2025年ISTQB軟件測(cè)試工程師模擬試卷基礎(chǔ)考試時(shí)間：______分鐘總分：______分姓名：______一、選擇題（請(qǐng)選擇最合適的答案）1.軟件測(cè)試的目的是發(fā)現(xiàn)軟件中的缺陷，但其最終目標(biāo)通常被認(rèn)為是？A.證明軟件是完美的B.在交付前盡可能多地發(fā)現(xiàn)并修復(fù)缺陷C.確保軟件滿足所有用戶需求D.降低軟件維護(hù)成本2.將測(cè)試活動(dòng)看作是一個(gè)按階段執(zhí)行的流程，每個(gè)階段產(chǎn)生下一個(gè)階段所需的輸入，這種模型通常被稱為？A.V模型B.W模型C.迭代模型D.漏斗模型3.在軟件測(cè)試中，將輸入數(shù)據(jù)分為幾組，每組數(shù)據(jù)根據(jù)預(yù)定條件能夠決定測(cè)試結(jié)果是否通過，這種測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)是？A.等價(jià)類劃分B.邊界值分析C.判定表D.用例設(shè)計(jì)4.以下哪一項(xiàng)不是軟件測(cè)試的基本原則？A.早測(cè)試原則B.完整性測(cè)試原則C.無效測(cè)試原則D.測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單5.在軟件測(cè)試過程中，負(fù)責(zé)記錄發(fā)現(xiàn)的缺陷、其詳細(xì)信息以及缺陷處理狀態(tài)的人員通常是？A.測(cè)試經(jīng)理B.開發(fā)人員C.業(yè)務(wù)分析師D.測(cè)試工程師6.在測(cè)試過程中，根據(jù)產(chǎn)品的規(guī)格說明或用戶需求，檢查軟件的每個(gè)功能是否按預(yù)期工作，這種測(cè)試類型屬于？A.靜態(tài)測(cè)試B.動(dòng)態(tài)測(cè)試C.回歸測(cè)試D.模糊測(cè)試7.缺陷的嚴(yán)重性等級(jí)通常不包括以下哪一類別？A.輕微B.一般C.嚴(yán)重D.理想8.在測(cè)試過程中，如果發(fā)現(xiàn)一個(gè)已知缺陷，但該缺陷已被標(biāo)記為“已解決，不適用”，這意味著？A.該缺陷已經(jīng)被修復(fù)B.該缺陷不需要修復(fù)C.該缺陷已經(jīng)被忽略D.該缺陷需要重新測(cè)試9.以下哪個(gè)活動(dòng)通常不屬于測(cè)試設(shè)計(jì)階段？A.編寫測(cè)試計(jì)劃B.選擇測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法C.執(zhí)行測(cè)試用例D.分析等價(jià)類邊界10.ISTQB是哪個(gè)組織的縮寫？A.InternationalSoftwareTestingQualificationsBoardB.InstituteofSoftwareTestingProfessionalsC.InformationSystemsTechnologyQualificationBoardD.InternationalTestingStandardsQuestionBank11.在軟件開發(fā)生命周期中，測(cè)試活動(dòng)通常在哪個(gè)階段開始？A.需求分析階段B.設(shè)計(jì)階段C.編碼階段D.測(cè)試階段12.測(cè)試項(xiàng)選擇（TestItemSelection）在測(cè)試過程模型中通常位于哪個(gè)階段之后？A.測(cè)試執(zhí)行B.測(cè)試設(shè)計(jì)C.測(cè)試規(guī)劃D.測(cè)試評(píng)估13.在進(jìn)行狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖測(cè)試時(shí)，主要關(guān)注的是軟件系統(tǒng)狀態(tài)的？A.數(shù)量B.變化及其正確性C.穩(wěn)定性D.復(fù)雜性14.當(dāng)測(cè)試發(fā)現(xiàn)一個(gè)缺陷，但開發(fā)人員認(rèn)為這不是一個(gè)真正的缺陷時(shí)，該缺陷的狀態(tài)可能變?yōu)?？A.已解決，關(guān)閉B.已解決，不適用C.已解決，延期D.已解決，重新打開15.測(cè)試層次從低到高排列，通常不包括以下哪個(gè)層次？A.集成測(cè)試B.系統(tǒng)測(cè)試C.單元測(cè)試D.驗(yàn)收測(cè)試16.靜態(tài)測(cè)試主要是指？A.通過運(yùn)行程序來發(fā)現(xiàn)缺陷B.不運(yùn)行程序，通過分析代碼、文檔等進(jìn)行檢查C.在測(cè)試環(huán)境中進(jìn)行的測(cè)試D.由最終用戶進(jìn)行的測(cè)試17.測(cè)試計(jì)劃是測(cè)試過程中的重要文檔，其主要目的是？A.描述測(cè)試用例的詳細(xì)信息B.規(guī)劃測(cè)試活動(dòng)、資源、進(jìn)度和風(fēng)險(xiǎn)C.記錄測(cè)試執(zhí)行過程中發(fā)現(xiàn)的缺陷D.分析測(cè)試結(jié)果并生成測(cè)試報(bào)告18.在測(cè)試過程中，如果修復(fù)了一個(gè)缺陷，但引入了新的缺陷，這個(gè)過程稱為？A.缺陷發(fā)現(xiàn)B.缺陷修復(fù)C.缺陷回歸D.缺陷升級(jí)19.以下哪個(gè)術(shù)語描述的是將測(cè)試活動(dòng)組織成多個(gè)迭代周期，每個(gè)周期都包含需求、設(shè)計(jì)、編碼和測(cè)試？A.V模型B.W模型C.迭代模型D.漏斗模型20.依據(jù)ISO/IEC/IEEE29119標(biāo)準(zhǔn)，哪個(gè)文檔通常在測(cè)試設(shè)計(jì)階段完成？A.測(cè)試計(jì)劃B.測(cè)試規(guī)格說明C.測(cè)試報(bào)告D.用戶手冊(cè)二、判斷題（請(qǐng)判斷下列說法的正誤）1.測(cè)試只能發(fā)現(xiàn)缺陷，不能防止缺陷。（）2.動(dòng)態(tài)測(cè)試通常涉及執(zhí)行程序并檢查其輸出。（）3.測(cè)試用例應(yīng)該包含測(cè)試步驟、預(yù)期結(jié)果和測(cè)試優(yōu)先級(jí)。（）4.缺陷優(yōu)先級(jí)是根據(jù)缺陷的重要性來劃分的，與發(fā)現(xiàn)缺陷的人員無關(guān)。（）5.測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試規(guī)格說明是同一個(gè)文檔。（）6.單元測(cè)試通常由開發(fā)人員執(zhí)行。（）7.集成測(cè)試的目標(biāo)是驗(yàn)證軟件模塊之間的接口和交互是否正確。（）8.系統(tǒng)測(cè)試是在所有模塊都集成完成之后進(jìn)行的，測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)。（）9.驗(yàn)收測(cè)試由最終用戶或客戶執(zhí)行，以確認(rèn)軟件是否滿足業(yè)務(wù)需求。（）10.測(cè)試過程是一個(gè)線性的、一次性的活動(dòng)。（）11.測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)只能用于設(shè)計(jì)功能測(cè)試用例。（）12.回歸測(cè)試是為了驗(yàn)證修復(fù)缺陷后沒有引入新的缺陷。（）13.測(cè)試經(jīng)理負(fù)責(zé)監(jiān)督整個(gè)測(cè)試過程，并報(bào)告測(cè)試結(jié)果。（）14.靜態(tài)測(cè)試只能通過代碼審查來完成。（）15.ISTQBFoundationLevel認(rèn)證考試是高級(jí)測(cè)試認(rèn)證。（）---試卷答案一、選擇題1.B*解析思路：軟件測(cè)試的主要目的是在發(fā)布前盡可能多地發(fā)現(xiàn)和修復(fù)缺陷，以降低缺陷對(duì)最終用戶和業(yè)務(wù)的影響。選項(xiàng)A不現(xiàn)實(shí)；選項(xiàng)C是測(cè)試的一個(gè)目標(biāo)，但不是最終目的；選項(xiàng)D與測(cè)試目的關(guān)系不大。2.A*解析思路：V模型強(qiáng)調(diào)開發(fā)階段（編碼、集成、系統(tǒng)）和測(cè)試階段（單元、集成、系統(tǒng)、驗(yàn)收）的對(duì)應(yīng)關(guān)系，形似字母V。W模型包含多個(gè)測(cè)試循環(huán)。迭代模型強(qiáng)調(diào)重復(fù)進(jìn)行開發(fā)測(cè)試活動(dòng)。漏斗模型描述測(cè)試過程會(huì)淘汰部分產(chǎn)品。3.A*解析思路：等價(jià)類劃分是將輸入數(shù)據(jù)劃分為若干個(gè)等價(jià)類，每個(gè)類中的任意一個(gè)數(shù)據(jù)值在測(cè)試中的作用是等價(jià)的，選擇其中一個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)試能代表整個(gè)等價(jià)類。邊界值分析是關(guān)注輸入或輸出范圍的邊界值。判定表用于描述復(fù)雜邏輯條件。用例設(shè)計(jì)是基于用例來設(shè)計(jì)測(cè)試。4.C*解析思路：軟件測(cè)試的基本原則包括：早期測(cè)試、全面測(cè)試（不完整性測(cè)試）、獨(dú)立測(cè)試、測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能簡(jiǎn)單、自動(dòng)化測(cè)試、回歸測(cè)試、缺陷集群現(xiàn)象、程序員應(yīng)避免檢查自己的代碼等。無效測(cè)試原則不是標(biāo)準(zhǔn)原則。5.D*解析思路：測(cè)試工程師是執(zhí)行測(cè)試、發(fā)現(xiàn)缺陷、記錄缺陷信息的主要人員。測(cè)試經(jīng)理負(fù)責(zé)管理。開發(fā)人員修復(fù)缺陷。業(yè)務(wù)分析師負(fù)責(zé)需求。6.B*解析思路：動(dòng)態(tài)測(cè)試是指通過運(yùn)行程序，輸入數(shù)據(jù)，觀察輸出結(jié)果，與預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較，以發(fā)現(xiàn)缺陷的測(cè)試活動(dòng)。靜態(tài)測(cè)試是不運(yùn)行程序進(jìn)行的測(cè)試?；貧w測(cè)試是修復(fù)缺陷后的重新測(cè)試。模糊測(cè)試是輸入無效或異常數(shù)據(jù)。7.D*解析思路：缺陷的嚴(yán)重性等級(jí)通常分為：嚴(yán)重（Blocker）、關(guān)鍵（Critical）、高（High）、中（Medium）、低（Low）、輕微（Minor）、建議（Suggestion）等。理想不是標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)重性等級(jí)。8.B*解析思路：“已解決，不適用”狀態(tài)表示開發(fā)人員確認(rèn)該缺陷確實(shí)不存在、不需要修復(fù)，或者原因已說明，不再視為缺陷。9.A*解析思路：編寫測(cè)試計(jì)劃屬于測(cè)試規(guī)劃階段的活動(dòng)。測(cè)試設(shè)計(jì)階段主要進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)。執(zhí)行測(cè)試階段運(yùn)行測(cè)試用例。分析等價(jià)類邊界是測(cè)試設(shè)計(jì)的技術(shù)。10.A*解析思路：ISTQB全稱為InternationalSoftwareTestingQualificationsBoard，即國(guó)際軟件測(cè)試資格認(rèn)證委員會(huì)。11.A*解析思路：在軟件開發(fā)生命周期中，需求分析階段是測(cè)試活動(dòng)的起點(diǎn)，測(cè)試人員早期介入可以幫助設(shè)計(jì)更有效的測(cè)試。12.C*解析思路：測(cè)試項(xiàng)選擇（TestItemSelection）即確定要測(cè)試的范圍，這通常在測(cè)試規(guī)劃階段進(jìn)行，為后續(xù)的測(cè)試設(shè)計(jì)和執(zhí)行提供基礎(chǔ)。13.B*解析思路：狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖測(cè)試的核心是驗(yàn)證軟件在不同狀態(tài)之間的轉(zhuǎn)換是否按預(yù)期進(jìn)行，關(guān)注的是狀態(tài)的變化及其觸發(fā)條件和結(jié)果。14.B*解析思路：當(dāng)開發(fā)人員認(rèn)為不是缺陷時(shí)，缺陷狀態(tài)通常被更改為“已解決，不適用”，表示該問題被排除在缺陷列表之外。15.A*解析思路：常見的測(cè)試層次包括：?jiǎn)卧獪y(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試（用戶驗(yàn)收測(cè)試/Alpha/Beta測(cè)試）。集成測(cè)試是模塊組合，系統(tǒng)測(cè)試是整個(gè)系統(tǒng)，驗(yàn)收測(cè)試是最終用戶確認(rèn)。測(cè)試項(xiàng)選擇不是測(cè)試層次。16.B*解析思路：靜態(tài)測(cè)試包括代碼審查、靜態(tài)分析工具檢查、設(shè)計(jì)文檔評(píng)審等，這些活動(dòng)都不需要運(yùn)行程序。17.B*解析思路：測(cè)試計(jì)劃的核心目的是明確測(cè)試的目標(biāo)、范圍、策略、資源、進(jìn)度、風(fēng)險(xiǎn)和交付物，為測(cè)試活動(dòng)提供指導(dǎo)和方向。18.C*解析思路：修復(fù)一個(gè)缺陷后，如果引入了新的缺陷，這個(gè)過程稱為缺陷回歸（DefectRegression），即修復(fù)引入了回歸。19.C*解析思路：迭代模型將軟件開發(fā)生命周期和測(cè)試活動(dòng)視為迭代的過程，每個(gè)迭代都包含開發(fā)和小型測(cè)試。20.B*解析思路：依據(jù)ISO/IEC/IEEE29119標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試規(guī)格說明（TestSpecification）文檔在測(cè)試設(shè)計(jì)階段完成，詳細(xì)描述了要執(zhí)行的測(cè)試項(xiàng)、測(cè)試用例、測(cè)試條件等。二、判斷題1.錯(cuò)*解析思路：測(cè)試的主要目的是發(fā)現(xiàn)缺陷，但通過有效的測(cè)試活動(dòng)和過程，可以在開發(fā)早期發(fā)現(xiàn)并修復(fù)缺陷，從而預(yù)防缺陷在生產(chǎn)環(huán)境中造成更嚴(yán)重的后果。2.對(duì)*解析思路：動(dòng)態(tài)測(cè)試的定義就是通過運(yùn)行程序，觀察其行為和輸出，與預(yù)期結(jié)果對(duì)比，發(fā)現(xiàn)運(yùn)行時(shí)的問題。3.對(duì)*解析思路：一個(gè)完整的測(cè)試用例通常包含：測(cè)試標(biāo)識(shí)、測(cè)試描述、前置條件、測(cè)試步驟、測(cè)試數(shù)據(jù)、預(yù)期結(jié)果和測(cè)試優(yōu)先級(jí)等要素。4.錯(cuò)*解析思路：缺陷優(yōu)先級(jí)不僅與缺陷的重要性（如是否影響核心功能、是否導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失）有關(guān)，還與缺陷的影響范圍、發(fā)生頻率、修復(fù)成本等多種因素有關(guān)。5.錯(cuò)*解析思路：測(cè)試計(jì)劃（TestPlan）和測(cè)試規(guī)格說明（TestSpecification）是兩個(gè)不同的文檔，分別用于規(guī)劃測(cè)試活動(dòng)和詳細(xì)描述測(cè)試內(nèi)容。6.對(duì)*解析思路：由于單元測(cè)試的對(duì)象是代碼級(jí)別的模塊，開發(fā)人員對(duì)其內(nèi)部邏輯最熟悉，因此通常由開發(fā)人員負(fù)責(zé)執(zhí)行單元測(cè)試。7.對(duì)*解析思路：集成測(cè)試的主要目標(biāo)就是驗(yàn)證不同軟件模塊之間的接口是否正確，數(shù)據(jù)是否能夠正確傳遞，以及模塊組合起來是否能按預(yù)期工作。8.對(duì)*解析思路：系統(tǒng)測(cè)試是在整個(gè)軟件系統(tǒng)（包括所有集成好的模塊）構(gòu)建完成后進(jìn)行的，目的是測(cè)試整個(gè)系統(tǒng)的功能、性能、安全性等是否滿足需求。9.對(duì)*解析思路：驗(yàn)收測(cè)試是軟件測(cè)試的最后一階段，通常由客戶、最終用戶或其代表執(zhí)行，目的是確認(rèn)軟件是否滿足業(yè)務(wù)需求和用戶期望，是否可以接受并部署。10.錯(cuò)*解析思路：測(cè)試過程不是線性的，而是一個(gè)迭代、增量的過程，可能需要根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整。測(cè)試活動(dòng)貫穿于整個(gè)軟件開發(fā)生命周期。11.錯(cuò)*解析思路：測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)不僅可以用于設(shè)計(jì)功能測(cè)試用例，也可以用于設(shè)計(jì)非功能測(cè)試用例，如性能測(cè)試、安全性測(cè)試、可用性測(cè)試等。12.對(duì)*解析思路：回歸測(cè)試的主要目的就是在軟件修復(fù)缺陷或進(jìn)行變更后，重新運(yùn)行相關(guān)的測(cè)試用例，以確保修復(fù)沒有引入新的缺陷（回歸缺陷），并且