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文檔簡介

ICSXX.XXX.XX

CCSXXXX

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/CSTMXXXXX—202X

民用飛機(jī)納米陶瓷鋁合金TiB2顆粒粒徑測

試方法

CivilAircraftStandardTestMethodforParticleSizeTestingofNanoCeramic

TiB2ReinforcedAluminumAlloy

202X-XX-XX發(fā)布202X-XX-XX實(shí)施

中關(guān)村材料試驗(yàn)技術(shù)聯(lián)盟發(fā)布

T/CSTMXXXXX—2020

引言

對(duì)于顆粒增強(qiáng)復(fù)合材料來說,增強(qiáng)相顆粒的尺寸對(duì)材料的性能具有非常大的影響。但是對(duì)原位自生

技術(shù)而言,增強(qiáng)相顆粒尺寸的表征存在著很多難點(diǎn):(1)由于原位自生環(huán)境的“不均勻”性,顆粒尺寸

分布較寬,對(duì)尺寸表征技術(shù)的要求高;(2)由于原位自生而成的顆粒為微納米級(jí)別,高的總表面能使得

顆粒具有很強(qiáng)的團(tuán)聚傾向,若不將團(tuán)聚體加以分散就會(huì)導(dǎo)致偏大的尺寸測量結(jié)果;(3)由于顆粒是原位

自生于基體當(dāng)中的,在測量過程中需要排除基體和其他第二相的干擾。

目前針對(duì)原位自生TiB2顆粒尺寸表征的技術(shù)主要可以分為兩種:第一,利用掃描電子顯微鏡或者

透射電子顯微鏡進(jìn)行人為計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì),這一類方法取樣代表性差,受人為因素影響較大,缺乏一定的統(tǒng)計(jì)

學(xué)意義;第二,將材料中的TiB2顆粒萃取出來,利用納米粒度分析儀進(jìn)行粒度分析。然而在這一個(gè)方

法當(dāng)中,目前所報(bào)道的技術(shù)都未對(duì)萃取得到的TiB2顆粒進(jìn)行分散,其測得的尺寸實(shí)際為TiB2團(tuán)聚體的

尺寸(即二次粒徑值),而非TiB2顆粒的實(shí)際尺寸(即一次粒徑值)。

因此,采用一種可以精確測量原位自生TiB2顆粒尺寸的方法具有非常重要的意義。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了

民用飛機(jī)納米陶瓷鋁合金的TiB2顆粒增強(qiáng)相的粒徑測試方法,以實(shí)現(xiàn)對(duì)顆粒粒徑的統(tǒng)計(jì)控制,彌補(bǔ)了

相關(guān)領(lǐng)域通用試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的不足。

1

T/CSTMXXXXX—2020

民用飛機(jī)納米陶瓷鋁合金TiB2顆粒粒徑測試方法

警示——使用本文件的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本文件并未指出所有可能的安全問

題。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧⒈WC符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。

1范圍

本文件規(guī)定了民用飛機(jī)納米陶瓷鋁合金的增強(qiáng)相TiB2顆粒粒徑的測試方法。

本文件適用于TiB2顆粒增強(qiáng)陶瓷鋁合金的微觀組織測試。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,

僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本

文件。

GB/T622化學(xué)試劑鹽酸

GB/T6682分析實(shí)驗(yàn)室用水規(guī)格和試驗(yàn)方法

JJG1104動(dòng)態(tài)光散射粒度分析儀

JJG1036電子天平校準(zhǔn)規(guī)范

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件。

3.1定義1D10

D10表示顆粒累積分布為10%的粒徑,即小于此粒徑的顆粒占全部顆粒的10%,是一個(gè)表示粒度大小

的典型值。

3.2定義2D50

D50表示顆粒累積分布為50%的粒徑,也叫中位徑或中值粒徑,是一個(gè)表示粒度大小的典型值,該

值準(zhǔn)確地將總體劃分為二等份。

3.3定義3D90

D90表示顆粒累積分布為90%的粒徑,即小于此粒徑的顆粒含量占全部顆粒的90%,是一個(gè)表示粒度

大小的典型值。

4原理

采用化學(xué)法將鋁基體溶解,制備TiB2顆粒懸濁液,放入納米激光粒度儀中得到粒度分布曲線。

5儀器和設(shè)備

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5.1納米激光粒度儀

納米激光粒度儀的設(shè)備精度要求為:平均粒徑測量重復(fù)性≤3%;平均粒徑測量相對(duì)誤差±12%。

設(shè)備檢定參照J(rèn)JG1104。

5.2電子天平

電子天平的設(shè)備精度要求為Ⅰ級(jí)。設(shè)備檢定參照J(rèn)JG1036。

6試劑和材料

6.1鹽酸HCl

質(zhì)量分?jǐn)?shù)為36%~38%,分析純,需符合GB/T622要求。

6.2水

電導(dǎo)率應(yīng)滿足GB/T6682二級(jí)水的要求。

6.3聚乙烯亞胺(PEI)溶液

純度M.W.100,000,99%。

7樣品

7.1取樣原則

取樣位置應(yīng)與相關(guān)力學(xué)性能測試試樣的取樣位置一致。

7.2試驗(yàn)件尺寸

試驗(yàn)件的體積應(yīng)在1575mm3~1610mm3范圍內(nèi)。

8試驗(yàn)步驟

按照第7章取樣方法進(jìn)行取樣,并按照下述步驟進(jìn)行操作:

a)按VHCl:VH2O=3:2分別配置50mL及100mL鹽酸溶液;

b)將試樣放入50mL鹽酸溶液中,去除表面氧化層等雜質(zhì),時(shí)間約1min;

c)將去除了表面氧化層等雜質(zhì)的試樣,置于100mL鹽酸溶液中進(jìn)行溶解,時(shí)間約30min;

d)待反應(yīng)速度明顯變慢后,加入水至300mL,超聲振蕩約4h,使溶解反應(yīng)完全進(jìn)行以及顆粒良

好分散;

e)待溶解完成后,將所得的TiB2顆粒懸濁液冷卻至室溫;

f)采用3張0.1μm濾膜重疊的方式,對(duì)TiB2顆粒懸濁液進(jìn)行抽濾;

g)抽濾結(jié)束后,將濾膜放置于燒杯中,加入水后超聲20min,去除顆粒表面附著的反應(yīng)溶液;

h)重復(fù)f)~g)步驟2次;

i)將3次抽濾及超聲清洗得到的TiB2顆粒懸濁液用液氮進(jìn)行冷凍,放入冷凍干燥機(jī)進(jìn)行凍干,最

終獲得干燥的TiB2顆粒粉末;

j)配置0.1mg/mL的聚乙烯亞胺(PEI)溶液;

2

T/CSTMXXXXX—2020

k)用電子天平稱取0.0030g±0.0010g的TiB2顆粒粉末,取3mL的PEI溶液,加入27mL水,即

配成0.1mg/mL的TiB2懸濁液;

l)利用超聲清洗機(jī)超聲約20min,使其充分分散,超聲過程中注意控制水溫(20℃~30℃);

m)取20mL的TiB2懸濁液于50mL的燒杯中,利用高能超聲裝置對(duì)TiB2懸濁液進(jìn)行高能超聲處

理。將陶瓷變幅桿伸入水面下0.3cm~0.5cm,變幅桿靠近杯壁但要避免與杯壁接觸。采用高

能超聲處理5s、停止15s的方式來避免陶瓷變幅桿的斷裂;

n)打開納米激光粒度儀進(jìn)行預(yù)熱;

o)高能超聲處理5min時(shí)取第1次樣品,取1.5mL懸濁液于樣品池中,軟件設(shè)置測試5次。高能

超聲處理10min時(shí)取第2次樣品,軟件設(shè)置測試5次。高能超聲處理15min時(shí)取第3次樣品,

軟件設(shè)置測試5次??偣驳玫?5次測試結(jié)果。

9試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理

9.1平均值法

該方法適用于顆粒粒徑的平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的統(tǒng)計(jì)。具體步驟如下:

a)對(duì)于一個(gè)樣品,按照第8章操作步驟,共得到15組數(shù)據(jù),將每組數(shù)據(jù)求平均值,得到15個(gè)平

均值;

b)為避免極端偏差,將15個(gè)平均值去掉最大值與最小值,將13個(gè)平均值繼續(xù)求平均及求標(biāo)準(zhǔn)差,

即得到該樣品的TiB2顆粒的平均粒徑與標(biāo)準(zhǔn)差。

9.2曲線積分法

該方法適用于顆粒粒徑分布范圍的統(tǒng)計(jì)。具體步驟如下:

a)選取平均值法中用于計(jì)算平均值的13組數(shù)據(jù),導(dǎo)出這13組測試的粒徑分布數(shù)據(jù),得到這13

組數(shù)據(jù)各自的粒徑分布圖,如圖1所示;

SizeDistributionbyNumber

)30

t

n

e

c

r

e20

P

(

r

e

b10

m

u

N

0

0.1110100100010000

Size(d.nm)

Record6:6s1Record7:6s2Record8:6s3

Record9:6s4圖1粒徑Re分cor布d1示0:6意s5圖Record11:6s1

Record12:6s2Record13:6s3Record14:6s4

Record16:6s1Record17:6s2Record18:6s3

b)將13組數(shù)據(jù)的粒徑Re分cor布d19合:6s并4,求平均,繪制該樣品的TiB2粒徑尺寸分布圖。比如第n組

數(shù)據(jù)中顆粒粒徑為a、b、c、d的數(shù)量百分?jǐn)?shù)分別為An、Bn、Cn、Dn,得到該樣品中顆粒

粒徑為a、b、c、d的平均數(shù)量百分?jǐn)?shù)分別為(A1+A2+…+A13)/13、(B1+B2+…+B13)/13、

(C1+C2+…+C13)/13、(D1+D2+…+D13)/13。以顆粒粒徑a、b、c、d為橫坐標(biāo),平均數(shù)量百

分?jǐn)?shù)為縱坐標(biāo),繪制該樣品的TiB2粒徑尺寸分布圖,如圖2所示;

3

T/CSTMXXXXX—2020

圖2平均化后的樣品粒徑分布示意圖

c)對(duì)該樣品的粒徑尺寸分布數(shù)據(jù)進(jìn)行整體積分,由于原始數(shù)據(jù)是離散的,則使用一對(duì)相鄰值

形成梯形,如圖3所示,曲線被分成幾塊,按公式(1)計(jì)算每個(gè)梯形的總和;

圖3積分計(jì)算示意圖

..........................(1)

d)取積分結(jié)果的10%、50%與90%所對(duì)應(yīng)的粒徑尺寸分別為該樣品的D10、D50與D90。

10結(jié)果匯總

對(duì)于顆粒粒徑,分為顆粒粒徑平均值與標(biāo)準(zhǔn)差、D10、D50與D90等方面,結(jié)果類型見表1。

表1結(jié)果類型

序號(hào)考察項(xiàng)結(jié)果類型

1顆粒粒徑的平均值,nm

2顆粒粒徑的標(biāo)準(zhǔn)差,nm

3顆粒粒徑曲線積分法得到的D10,nm

4曲線積分法得到的D50,nm

5曲線積分法得到的D90,nm

11試驗(yàn)報(bào)告

試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)當(dāng)包括下列內(nèi)容:

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a)委托單位;

b)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、材料標(biāo)準(zhǔn)、材料牌號(hào);

c)識(shí)別樣品、實(shí)驗(yàn)室和試驗(yàn)日期所需的全部資料,如試驗(yàn)件編號(hào)、試驗(yàn)件爐批號(hào)、試驗(yàn)件熱處理

狀態(tài)、試驗(yàn)件尺寸及體積;

d)結(jié)果及其表示;

e)測定中發(fā)現(xiàn)的異?,F(xiàn)象;

f)對(duì)結(jié)果可能已產(chǎn)生影響的本文件中未作規(guī)定的各種操作或任選的操作。

5

T/CSTMXXXXX—2020

前??言

本文件參照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》,GB/T20001.4

《標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則第4部分:試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》給出的規(guī)則起草。

本文件由中國材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)民機(jī)材料領(lǐng)域委員會(huì)(CSTM/FC66)提出。

本文件由中國材料與試驗(yàn)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)民機(jī)材料領(lǐng)域委員會(huì)(CSTM/FC66)歸口。

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民用飛機(jī)納米陶瓷鋁合金TiB2顆粒粒徑測試方法

警示——使用本文件的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本文件并未指出所有可能的安全問

題。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧⒈WC符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。

1范圍

本文件規(guī)定了民用飛機(jī)納米陶瓷鋁合金的增強(qiáng)相TiB2顆粒粒徑的測試方法。

本文件適用于TiB2顆粒增強(qiáng)陶瓷鋁合金的微觀組織測試。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,

僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本

文件。

GB/T622化學(xué)試劑鹽酸

GB/T6682分析實(shí)驗(yàn)室用水規(guī)格和試驗(yàn)方法

JJG1104動(dòng)態(tài)光散射粒度分析儀

JJG1036電子天平校準(zhǔn)規(guī)范

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件。

3.1定義1D10

D10表示顆粒累積分布為10%的粒徑,即小于此粒徑的顆粒占全部顆粒的10%,是一個(gè)表示粒度大小

的典型值。

3.2定義2D50

D50表示顆粒累積分布為50%的粒徑,也叫中位徑或中值粒徑,是一個(gè)表示粒度大小的典型值,該

值準(zhǔn)確地將總體劃分為二等份。

3.3定義3D90

D90表示顆粒累積分布為90%的粒徑,即小于此粒徑的顆粒含量占全部顆粒的90%,是一個(gè)表示粒度

大小的典型值。

4原理

采用化學(xué)法將鋁基體溶解,制備TiB2顆粒懸濁液,放入納米激光粒度儀中得到粒度分布曲線。

5儀器和設(shè)備

1

T/CSTMXXXXX—2020

5.1納米激光粒度儀

納米激光粒度儀的設(shè)備精度要求為:平均粒徑測量重復(fù)性≤3%;平均粒徑測量相對(duì)誤差±12%。

設(shè)備檢定參照J(rèn)JG1104。

5.2電子天平

電子天平的設(shè)備精度要求為Ⅰ級(jí)。設(shè)備檢定參照

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