ICS31200

CCSL.56

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T429683—2025

.

集成電路電磁抗擾度測量

第3部分大電流注入BCI法

:()

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part3BulkcurrentinectionBCImethod

:j()

2025-12-02發(fā)布2025-12-02實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T429683—2025

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

通則

4………………………1

試驗(yàn)條件

5…………………2

通用要求

5.1……………2

試驗(yàn)設(shè)備

5.2……………2

試驗(yàn)板

5.3………………3

試驗(yàn)程序

6…………………4

電磁場危害

6.1…………………………4

正向功率限制的校準(zhǔn)

6.2………………4

試驗(yàn)

6.3BCI……………5

試驗(yàn)布置表征程序

6.4BCI……………6

試驗(yàn)報(bào)告

7…………………7

附錄資料性試驗(yàn)板和試驗(yàn)布置示例

A()RF……………8

附錄資料性試驗(yàn)電平和頻率步進(jìn)選擇示例

B()………9

附錄資料性試驗(yàn)板和試驗(yàn)布置示例

C()BCI…………11

參考文獻(xiàn)

……………………14

Ⅰ

GB/T429683—2025

.

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成電路電磁抗擾度測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下

GB/T42968《》3。GB/T42968

部分

:

第部分通用條件和定義

———1:;

第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法

———2:TEMTEM;

第部分大電流注入法

———3:(BCI);

第部分射頻功率直接注入法

———4:;

第部分工作臺(tái)法拉第籠法

———5:;

第部分輻射抗擾度測量帶狀線法

———8:IC;

第部分輻射抗擾度測量表面掃描法

———9:。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本文件由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC599)。

本文件起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司河南

:、、

凱瑞車輛檢測認(rèn)證中心有限公司天津先進(jìn)技術(shù)研究院廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司北京智芯微電

、、、

子科技有限公司工業(yè)和信息化部電子第五研究所中山大學(xué)中國汽車工程研究院股份有限公司南京

、、、、

容向測試設(shè)備有限公司北汽福田汽車股份有限公司中汽研新能源汽車檢驗(yàn)中心天津有限公司

、、()、

國網(wǎng)電力科學(xué)研究院有限公司東南大學(xué)中國合格評(píng)定國家認(rèn)可中心蘇州泰思特電子科技有限公司

、、、、

青島市產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)研究院中國信息通信研究院北京福測電子儀器有限公司宇通客車股份有限公

、、、

司中家院北京檢測認(rèn)證有限公司廣州汽車集團(tuán)股份有限公司汽車工程研究院湖南進(jìn)芯電子科技

、()、、

有限公司廣州市愛浦電子科技有限公司

、。

本文件主要起草人付君崔強(qiáng)雷黎麗朱賽朱昨慶葉暢方文嘯鄒廣才張紅麗邵偉恒黃雪梅

:、、、、、、、、、、、

王文杰孫婧梁吉明邢立文李騰飛張潔楊志超周香劉佳胡小軍王紫任蘭德福張高杰張穎

、、、、、、、、、、、、、、

付國良易峰薛濤

、、。

Ⅲ

GB/T429683—2025

.

引言

為規(guī)范集成電路電磁抗擾度測量以及為集成電路制造商和檢測機(jī)構(gòu)提供不同的電磁抗擾度測量

,

方法規(guī)定了集成電路電磁抗擾度測量的通用條件定義和不同測量方法的試驗(yàn)程序和試

,GB/T42968、

驗(yàn)要求擬由個(gè)部分構(gòu)成

,7。

第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁抗擾度測量的通用條件和定義

———1:。。

第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬

———2:TEMTEM。TEM

帶小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

TEM。

第部分大電流注入法目的在于規(guī)定大電流注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———3:(BCI)。。

第部分射頻功率直接注入法目的在于規(guī)定射頻功率直接注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———4:。。

第部分工作臺(tái)法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺(tái)法拉第籠法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———5:。。

第部分輻射抗擾度測量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)

———8:IC。IC

要求

。

第部分輻射抗擾度測量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429683—2025

.

集成電路電磁抗擾度測量

第3部分大電流注入BCI法

:()

1范圍

本文件描述了在傳導(dǎo)射頻騷擾存在的情況下利用大電流注入法測量集成電路抗擾

(RF)(BCI)(IC)

度的試驗(yàn)方法例如由輻射騷擾引起的傳導(dǎo)騷擾這種方法僅用于有板外連線的例如連

,,RFRF。IC,

接到電纜束本試驗(yàn)方法把電流注入到一根或一組線纜

。RF。

本文件為設(shè)備中的半導(dǎo)體器件在無用電磁波環(huán)境下工作時(shí)的評(píng)估建立公共基礎(chǔ)

RF。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

集成電路電磁抗擾度測量第部分通用條件和定義

GB/T42968.1—20231:

3術(shù)語和定義

界定的術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T42968.1—2023。

4通則

的抗擾度或敏感度的特性對(duì)于印制電路板的最佳設(shè)計(jì)濾波器選用以及進(jìn)一步集

ICRF(),(PCB)、

成到電子系統(tǒng)都至關(guān)重要本文件定義了一種對(duì)由電磁騷擾產(chǎn)生的射頻電流的抗擾度測量方法

。IC