2026年無損檢測(cè)設(shè)備維護(hù)技師實(shí)操考核題集含答案一、選擇題（每題2分，共20題）說明：請(qǐng)選擇最符合題意的選項(xiàng)。1.某公司使用超聲波檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)壓力管道，發(fā)現(xiàn)設(shè)備顯示波形異常，以下哪項(xiàng)可能是主振晶體故障的原因？A.探頭與被檢件接觸不良B.主振晶體老化或損壞C.電纜連接松動(dòng)D.儀器電源電壓不穩(wěn)2.在渦流檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)探頭在工件表面移動(dòng)時(shí)信號(hào)不穩(wěn)定，可能的原因是？A.探頭頻率與工件材質(zhì)不匹配B.探頭線圈短路C.工件表面有油污D.儀器增益過高3.某射線檢測(cè)設(shè)備在使用過程中發(fā)現(xiàn)曝光時(shí)間明顯延長(zhǎng)，以下哪項(xiàng)檢查優(yōu)先級(jí)最高？A.檢查高壓發(fā)生器輸出電壓B.檢查濾光片是否完好C.檢查探測(cè)器是否臟污D.檢查電纜連接是否牢固4.磁粉檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)磁粉顯示的缺陷痕跡模糊不清，可能的原因是？A.磁粉粒度不合適B.磁場(chǎng)強(qiáng)度不足C.清理工序未達(dá)標(biāo)D.工件表面有油污5.某公司使用激光檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)軸承，發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)精度下降，以下哪項(xiàng)維護(hù)措施最有效？A.更換探頭B.校準(zhǔn)激光發(fā)射器C.清理光學(xué)鏡頭D.調(diào)整儀器增益6.聲發(fā)射檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)信號(hào)噪聲過大，可能的原因是？A.探頭與被檢件耦合不良B.檢測(cè)環(huán)境振動(dòng)劇烈C.儀器靈敏度設(shè)置過高D.探頭頻率與缺陷類型不匹配7.某公司使用熱成像檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)變壓器，發(fā)現(xiàn)熱像圖分辨率低，可能的原因是？A.探頭鏡頭臟污B.儀器電池電量不足C.溫度差過小D.儀器未校準(zhǔn)8.在滲透檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)滲透劑無法完全去除，可能的原因是？A.滲透劑與清洗劑不兼容B.清洗時(shí)間不足C.工件表面粗糙度過高D.滲透劑過期9.某公司使用內(nèi)窺鏡檢測(cè)管道內(nèi)部，發(fā)現(xiàn)圖像模糊，可能的原因是？A.光源亮度不足B.鏡頭臟污C.電纜信號(hào)干擾D.操作人員手法不當(dāng)10.在超聲波檢測(cè)中，若發(fā)現(xiàn)聲程測(cè)量不準(zhǔn)確，可能的原因是？A.探頭角度不正確B.工件材質(zhì)不均勻C.儀器聲程計(jì)算程序錯(cuò)誤D.探頭與被檢件耦合不良二、判斷題（每題1分，共10題）說明：請(qǐng)判斷下列說法是否正確。1.超聲波檢測(cè)中，探頭頻率越高，檢測(cè)深度越深。（×）2.磁粉檢測(cè)適用于檢測(cè)表面及近表面缺陷。（√）3.射線檢測(cè)的穿透能力與射線能量成正比。（√）4.渦流檢測(cè)對(duì)導(dǎo)電材料缺陷敏感，但對(duì)非導(dǎo)電材料無效。（√）5.聲發(fā)射檢測(cè)適用于動(dòng)態(tài)缺陷監(jiān)測(cè)。（√）6.熱成像檢測(cè)可以檢測(cè)設(shè)備的溫度分布，但不能判斷缺陷性質(zhì)。（√）7.滲透檢測(cè)的靈敏度受清洗效果影響較大。（√）8.內(nèi)窺鏡檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)管道內(nèi)部的腐蝕缺陷。（√）9.超聲波檢測(cè)中，聲程誤差主要來自探頭與被檢件的耦合。（×）10.激光檢測(cè)設(shè)備的精度受環(huán)境溫度影響較大。（√）三、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）說明：請(qǐng)簡(jiǎn)要回答下列問題。1.簡(jiǎn)述超聲波檢測(cè)設(shè)備日常維護(hù)的要點(diǎn)。答：-檢查探頭與電纜連接是否牢固；-校準(zhǔn)儀器頻率和靈敏度；-清理探頭和儀器表面；-檢查電源和接地是否正常；-定期測(cè)試聲程測(cè)量準(zhǔn)確性。2.簡(jiǎn)述磁粉檢測(cè)中，提高檢測(cè)靈敏度的方法。答：-選擇合適的磁粉粒度；-確保磁場(chǎng)強(qiáng)度足夠；-優(yōu)化磁粉施加方式；-延長(zhǎng)磁化時(shí)間；-使用高靈敏度磁粉。3.簡(jiǎn)述射線檢測(cè)設(shè)備曝光時(shí)間延長(zhǎng)的可能原因及解決方法。答：-原因：高壓發(fā)生器輸出電壓不足、濾光片過厚、探測(cè)器臟污；-解決方法：檢查并調(diào)整高壓發(fā)生器、更換或清理濾光片、校準(zhǔn)探測(cè)器。4.簡(jiǎn)述渦流檢測(cè)中，探頭頻率選擇的原則。答：-高頻適用于檢測(cè)微小缺陷；-低頻適用于檢測(cè)較大缺陷；-選擇頻率需考慮缺陷深度、工件材質(zhì)和形狀。5.簡(jiǎn)述聲發(fā)射檢測(cè)系統(tǒng)的基本組成。答：-檢測(cè)器（傳感器）；-信號(hào)放大器；-數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)；-分析軟件。6.簡(jiǎn)述熱成像檢測(cè)中，提高圖像質(zhì)量的方法。答：-調(diào)整探測(cè)器距離和角度；-確保溫度差足夠；-清理鏡頭；-校準(zhǔn)儀器。四、實(shí)操題（每題10分，共4題）說明：請(qǐng)根據(jù)實(shí)際操作要求回答問題。1.超聲波檢測(cè)設(shè)備故障排查：-設(shè)備顯示波形異常，可能的原因是什么？如何排查？答：-可能原因：探頭損壞、電纜故障、儀器內(nèi)部電路問題；-排查步驟：1.檢查探頭與電纜連接是否牢固；2.更換探頭測(cè)試；3.使用校準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器；4.若問題依舊，送修儀器內(nèi)部電路。2.磁粉檢測(cè)缺陷顯示不清的解決方法：-工件表面磁粉顯示模糊，如何處理？答：-檢查磁粉施加方式是否均勻；-確保清洗劑徹底去除殘留；-調(diào)整磁化電流；-使用高靈敏度磁粉。3.射線檢測(cè)曝光時(shí)間延長(zhǎng)處理：-曝光時(shí)間比正常值長(zhǎng)，如何解決？答：-檢查高壓發(fā)生器輸出電壓是否穩(wěn)定；-確認(rèn)濾光片厚度是否合適；-清理探測(cè)器表面；-校準(zhǔn)儀器曝光參數(shù)。4.內(nèi)窺鏡圖像模糊的排查：-內(nèi)窺鏡檢測(cè)時(shí)圖像模糊，可能的原因及解決方法？答：-可能原因：鏡頭臟污、光源亮度不足、電纜信號(hào)干擾；-解決方法：清理鏡頭、調(diào)整光源亮度、檢查電纜連接、減少環(huán)境振動(dòng)。答案與解析一、選擇題答案1.B2.B3.A4.A5.B6.B7.A8.B9.B10.C二、判斷題解析1.×（頻率越高，檢測(cè)深度越淺）2.√3.√4.√5.√6.√7.√8.√9.×（聲程誤差主要來自聲速測(cè)量）10.√三、簡(jiǎn)答題解析1.超聲波檢測(cè)設(shè)備維護(hù)要點(diǎn)：-探頭與電纜連接檢查、儀器校準(zhǔn)、清潔、電源檢查、聲程校準(zhǔn)。2.提高磁粉檢測(cè)靈敏度的方法：-磁粉粒度、磁場(chǎng)強(qiáng)度、磁粉施加方式、磁化時(shí)間、磁粉選擇。3.射線檢測(cè)曝光時(shí)間延長(zhǎng)處理：-高壓發(fā)生器、濾光片、探測(cè)器、儀器校準(zhǔn)。4.渦流檢測(cè)頻率選擇原則：-高頻檢測(cè)微小缺陷，低頻檢測(cè)較大缺陷，需結(jié)合缺陷深度、材質(zhì)和形狀。5.聲發(fā)射檢測(cè)系統(tǒng)組成：-檢測(cè)器、信號(hào)放大器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、分析軟件。6.熱成像檢測(cè)圖像質(zhì)量提升方法：-調(diào)整距離角度、確保溫度差、清潔鏡頭、校準(zhǔn)儀器。四、實(shí)操題解析1.超聲波檢測(cè)設(shè)備故障排查：-探頭、電纜、電路問題，排查步驟：檢查連接、更換探頭、校準(zhǔn)、內(nèi)部維修