(1)C61300-3-6:2011尺ージ序文 11適用範囲 12引用規(guī)格 13概要 23.1OCWR測定法 23.2OTDR測定法 23.3OLCR測定法 23.4OFDR測定法 23.5基準測定法の選択 34機器及び記號 3 34.2OCWR測定法 34.3OTDR測定法 54.4OLCR測定法 54.5OFDR測定法 6 85.1勵振條件 85.2前処理 8 8 5.5試験3:OLCR測定法 5.6試験4:OFDR測定法 6個別規(guī)格に規(guī)定する事項 6.1OCWRによる反射減衰量測定 6.2OTDRによる反射滅衰量測定 6.3OLCRによる反射減衰量測定 6.4OFDRによる反射滅衰量測定 6.5測定手順 附屬書A(參考)四つの測定法によって検出できる反射減衰量の比較 附屬書JA(參考)JISと対応國際規(guī)格との対比表 20C61300-3-6:2011この規(guī)格は,工業(yè)標準化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,財団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會(OITDA)及び財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標準原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標準調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標準調(diào)査會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責(zé)任はもたない。JISC61300の規(guī)格群には,次に示す部舢成がある。JISC61300-1第1部:通則JISC61300-2-14第2-14部:光パワー損傷のしきい低試験JISC61300-2-17第2-17部:低溫試験JISC61300-2-18第2-18部:高溫試験JISC61300-2-19第2-19部:高溫高濕試験(定常狀態(tài))JISC61300-2-45第2-45部:浸水試験JISC61300-2-48第2-48部:溫濕度サイクル試験JISC61300-3-3第3-3部:插人損失及び反射減衰量変化のモ二タ方法JISC61300-3-6第3-6部:反射滅衰量測定JISC61300-3-28第3-28部:過渡損失測定JISC61300-3-30第3-30部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定JISC61300-3-31第3-31部:光ファイバ光源の結(jié)合パワー比測定日本工業(yè)規(guī)格JISC61300-3-6:2011基本試験及び測定手順一第3-6部:反射減衰量測定Basictestandmeasurementprocedures一Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnloss序文この規(guī)格は,2008年に第3版として発行されたIEC61300-3-6をはに,技術(shù)的內(nèi)容を変史することなく作成し,構(gòu)成については一部変更して作成された日本工業(yè)規(guī)格である。なお,変更の一覧表にその説明を付けて,附屬書JAに示す。この規(guī)格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部出の反射滅変(RL)の測定手順について規(guī)定する。注記1関連する試験及び測定方法の通則は,JISC61300-1に規(guī)定する。注記2この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC61300-3-6:2008,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnloss(MOD)なお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”引用規(guī)格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。JISC61300-1光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第1部:通則注記対応國際規(guī)格:IEC61300-1,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part1:Generalandguidance(IDT)IEC60793-2(allparts),Opticalfibres—ProductspecificationsIEC61300-3-1,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-1:Examinationsandmeasurements—VisualexaminationIEC61300-3-39,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-39:Examinationsandmeasurements—PCopticalconnectorreferenceplugselection23.3OLCR測定法3C61300-3-6:20113.5基準測定法の選択4機器及び記號4.1供試品(DUT)4.2OCWR測定法TJ1TDUTTDUTBDPrefPaPrefP?=C?×P+B(mW)...................................................................................................(2)P?=C?×P(mW)................................................................................................................(3)4C61300-3-6:2011參照)。光パワーメータは,光電変換器,それに付隨した電子回路及び光ファイバとの接続點で構(gòu)成する。光學(xué)なお,測定は,全て差分測定によるため,絶対値の校正は必要としない。測定に影響を與えないよう,測定中に光パワーメータを取り外して再接続した場合は,再接続の前後でその光パワーメータの結(jié)合効50dB以上の反射減衰量を測定しようとする場合は,規(guī)定の測定精度を保証するために融著接続を用い4.2.5光終端器(T)一光ファイバ端面を斜め処理する。竹度の値は,光ファイバ減衰機構(gòu)を終端器として用いる場合は,部品間に用いてよい。例えば,図5のP?を測定する場合,図85C61300-3-6:20114.3OTDR測定法OTDR測定法による反射滅変丘測定系を,図2に示す。OTDRによる反射滅長員測定法で川いる機器及び部品は,4.3.1～4.3.3による。図2-OTDRによる反射滅衰量測定4.3.1OTDR4.4OLCR測定法測定機器は,4.4.1～4.4.6の部品で構(gòu)成する。6C61300-3-6:2011光源には,光ファイバ出力形の広帶域光源(例えば,端而出射形LED)を川いる。光ブランチングデバイスは,光源からの光パワーを信號光ポートと參照光ポートとに分岐光遅延線は,參照光の時間的遅延を線形に変化させるものである。一般的な光遅延線は,平行光線を得るためのコリメータ(L)及び平行移動臺に搭載した反射器(R)で構(gòu)成する。SLTJ2D遅延線4.4.4光パワーメータ(D)光パワーメータは,光ブランチングデバイスの出力端に接続する。光パワーメータは,十分なダイナミックレンジをもつをデータ処理裝置に送る。データ処理裝置は,光パワーメータからのデータを収集して処理し,また,參照光の光學(xué)的遅延量を制御する。OFDR測定法による測定系は,図4に示すように,4.5.1～4.5.8の部品で構(gòu)成する。相を測定できる。高周波の周波數(shù)変動は,測定精度の範囲內(nèi)で最小化しなければならない。7C61300-3-6:2011共に適切な周辺駆動出子川路と,ネットワークアナライザ及び光ファイバとを接続する手段をもち,波長が指定できる光源及び光電変換器で構(gòu)成する。測定系のすなわち,0dBと時間領(lǐng)域測定での雑音フロアより3dB高い信號光量との差分で規(guī)定する。次の要因は,測定誤差及び測定の不確定性を引き起こす可能性がある。一溫度変化に伴うレーザの波長変動一光パワーメータの線形出力範囲を超える反射滅衰パワーの範囲一偏光依存性D入力DTJTJbAbAS4.5.3光可変滅衰器(A)(オプション)參照川反射量と供試品の反射最とが大きく具なる場合は,光パワーメータの応答特性が測定範用で線形性を保てない場合がある。このような場合は,図4に示す測定系のように,光可変減衰器を用いなければ光源の出力光パワーを増加して機器のダイナミックレンジを広げるために,光増幅器をブースタとして光源に光アイソレータが組み込まれていない場合は,反射光パワーによって光源の性能を劣化させない正する。8C61300-3-6:2011勵振條件は,JISC61300-1の附屬書B(勵振條件)による。勵振條件は,その他の規(guī)定がない場合,一時的に発生する望ましくない高次モードを除去することを目供試品が一端に光コネクタをもつ場合は,光コネクタの端面を製造業(yè)者の指示に従って清掃し,IEC供試品の出力ポートは,反射を抑制するように終端する。供試品の出力光ファイ定法の空間分解能より短い場合は,特に注意する。測定された光パワーPは,ミリワット(mW)などの線形な単位で表す。測定を行うためには,パラメータP?及びG(5.3.2.1及び5.3.2.2で定我)を測定することで測定系の特性を評価する必要がある。これらのパラメータは,測定系自身が反射する光パワー,及び供試品が反射する光パワーのうち,光パワーメータD1に至るまでの測定系による損失に関するものである。供試品を測定系から切り離して,システムの反射光パワーP?を次によって測定する。一供試品を高反射減衰量の光終端器と交換する(図5參照)か,又はマンドレルラップなどの高減衰量パワーを除去する(図8參照)。9C61300-3-6:2011TJTTBDRefPoRef図5ーシステムの反射光パワーを算出する方法…………………………(4)5.3.2.2測定系のG係數(shù)の測定測定系のG係數(shù)を測定するための二つの手法を,次に示す。a)手法ATJ1cpBDPaa-………………(5)O一測定系のG係數(shù)を,式(7)によって算出する。一PefC61300-3-6:2011したがって,供試品の反射減衰量はRL=-10×log(P1-P)+G(dB) 正規(guī)化されたPo[式(4)]G:測定系のG係數(shù)(dB)[式(7)]5.3.4測定精度に関する考察一光ブランチングデバイスの分岐比の偏光による特性変動この変動は,P?及びPaの測定において,相対基準光パワーPorが変動する要因となる。源から光パワーメータD1に到達する光パワーである。Poの誤差が反射減衰量に與える影響は,PaとP?との差△Pでありデシベル(dB)単位で表す。APが大きい値の場合は,相対的に△Pの誤差が大きくても,反射減衰量に対する影響は無視できる。例えば,P?が5dBの誤差があり,△Pが25dBから30dBに変化したとしても,反射減衰量の誤差は,0.014dBとなる。この測定法の精度は,PaがP?と同等か又はそれ以下になると低下する。ただし,△Pが小さい値の場合は,△Pの誤差が小さくても重大な影響を與える。例えば,0.5dBの誤差によって△Pが0.5dBから1.0dBに変化した場合は,反射滅衰量の誤差は3dBになる。BD一光終端器T1る場合,P?の值が変動する。)一5.4試験2:OTDR測定法5.4.1OTDR測定の定義反射滅衰量測定時の典型的なOTDR波形を,図9に示す。OTDRによる反射減衰量の測定は,後方散亂ba供試品からの反射HL図9一典型的なOTDR波形5.4.2後方散亂係數(shù)の評価a)手法A一終端が既知の反射減衰量 レイリー後方散亂係數(shù)B及びパルス幅tを式(14)に代入し,定數(shù)Kを算出する。Bはデシベル(dB)単位で表示し,パルス幅tに依存する。 C61300-3-6:2011一例として,次の近似値をIEC60793-2のタイプB1のシングルモード光ファイバに,時間軸がナノ秒一B≈80(dB)(波長1300nm)一B≈82.5(dB)(波長1550nm)5.4.3測定手順一OTDRのパルス幅を適切な値に設(shè)定する。パルス幅の選択は,空間分解能と反射減衰量とに依存する。り後の回復(fù)時間に依存する。例えば,10nsのパルスの場合は,5表1一幾つかのパルス幅に対するOTDRパラメータの例ns理論的な空間分解能m測定可能な最大反射減衰量=63=60=73=705=72……………(17)注記1多くのOTDRは,反射信號の出力値を表示前に2で除算する。したがって,OTDRが行って注記2多くのOTDRでは,測定器製造業(yè)者があらかじめ定めた設(shè)定値によって反射減衰量を自動的Hが大きな値である場合,式(17)は単純化できる。(dB) RL≈-2×H+K(dB) (19)C61300-3-6:2011次の要因は,反射減衰量測定においてエラーの原因となる。一Hの測定精度Hの測定精度は,Hが非常に小さいときに特に重要になる。例えば,測定差がdB及びH=1dBのとき,反射減衰量の差は3dBとなる。Hが小さく,かつ,同時に供試品に一検出部の,短いパルスを確実に検出する性能より大きな反射減衰量を測定するには,短いパルスを一信號の飽和OTDR光パワーメータが大きなHの値で飽和した場合は,小さな反射減衰OLCRを校正するため,次の手順を?qū)g施する。c)光遅延量を線形に変化させる。一般的な光遅延線では,反射體を一定速度で平行移動させる。OLCRを用いて反射減衰量を測定するため,次の手順を?qū)g施する。b)5.5.1のc)～e)の手順と同じ手順を繰り返す。以上の手順を終えてから,供試品の所定の位置からの信號ピーク値G(dB)を測定する。OFDRを校正するため,次の手順を?qū)g施する。C61300-3-6:2011R?を記録する。5.6.2測定手順OFDRを用いて反射減衰量を測定するため,次の手順を?qū)g施する。Rを記録する。d)供試品の反射滅衰量を,これらの値を用いて,式(21)によって算出する。5.6.3測定精度に関する考察OFDR測定法における誤差の原因は,既知の反射減衰量とのテンポラリジョイントによる損失と,供試空間分解能(AL)を,式(22)によって算出する。 ここで,cは光速,nは屈折率である。例えば,窓係數(shù)1.6,1GHz間隔では,空間分解能は,およそ20cmである。周波數(shù)間隔が半滅すると,空間分解能は,倍の40cmに低下する。測定系の—318C61300-3-6:2011測定系のダイナミックレンジを広げるためには,のダイナミックレンジ及び雑音フロアは,校正ルーチン及び用いる信號処理數(shù)帶域幅,平均化回數(shù),スムージングなど)に依存する。6個別規(guī)格に規(guī)定する事項必要がある場合,6.1.1～6.1.6の事項を個別規(guī)格に規(guī)定する。一基準プラグの性能一基準アダプタの性能一分岐比一光源波長での最大感度一線形性一安定性一光學(xué)接続形式一中心波長一最大損失量一最大反射減衰量一終端形式一最小反射減衰量必要がある場合,6.2.1～6.2.4の事項を個別規(guī)格に規(guī)定する。一基準プラグの性能一基準アダプタの性能C61300-3-6:2011一中心波長一受信器入力の減衰器一光パワーメータが線形である反射光パワー範囲一光パワーメータの短パルスに対する応答特性ーパルス長の精度一形式必要がある場合,6.3.1～6.3.3の事項を個別規(guī)格に