自身放射性水平
13………………………28
測量原理
13.1…………………………28
測量裝置
13.2…………………………28
測量步驟
13.3…………………………29
數(shù)據(jù)處理
13.4…………………………29
比和比
14β-γn-γ………………………29
比
14.1β-γ………………29
比
14.2n-γ………………30
溫度效應(yīng)
15………………31
測量原理
15.1…………………………31
測量裝置
15.2…………………………31
測量方法
15.3…………………………32
閃爍體陣列的不均勻性光串?dāng)_
16、………………………33
閃爍體陣列的不均勻性
16.1…………33
閃爍體陣列的光串?dāng)_
16.2……………34
附錄資料性放射性同位素源主要特征
A()……………36
附錄資料性閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品的尺寸
B()………………37
Ⅱ
GB/T13181—2024
附錄資料性脈沖法測量系統(tǒng)的非線性
C()……………39
附錄資料性電流法測量系統(tǒng)的非線性
D()……………42
附錄資料性測量系統(tǒng)的不穩(wěn)定性
E()…………………44
參考文獻(xiàn)
……………………45
Ⅲ
GB/T13181—2024
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件代替閃爍體性能測量方法與相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整
GB/T13181—2002《》,GB/T13181—2002,
和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下
,。
更改了標(biāo)準(zhǔn)適用范圍見第章年版的第章
a)(1,20021)。
增加了閃爍見封裝閃爍體見光輸出不均勻性見比見
b)“”(3.1.1)、“”(3.1.6)、“”(3.1.11)、“α-β”(
余輝見符合分辨時間見輻照硬度見自身放射性
3.1.13)、“”(3.1.15)、“”(3.1.16)、“”(3.1.21)、“
水平見探測器效率見比見比見閃爍體
”(3.1.22)、“”(3.1.23)、“β-γ”(3.1.24)、“n-γ”(3.1.25)、
陣列見閃爍體陣列的不均勻性見閃爍體陣列的光串?dāng)_見等
(3.1.27)、“”(3.1.28)、“”(3.1.29)
術(shù)語和定義
。
更改了交流供電電壓交流供電頻率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件見年版的
c)、(4.1,20024.1)。
更改了對閃爍體標(biāo)準(zhǔn)樣品的要求刪除了符合中的有關(guān)規(guī)定將對閃爍體標(biāo)準(zhǔn)
d),“GB/T4077”,
樣品尺寸的要求作為一個新增的資料性附錄見和附錄年版的
(4.2.3B,20024.2.3)。
更改了測量系統(tǒng)的不穩(wěn)定性的要求見年版的和
e)“”(4.2.6.2,20024.2.6.35.1.2.3)。
增加了物理量測量重復(fù)次數(shù)的說明見
f)(4.3.9)。
更改了相對光輸出的計算公式見年版的
g)“”(5.1.4,20025.1.4)。
刪除了相對光輸出和相對能量轉(zhuǎn)換效率測量方法的數(shù)據(jù)處理中的測量誤差方面的內(nèi)容
h)“”“”
見年版的和
(20025.1.4、5.2.46.4.2)。
增加了封裝閃爍體的光輸出的測量方法見
i)“”(5.3)。
增加了光輸出不均勻性的測量方法見
j)“”(5.4)。
增加了相對能量轉(zhuǎn)換效率的脈沖法測量方法見
k)“”(6.1)。
刪除了相對能量轉(zhuǎn)換效率測量方法中關(guān)于待測閃爍體與標(biāo)樣的發(fā)射光譜不同時應(yīng)進(jìn)行修正
l)“”
的內(nèi)容見年版的和附錄
(20026.4.2D)。
增加了比的測量方法見第章
m)“α-β”(7)。
更改了固有脈沖幅度分辨率的數(shù)據(jù)處理方法見年版的
n)“”(8.4,20027.4)。
增加了封裝閃爍體的固有脈沖幅度分辨率的測量方法見
o)“”(8.5)。
更改了閃爍光衰減長度的測量方法見第章年版的第章增加了脈沖法測量方
p)“”(9,20028);
法見更改了數(shù)據(jù)處理的方法見年版的
(9.4);(9.5.2,20028.1.5)。
更改了閃爍衰減時間的測量方法見版的第章直接示波法中增加了對光
q)“”(11.1,200210),“”
電倍增管的要求見刪除了扣除光電倍增管響應(yīng)時間的內(nèi)容見年
(PMT)(11.1.2.2.3)、(2002
版的刪除了平均波形取樣示波法見年版的和
10.2.4);“”(200210.1.110.3)。
增加了余輝的測量方法見
r)“”(11.2)。
增加了符合分辨時間的測量方法見
s)“”(11.3)。
增加了輻照硬度的測量方法見第章
t)“”(12)。
增加了自身放射性水平的測量方法見第章
u)“”(13)。
增加了比和比的測量方法見第章
v)“β-γ”“n-γ”(14)。
增加了閃爍體陣列的不均勻性和閃爍體陣列的光串?dāng)_的測量方法見第章
w)“”“”(16)。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任
。。
Ⅴ
GB/T13181—2024
本文件由全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口
(SAC/TC30)。
本文件起草單位北京濱松光子技術(shù)股份有限公司國核自儀系統(tǒng)工程有限公司中核北京核儀
:、、()
器有限責(zé)任公司中核控制系統(tǒng)工程有限公司
、。
本文件主要起草人袁秀麗姚歲勞王丹妮閻珍德唐兆榮蔣李君高興兵殷生華賈景光
:、、、、、、、、、
張志雄林德雨
、。
本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為
:
年首次發(fā)布年第一次修訂
———1991,2002;
本次為第二次修訂
———。
Ⅵ
GB/T13181—2024
固體閃爍體性能測量方法
1范圍
本文件描述了閃爍體的相對光輸出相對能量轉(zhuǎn)換效率比固有脈沖幅度分辨率閃爍光衰減
、、α-β、、
長度發(fā)射光譜時間特性輻照硬度自身放射性水平比和比溫度效應(yīng)
溫馨提示
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