ICS31200

CCSL.56

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

集成電路電磁發(fā)射測量

第8部分輻射發(fā)射測量IC帶狀線法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—

Part8Measurementofradiatedemissions—ICstrilinemethod

:p

IEC61967-82023IDT

(:,)

2025-12-31發(fā)布2026-07-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

概述

4………………………2

試驗(yàn)條件

5…………………2

通則

5.1…………………2

電源電壓

5.2……………2

頻率范圍

5.3……………2

試驗(yàn)設(shè)備

6…………………2

通則

6.1…………………2

射頻測量儀器

6.2………………………3

前置放大器

6.3…………………………3

帶狀線

6.4IC……………3

終端

6.550Ω……………3

試驗(yàn)布置

7…………………3

通則

7.1…………………3

試驗(yàn)配置

7.2……………3

試驗(yàn)板

7.3EMC(PCB)…………………4

試驗(yàn)程序

8…………………4

通則

8.1…………………4

環(huán)境條件

8.2……………4

運(yùn)行檢查

8.3……………4

帶狀線射頻特性的驗(yàn)證

8.4IC…………4

試驗(yàn)技術(shù)

8.5……………5

試驗(yàn)報(bào)告

9…………………5

通則

9.1…………………5

測量條件

9.2……………5

發(fā)射參考電平

10IC………………………5

附錄規(guī)范性帶狀線的描述

A()IC………………………6

通則

A.1…………………6

帶狀線結(jié)構(gòu)的特性阻抗

A.2……………7

Ⅰ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

不同有效導(dǎo)體高度的轉(zhuǎn)換

A.3…………7

帶狀線的結(jié)構(gòu)示例

A.4IC………………8

附錄資料性發(fā)射電平規(guī)范

B()…………9

范圍

B.1…………………9

概述

B.2…………………9

發(fā)射電平規(guī)范

B.3………………………9

結(jié)果表述方式

B.4………………………9

參考文獻(xiàn)

……………………11

Ⅱ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成電路電磁發(fā)射測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下

GB/T44937《》8。GB/T44937

部分

:

第部分通用條件和定義

———1:;

第部分輻射發(fā)射測量小室和寬帶小室法

———2:TEMTEM;

第部分輻射發(fā)射測量表面掃描法

———3:;

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量直接耦合法

———4:1Ω/150Ω;

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量工作臺(tái)法拉第籠法

———5:;

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量磁場探頭法

———6:;

第部分輻射發(fā)射測量帶狀線法

———8:IC。

本文件等同采用集成電路電磁發(fā)射測量第部分輻射發(fā)射測量帶

IEC61967-8:2023《8:IC

狀線法

》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本文件由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC599)。

本文件起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院天津先進(jìn)技術(shù)研究院北京智芯微電子科技有限公

:、、

司海研芯青島微電子有限公司廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司廣州市誠臻電子科技有限公司工業(yè)

、()、、、

和信息化部電子第五研究所中國汽車工程研究院股份有限公司浙江諾益科技有限公司深圳市中興

、、、

微電子技術(shù)有限公司中山大學(xué)北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司上海機(jī)動(dòng)車檢測認(rèn)證技

、、、

術(shù)研究中心有限公司北京無線電計(jì)量測試研究所天津大學(xué)中國信息通信研究院長沙芯連心智慧系

、、、、

統(tǒng)有限責(zé)任公司河南省電子信息產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)技術(shù)研究院廣州廣電計(jì)量檢測上海有限公司思科

、、()、

系統(tǒng)中國研發(fā)有限公司福州物聯(lián)網(wǎng)開放實(shí)驗(yàn)室有限公司北京中電華大電子設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司

()、、、

中家院北京檢測認(rèn)證有限公司中國合格評(píng)定國家認(rèn)可中心亞銳檀桐檢測技術(shù)上海有限公司

()、、()、

國網(wǎng)電力科學(xué)研究院有限公司

。

本文件主要起草人付君崔強(qiáng)靳冬吳建飛喬磊王新才方文嘯朱賽徐蛟葉暢梁吉明

:、、、、、、、、、、、

李楠褚瑞黃雪梅鄭益民陳梅雙龍發(fā)明吳倩王曉迪劉星汛臧琦王紫任李彥鵬馮星輝江峰

、、、、、、、、、、、、、、

樓建全賴秋輝連恒興焦璨劉佳鄧勇鞠文靜

、、、、、、。

Ⅲ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

引言

為規(guī)范集成電路電磁發(fā)射測量以及為集成電路制造商和檢測機(jī)構(gòu)提供不同的電磁發(fā)射測量方

,

法集成電路電磁發(fā)射測量規(guī)定了集成電路電磁發(fā)射測量的通用條件定義和不同測

,GB/T44937《》、

量方法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求擬由個(gè)部分構(gòu)成

,9。

第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁發(fā)射測量的通用條件和定義

———1:。。

第部分通用條件和定義近場掃描數(shù)據(jù)交換格式目的在于規(guī)定近場掃描數(shù)據(jù)交換

———1-1:。

格式

。

第部分輻射發(fā)射測量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬帶

———2:TEMTEM。TEM

小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

TEM。

第部分輻射發(fā)射測量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———3:。。

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量直接耦合法目的在于規(guī)定直接耦合法的

———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

。

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量直接耦合法應(yīng)用指南目的在于給出直

———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω

接耦合法應(yīng)用指導(dǎo)

。

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量工作臺(tái)法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺(tái)法拉第籠法的試驗(yàn)程序

———5:。

和試驗(yàn)要求

。

第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量磁場探頭法目的在于規(guī)定磁場探頭法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———6:。。

第部分輻射發(fā)射測量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———8:IC。IC。

Ⅳ

GB/T449378—2025/IEC61967-82023

.:

集成電路電磁發(fā)射測量

第8部分輻射發(fā)射測量IC帶狀線法

:

1范圍

本文件描述了使用帶狀線測量集成電路電磁輻射發(fā)射的方法被評(píng)估安裝在帶狀線結(jié)

(IC)。ICIC

構(gòu)的有效導(dǎo)體和地平面之間的試驗(yàn)板上

EMC(PCB)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

國際電工術(shù)語第部分電路理論

IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part131:Circuittheory]

注電工術(shù)語電路理論

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)

國際電工術(shù)語第部分電磁兼容

IEC60050-161161:[InternationalElectrotechnical

Vocabulary(IEV)—Part161:Electromagneticcompatibility]

注電工術(shù)語電磁兼容

:GB/T4365—2024(IEC60050-161:2021,MOD)

集成電路電磁發(fā)射測量第部分通用條件和定義

IEC61967-11:(Integratedcircuits—Meas-

urementofelectromagneticemissions—Part1:Generalconditionsanddefinitions)

注集成電路電磁發(fā)射測量第部分通用條件和定義