《GB/T18310.2-2001纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件

基本試驗(yàn)和測(cè)量程序

第2-2部分:試驗(yàn)

配接耐久性》(2026年)深度解析目錄01配接耐久性為何是光互連器件可靠性核心?專(zhuān)家視角解析標(biāo)準(zhǔn)制定的底層邏輯與行業(yè)價(jià)值03配接耐久性試驗(yàn)的核心流程是什么?從樣品準(zhǔn)備到結(jié)果判定的全步驟專(zhuān)家拆解05不同類(lèi)型光器件的試驗(yàn)差異何在?針對(duì)連接器

適配器等的專(zhuān)項(xiàng)要求深度剖析07標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施中的常見(jiàn)疑點(diǎn)如何破解?實(shí)操中設(shè)備校準(zhǔn)

樣品處理等問(wèn)題的專(zhuān)家解答09標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際規(guī)范如何銜接?GB/T18310.2-2001的國(guó)際對(duì)標(biāo)與本土化創(chuàng)新解析02040608標(biāo)準(zhǔn)適用范圍如何精準(zhǔn)界定?從器件類(lèi)型到試驗(yàn)場(chǎng)景的全面覆蓋與邊界厘清

試驗(yàn)設(shè)備與環(huán)境有何硬性要求?解讀標(biāo)準(zhǔn)中確保試驗(yàn)準(zhǔn)確性的關(guān)鍵條件規(guī)范插入損耗與回波損耗如何監(jiān)測(cè)?標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)鍵性能參數(shù)的測(cè)量方法與精度控制試驗(yàn)結(jié)果的合格判定標(biāo)準(zhǔn)是什么?解讀標(biāo)準(zhǔn)中的閾值設(shè)定與失效分析邏輯面向5G與數(shù)據(jù)中心趨勢(shì),標(biāo)準(zhǔn)如何適配?配接耐久性試驗(yàn)的未來(lái)優(yōu)化方向預(yù)測(cè)配接耐久性為何是光互連器件可靠性核心？專(zhuān)家視角解析標(biāo)準(zhǔn)制定的底層邏輯與行業(yè)價(jià)值光互連器件配接耐久性的定義與核心內(nèi)涵配接耐久性指光互連器件在反復(fù)插拔配接過(guò)程中保持核心性能穩(wěn)定的能力，是衡量器件長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵指標(biāo)。其核心內(nèi)涵涵蓋機(jī)械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性光學(xué)性能持續(xù)性及環(huán)境適應(yīng)性三方面，直接決定光傳輸系統(tǒng)的運(yùn)行壽命與維護(hù)成本，是標(biāo)準(zhǔn)制定的核心錨點(diǎn)。（二）標(biāo)準(zhǔn)制定的行業(yè)背景與技術(shù)驅(qū)動(dòng)因素2001年前后，我國(guó)光通信產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展，光互連器件應(yīng)用場(chǎng)景激增，但不同廠商產(chǎn)品耐久性差異大，缺乏統(tǒng)一評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。為規(guī)范市場(chǎng)保障系統(tǒng)可靠性，基于國(guó)際電信聯(lián)盟相關(guān)建議，結(jié)合國(guó)內(nèi)產(chǎn)業(yè)實(shí)際需求，制定本標(biāo)準(zhǔn)，解決了此前試驗(yàn)方法不統(tǒng)一結(jié)果無(wú)可比性的痛點(diǎn)。（三）配接耐久性對(duì)光傳輸系統(tǒng)的全鏈路影響配接耐久性不足會(huì)導(dǎo)致器件插入損耗增大回波損耗惡化，引發(fā)信號(hào)衰減傳輸誤碼等問(wèn)題。在長(zhǎng)途通信數(shù)據(jù)中心等場(chǎng)景中，單個(gè)器件失效可能導(dǎo)致鏈路中斷，造成重大經(jīng)濟(jì)損失。標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)統(tǒng)一試驗(yàn)方法，確保器件滿(mǎn)足全鏈路可靠性要求，降低系統(tǒng)運(yùn)維風(fēng)險(xiǎn)。12專(zhuān)家視角：標(biāo)準(zhǔn)制定的底層邏輯與價(jià)值延伸從專(zhuān)家視角看，標(biāo)準(zhǔn)以“模擬實(shí)際使用場(chǎng)景”為底層邏輯，通過(guò)規(guī)定反復(fù)配接試驗(yàn)，還原器件生命周期內(nèi)的使用狀態(tài)。其價(jià)值不僅在于統(tǒng)一評(píng)價(jià)體系，更在于引導(dǎo)廠商優(yōu)化產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，推動(dòng)行業(yè)整體可靠性水平提升，為后續(xù)光通信技術(shù)升級(jí)奠定基礎(chǔ)。12標(biāo)準(zhǔn)適用范圍如何精準(zhǔn)界定？從器件類(lèi)型到試驗(yàn)場(chǎng)景的全面覆蓋與邊界厘清本標(biāo)準(zhǔn)適用于纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件中的各類(lèi)配接器件，包括光纖連接器適配器光分路器等具有配接功能的器件。范圍劃分以“配接動(dòng)作是否為器件核心功能”為依據(jù)，排除了無(wú)反復(fù)配接需求的固定連接器件，確保適用對(duì)象精準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)適用的核心器件類(lèi)型與范圍劃分010201（二）適用的試驗(yàn)場(chǎng)景與環(huán)境條件界定標(biāo)準(zhǔn)適用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下的定型試驗(yàn)出廠檢驗(yàn)及型式試驗(yàn)等場(chǎng)景，明確試驗(yàn)環(huán)境需滿(mǎn)足溫度15-35℃相對(duì)濕度45%-75%大氣壓力86-106kPa的條件。該界定既覆蓋了產(chǎn)業(yè)常用試驗(yàn)場(chǎng)景，又通過(guò)環(huán)境參數(shù)控制確保試驗(yàn)結(jié)果的可重復(fù)性。12（三）標(biāo)準(zhǔn)不適用的器件與場(chǎng)景說(shuō)明標(biāo)準(zhǔn)不適用于特殊環(huán)境（如高溫高濕強(qiáng)腐蝕）專(zhuān)用器件的配接耐久性試驗(yàn)，也不涵蓋有源器件的配接性能測(cè)試。對(duì)于一次性配接后無(wú)需重復(fù)插拔的器件，因無(wú)耐久性需求，同樣不在適用范圍內(nèi)，避免了標(biāo)準(zhǔn)濫用導(dǎo)致的評(píng)價(jià)偏差。適用范圍界定的實(shí)操指導(dǎo)意義精準(zhǔn)的范圍界定為廠商和檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供了明確指引：廠商可根據(jù)產(chǎn)品類(lèi)型判斷是否需遵循本標(biāo)準(zhǔn)，檢測(cè)機(jī)構(gòu)可據(jù)此選擇試驗(yàn)方案。這避免了試驗(yàn)資源浪費(fèi)，確保標(biāo)準(zhǔn)在核心領(lǐng)域的有效落地，同時(shí)為特殊場(chǎng)景器件的專(zhuān)項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)制定預(yù)留了空間。試驗(yàn)設(shè)備與環(huán)境有何硬性要求？解讀標(biāo)準(zhǔn)中確保試驗(yàn)準(zhǔn)確性的關(guān)鍵條件規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定配接耐久性試驗(yàn)設(shè)備需具備可編程的插拔次數(shù)控制功能，插拔速度0.5-1.5次/秒，定位精度±0.1mm，插拔力可調(diào)節(jié)范圍5-50N。設(shè)備還需配備光學(xué)性能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)模塊，確保試驗(yàn)過(guò)程中插入損耗和回波損耗數(shù)據(jù)的同步采集。核心試驗(yàn)設(shè)備的技術(shù)參數(shù)要求010201（二）光學(xué)測(cè)量?jī)x器的精度與校準(zhǔn)要求用于監(jiān)測(cè)的光功率計(jì)精度需達(dá)到±0.05dB，回波損耗測(cè)試儀測(cè)量范圍不小于-60dB，精度±0.2dB。標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)制要求儀器需經(jīng)法定計(jì)量機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)，校準(zhǔn)周期不超過(guò)12個(gè)月，確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和溯源性，從源頭保障試驗(yàn)結(jié)果可靠。（三）試驗(yàn)環(huán)境的溫濕度與大氣壓力控制標(biāo)準(zhǔn)明確試驗(yàn)環(huán)境溫度需控制在15-35℃,波動(dòng)范圍不超過(guò)±2℃；相對(duì)濕度45%-75%，無(wú)凝露；大氣壓力86-106kPa。環(huán)境控制旨在消除溫濕度等因素對(duì)器件機(jī)械性能和光學(xué)性能的干擾，保證不同實(shí)驗(yàn)室間試驗(yàn)結(jié)果的一致性。12設(shè)備與環(huán)境合規(guī)性檢查的實(shí)操要點(diǎn)實(shí)操中，需在試驗(yàn)前24小時(shí)啟動(dòng)環(huán)境調(diào)控設(shè)備，確認(rèn)溫濕度穩(wěn)定達(dá)標(biāo)；設(shè)備需進(jìn)行空載試運(yùn)行，檢查插拔速度和定位精度；光學(xué)儀器需出示近期校準(zhǔn)證書(shū)。試驗(yàn)過(guò)程中每2小時(shí)記錄一次環(huán)境參數(shù)，確保全程符合要求，規(guī)避試驗(yàn)條件不合規(guī)導(dǎo)致的結(jié)果無(wú)效。配接耐久性試驗(yàn)的核心流程是什么？從樣品準(zhǔn)備到結(jié)果判定的全步驟專(zhuān)家拆解試驗(yàn)樣品的選取原則與數(shù)量要求1樣品需從同一批次同一型號(hào)產(chǎn)品中隨機(jī)選取，選取原則為“代表性”和“一致性”，需排除外觀缺陷初始性能不合格的產(chǎn)品。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定樣品數(shù)量不少于5件，確保試驗(yàn)結(jié)果具有統(tǒng)計(jì)意義，避免單一樣品異常導(dǎo)致的結(jié)論偏差，為批量產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)價(jià)提供可靠依據(jù)。2（二）樣品預(yù)處理的關(guān)鍵步驟與技術(shù)規(guī)范01預(yù)處理包括樣品清潔初始性能測(cè)試和狀態(tài)記錄。清潔需用專(zhuān)用光纖清潔紙蘸無(wú)水乙醇擦拭端面，避免污漬影響光學(xué)性能；初始測(cè)試需測(cè)量插入損耗和回波損耗，記錄基準(zhǔn)數(shù)據(jù)；狀態(tài)記錄包括樣品編號(hào)生產(chǎn)批號(hào)外觀照片等，為試驗(yàn)后追溯提供完整信息。02（三）配接耐久性試驗(yàn)的執(zhí)行流程與操作要點(diǎn)執(zhí)行流程為：安裝樣品→設(shè)定試驗(yàn)參數(shù)（插拔次數(shù)速度力）→啟動(dòng)設(shè)備并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光學(xué)性能→每100次插拔后停機(jī)復(fù)測(cè)→達(dá)到規(guī)定次數(shù)后停止試驗(yàn)。操作要點(diǎn)包括確保樣品安裝牢固無(wú)松動(dòng)，監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)異常時(shí)立即停機(jī)排查，避免設(shè)備故障或樣品損壞影響試驗(yàn)。試驗(yàn)后樣品的處理與數(shù)據(jù)整理要求試驗(yàn)后需對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢查，記錄端面磨損結(jié)構(gòu)變形等情況；重復(fù)測(cè)量光學(xué)性能，與初始數(shù)據(jù)對(duì)比；整理監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，繪制插拔次數(shù)與性能變化曲線。數(shù)據(jù)需按規(guī)定格式記錄，包括試驗(yàn)條件過(guò)程數(shù)據(jù)最終結(jié)果等，確保數(shù)據(jù)完整可追溯，為結(jié)果判定提供充分依據(jù)。插入損耗與回波損耗如何監(jiān)測(cè)？標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)鍵性能參數(shù)的測(cè)量方法與精度控制插入損耗的定義與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量原理插入損耗指光信號(hào)通過(guò)配接器件后功率的衰減程度，是衡量器件光學(xué)性能的核心指標(biāo)。標(biāo)準(zhǔn)采用“替代法”測(cè)量：先將光源與光功率計(jì)直接連接，記錄基準(zhǔn)功率；再接入樣品，測(cè)量通過(guò)后的功率，兩者差值即為插入損耗，該原理確保測(cè)量結(jié)果直接反映器件對(duì)光信號(hào)的衰減影響。（二）插入損耗測(cè)量的實(shí)操步驟與精度保障措施01實(shí)操步驟：連接測(cè)試系統(tǒng)→預(yù)熱光源30分鐘→校準(zhǔn)光功率計(jì)→測(cè)量基準(zhǔn)功率→接入樣品測(cè)量→重復(fù)測(cè)量3次取平均值。精度保障措施包括使用穩(wěn)定的激光光源（波長(zhǎng)穩(wěn)定性±0.5nm），測(cè)量時(shí)避免光源抖動(dòng)，每次測(cè)量前重新校準(zhǔn)，確保誤差控制在±0.05dB內(nèi)。02（三）回波損耗的定義與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法01回波損耗指反射光功率與入射光功率的比值，反映器件對(duì)光信號(hào)反射的抑制能力。標(biāo)準(zhǔn)采用“光時(shí)域反射法（OTDR）”或“回波損耗測(cè)試儀直接測(cè)量法”，前者通過(guò)分析反射光的時(shí)間和強(qiáng)度計(jì)算損耗，后者直接接收反射光并顯示數(shù)值，兩種方法可根據(jù)場(chǎng)景選擇使用。02回波損耗測(cè)量的干擾因素與排除技巧主要干擾因素包括端面污漬測(cè)試線纜反射光源噪聲等。排除技巧：測(cè)量前徹底清潔樣品和測(cè)試線纜端面；使用低反射測(cè)試線纜，減少系統(tǒng)自身反射；采用平均測(cè)量模式（測(cè)量次數(shù)≥10次），抑制光源噪聲影響，確保測(cè)量精度達(dá)到±0.2dB的要求。不同類(lèi)型光器件的試驗(yàn)差異何在？針對(duì)連接器適配器等的專(zhuān)項(xiàng)要求深度剖析光纖連接器的配接耐久性專(zhuān)項(xiàng)要求光纖連接器試驗(yàn)重點(diǎn)關(guān)注插拔次數(shù)（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不少于1000次）端面磨損情況及性能穩(wěn)定性。針對(duì)SCLC等不同型號(hào)，需匹配專(zhuān)用夾具確保插拔同心度；試驗(yàn)后插入損耗變化量不超過(guò)0.3dB，回波損耗變化量不超過(guò)5dB，且端面無(wú)明顯劃痕或破損。12（二）光適配器的試驗(yàn)重點(diǎn)與性能評(píng)價(jià)指標(biāo)光適配器試驗(yàn)核心是接口適配性和重復(fù)配接穩(wěn)定性，插拔次數(shù)要求不少于5000次（因常作為中間連接部件，使用頻率更高）。試驗(yàn)中需監(jiān)測(cè)插拔力變化（初始值5-15N，試驗(yàn)后變化量不超過(guò)±5N），且適配不同品牌連接器時(shí)，插入損耗波動(dòng)不超過(guò)0.2dB。（三）光分路器等復(fù)合器件的試驗(yàn)特殊考量光分路器等復(fù)合器件需兼顧配接耐久性和分光性能穩(wěn)定性。試驗(yàn)時(shí)除常規(guī)插拔測(cè)試外，需監(jiān)測(cè)各輸出端的插入損耗一致性（差異不超過(guò)0.5dB）。插拔次數(shù)不少于2000次，試驗(yàn)后分光比變化量不超過(guò)±5%，確保配接動(dòng)作不影響核心分光功能。不同器件試驗(yàn)方案的差異化設(shè)計(jì)邏輯差異化設(shè)計(jì)邏輯基于器件的使用場(chǎng)景和功能定位：連接器直接手持插拔，故側(cè)重端面保護(hù)和單次插拔性能；適配器作為固定接口，側(cè)重長(zhǎng)期重復(fù)使用的穩(wěn)定性；復(fù)合器件因功能復(fù)雜，需平衡配接性能與核心功能。該設(shè)計(jì)確保試驗(yàn)更貼合實(shí)際使用需求，評(píng)價(jià)更精準(zhǔn)。12試驗(yàn)結(jié)果的合格判定標(biāo)準(zhǔn)是什么？解讀標(biāo)準(zhǔn)中的閾值設(shè)定與失效分析邏輯核心性能參數(shù)的合格閾值設(shè)定依據(jù)合格閾值基于“實(shí)際使用極限”和“產(chǎn)業(yè)技術(shù)水平”設(shè)定：插入損耗變化量≤0.3dB（確保信號(hào)傳輸衰減在系統(tǒng)容忍范圍內(nèi)），回波損耗變化量≤5dB（避免反射信號(hào)干擾系統(tǒng)），插拔力變化量≤±5N（保證操作便捷性）。閾值經(jīng)大量試驗(yàn)驗(yàn)證，兼顧可靠性與可行性。12（二）外觀與機(jī)械性能的合格判定要求外觀要求：試驗(yàn)后器件無(wú)裂紋變形部件脫落，光纖端面無(wú)明顯劃痕污漬或破損。機(jī)械性能要求：插拔動(dòng)作順暢無(wú)卡滯，定位機(jī)構(gòu)精準(zhǔn)，鎖緊裝置牢固（拉力測(cè)試≥50N不松動(dòng)）。外觀和機(jī)械性能不合格即使光學(xué)性能達(dá)標(biāo)，仍判定為不合格，因存在安全隱患。（三）試驗(yàn)結(jié)果的統(tǒng)計(jì)判定方法與樣本要求01采用“樣本合格判定”法：5件樣品中，至少4件滿(mǎn)足所有合格要求，且不合格樣品的性能偏差不超過(guò)閾值的1.5倍，可判定該批次合格。若2件及以上不合格，需加倍抽樣復(fù)試；復(fù)試仍不合格，則判定批次不合格，該方法兼顧了統(tǒng)計(jì)可靠性與產(chǎn)業(yè)實(shí)際生產(chǎn)偏差。02失效模式分析與不合格品追溯流程失效模式包括光學(xué)性能超標(biāo)機(jī)械結(jié)構(gòu)損壞外觀缺陷等。分析需通過(guò)拆解樣品追溯試驗(yàn)數(shù)據(jù)，定位失效原因（如材料疲勞結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)缺陷加工精度不足）。不合格品需記錄編號(hào)失效模式原因分析結(jié)果，建立追溯臺(tái)賬，為廠商改進(jìn)提供數(shù)據(jù)支持。標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施中的常見(jiàn)疑點(diǎn)如何破解？實(shí)操中設(shè)備校準(zhǔn)樣品處理等問(wèn)題的專(zhuān)家解答試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)周期與校準(zhǔn)方法疑點(diǎn)解答常見(jiàn)疑點(diǎn)：校準(zhǔn)周期是否可根據(jù)使用頻率調(diào)整？專(zhuān)家解答：標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定12個(gè)月為最長(zhǎng)周期，使用頻率高（每日≥8小時(shí)）可縮短至6個(gè)月。校準(zhǔn)需委托法定計(jì)量機(jī)構(gòu)，采用“標(biāo)準(zhǔn)件比對(duì)法”：用已知性能的標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試設(shè)備，確保測(cè)量誤差在允許范圍內(nèi)，校準(zhǔn)后需粘貼合格標(biāo)識(shí)。12（二）樣品清潔不徹底導(dǎo)致的試驗(yàn)誤差破解技巧清潔不徹底會(huì)導(dǎo)致初始插入損耗偏高，試驗(yàn)后變化量誤判。破解技巧：采用“三步清潔法”——先用壓縮空氣吹除浮塵，再用專(zhuān)用清潔紙蘸無(wú)水乙醇沿同一方向擦拭，最后用干清潔紙擦干；清潔后用顯微鏡檢查端面，確保無(wú)污漬。清潔后30分鐘內(nèi)完成初始測(cè)試，避免二次污染。（三）環(huán)境溫濕度波動(dòng)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的影響及控制溫濕度波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致器件材料熱脹冷縮，影響插拔力和光學(xué)性能?？刂品椒ǎ涸囼?yàn)前啟動(dòng)恒溫恒濕箱24小時(shí)，將波動(dòng)范圍控制在±1℃和±5%RH內(nèi)；試驗(yàn)過(guò)程中若環(huán)境參數(shù)超出范圍，立即暫停試驗(yàn)，待恢復(fù)穩(wěn)定后重新開(kāi)始，已完成的插拔次數(shù)作廢，避免數(shù)據(jù)失真。12多批次試驗(yàn)結(jié)果不一致的原因分析與解決1不一致原因包括樣品批次差異設(shè)備狀態(tài)變化環(huán)境控制不當(dāng)?shù)?。解決措施：每批次試驗(yàn)前重新校準(zhǔn)設(shè)備；選取樣品時(shí)增加隨機(jī)抽樣比例（從5件增至8件）；記錄每批次試驗(yàn)的環(huán)境參數(shù)設(shè)備狀態(tài)，建立對(duì)比分析臺(tái)賬，定位差異根源，針對(duì)性?xún)?yōu)化試驗(yàn)流程或產(chǎn)品生產(chǎn)工藝。2面向5G與數(shù)據(jù)中心趨勢(shì)，標(biāo)準(zhǔn)如何適配？配接耐久性試驗(yàn)的未來(lái)優(yōu)化方向預(yù)測(cè)（五）

5G基站高頻率配接場(chǎng)景對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的新需求5G基站建設(shè)中，

光器件需頻繁插拔調(diào)試（年均插拔次數(shù)達(dá)500-1000次）

，

對(duì)耐久性要求更高

?，F(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)1000次插拔要求已接近使用極限，

新需求包括提高插拔次數(shù)至2000次

增加振動(dòng)環(huán)境下的耐久性測(cè)試，以及縮短試驗(yàn)時(shí)間以適配基站快速部署節(jié)奏。（六）

數(shù)據(jù)中心高密度互連對(duì)配接耐久性的影響數(shù)據(jù)中心采用高密度連接器（如MPO/MTP，

單器件可連接12/24芯）

，

配接時(shí)需更高定位精度，

且插拔力不均易導(dǎo)致部分纖芯性能異常

。

對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的影響包括：增加多芯同步插拔試驗(yàn)要求，明確芯間插入損耗差異閾值

(

≤0.2dB）

，

以及規(guī)范高密度器件的夾具設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。（七）

標(biāo)準(zhǔn)適配未來(lái)技術(shù)趨勢(shì)的優(yōu)化方向預(yù)測(cè)未來(lái)優(yōu)化方向包括：

一是擴(kuò)展試驗(yàn)環(huán)境范圍，

增加高溫（65℃)

低溫（-40℃)

等極端環(huán)境試驗(yàn)；

二是引入自動(dòng)化試驗(yàn)系統(tǒng)，

實(shí)現(xiàn)樣品自動(dòng)上下料

數(shù)據(jù)自動(dòng)分析；

三是結(jié)合AI

技術(shù)，

通過(guò)大數(shù)據(jù)分析預(yù)測(cè)器件耐久性壽命；四是針對(duì)硅光器件等新型器件，

補(bǔ)充專(zhuān)項(xiàng)試驗(yàn)要求。（八）

企業(yè)基于標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)升級(jí)與產(chǎn)品創(chuàng)新建議企業(yè)建議：

一是采用新型材料（如陶瓷插芯表面鍍金剛石膜）

提高耐磨性，

延長(zhǎng)耐久性壽命；

二是優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，

如采用浮動(dòng)接口減少插拔對(duì)端面的沖擊；

三是建立試驗(yàn)數(shù)據(jù)與產(chǎn)品設(shè)計(jì)的聯(lián)動(dòng)機(jī)制，

通過(guò)試驗(yàn)結(jié)果反推設(shè)計(jì)改進(jìn)；四是提前布局極端環(huán)境專(zhuān)用器件研發(fā)，

適配5G和數(shù)據(jù)中心發(fā)展需求。十

標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)際規(guī)范如何銜接？

GB/T

18310.2-2001的國(guó)際對(duì)標(biāo)與本土化創(chuàng)新解析（九）

國(guó)際主流配接耐久性試驗(yàn)規(guī)范現(xiàn)狀梳理國(guó)際主流規(guī)范包括IEC61300-2-2（國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)）

EIA/TIA-568（美國(guó)電信工業(yè)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)）。

IEC61300-2-2