ICS7104099

CCSN.53.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T17366—2025

代替GB/T17366—1998

微束分析電子探針顯微分析

礦物巖石試樣的制備方法

Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—

Methodsofspecimenpreparationformineralsandrocks

2025-08-29發(fā)布2026-03-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T17366—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

儀器設(shè)備和材料

4…………………………1

試樣的基本要求

5…………………………2

試樣的制備方法

6…………………………2

試樣的鍍膜

7………………3

參考文獻(xiàn)

………………………4

Ⅰ

GB/T17366—2025

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替礦物巖石的電子探針分析試樣的制備方法與

GB/T17366—1998《》,GB/T17366—

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下

1998,,:

刪除了方法提要見年版的第章

a)“”(19983);

增加了術(shù)語和定義見第章

b)(3);

更改了對儀器設(shè)備和材料的要求見第章年版的第章

c)(4,19984);

更改了塊狀樣品顆粒樣品微細(xì)粉末樣品的制備和分析位置的標(biāo)記見年版

d)、、(6.2~6.5,1998

的和第章

6.1~6.47);

更改了試樣的鍍膜見第章年版的第章

e)(7,19988)。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本文件起草單位中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所核工業(yè)

:、、

北京地質(zhì)研究院首鋼集團(tuán)有限公司廣東省科學(xué)院工業(yè)分析檢測中心中國科學(xué)院化學(xué)研究所

、、、。

本文件主要起草人陳振宇毛騫范光鞠新華伍超群王巖華周劍雄

:、、、、、、。

本文件于年首次發(fā)布本次為第一次修訂

1998,。

Ⅲ

GB/T17366—2025

微束分析電子探針顯微分析

礦物巖石試樣的制備方法

1范圍

本文件描述了各類礦物巖石等地質(zhì)樣品的電子探針顯微分析試樣的通用制備方法

、。

本文件適用于礦物巖石的電子探針顯微分析試樣的制備

、。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

微束分析用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法

GB/T41074

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

光片polishedsection

將塊狀巖石或礦石樣品切割磨制成一定大小單面拋光能在反射光下顯微觀察的試樣

、、。

注光片一般適用于不透明金屬礦物較多的樣品

:。

32

.

光薄片thinsection

將塊狀巖石或礦石樣品切割磨制成一定大小雙面拋光能在透射光和反射光下顯微觀察的試樣

、、。

注光薄片一般適用于以透明礦物為主的巖石樣品磨制厚度根據(jù)顯微鏡觀察需要一般為

:,