2025年統(tǒng)計學期末考試：統(tǒng)計推斷與假設(shè)檢驗的方法對比試題考試時間：______分鐘總分：______分姓名：______一、選擇題（本大題共20小題，每小題2分，共40分。在每小題列出的四個選項中，只有一項是最符合題目要求的，請將正確選項字母填在題后的括號內(nèi)。）1.在統(tǒng)計推斷中，用來估計總體參數(shù)的值的方法被稱為（）。A.假設(shè)檢驗B.參數(shù)估計C.相關(guān)分析D.方差分析2.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來估計總體均值的置信區(qū)間公式是（）。A.\(\bar{X}\pmZ_{\alpha/2}\frac{\sigma}{\sqrt{n}}\)B.\(\bar{X}\pmt_{\alpha/2}\frac{s}{\sqrt{n}}\)C.\(\bar{X}\pmZ_{\alpha/2}\frac{s}{\sqrt{n}}\)D.\(\bar{X}\pmt_{\alpha/2}\frac{\sigma}{\sqrt{n}}\)3.在假設(shè)檢驗中，第一類錯誤的概率記作（）。A.\(\beta\)B.\(\alpha\)C.\(p\)D.\(1-\alpha\)4.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，用來估計總體均值的置信區(qū)間公式是（）。A.\(\bar{X}\pmZ_{\alpha/2}\frac{\sigma}{\sqrt{n}}\)B.\(\bar{X}\pmt_{\alpha/2}\frac{s}{\sqrt{n}}\)C.\(\bar{X}\pmZ_{\alpha/2}\frac{s}{\sqrt{n}}\)D.\(\bar{X}\pmt_{\alpha/2}\frac{\sigma}{\sqrt{n}}\)5.在假設(shè)檢驗中，第二類錯誤的概率記作（）。A.\(\beta\)B.\(\alpha\)C.\(p\)D.\(1-\alpha\)6.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來檢驗總體均值是否等于某個值的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(t=\frac{\bar{X}-\mu_0}{s/\sqrt{n}}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)D.\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{s/\sqrt{n}}\)7.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，用來檢驗總體均值是否等于某個值的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(t=\frac{\bar{X}-\mu_0}{s/\sqrt{n}}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)D.\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{s/\sqrt{n}}\)8.在假設(shè)檢驗中，拒絕原假設(shè)的條件是（）。A.\(p\)-value\(\leq\alpha\)B.\(p\)-value\(\geq\alpha\)C.\(Z\)值或\(t\)值落入拒絕域D.\(Z\)值或\(t\)值落入接受域9.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來檢驗兩個總體均值是否相等（獨立樣本）的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{\sqrt{\frac{\sigma_1^2}{n_1}+\frac{\sigma_2^2}{n_2}}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{\sqrt{\frac{s_1^2}{n_1}+\frac{s_2^2}{n_2}}}\)D.\(Z=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)10.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，用來檢驗兩個總體均值是否相等（獨立樣本）的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{\sqrt{\frac{\sigma_1^2}{n_1}+\frac{\sigma_2^2}{n_2}}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{\sqrt{\frac{s_1^2}{n_1}+\frac{s_2^2}{n_2}}}\)D.\(Z=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)11.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來檢驗兩個總體均值是否相等（配對樣本）的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(t=\frac{\bar{D}-0}{s_D/\sqrt{n}}\)B.\(Z=\frac{\bar{D}-0}{\sigma_D/\sqrt{n}}\)C.\(t=\frac{\bar{D}-0}{\sigma_D/\sqrt{n}}\)D.\(Z=\frac{\bar{D}-0}{s_D/\sqrt{n}}\)12.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，用來檢驗兩個總體均值是否相等（配對樣本）的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(t=\frac{\bar{D}-0}{s_D/\sqrt{n}}\)B.\(Z=\frac{\bar{D}-0}{\sigma_D/\sqrt{n}}\)C.\(t=\frac{\bar{D}-0}{\sigma_D/\sqrt{n}}\)D.\(Z=\frac{\bar{D}-0}{s_D/\sqrt{n}}\)13.在假設(shè)檢驗中，樣本量越大，檢驗的效力（power）越（）。A.小B.大C.不變D.無法確定14.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來檢驗總體方差是否等于某個值的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(\chi^2=\frac{(n-1)s^2}{\sigma_0^2}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}-\mu_0}{s/\sqrt{n}}\)D.\(\chi^2=\frac{(n-1)s^2}{s_0^2}\)15.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，用來檢驗總體方差是否等于某個值的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(\chi^2=\frac{(n-1)s^2}{\sigma_0^2}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}-\mu_0}{s/\sqrt{n}}\)D.\(\chi^2=\frac{(n-1)s^2}{s_0^2}\)16.在假設(shè)檢驗中，檢驗水準（顯著性水平）通常?。ǎ?。A.0.05B.0.01C.0.10D.A、B、C均有可能17.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來檢驗兩個總體方差是否相等（F檢驗）的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(F=\frac{s_1^2}{s_2^2}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{\sqrt{\frac{\sigma_1^2}{n_1}+\frac{\sigma_2^2}{n_2}}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)D.\(\chi^2=\frac{(n-1)s^2}{\sigma_0^2}\)18.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，用來檢驗兩個總體方差是否相等（F檢驗）的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(F=\frac{s_1^2}{s_2^2}\)B.\(Z=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{\sqrt{\frac{\sigma_1^2}{n_1}+\frac{\sigma_2^2}{n_2}}}\)C.\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)D.\(\chi^2=\frac{(n-1)s^2}{\sigma_0^2}\)19.在統(tǒng)計推斷中，參數(shù)估計和假設(shè)檢驗的關(guān)系是（）。A.互不相干B.假設(shè)檢驗是參數(shù)估計的補充C.參數(shù)估計是假設(shè)檢驗的基礎(chǔ)D.B和C都對20.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，用來檢驗總體比例是否等于某個值的檢驗統(tǒng)計量是（）。A.\(Z=\frac{\hat{p}-p_0}{\sqrt{\frac{p_0(1-p_0)}{n}}}\)B.\(t=\frac{\hat{p}-p_0}{\sqrt{\frac{p_0(1-p_0)}{n}}}\)C.\(Z=\frac{\hat{p}-p_0}{\sqrt{\frac{\hat{p}(1-\hat{p})}{n}}}\)D.\(t=\frac{\hat{p}-p_0}{\sqrt{\frac{\hat{p}(1-\hat{p})}{n}}}\)二、簡答題（本大題共5小題，每小題4分，共20分。請將答案寫在答題卡上對應(yīng)題號的位置。）1.簡述參數(shù)估計和假設(shè)檢驗的區(qū)別與聯(lián)系。2.在假設(shè)檢驗中，什么是第一類錯誤和第二類錯誤？它們之間的關(guān)系是什么？3.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且已知總體方差，當樣本量較大時，如何檢驗總體均值是否等于某個值？請寫出檢驗統(tǒng)計量和拒絕域。4.設(shè)總體服從正態(tài)分布，且總體方差未知，當樣本量較小時，如何檢驗兩個總體均值是否相等（獨立樣本）？請寫出檢驗統(tǒng)計量和拒絕域。5.在統(tǒng)計推斷中，樣本量對參數(shù)估計和假設(shè)檢驗有什么影響？三、計算題（本大題共3小題，每小題6分，共18分。請將答案寫在答題卡上對應(yīng)題號的位置。）1.某廠生產(chǎn)一種燈泡，已知燈泡壽命服從正態(tài)分布，且總體方差為\(\sigma^2=10000\)小時^2?，F(xiàn)隨機抽取50個燈泡，測得樣本均值為\(\bar{X}=1500\)小時。在顯著性水平\(\alpha=0.05\)下，檢驗該廠生產(chǎn)的燈泡壽命是否等于1500小時。2.某醫(yī)生想知道一種新藥是否比現(xiàn)有藥物更有效。他隨機抽取了30名病人，將他們分為兩組，每組15人。一組服用新藥，另一組服用現(xiàn)有藥物。經(jīng)過一段時間后，測得服用新藥組的平均反應(yīng)時間為\(\bar{X}_1=20\)分鐘，標準差為\(s_1=5\)分鐘；服用現(xiàn)有藥物組的平均反應(yīng)時間為\(\bar{X}_2=25\)分鐘，標準差為\(s_2=6\)分鐘。在顯著性水平\(\alpha=0.05\)下，檢驗新藥是否比現(xiàn)有藥物更有效（假設(shè)兩組反應(yīng)時間服從正態(tài)分布，且方差相等）。3.某公司想知道其產(chǎn)品的市場占有率是否發(fā)生了變化。他們在某月隨機抽取了400名消費者，其中20%表示購買過該公司產(chǎn)品。在顯著性水平\(\alpha=0.01\)下，檢驗該公司產(chǎn)品的市場占有率是否大于15%。四、論述題（本大題共2小題，每小題9分，共18分。請將答案寫在答題卡上對應(yīng)題號的位置。）1.在實際應(yīng)用中，如何根據(jù)具體情況選擇參數(shù)估計還是假設(shè)檢驗？請結(jié)合具體例子說明。2.在假設(shè)檢驗中，顯著性水平和樣本量是如何影響檢驗結(jié)果的？請結(jié)合具體例子說明。本次試卷答案如下一、選擇題答案及解析1.B參數(shù)估計是用樣本統(tǒng)計量來估計總體參數(shù)的值，比如用樣本均值估計總體均值，用樣本方差估計總體方差等。而假設(shè)檢驗是利用樣本信息來判斷對總體參數(shù)所作的假設(shè)是否成立。故選B。2.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，無論樣本量大小，均用Z分布來構(gòu)建置信區(qū)間。公式中Z_{\alpha/2}是臨界值，\(\sigma\)是總體標準差，n是樣本量。故選A。3.B在假設(shè)檢驗中，第一類錯誤是指原假設(shè)H0為真時，錯誤地拒絕了H0，即犯“以真為假”的錯誤。其概率記作\(\alpha\)，也稱為顯著性水平。故選B。4.B當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，無論樣本量大小，均用t分布來構(gòu)建置信區(qū)間。公式中t_{\alpha/2}是臨界值，s是樣本標準差，n是樣本量。故選B。5.A在假設(shè)檢驗中，第二類錯誤是指原假設(shè)H0為假時，錯誤地接受了H0，即犯“以假為真”的錯誤。其概率記作\(\beta\)。故選A。6.B當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，用Z統(tǒng)計量來檢驗總體均值。公式中Z是檢驗統(tǒng)計量，\(\mu_0\)是假設(shè)的總體均值，\(\sigma\)是總體標準差，n是樣本量。故選B。7.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，用t統(tǒng)計量來檢驗總體均值。公式中t是檢驗統(tǒng)計量，\(\mu_0\)是假設(shè)的總體均值，s是樣本標準差，n是樣本量。故選A。8.A拒絕原假設(shè)的條件是p-value（觀察到當前樣本結(jié)果或更極端結(jié)果的概率）小于或等于顯著性水平\(\alpha\)。當p-value\(\leq\alpha\)時，有足夠證據(jù)拒絕原假設(shè)。故選A。9.B當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，用Z統(tǒng)計量來檢驗兩個獨立總體均值是否相等。公式中Z是檢驗統(tǒng)計量，\(\sigma_1\)和\(\sigma_2\)分別是兩個總體的標準差，n1和n2是兩個樣本量。故選B。10.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，用t統(tǒng)計量來檢驗兩個獨立總體均值是否相等。公式中t是檢驗統(tǒng)計量，s_p是合并標準差，n1和n2是兩個樣本量。故選A。11.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，用t統(tǒng)計量來檢驗配對樣本均值是否相等。公式中t是檢驗統(tǒng)計量，\(\bar{D}\)是配對樣本均差，s_D是配對樣本標準差，n是配對樣本數(shù)量。故選A。12.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，用t統(tǒng)計量來檢驗配對樣本均值是否相等。公式中t是檢驗統(tǒng)計量，\(\bar{D}\)是配對樣本均差，s_D是配對樣本標準差，n是配對樣本數(shù)量。故選A。13.B樣本量越大，檢驗的效力（power）越大，即拒絕原假設(shè)的能力越強。因為樣本量越大，樣本統(tǒng)計量的抽樣分布越集中，臨界值越容易達到，從而更容易拒絕原假設(shè)。故選B。14.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，用\(\chi^2\)統(tǒng)計量來檢驗總體方差。公式中\(zhòng)(\chi^2\)是檢驗統(tǒng)計量，(n-1)s^2是樣本方差乘以自由度，\(\sigma_0^2\)是假設(shè)的總體方差。故選A。15.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，用\(\chi^2\)統(tǒng)計量來檢驗總體方差。公式中\(zhòng)(\chi^2\)是檢驗統(tǒng)計量，(n-1)s^2是樣本方差乘以自由度，\(\sigma_0^2\)是假設(shè)的總體方差。故選A。16.D檢驗水準（顯著性水平）\(\alpha\)是事先設(shè)定的拒絕原假設(shè)的概率，通常取0.05、0.01或0.10等值，具體取值取決于研究問題的要求。故選D。17.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，用F統(tǒng)計量來檢驗兩個總體方差是否相等。公式中F是檢驗統(tǒng)計量，s1^2和s2^2分別是兩個樣本方差。故選A。18.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，用F統(tǒng)計量來檢驗兩個總體方差是否相等。公式中F是檢驗統(tǒng)計量，s1^2和s2^2分別是兩個樣本方差。故選A。19.D參數(shù)估計和假設(shè)檢驗都是統(tǒng)計推斷的重要內(nèi)容。參數(shù)估計是用樣本統(tǒng)計量來估計總體參數(shù)，假設(shè)檢驗是利用樣本信息來判斷對總體參數(shù)所作的假設(shè)是否成立。兩者相互補充，參數(shù)估計是假設(shè)檢驗的基礎(chǔ)，假設(shè)檢驗是參數(shù)估計的補充。故選D。20.A當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，用Z統(tǒng)計量來檢驗總體比例。公式中Z是檢驗統(tǒng)計量，\(\hat{p}\)是樣本比例，p0是假設(shè)的總體比例，n是樣本量。故選A。二、簡答題答案及解析1.參數(shù)估計是用樣本統(tǒng)計量來估計總體參數(shù)的值，主要分為點估計和區(qū)間估計。點估計是用一個具體的數(shù)值來估計總體參數(shù)，比如用樣本均值\(\bar{X}\)估計總體均值\(\mu\)。區(qū)間估計是用一個區(qū)間來估計總體參數(shù)，比如用\((\bar{X}-Z_{\alpha/2}\frac{\sigma}{\sqrt{n}},\bar{X}+Z_{\alpha/2}\frac{\sigma}{\sqrt{n}})\)來估計總體均值\(\mu\)。假設(shè)檢驗是利用樣本信息來判斷對總體參數(shù)所作的假設(shè)是否成立，主要分為單尾檢驗和雙尾檢驗。兩者聯(lián)系在于：參數(shù)估計的結(jié)果可以為假設(shè)檢驗提供假設(shè)的依據(jù)，假設(shè)檢驗的結(jié)果可以驗證參數(shù)估計的可靠性。2.第一類錯誤是指原假設(shè)H0為真時，錯誤地拒絕了H0，即犯“以真為假”的錯誤。其概率記作\(\alpha\)，也稱為顯著性水平。第二類錯誤是指原假設(shè)H0為假時，錯誤地接受了H0，即犯“以假為真”的錯誤。其概率記作\(\beta\)。兩者關(guān)系是：顯著性水平\(\alpha\)和檢驗效力（1-\(\beta\)）是相互制約的。通常情況下，減小\(\alpha\)會增大\(\beta\)，反之亦然。在實際應(yīng)用中，需要在兩者之間進行權(quán)衡，根據(jù)研究問題的要求選擇合適的\(\alpha\)和\(\beta\)。3.當總體服從正態(tài)分布且總體方差已知時，檢驗總體均值是否等于某個值的步驟如下：1.提出原假設(shè)H0：\(\mu=\mu_0\)和備擇假設(shè)H1：\(\mu\neq\mu_0\)（雙尾檢驗）或H1：\(\mu>\mu_0\)（單尾檢驗）或H1：\(\mu<\mu_0\)（單尾檢驗）。2.選擇顯著性水平\(\alpha\)。3.計算檢驗統(tǒng)計量Z：\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}\)。4.確定拒絕域。對于雙尾檢驗，拒絕域為Z\(\leq-Z_{\alpha/2}\)或Z\(\geqZ_{\alpha/2}\)；對于單尾檢驗，拒絕域為Z\(\leq-Z_{\alpha}\)或Z\(\geqZ_{\alpha}\)。5.做出統(tǒng)計決策。如果檢驗統(tǒng)計量落入拒絕域，則拒絕原假設(shè)；否則，接受原假設(shè)。4.當總體服從正態(tài)分布且總體方差未知時，檢驗兩個獨立總體均值是否相等（獨立樣本）的步驟如下：1.提出原假設(shè)H0：\(\mu_1=\mu_2\)和備擇假設(shè)H1：\(\mu_1\neq\mu_2\)（雙尾檢驗）或H1：\(\mu_1>\mu_2\)（單尾檢驗）或H1：\(\mu_1<\mu_2\)（單尾檢驗）。2.選擇顯著性水平\(\alpha\)。3.計算檢驗統(tǒng)計量t：\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}\)，其中s_p是合并標準差，\(s_p=\sqrt{\frac{(n_1-1)s_1^2+(n_2-1)s_2^2}{n_1+n_2-2}}\)。4.確定拒絕域。對于雙尾檢驗，拒絕域為t\(\leq-t_{\alpha/2}(n_1+n_2-2)\)或t\(\geqt_{\alpha/2}(n_1+n_2-2)\)；對于單尾檢驗，拒絕域為t\(\leq-t_{\alpha}(n_1+n_2-2)\)或t\(\geqt_{\alpha}(n_1+n_2-2)\)。5.做出統(tǒng)計決策。如果檢驗統(tǒng)計量落入拒絕域，則拒絕原假設(shè)；否則，接受原假設(shè)。5.在統(tǒng)計推斷中，樣本量對參數(shù)估計和假設(shè)檢驗有重要影響。樣本量越大，樣本統(tǒng)計量的抽樣分布越集中，標準誤越小，從而參數(shù)估計的精度越高，置信區(qū)間越窄。同時，樣本量越大，檢驗的效力（power）越大，即拒絕原假設(shè)的能力越強。這是因為樣本量越大，樣本統(tǒng)計量越接近總體參數(shù)，從而更容易檢測到真實存在的差異。但在實際應(yīng)用中，增加樣本量會增加成本和時間，因此需要在精度和成本之間進行權(quán)衡，選擇合適的樣本量。三、計算題答案及解析1.檢驗該廠生產(chǎn)的燈泡壽命是否等于1500小時。1.提出原假設(shè)H0：\(\mu=1500\)和備擇假設(shè)H1：\(\mu\neq1500\)。2.選擇顯著性水平\(\alpha=0.05\)。3.計算檢驗統(tǒng)計量Z：\(Z=\frac{\bar{X}-\mu_0}{\sigma/\sqrt{n}}=\frac{1500-1500}{100\sqrt{50}}=0\)。4.確定拒絕域。對于雙尾檢驗，拒絕域為Z\(\leq-1.96\)或Z\(\geq1.96\)。5.做出統(tǒng)計決策。因為檢驗統(tǒng)計量Z=0不落入拒絕域，所以接受原假設(shè)，即沒有足夠證據(jù)表明該廠生產(chǎn)的燈泡壽命不等于1500小時。2.檢驗新藥是否比現(xiàn)有藥物更有效。1.提出原假設(shè)H0：\(\mu_1=\mu_2\)和備擇假設(shè)H1：\(\mu_1<\mu_2\)。2.選擇顯著性水平\(\alpha=0.05\)。3.計算合并標準差s_p：\(s_p=\sqrt{\frac{(n_1-1)s_1^2+(n_2-1)s_2^2}{n_1+n_2-2}}=\sqrt{\frac{14\times5^2+14\times6^2}{28}}=\sqrt{\frac{350+504}{28}}=\sqrt{28.07}\approx5.3\)。4.計算檢驗統(tǒng)計量t：\(t=\frac{\bar{X}_1-\bar{X}_2}{s_p\sqrt{\frac{1}{n_1}+\frac{1}{n_2}}}=\frac{20-25}{5.3\sqrt{\frac{1}{15}+\frac{1}{15}}}=\frac{-5}{5.3\times0.346}\approx\frac{-5}{1.84}\approx-2.72\)。5.確定拒絕域。對于單尾檢驗，拒絕域為t\(\le