C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)序文 11適用範(fàn)囲 12引用規(guī)格 13溫度変化のある実環(huán)境條件 24一般事項 24.1溫度変化試験の計畫 2 24.3試験の目的及び選択 3 34.5移し換え時間の選択 44.6溫度變化試験の適用限界 45試験の種類を選定するための指針 46初期測定及び最終測定 46.1初期測定 46.2最終測定 47試験Na:規(guī)定時間で移し換える溫度急変試験 57.1試験の概要 57.2試験手順 57.3後処理 67.4製品規(guī)格に規(guī)定する事項 68試験Nb:定速溫度変化試験 78.1試験の概要 78.2試験手順 78.3後処理 g8.4製品規(guī)格に規(guī)定する事項 89試験Nc:二液槽溫度急変試験 99.1試験の概要 99.2試験手順 99.3後処理 9.4製品規(guī)格に規(guī)定する事項 10試験報告書に記載する事項 C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)乙の規(guī)格仗,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第12條第1項の規(guī)定億基→寺,財團(tuán)法人日本電子部品信賴性セY久ー(RCJ)及述財團(tuán)法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)扒兮,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案蒼具Lて日本工業(yè)規(guī)格蒼制定寸八寺匕の申出爐南n,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會の審議蒼經(jīng)て,經(jīng)濟(jì)産業(yè)大臣爐制定L杞日本工業(yè)規(guī)格で南石。JISの溫度變化試驗(yàn)の規(guī)格億仗,乙札支でJISC0025[環(huán)境試驗(yàn)方法(電気·電子)溫度變化試驗(yàn)方法]爐制定之札て

杞爐,乙の規(guī)格の制定億X→て,JISC0025:1988仗麂止之札,乙の規(guī)格億置寺?lián)Q之兮札杞。乙の規(guī)格仗,著作榷法で保護(hù)対象匕女→て

石著作物で南石。乙の規(guī)格の一部爐,特許榷,出願公開後の特許出願又仗害用新案榷億抵觸寸石可能性爐南石乙匕億注意蒼喚起寸石。經(jīng)濟(jì)産業(yè)大i及述日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)在會仗,乙のX虧女特許榷,出願公開後の特許出願及述欠用新案榷億関打石確認(rèn)億→

て,責(zé)任仗古杞女

。JISC60068の規(guī)格群億仗,次億示寸部編成爐南石。JISC60068-1通則JISC60068-2-1第2-1部:低溫(耐寒性)試驗(yàn)方法(試驗(yàn)記號:A)JISC60068-2-2第2-2部:高溫(耐熱性)試驗(yàn)方法(試驗(yàn)記!號:B)JISC60068-2-6第2-6部:正弦波振動試驗(yàn)方法(試驗(yàn)記號:Fc)JISC60068-2-7加速度(定常)試驗(yàn)方法JISC60068-2-11臨水噴霧試驗(yàn)方法JISC60068-2-13減圧試驗(yàn)方法JISC60068-2-14第2-14部:溫度變化試驗(yàn)方法(試驗(yàn)記號:N)JISC60068-2-17封止(気密性)試驗(yàn)方法JISC60068-2-18第2-18部:耐水性試驗(yàn)及述指針JISC60068-2-20第2-20部:試驗(yàn)一試驗(yàn)Tー端子付部品の仗h愷付寸性及述仗h愷耐熱性試驗(yàn)方法JISC60068-2-21第2-21部:試驗(yàn)一試驗(yàn)U:端子強(qiáng)度試驗(yàn)方法JISC60068-2-27第2-27部:銜撃試驗(yàn)方法(試驗(yàn)記號:Ea)JISC60068-2-30溫濕度サイクル(12+12時間サイクル)試驗(yàn)方法JISC60068-2-31面落下,角落下及述耘倒(主匕Lて機(jī)器)試驗(yàn)方法JISC60068-2-32自然落下試驗(yàn)方法JISC60068-2-38溫濕度組合せ(サイクル)試驗(yàn)方法JISC60068-2-39第2-39部:低溫,減圧及述高溫高濕一連複合試驗(yàn)JISC60068-2-40JISC60068-2-41JISC60068-2-42接點(diǎn)及述接統(tǒng)部の二酸化硫黃試驗(yàn)方法JISC60068-2-43接點(diǎn)及述接統(tǒng)部の硫化水素試驗(yàn)方法JISC60068-2-45耐溶削性(洗凈溶削浸世寺)試驗(yàn)方法JISC60068-2-46接點(diǎn)及述接統(tǒng)部の硫化水素試驗(yàn)一指針第2-47部:動的試驗(yàn)での供試品の取付方法C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)格群の試験を適用する場合の指針JISC60068-2-49接點(diǎn)及び接続部の二酸化硫黃試験一指針JISC60068-2-50発熱供試品及び非発熱供試品に対する低溫ノ振動(正弦波)複合試験JISC60068-2-51発熱供試品及び非発熱供試品に対する高溫╱振動(正弦波)複合試験JISC60068-2-52塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶液)JISC60068-2-53発熱供試品及び非発熱供試品に対する低溫·高溫ノ振動(正弦波)複合試験の指針JISC60068-2-54はんだ付け性試験方法(平衡法)JISC60068-2-57時刻歷振動試験方法JISC60068-2-58表面実裝部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法JISC60068-2-60混合ガス流腐食試験JISC60068-2-61一逃耐候性試験JISC60068-2-64広帯域ランダム振動試験方法及び指針JISC60068-2-65第2-65部：音智振助JISC60068-2-66高溫高濕,定常(不飽和加圧水蒸気)JISC60068-2-67基本的に構(gòu)成部品を?qū)澫螭趣筏扛邷馗邼?定常狀態(tài)の促進(jìn)試験JISC60068-2-68砂じん(座)試験JISC60068-2-69第2-69部一試験一試験Te:表面実裝部品(SMD)のはんだ付け性試験方法(平衡法)JISC60068-2-70第2-70部:指及び手の擦れによる印字の摩滅試験JISC60068-2-75第2-75部:ハンマ試験JISC60068-2-77表面実裝部品(SMD)の本體強(qiáng)度及び耐衝撃性試験方法JISC60068-2-78第2-78部:高溫高濕(定常)試験方法JISC60068-2-80第2-80部:混合モード振動試験方法(試験記號:Fi)JISC60068-2-81第2-81部:衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法JISC60068-2-82第2-82部:試験一試験XW?:電気·電子部品のウィスカ試験方法JISC60068-3-1低溫試験及び高溫試験を理解するための必す(須)情報JISC60068-3-2第3-2部:溫度ノ減圧複合試験を理解するための必す(須)情報JISC60068-3-3機(jī)器の耐震試験方法の指針JISC60068-3-4第3-4部:高溫高濕試験の指針JISC60068-3-5第3-5部:溫度試験槽の性能確認(rèn)の指針JISC60068-3-6第3-6部:支援文書及び指針一溫濕度試験槽の性能確認(rèn)の指針JISC60068-3-7第3-7部:支援文書及び指針一負(fù)荷がある場合の低溫試験(試験A)及び高溫試験(試験B)の試験槽の溫度測定のための指針日本工業(yè)規(guī)格JIS(IEC60068-2-14:2009)第2-14部:溫度變化試験方法(試験記號:N)序文この規(guī)格は,2009年に第6版として発行されたIEC60068-2-14をはに,技術(shù)的內(nèi)容及び構(gòu)成を変史するなお,この規(guī)格で點(diǎn)線の下線を施してある?yún)⒖际马棨?対応國際規(guī)格にはない事項である。この規(guī)格は,部品,機(jī)器又はその他の製品(以下,供試品という。)が周囲溫度の急激な変化に耐える能力を試験する方法について規(guī)定する。この試験に必要な試験時間は,供試品の特性によって規(guī)定する。注記1この規(guī)格には,この規(guī)格を引用する個別の製品規(guī)格を作成する指針も規(guī)定する。溫度変化試験は,溫度変化又は溫度変化の繰返しが,供試品に與える影響を確かめること溫度変化又は溫度変化の繰返しの影響は,次の事項によって決まる。一高溫及び低溫での各試験溫度一供試品を高溫及び低溫に維持する時間一高溫と低溫との間の溫度変化率一試験サイクル數(shù)一供試品の內(nèi)部又は外部へ伝わる熱量注記2この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC60068-2-14:2009,Environmentaltesting—Part2-14:Tests—TestN:Changeoftemperature(IDT)なお,対応の程度を表す記號“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”この引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。JISC60068-2-1環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-1部:低溫(耐寒性)試験方法(試験記號:A)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-1,Environmentaltesting—Part2-1:Tests—TestA:Cold(IDT)2C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)JISC60068-2-2環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-2部:高溫(耐熱性)試験方法(試験記號:B)注記対応|川際規(guī)格:IEC60068-2-2,Environmentaltesting—Part2-2:Tests—TestB:Dryheat(IDT)JISC60068-2-6環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記號:Fc)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-6,Environmentaltesting—Part2-6:Tests—TestFc:Vibration(sinusoidal)(IDT)JISC60068-2-17環(huán)境試験方法一電気·電子一封止(気密性)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-17,Basicenvironmentaltestingprocedures—Part2:Tests—TestQ:Sealing(IDT)JISC60068-2-30環(huán)境試験方法(電気·電子)溫濕度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-30,Environmentaltesting—Part2-30:Tests—TestDb:Dampheat,cyclic(12h+12hcycle)(IDT)3溫度変化のある実環(huán)境條件電子裝置及び構(gòu)成機(jī)器の內(nèi)部では,通常,緩やかな溫度変化が起きる。裝置內(nèi)の機(jī)器は,電源を投入しない場合,裝置外面より緩やかな溫度変化を受ける。急激な溫度変化は,次の場合に考えられる。一裝置が,暖かな室內(nèi)から冷えた外気にさらされた場合,又はその逆の場合一裝置が,降雨によって突然冷卻された場合,又は冷水に浸された場合一外部に取り付けられた航空機(jī)用電子裝置の內(nèi)部の場合一輸送及び保管時に條件が変化する場合裝置は,電源投入後內(nèi)部に著しい溫度勾配が生じ,その構(gòu)成機(jī)器は,溫度変化によるストレスを受ける。例えば,大む力川の抵抗器に近い場所にある構(gòu)成機(jī)器は,その他の郁分が冷えていても熱の放射によって表面溫度が上昇する。人為的に冷卻される構(gòu)成機(jī)器は,冷卻裝置を起動したときに溫度が急激に変化することがある。構(gòu)成機(jī)器の急激な溫度変化は,裝ǔの製造工でも生じることがある。溫度変化の川數(shù),溫度差及びその時IIM隔が重要である。4一般事項4.1溫度変化試験の計畫溫度変化試験Na(規(guī)定時間で移し換える溫度急変試験,簡條7.參照),Nb(定速溫度変化試験.簡條.8參照)及びNc(二液槽溫度急変貳験..簡條9參照)は,低溫と高溫との間を,一方の溫度から他方の溫度へ,規(guī)定條件に従った移し換えを交互に行うものである。1サイクルの試験は,室溫から始まり第1の試験溫度,次に第2の試験溫度に移行し,室溫に戻して終わる。一室溫(試験室の溫度)一高溫Tg一低溫TA一さらし時間又は浸せき時間一高溫と低溫との移し換え時間又は溫度変化率3C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)一試験のサイクル數(shù)高溫及び低溫とは,多少の時問近れはあるが,大部分の供試品が到達(dá)していると考えられる周叫溫度を特例として,供試品の通常の保管又は動作溫度範(fàn)囲を超えた試験溫度を規(guī)定してもよい。この場合,規(guī)定した期間內(nèi)での厳しい溫度変化量が,使用環(huán)境より大きいので,試験は加速される。溫度変化試験は,次の場合に行うことが望ましい。一溫度が変化している狀態(tài)で電気的性能を評価する場合(試験Nbを選択)一溫度が変化している狀態(tài)で機(jī)械的性能を評価する場合(試験Nbを選択)一規(guī)定サイクル數(shù)の溫度急変を行った後に電気的性能を評価する場合(試験Na又は試験Ncを選択)一機(jī)構(gòu)部分,材料及び材料の組合せが,溫度急変に耐える適性を評価する場合(試験Na又は試験Ncを選択)一構(gòu)成機(jī)器の構(gòu)造が,人為的環(huán)境ストレスに耐える適性を評価する場合(試験Na又は試験Ncを選択)この規(guī)格で規(guī)定している試験方法は,低溫及び高溫の安定した溫度において動作させた場合の材料の諸定數(shù)の差異又は電気的性能を評価するためのものではない。4.4さらし時間又は浸せき時間の選択さらし時間又は浸せき時間(t)は,次の點(diǎn)に留意し,7.2.3,8.2.3,9.2.2又は製品規(guī)格で規(guī)定した要求b)溫度が安定した狀態(tài)とは,供試品と試験媒體との溫度差(AT)が3Kから5K以內(nèi)となる場合,又は製品規(guī)格に規(guī)定した溫度差となる場合をいう。溫度が安定するまでの時間(t)とは,試験の開始から溫度が規(guī)定した溫度差以內(nèi)になるまでの時問をいう。溫度測定のために,供試出上の任意の1點(diǎn)(又供試品の溫度TBAT溫度溫度tsTA時間図1ーさらし時間又は浸せき時間(t1)の決定4C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)t?≤0.05t?4.6溫度変化試験の適用限界注記二液槽法の適否を評価する場合,JISC60068-2-17による評価が役に立つことがある。最終測定においても影響が現(xiàn)れないことがある。しかし,引き続き行われる試験,JISC60068-2-17:封止6初期測定及び最終測定試験Na,Nb及びNcでは,いずれも同じ初期測定及び最終測定を行う。6.1初期測定6.2最終測定5C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)7試験Na:規(guī)定時間で移し換える溫度急変試験7.1試験の概要この試験は,供試品が周囲溫度の急激な変化に耐える能力を決定するために行う。この目的を達(dá)成する供試品は,包裝を解いた狀態(tài)で,かつ,スイッチを切り動作準(zhǔn)備狀態(tài)とするか,又は製品規(guī)格に規(guī)定し供試品を空気又は不活性ガス中で,低溫及び高溫に交互に置くことによって急激な溫度変化を與える。7.2試験手順二つの試験槽又は一つの槽で急激に溫度変化させることができる試験槽を用いる。二つの試験槽を用いる場合,それぞれ低溫用及び高溫用とし,製品規(guī)格に規(guī)定した時間內(nèi)に一つの槽から他の槽へ供試品を移すことができるように配置しなければならない。移し換えの方法は,手動又は自動のいずれの方法でもよ試験槽は,供試品が置かれている全ての場所で,試験に必要な溫度が維持できなければならない。供試品を入れた後,さらし時間の10%以下の時間で槽內(nèi)溫度が製品規(guī)格に規(guī)定する許容差內(nèi)に収まらな7.2.2供試品の取付け又は支持製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,取付具又は支持具は,熱伝導(dǎo)の小さいものを用い,取付具などからの熱影響を受けにくいようにする。複數(shù)の供試品を同時に試験する場合は,供試品間及び供試品と槽の內(nèi)壁との間で空気の流れを妨げないように供試品を配置する。試験の厳しさは,低溫,高溫,移し換え時四,さらし時問及びサイクル數(shù)の組合せで定める。低溫T?は,製品規(guī)格の規(guī)定によるものとし,試験溫度は,JISC60068-2-1及びJISC60068-2-2の試験高溫Tgは,裂品規(guī)格の規(guī)定によるものとし,試験溫度は,JISC60068-2-1低溫及び高溫の各さらし時間ィは,供試品の熱容量を考慮する必要がある。さらし時間tは,3時間,2時間,1時間,30分間若しくは10分間のいずれか,又は製品規(guī)格で指定してもよい。製品規(guī)格にさらし時間の規(guī)定がない場合には,3時間とする。サイクル數(shù)は,製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,5サイクルとする。注記10分間のさらし時間は,小さな供試品の試験に適用する。試験開始時には,供試品及び試験槽內(nèi)の溫度は,25℃±5℃(試験室の溫度)とする。製品規(guī)格に規(guī)定がある場合,供試品を規(guī)定の動作狀態(tài)にしなければならない。注記JSC.60068-1(通則)には,測定及び貳験のたぬの標(biāo)準(zhǔn)大気條件(標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài))の溫度は.15℃次の想定は二槽式燾想定した志ので點(diǎn)るが一槽式で行え場合で志同様で點(diǎn)る.溫度T?の低溫槽の中に供試品を入れる。低溫槽の槽內(nèi)溫度TAを規(guī)定のさらし時間t1の間維持する。供試品を槽に入れてから槽內(nèi)溫度が安定する6C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)次に,溫度Tgの高溫槽の中に供試品を入れる。低溫槽から高溫槽への移し換え時間ュは,3分間以內(nèi)と移し換え時間ュは,供試品を一方の槽から取り出す時間,移し換えのために試験室の周囲溫度にある時高溫槽の槽內(nèi)溫度Tgを,規(guī)定の試験時間t1の間維持する。供試品を槽に入A:第1サイクルの開始點(diǎn)試験後,供試品の溫度が安定するまで十分な時間,標(biāo)準(zhǔn)大気狀態(tài)に維持しなければならない。a)試験の種類b)前処理c)初期測定7C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)e)低溫TA高溫TBg)サイクル數(shù)h)試験中の測定及びノ又は負(fù)荷i)後処理j)最終測定k)その他,受渡當(dāng)事者間で合意した手順上の変更事項8試験Nb:定速溫度変化試験この試験は,供試品が周囲溫度の変化する條件に耐える能力及び╱又は機(jī)能を果たす能力を決定するために行う。供試品は,包裝を解いた狀態(tài)で,かつ,スイッチを切り動作準(zhǔn)備狀態(tài)とするか,又は製品規(guī)格に規(guī)定し供試品を規(guī)定の割合で溫度が変化する試験槽內(nèi)に置くことによって,空気中の溫度の変化にさらす。このさらし時間中,供試品の性能を測定してもよい。8.2試験手順8.2.1試験槽この試験に用いる槽は,供試品が置かれている有効空間で,次に示す條件で溫度サイクルを構(gòu)成できるc)試験に必要な溫度変化率で低溫から高溫,又は高溫から低溫へ変化できる。8.2.2供試品の取付け又は支持製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,取付具又は支持具は熱伝導(dǎo)の小さいものを用い,取付具などからの熱の影響を受けにくいようにする。複數(shù)の供試品を同時に試験する場合は,供試品間及び供試品と槽の內(nèi)壁との間で空気の流れを妨げないように供試品を配置する。試験の厳しさは,低溫,高溫,溫度変化率,さらし時間及びサイクル數(shù)の組合せで定める。低溫TAは,製品規(guī)格の規(guī)定によるものとし,JISC60068-2-1及びJISC60068-2-2の試験溫度から選択高溫Tgは,製品規(guī)格の規(guī)定によるものとし,JISC60068-2-1及びJISC60068-2-2の試験溫度から選択槽內(nèi)溫度は,TAとTgとの溫度差(D)の90%と10%との間で測定した溫度変化率(許容差20%以下)で上昇又は下降させる。製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,推奬値は,次の值とする。1±0.2K/min,3±0.6K/min,5±1K/min,10±2K/min,8C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)低溫及び高溫の各さらし時間1は,供試品の熱容量を考慮する必要がある。さらし時間tは,3時間,2時間,1時間,30分間若しくは10分間のいずれか,又は製品規(guī)格で指定してもよい。製品規(guī)格にさらし時間の規(guī)定がない場合には,3時間とする。サイクル數(shù)は,製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,2サイクルとする。試験開始時には,供試品及び試験槽內(nèi)の溫度は,25℃±5℃(試験室の溫度)とする。製品規(guī)格に規(guī)定注記JSC.60068-1(通則)には,測定及び試験のための標(biāo)準(zhǔn)大気條件(標(biāo)準(zhǔn)狀熊)の溫度は.15槽內(nèi)溫度を,規(guī)定の低溫TAまで規(guī)定の溫度変化率で下げる(図3參照)。槽內(nèi)溫度が安定した後,規(guī)定したt?時間,供試品を低溫にさらす。槽內(nèi)溫度を,規(guī)定の高溫Tgまで規(guī)定の溫度変化率で上げる(図3參照)。椰內(nèi)溫度を,25℃±5℃(試験空の溫度)で規(guī)定の溫度変化率で下げる(図3參照)。試験後,供試品の溫度が安定するまで十分な時間,標(biāo)準(zhǔn)大気狀態(tài)に維持しなければならない。b)前処理c)初期測定9C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)d)取付けの詳細(xì)又は支持材e)低溫TA高溫TBg)溫度変化率h)サイクル數(shù)j)後処理k)最終測定Dその他,受渡當(dāng)事者間で合意した手順上の変更事項この試験は,供試品の溫度急変に耐える能力を決定するために行う。この試験方法は,厳しい熱衝撃を與えるため,ガラスー金屬封止などの供試品にも適用できる。低溫液槽には,製品規(guī)格で規(guī)定した低溫TAの液體を満たす。溫度の規(guī)定がない場合は,0高溫液槽には,製品規(guī)格で規(guī)定した高溫TBの液體を満たす。溫度の規(guī)定がない場合は,100℃の液體と液相は,試験中,低溫液樹ではT4よりも2Kを超える溫注記液體の熱伝導(dǎo)率は,その種類によって異なり,特定の溫度範(fàn)囲に対しては試験の厳しさに影響試験の厳しさは,液槽の溫度,移し換え時間t?及びサイクル數(shù)で規(guī)定する。製品規(guī)格には,浸せき時間t?の値を規(guī)定する。サイクル數(shù)は,製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,10サイクルとする。C60068-2-14:2011(IEC60068-2-14:2009)供試品を高溫液槽に浸せき時間ィの間浸す。供貳品を高溫液樹から取り出す。高溫液樹から低溫液柵への移し換え時問ュは,製品規(guī)格で規(guī)定する。二つの浸せき時間t及び二つの移し換え時間zを1サイクルとする(囡4參照)。槽內(nèi)溫度最終サイクルの終了後,供試品