CNAS-GL054測量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南GuidelinesforDeterminationandAdjustmentofCalibrationIntervalsofMeasuringEquipment中國合格評定國家認(rèn)可委員會測量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南本文件適用于實(shí)驗(yàn)室等合格評定機(jī)構(gòu)和其他相關(guān)方對測量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定CIPMMRA-G-13:2022CIPM4.8實(shí)驗(yàn)室宜選擇適當(dāng)?shù)姆椒ㄓ糜诖_定校準(zhǔn)周期，并將所選用的方法進(jìn)行文件化規(guī)d)制造商關(guān)于測量設(shè)備的建議(如當(dāng)實(shí)驗(yàn)室根據(jù)儀器準(zhǔn)確度評定測量不確定度）；h)被測量對測量結(jié)果的影響(如高溫對熱電偶的影響)；），b)由于時間或使用而產(chǎn)生的漂移，測量設(shè)備的性能是否符合規(guī)定限值(如最大允勢可能表明有必要調(diào)整校準(zhǔn)周期。實(shí)驗(yàn)室有必要對校準(zhǔn)周期和設(shè)備性能進(jìn)行持續(xù)評6.2.3實(shí)驗(yàn)室不宜使用此方法設(shè)置過長的校準(zhǔn)周期，因?yàn)榭赡軙?dǎo)致召回大量證書/a)不適用于包含無源(不需額外的能量輸入源提供輸出)測量儀器(如衰減器)或無進(jìn)行簡單快速核查的情況。實(shí)驗(yàn)室使用便攜式校準(zhǔn)裝置對關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行頻繁核查(如測量設(shè)備超出最大允許誤差(或其他規(guī)定限值)，需對測量設(shè)備進(jìn)行全面的校準(zhǔn)和調(diào)6.5.3該方法在原則上非?？煽浚泊嬖诓淮_定性，因?yàn)闇y量設(shè)備可能在“黑盒”中高中高中低高中低高中中低中低中低高高低中中中高中“階梯調(diào)整法”。I1=I0(1+a)I1=I0(1-b)b=1-(1+a)-Rt/(1-Rt)A.4通常情況下，實(shí)驗(yàn)室可先設(shè)定a值和長期平均測量可靠性目標(biāo)Rt值，b值可通過公式（A.3）計算。a值和b值確定后，也可得到對應(yīng)的長期平均測量可靠性目標(biāo)Rt，A.5選擇a值時，實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)以下情況進(jìn)行權(quán)衡：a值越大，則該方法使校準(zhǔn)周期值/mm/μm/μm/μm/μm/μm/μmB.1增量反應(yīng)調(diào)整法也是基于測量設(shè)備的校準(zhǔn)結(jié)果對其校準(zhǔn)周期進(jìn)行調(diào)整的一種簡B.3調(diào)整后的校準(zhǔn)周期Im+1與調(diào)整前的校Im+1=Im[1+Δm+1(-R)1-y(R)y]（B.1））：滿足要求時ym=0；準(zhǔn)準(zhǔn)準(zhǔn)1±1.02±1.2±1.25±1.6±2.0±2.5±2.5±3.0±5.056553±1066553±1077668±25I3I4C.1期間核查法適用于實(shí)驗(yàn)室已配置有效核查C.2根據(jù)方法要求和使用需求，實(shí)驗(yàn)室可選擇重要參