1、晶體光學實驗四正交偏光鏡下的晶體光學性質(zhì)一干涉色級序特征的察看及礦片上光率體橢圓半徑方向及稱號的測定 正交偏光系統(tǒng)是在單偏光系統(tǒng)的根底上，正交偏光系統(tǒng)是在單偏光系統(tǒng)的根底上，把上偏光鏡推入鏡筒的偏光顯微鏡任務形狀。把上偏光鏡推入鏡筒的偏光顯微鏡任務形狀。在此系統(tǒng)下，上、下偏光鏡振動方向相互垂在此系統(tǒng)下，上、下偏光鏡振動方向相互垂直，并與目鏡十字絲一致。直，并與目鏡十字絲一致。普通以普通以PP表示下偏光鏡的振動方向表示下偏光鏡的振動方向(南北方南北方向向)，以，以AA表示上偏光鏡的振動方向表示上偏光鏡的振動方向(東西方東西方向向) 。 將礦物切片放在上、下偏光鏡之間的載將礦物切片放在上、下偏光鏡

2、之間的載物臺上，視域中將呈現(xiàn)一系列光學景象，如物臺上，視域中將呈現(xiàn)一系列光學景象，如消光、干涉色、延性、雙晶等。消光、干涉色、延性、雙晶等。 在正交偏光系統(tǒng)下，假設在載物臺上不放任何礦物切片時，那么自然光經(jīng)過下偏光鏡后，轉(zhuǎn)化為PP方向振動的偏光，直接到達上偏光鏡。由于上偏光鏡的振動方向是AA，只允許AA方向振動的偏光經(jīng)過，而AA與PP垂直，故全部PP方向振動的偏光都不能經(jīng)過上偏光鏡。此時，視域呈黑暗。 假設在載物臺上放置一個均質(zhì)體或非均質(zhì)體垂直光軸的巖石切片，當平行下偏光鏡振動方向PP的偏振光經(jīng)過巖石薄片時，光的振動方向不變，不發(fā)生雙折射，到達上偏光鏡光陰線不能經(jīng)過，視域為黑暗。旋轉(zhuǎn)載物臺36

3、00，視域不斷處于黑暗形狀，此稱為全消光。 假設在載物臺上放置一個非均質(zhì)體非垂直光軸的巖石切片，旋轉(zhuǎn)載物臺，那么可以看到巖石薄片中的礦物呈現(xiàn)的各種顏色的顏色，這些顏色稱為干涉色；旋轉(zhuǎn)載物臺，干涉色顏色不變，但干涉色亮度下降，直至黑暗。旋轉(zhuǎn)載物臺360，那么干涉色發(fā)生四次明暗交替變化。此稱之為四次消光。 非均質(zhì)體非垂直光軸的切片均呈現(xiàn)四次消光。 用單色光照射，在正交偏光系統(tǒng)下，沿偏光顯微鏡的試板孔徐徐插入石英鍥。隨著石英楔厚度的逐漸增大，光程差也逐漸增大，由00.50101.50202.50303.5040；同時，在視域內(nèi)相繼呈現(xiàn)明暗相間的條帶。 暗帶的位置表示該處經(jīng)過石英楔的兩束偏光的光程差等

4、于單色光半波長的偶數(shù)倍(R=nA0)，光被抵消；亮帶的位置表示光程差等于單色光半波長的奇數(shù)倍(R=(2n+1) 0/2)，光被加強。 實驗目的要求，1學會正交偏光鏡的檢查與校正方法。 2認識13級干涉色及高級白干涉色的特征。3學會運用石膏試板，云母試板購定礦片上光率體橢圓半徑方向和稱號的方法。 實驗內(nèi)容1檢查上、下偏光鏡的振動方向能否正交，目鏡十字絲能否與上、下偏光鏡振動方向一致。假設不正交，不一致那么需求校正。2.正交偏光鏡間，從試板孔漸漸插入石英楔，察看13級干涉色級序及各級的特征。3察看方解石的高級白干涉色，在礦片45位置時參與石膏試板、云母試板后，視察干涉色能否變化； 4.運用云母試板，測定具明晰解理縫的白云母礦片上光率體橢圓半徑的方向和稱號。 5.在具一級灰干涉色的石英或鉀長石礦片上(45位置)，加人石膏試板，察看礦片干涉色的升降變化。 實驗報告：1、在正交偏光鏡下插入云母試