ICS77.040.20

H26

備案號：69326-2020DB11

北京市地方標(biāo)準(zhǔn)

DB11/T1699—2019

在用氨制冷壓力管道X射線數(shù)字成像檢測

技術(shù)要求

Radiographicinspectionofcorrosionandweldsinammoniarefrigeration

pipes

byX-raytechniquewithdigitaldetectorarrays

2019-12-25發(fā)布2020-04-01實施

北京市市場監(jiān)督管理局發(fā)布

DB11/T1699—2019

在用氨制冷壓力管道X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)要求

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在用氨制冷壓力管道本體及其焊接接頭的X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于公稱直徑不大于400mm的在用氨制冷壓力管道本體剩余厚度測量和焊接接頭裂紋、未

焊透、未熔合、咬邊、內(nèi)凹、錯邊等缺陷X射線數(shù)字成像檢測。

公稱直徑不大于400mm的其他帶包覆層含液在用管道X射線數(shù)字成像檢測可參照本標(biāo)準(zhǔn)進行。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測

GB18871電離輻射防護與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)

GB/T23901.1—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：線型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定

GB/T23901.5—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分：雙線型像質(zhì)計圖像不清晰度

的測定

GB50126工業(yè)設(shè)備及管道絕熱工程施工規(guī)范

NB/T47013.1—2015承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求

NB/T47013.2—2015承壓設(shè)備無損檢測第2部分：射線檢測

NB/T47013.11—2015承壓設(shè)備無損檢測第11部分：X射線數(shù)字成像檢測

TSGZ8001特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則

TSGD7005壓力管道定期檢驗規(guī)則-工業(yè)管道

GBZ117—2015工業(yè)X射線探傷放射防護要求

3術(shù)語和定義

GB/T12604.2界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。

3.1

氨制冷壓力管道ammoniarefrigerationpressurepipe

制冷系統(tǒng)內(nèi)部以氨制冷劑為介質(zhì)的壓力管道，包括帶包覆層和不帶包覆層的管道。

3.2

數(shù)字探測器digitaldetectorarray

DDA

將X射線轉(zhuǎn)換為離散陣列模擬電信號、經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換后通過計算機顯示輸出X射線數(shù)字圖像的電子設(shè)

備，以下簡稱探測器。

1

DB11/T1699—2019

3.3

X射線數(shù)字成像X-raydigitalradiography

X射線穿透工件經(jīng)探測器采集轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號輸入計算機處理顯示圖像的一種成像方法。

3.4

像素pixel

X射線數(shù)字探測器的的基本組成單元，即與敏感元器件對應(yīng)的點。

3.5

灰度值grayvalue

X射線數(shù)字圖像中每一像素的數(shù)值。

3.6

線性化灰度值linearizedgrayvalue

與探測器曝光量嚴(yán)格成正比例的像素灰度值，當(dāng)探測器未曝光，對應(yīng)的灰度值等于零。

3.7

數(shù)字探測器基本空間分辨力basicspatialresolutionofadigitaldetectorarray

detector

SRb

在無被檢工件、像質(zhì)計放置于數(shù)字探測器之上和透照幾何放大倍數(shù)接近于1時，檢測系統(tǒng)所能分辨

的最小幾何尺寸細(xì)節(jié)的能力，在數(shù)值上等于在數(shù)字圖像上測得的探測器不清晰度的一半。

注：不清晰度的測量參見GB/T23901.5—2019標(biāo)準(zhǔn)。

3.8

數(shù)字圖像基本空間分辨力basicspatialresolutionofadigitalimage

image

SRb

像質(zhì)計放置于射線源側(cè)被檢工件之上，檢測系統(tǒng)所能發(fā)現(xiàn)的被檢工件圖像中最小細(xì)節(jié)的能力，在數(shù)

值上等于在數(shù)字圖像上測得的不清晰度的一半。

注：不清晰度的測量參見GB/T23901.5—2019標(biāo)準(zhǔn)。

3.9

信噪比signal-to-noiseratio

SNR

數(shù)字圖像中給定區(qū)域線性化灰度值平均值與線性化灰度值標(biāo)準(zhǔn)偏差之間的比值。

3.10

歸一化信噪比normalizedsignal-to-noiseratio

SNRN

實測信噪比按下式除以基本空間分辨力（單位微米）：

2

DB11/T1699—2019

88.6

SNRN=SNRmeasured

SRb

detector

注：SNRmeasured為實際測得的信噪比；SRb=SRb

3.11

對比度/噪聲比contrast-to-noiseratio

CNR

數(shù)字圖像兩個區(qū)域灰度平均值之差與灰度平均標(biāo)準(zhǔn)偏差之間的比值。

3.12

歸一化對比度/噪聲比normalizedcontrast-to-noiseratio

CNRN

實測對比度/噪聲比按下式除以基本空間分辨力（單位為微米）：

88.6

CNRN=CNRmeasured

SRb

detector

注：SNRmeasured為實際測得的信噪比；SRb=SRb

4X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級

X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級按圖像質(zhì)量分為兩個級別（見附錄A）：

a)A級圖像質(zhì)量—基本技術(shù)；

b)B級圖像質(zhì)量—高級技術(shù)。

5一般要求

5.1檢測人員

5.1.1從事X射線數(shù)字成像檢測的人員，上崗前應(yīng)進行輻射安全知識培訓(xùn)，并取得相關(guān)證書。

5.1.2從事X射線數(shù)字成像檢測的人員，應(yīng)在取得特種設(shè)備無損檢測X射線數(shù)字成像檢測專項資格后，

從事相應(yīng)項目的檢測工作。

5.1.3檢測人員應(yīng)了解與X射線數(shù)字成像技術(shù)相關(guān)的計算機知識、數(shù)字圖像處理知識，掌握相應(yīng)的計

算機基本操作方法。

5.2檢測系統(tǒng)與器材

5.2.1X射線機

5.2.1.1采用與探測器相匹配的X射線機。

5.2.1.2應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、規(guī)格、焦距大小以及是否含介質(zhì)、帶包覆層等現(xiàn)場透照條件，選擇

X射線機的能量范圍。

3

DB11/T1699—2019

5.2.2探測器系統(tǒng)

5.2.2.1包含面陣列探測器及其通訊、控制線纜等配件。

5.2.2.2面陣列探測器像素尺寸宜在大于100微米至148微米范圍內(nèi)。

5.2.2.3A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)不小于14bit。

5.2.2.4探測器供應(yīng)商應(yīng)提供探測器的壞像素表和壞像素校正方法。

5.2.2.5應(yīng)按照具體的探測器系統(tǒng)規(guī)定的圖像校正方法，對探測器進行校正。

5.2.3計算機與系統(tǒng)軟件

5.2.3.1計算機顯示器應(yīng)滿足的最低要求如下：

a)亮度不低于250cd/m2；

b)灰度等級不小于8bit；

c)圖像顯示分辨率不低于1024×768；

d)顯示器像素點距不高于0.3mm。

5.2.3.2系統(tǒng)軟件至少應(yīng)具有以下功能：平均、窗位、安全延時、圖像4～16倍不失真縮放、線纜/

無線控制、圖像采集、圖像處理、缺陷幾何尺寸測量、缺陷標(biāo)注、信噪比和基本空間分辨力測量、雙絲

像質(zhì)計擺放角度測量、圖像存儲。

5.2.4像質(zhì)計

5.2.4.1圖像相對靈敏度采用線型像質(zhì)計進行測定，線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.1

的規(guī)定。

5.2.4.2數(shù)字圖像和陣列數(shù)字探測器基本空間分辨力采用雙線型像質(zhì)計進行測定，雙線型像質(zhì)計的型

號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.5的規(guī)定。

5.2.4.3線型像質(zhì)計

5.2.4.3.1無包覆層、不含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計的放置原則應(yīng)符合NB/T47013.11—2015中

6.1.2.1要求。

5.2.4.3.2有包覆層、不含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計宜放置在射線源側(cè)的工件上；若相對靈敏度（IQI

值）不能滿足透照要求（見附錄A中表A.1～A.3），應(yīng)放置于靠近探測器的保溫層外側(cè)。

5.2.4.3.3含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計宜放置在探測器側(cè)的工件上；管道帶保溫層時，應(yīng)放置于靠近

探測器的保溫層外側(cè)。

5.2.4.3.4當(dāng)線型像質(zhì)計放置在探測器側(cè)時，應(yīng)在適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的圖像應(yīng)

與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在圖像上，且應(yīng)在檢測報告中注明。

5.2.4.3.5線型像質(zhì)計的使用和識別應(yīng)符合NB/T47013.11—2015中6.1.2.2、6.1.2.3要求。

5.2.4.4雙線型像質(zhì)計

5.2.4.4.1是否同時使用線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計由合同雙方確定。若放大倍率大于1.2，應(yīng)同時

使用線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計。

5.2.4.4.2焊縫雙壁雙影透照，雙線型像質(zhì)計置于管子的射線源側(cè)，圖像基本空間分辨力滿足附錄A

中的表A.4或A.5要求（透照厚度為管子公稱直徑）、并且數(shù)字陣列探測器空間分辨力滿足附錄A中的

表A.4或A.5要求（透照厚度為2倍管子壁厚）。

5.2.4.4.3焊縫雙壁單影或單壁單影透照，雙線型像質(zhì)計置于管子的探測器側(cè)，圖像基本空間分辨力

滿足附錄A中的表A.4或A.5要求（透照厚度為管子壁厚）。

4

DB11/T1699—2019

5.2.4.4.4管道帶包覆層時，雙線型像質(zhì)計置于包覆層上，應(yīng)進行工藝驗證，數(shù)字圖像基本空間分辨

力應(yīng)在參考圖像上讀取。

5.2.4.4.5當(dāng)雙線型像質(zhì)計放置在探測器側(cè)時，應(yīng)在適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的圖像

應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在圖像上，且應(yīng)在檢測報告中注明。

5.2.4.4.6雙線型像質(zhì)計金屬絲與探測器的行或列成較小的夾角（2°～5°）,且細(xì)絲置于外側(cè)。在透照

參數(shù)和檢測對象不變的情況下（如一條焊縫的連續(xù)成像），可只在第一幅圖像中放置雙線型像質(zhì)計，細(xì)

絲置于外側(cè)。

5.2.4.4.7雙線型像質(zhì)計的識別方法見GB/T23901.5—2019。

5.2.5標(biāo)記

5.2.5.1定位標(biāo)記

焊縫透照定位標(biāo)記包括搭接標(biāo)記和中心標(biāo)記。局部檢測時搭接標(biāo)記稱為有效區(qū)段標(biāo)記。當(dāng)鉛質(zhì)標(biāo)記

用數(shù)字表示時，可不用中心標(biāo)記。

5.2.5.2識別標(biāo)記

識別標(biāo)記包括產(chǎn)品編號、焊縫編號、圖像編號和透照日期。返修部分還應(yīng)有返修標(biāo)記R1，R2等（其

數(shù)碼表示返修次數(shù)）。

5.2.5.3標(biāo)記位置

標(biāo)記一般放置在距焊縫邊緣至少5mm以外，所有標(biāo)記圖像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影

像；搭接標(biāo)記放置的部位還應(yīng)符合NB/T47013.2的規(guī)定。無法標(biāo)記時應(yīng)在原始記錄上畫圖標(biāo)記。

5.2.6數(shù)字成像系統(tǒng)運行核查

5.2.6.1應(yīng)提供檢測系統(tǒng)性能測試證明文件。在第一次使用前應(yīng)進行檢測系統(tǒng)性能驗收，驗收合格后

方可使用。

5.2.6.2在如下情況下應(yīng)進行核查，核查主要指測試系統(tǒng)分辨力，核查方法按NB/T47013.11—2015

附錄A執(zhí)行：

a)檢測系統(tǒng)有改變時；

b)正常使用條件下，每3個月應(yīng)至少核查一次；

c)在系統(tǒng)停止使用一個月后重新使用時；

d)對于脈沖源，當(dāng)使用脈沖數(shù)占總脈沖數(shù)1/3、2/3時，均須核查。

5.2.7曝光量確定原則

5.2.7.1應(yīng)按照檢測速度、檢測設(shè)備和檢測質(zhì)量的要求，通過協(xié)調(diào)影響曝光量的參數(shù)來選擇合適的曝

光量；需要提高檢測效率時，優(yōu)先選擇大電流短時間的曝光量。

5.2.7.2對于直流源高頻射線機，單次曝光量范圍：管電流為0.5mA至4.5mA、通常情況下曝光時間

范圍為1秒至60秒。

5.2.7.3對于脈沖源射線機，單次曝光量范圍：脈沖數(shù)1至199。

5.2.7.4多次疊加的總曝光量等于單次曝光量乘以平均次數(shù)。

5.2.8安全要求

5.2.8.1檢測環(huán)境應(yīng)滿足說明書中對相應(yīng)檢測系統(tǒng)的溫度、濕度、接地、電磁輻射、振動等運行環(huán)境

的要求。

5.2.8.2X射線輻射防護條件應(yīng)符合GB18871和GBZ117的有關(guān)規(guī)定。

5

DB11/T1699—2019

5.2.8.3現(xiàn)場進行X射線數(shù)字成像檢測時，應(yīng)按GBZ117的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)，設(shè)置警告標(biāo)志，

檢測人員應(yīng)佩戴個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。

5.2.8.4現(xiàn)場通風(fēng)條件良好，氨濃度應(yīng)在人體安全水平以下；必要時，穿戴氨用防護面罩。

5.2.8.5高空作業(yè)應(yīng)穿戴高空作業(yè)防護用具。

6數(shù)字成像檢測技術(shù)

6.1焊縫透照布置

6.1.1透照方式

6.1.1.1不帶包覆層、不含液氨制冷管道對接焊縫X射線數(shù)字成像檢測透照方式見圖1～圖3。

6.1.1.2不帶包覆層、含液氨制冷管道對接焊縫X數(shù)字成像檢測檢測透照方式見圖4～圖6。

6.1.1.3帶包覆層、不含液氨制冷管道對接焊縫X射線數(shù)字成像檢測透照方式見圖7～圖9。

6.1.1.4帶包覆層、含液氨制冷管道對接焊縫X射線數(shù)字成像檢測透照方式見圖10～圖12。

說明：

S——X射線源；

D——數(shù)字探測器；

f——X射線源至工件之間的距離；

f’——X射線源至工件之間的垂直距離；

b——工件至探測器之間的距離；

b’——工件至探測器之間的垂直距離；

t——名義厚度；

De——管道外徑。

圖1對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖

6

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圖2對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖

圖3對接焊縫雙壁單影透照方式圖

7

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注：源至工件距離可采用f’代替f。

圖4含液管道對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖

圖5含液管道對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖

8

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圖6含液管道對接焊縫雙壁單影透照方式圖

注：源至工件距離可采用f’代替f。

圖7帶包覆層管道對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖

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圖8帶包覆層管道對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖

圖9帶包覆層管道對接焊縫雙壁單影透照方式圖

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注：源至工件距離可采用f’代替f。

圖10帶包覆層含液管道對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖

圖11帶包覆層含液管道對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖

11

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圖12帶包覆層含液管道對接焊縫雙壁單影透照方式圖

6.1.2透照方向與透照區(qū)域

6.1.2.1透照時射線束中心應(yīng)垂直指向成像區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。

6.1.2.2透照區(qū)域應(yīng)包含焊縫和距焊縫熔合線10mm范圍內(nèi)的母材區(qū)域。

6.1.3小徑管透照

6.1.3.1采用傾斜透照橢圓成像時：

a)當(dāng)t/De≤0.12，相隔90°透照2次；

b)當(dāng)t/De>0.12，相隔120°或60°透照3次。

6.1.3.2橢圓成像有困難時，宜采用垂直透照重疊成像（見圖2、圖5、圖8、圖11），應(yīng)相隔120°

或60°透照3次。

6.1.3.3采用傾斜透照雙壁單影成像（見圖3、圖6、圖9、圖12），源至工件距離f在滿足6.3.1

的前提下盡量取小值，像質(zhì)計和鉛字“F”標(biāo)記應(yīng)放置在探測器側(cè)。

6.1.3.4由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時，經(jīng)合同雙方商定，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照

一次。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的100%檢測，此時應(yīng)采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保

證圖像評定范圍內(nèi)灰度、信噪比、靈敏度和分辨力滿足要求。

6.1.4相鄰兩幅圖像搭接區(qū)域長度應(yīng)不小于10mm。

6.2管道厚度測量透照方式

采用切線技術(shù)測量管道壁厚的透照方式見圖13；采用雙壁厚技術(shù)測量管道壁厚損失的透照方式見

圖14。

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a)不含液不帶包覆層

b)含液帶包覆層

圖13切線技術(shù)測量管道壁厚的透照方式圖

13

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a)不含液不帶包覆層

b)含液帶包覆層

圖14雙壁厚技術(shù)測量管道壁厚損失的透照方式圖

6.3成像幾何參數(shù)

6.3.1X射線源至被檢工件表面的最小距離

對于圖1、圖2、圖4、圖5、圖7、圖8、圖10、圖11雙壁雙影透照方式，所選用的X射線源至被檢工

件表面的距離f應(yīng)滿足公式（1）、公式（2）要求。

對于A級圖像質(zhì)量：

14

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f

37.5b23………………（1）

d

對于B級圖像質(zhì)量：

f

315b23………………（2）

d

式中：

d-射線源焦點尺寸，mm。

對于圖3、圖6、圖9、圖12雙壁單影透照方式,f應(yīng)滿足公式（3）、公式（4）要求。

對于A級圖像質(zhì)量：

fb

37.5………………（3）

d3t

對于B級圖像質(zhì)量：

fb

315………………（4）

d3t

式中：

t-名義厚度，mm

若規(guī)定對面狀缺陷進行檢測，為降低幾何不清晰度，即使A級圖像質(zhì)量合格，射線源至被檢工件表

面的距離也應(yīng)提高至B級圖像質(zhì)量要求的f。

6.4幾何放大技術(shù)

對于圖7～圖9、圖10～圖12透照方式，如果像質(zhì)計相對靈敏度和基本空間分辨力不能滿足表A.1至

A.5要求，可以通過幾何放大技術(shù)降低圖像不清晰度。幾何放大技術(shù)原理參見附錄B。

6.5散射線和無用射線的屏蔽

可采用濾波板、準(zhǔn)直器（光柵）、限制照射場范圍、防散射線鉛板等適當(dāng)措施，減少散射線和無用

X射線。

6.6圖像質(zhì)量及評定

6.6.1圖像質(zhì)量

6.6.1.1圖像靈敏度與圖像基本空間分辨力

應(yīng)同時保證圖像相對靈敏度和圖像基本空間分辨力的要求；按照圖像質(zhì)量等級要求及采用的透照方

式，A級與B級圖像相對靈敏度和不清晰度應(yīng)分別符合附錄A表A.1～表A.5的規(guī)定。

6.6.1.2補償原則

如果圖像相對靈敏度和不清晰度不能同時達到表A.1～表A.5的規(guī)定，可通過增加曝光量提高信噪

比、進而提高線型像質(zhì)計（絲號）的可見性補償超出的不清晰度值（或超出的數(shù)字探測器基本空間分辨

力）。

15

DB11/T1699—2019

對于小型缺陷（缺陷在射線透過方向上的尺寸?w遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于透照厚度），補償原則基于下列理論近

似，見公式（5）：

CNRμSNR

N=ceff………………（5）

?wSRb

式中：

c-常數(shù)；

μeff-有效衰減系數(shù)；

CNRN-數(shù)字圖像中測得的歸一化CNR

為保證獲得足夠相對靈敏度的X射線數(shù)字圖像，在以下三種情形下需要進行補償：

a)補償原則Ⅰ，通過提高信噪比SNR（例如提高曝光量）補償對比度的降低（例如提高管電壓導(dǎo)

致的對比度降低）；

b)補償原則Ⅱ，通過提高信噪比SNR（例如，對應(yīng)于缺失的雙線型像質(zhì)計線對值，提高單絲像質(zhì)

計IQIs的絲號）補償探測器不清晰度的增大（例如，數(shù)字探測器基本空間分辨力高于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)

定圖像質(zhì)量應(yīng)達到的數(shù)字圖像基本空間分辨力）。例如：對于某一檢測系統(tǒng)，采用橢圓傾斜透

照方式檢測Φ89x4帶包覆層液氨管道，要求達到B級圖像質(zhì)量，如果圖像質(zhì)量不能同時達到

W14和D9，則達到W15和D8可提供等效的檢測靈敏度。補償最大不超過2個絲號；

c)補償原則Ⅲ，通過提高信噪比SNR補償因為數(shù)字探測器壞像素的校正導(dǎo)致的擬合不清晰度的增

大。

6.6.2圖像評定要求

6.6.2.1可通過正像或負(fù)像的方式顯示，1：1評定。

6.6.2.2圖像有效區(qū)域內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷圖像識別的偽像。

6.6.2.3圖像的灰度值應(yīng)控制在滿量程的20%～80%。

6.6.3信噪比要求

應(yīng)滿足表1對歸一化信噪比的最低要求。

表1歸一化信噪比最低要求

歸一化信噪比

管電壓范圍/kV透照厚度/mm

A級B級

≤50100150

>50～150－70120

≥150～25070100

≤5070100

≥250～350

>507070

注：適用于焊縫；對于經(jīng)平整與母材平齊的焊縫、焊接熱影響區(qū)和母材，歸一化信噪比最低值應(yīng)為表中值的1.4

倍。

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6.6.4缺陷的識別與評定

6.6.4.1缺陷的識別可采用計算機輔助人工識別。

6.6.4.2人工識別可通過窗位工具將計算機識別的灰度范圍轉(zhuǎn)換成人眼可識別的灰度范圍，達到人眼

識別的最佳效果。

6.6.4.3缺陷的評定可采用人工評定或計算機輔助評定方法。

6.6.5幾何尺寸的測量

6.6.5.1幾何尺寸的測量包括管道管徑、壁厚和焊接缺陷的幾何尺寸測量。

6.6.5.2使用已知尺寸且經(jīng)過標(biāo)定的物體作為參考點（例如鋼球），通過參考點校正測量，采用系統(tǒng)

軟件直接測量管道管徑、壁厚和焊接缺陷的幾何尺寸。

6.6.6缺陷深度的測量

6.6.6.1管道剩余壁厚采用切線技術(shù)或雙壁厚技術(shù)進行測量。

6.6.6.2管道未焊透深度的測量可參照附錄C對比試件進行校準(zhǔn)，實現(xiàn)對管道未焊透等缺陷深度的定

量測量。

6.7圖像處理、保存與存儲

6.7.1圖像處理

采集圖像數(shù)據(jù)可選用連續(xù)幀疊加的方法，圖像評價和缺陷評定可采用灰度增強等圖像處理方法優(yōu)化

圖像的顯示效果；任何處理方法不得改變采集的原始圖像數(shù)據(jù)。

6.7.2圖像保存

6.7.2.1圖像應(yīng)存儲在硬盤等數(shù)字存儲介質(zhì)中，并在只讀光盤中存檔。

6.7.2.2檢測圖像應(yīng)備份不少于兩份，相應(yīng)的原始記錄和檢測報告也應(yīng)同期保存。

6.7.2.3圖像保存不少于8年，在有效保存期內(nèi)圖像數(shù)據(jù)不得丟失和更改。

6.7.3圖像存儲

6.7.3.1存儲格式宜采用標(biāo)準(zhǔn)DICONDE格式或者TIF、TIFF格式，也可根據(jù)需要采用專門的存儲格式。

專門存儲格式應(yīng)留有與其他格式交換信息的接口。單位代碼、工件編號、焊縫編號、透照規(guī)格、檢測人

員代碼、識別標(biāo)記等信息應(yīng)寫入圖像文件的描述字段中，這些信息應(yīng)具備不可更改性。

6.7.3.2存儲圖像應(yīng)具有文件輸出打印的功能。

6.7.3.3原始圖像和處理后的圖像均應(yīng)保存，且原始圖像的信息應(yīng)具備不可更改性、連續(xù)性和可讀性。

6.7.3.4被檢位置編號應(yīng)與圖像編號相對應(yīng)。

7檢測結(jié)果

7.1焊接接頭射線檢測結(jié)果評定和質(zhì)量分級

按NB/T47013.2—2015中7的規(guī)定執(zhí)行。

7.2管道本體剩余厚度的測定

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測定結(jié)果至少應(yīng)包括管道正常壁厚與外徑、缺陷處管道剩余壁厚、缺陷附近管道外徑最大值以及缺

陷環(huán)向長度最大值等實測數(shù)據(jù)。

注：管道外徑的測量不局限于X射線數(shù)字成像檢測方法。

8檢測記錄和報告

8.1檢測記錄

應(yīng)按照現(xiàn)場操作的實際情況詳細(xì)記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。X射線數(shù)字成像檢測記錄除符合

NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：

a)制造單位、檢測單位或委托單位；

b)被檢工件：坡口型式、焊接方法；

c)使用的檢測工藝文件編號；

d)檢測設(shè)備：射線機有效焦點尺寸；

e)檢測規(guī)范：檢測技術(shù)或圖像質(zhì)量等級、透照布置、像質(zhì)計、濾波板、射線能量、曝光量或透照

時間、射線機與探測器的相對關(guān)系、透照幾何參數(shù)、軟件處理方式和條件等；

f)圖像評定：灰度值、信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨力、缺陷位置和性質(zhì)；

g)檢測工藝文件驗證情況；

h)檢測結(jié)果及質(zhì)量分級；

a)檢測部位及缺陷位置示意圖；

i)審核人員及其技術(shù)資格；

j)其他需要說明或記錄的事項。

8.2檢測報告

應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報告，報告格式見NB/T47013.11附錄E。X射線數(shù)字成像檢測報告除符合

NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：

a)制造單位、檢測單位或委托單位；

b)被檢工件：坡口型式、焊接方法；

c)使用的檢測工藝文件編號；

d)檢測設(shè)備：射線機有效焦點尺寸；

e)檢測規(guī)范：檢測技術(shù)或圖像質(zhì)量等級、透照布置、濾波板（類型、數(shù)量和厚度）、像質(zhì)計、射

線能量、曝光量或透照時間、射線機與探測器的相對關(guān)系、透照幾何參數(shù)、軟件處理方式和條

件等；

k)圖像評定：灰度值、信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨力、缺陷位置和性質(zhì)。

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AA

附錄A

（規(guī)范性附錄）

圖像質(zhì)量最低值

A.1圖像靈敏度

對應(yīng)于不同的透照布置方式，圖像質(zhì)量等級與線型像質(zhì)計（IQI）像質(zhì)值見表A.1～表A.3。

表A.1線型像質(zhì)計像質(zhì)值——單壁透照、IQI置于射線源側(cè)

圖像質(zhì)量A級圖像質(zhì)量B級

名義厚度t,mmIQI值名義厚度t,mmIQI值

1.2<t≤2.0W171.5<t≤2.5W18

2.0<t≤3.5W162.5<t≤4W17

3.5<t≤5.0W154<t≤6W16

5.0<t≤7.0W146<t≤8W15

7<t≤10W138<t≤12W14

10<t≤15W1212<t≤20W13

15<t≤25W1120<t≤30W12

25<t≤32W1030<t≤35W11

32<t≤40W935<t≤45W10

40<t≤55W845<t≤65W9

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表A.2線型像質(zhì)計像質(zhì)值——雙壁雙影透照、IQI置于射線源側(cè)

圖像質(zhì)量A級圖像質(zhì)量B級

透照厚度w1,mmIQI值透照厚度w1,mmIQI值

2.0<w≤3.5W162.5<w≤4W17

3.5<w≤5.0W154<w≤6W16

5.0<w≤7.0W146<w≤8W15

7<w≤12W138<w≤15W14

12<w≤18W1215<w≤25W13

18<w≤30W1125<w≤38W12

30<w≤40W1038<w≤45W11

40<w≤50W945<w≤55W10

50<w≤60W855<w≤70W9

60<w≤85W770<w≤100W8

85<w≤120W6100<w≤170W7

注：管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量厚度后計入透照厚度w；氨液當(dāng)量厚度按10%碳鋼板厚度計。

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表A.3線型像質(zhì)計像質(zhì)值——雙壁單影或雙影透照，IQI在探測器側(cè)

圖像質(zhì)量A級圖像質(zhì)量B級

透照厚度w1,mmIQI值透照厚度w1,mmIQI值

1.2<w≤2.0W171.5<w≤2.5W18

2.0<w≤3.5W162.5<w≤4W17

3.5<w≤5.0W154<w≤6W16

5.0<w≤10W146<w≤12W15

10<w≤15W1312<w≤18W14

15<w≤22W1218<w≤30W13

22<w≤38W1130<w≤45W12

38<w≤48W1045<w≤55W11

48<w≤60W955<w≤70W10

注：管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量厚度后計入透照厚度w；氨液當(dāng)量厚度按10%碳鋼板厚度計。

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A.2不清晰度

圖像質(zhì)量A級最大不清晰度見表A.4；圖像質(zhì)量B級最大不清晰度見表A.5。

表A.4圖像質(zhì)量A級最大不清晰度與圖像最大基本空間分辨力

最大基本空間分辨力（相當(dāng)于絲徑間距）3

透照厚度w1,2最小可見IQI號和最大不清晰度3+

image

mmmmSRb,mm

D11

1.5<w≤20.08

0.16

D10

2<w≤50.10

0.20

D9

5<w≤100.13

0.26

D8

10<w≤250.16

0.32

D7

25<w≤550.20

0.40

D6

55<w≤1500.25

0.50

注1：對于管道內(nèi)不含液態(tài)介質(zhì)的雙壁單影透照方式，透照厚度w=名義厚度t；管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深

度折算成當(dāng)量厚度后計入透照厚度w。

注2：氨液當(dāng)量厚度按10%碳鋼板厚度計。

image

注3：最小可見IQI絲號和SRb適用于接觸透照。如果采用幾何放大倍率透照技術(shù)，（見6.4節(jié)）IQI絲號和

image

SRb應(yīng)在參考圖像上讀取。

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表A.5圖像質(zhì)量B級最大不清晰度與最大基本空間分辨力

最大基本空間分辨力（相當(dāng)于絲徑間距）3

透照厚度w1,2最小可見IQI號和最大不清晰度3+

image

mmmmSRb,mm

D13

1.5<w≤40.05

0.10

D12

4<w≤80.063

0.125

D11

8<w≤120.08

0.16

D10

12<w≤400.10

0.20

D9

40<w≤1200.13

0.26

D8

120<w≤2000.16

0.32

注1：對于雙壁單影透照技術(shù)，透照厚度w=名義厚度t；管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量厚度后

計入透照厚度w。

注2：氨液當(dāng)量厚度按10%碳鋼板厚度計。

image

注3：最小可見IQI絲號和SRb適用于接觸透照。如果采用幾何放大倍率透照技術(shù)，（見6.4節(jié)）IQI絲號和

image

SRb應(yīng)在參考圖像上讀取。

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BB

附錄B

（資料性附錄）

幾何放大技術(shù)原理

增大探測器與工件之間的距離和/或采用小焦點X射線源，達到降低圖像不清晰度的目的稱為幾何放

大技術(shù)。

幾何不清晰度uG按公式（B.1）計算：

SDD

u=(?1)d=(k?1)d………………（B.1）

Gf

式中：

SDD-射線源至探測器之間距離，mm；

f-射線源至工件之間的距離，mm；

d-焦點尺寸，mm；

k-幾何放大倍率。

規(guī)定最大圖像不清晰度uIm按公式（B.2）進行估算：

1

u=(u)2+(2SR)2………………（B.2）

ImkGb

式中：

SRb-放大倍率為1時探測器基本空間分辨力。

幾何放大倍率增加和/或焦點尺寸減小以降低圖像不清晰度，使之小于或等于表A.4或A.5中規(guī)定的

值。

幾何放大倍率的正確選擇應(yīng)通過圖像中放置于工件之上的雙線型像質(zhì)計證實。如果2SRb>d（射線

源焦點尺寸），雙線型像質(zhì)計放置于靠近探測器側(cè)的工件上；除此之外，雙線型像質(zhì)計放置于射線源側(cè)

的工件上。選擇放大倍數(shù)時，建議將雙線型像質(zhì)計