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1、l為什么要學(xué)習(xí)研究方法研究對(duì)象的需要-控制材料的制備和性能專業(yè)培養(yǎng)的要求-培養(yǎng)的是高級(jí)專門人才 l研究方法課程涉及的內(nèi)容 所有與材料的表征問題有關(guān)的方法 注重的問題： (1) 材料的成分 (2) 材料的結(jié)構(gòu) (3) 材料的性能 l材料研究方法的一般特征l提倡的研究方法 創(chuàng)新的精神 多方法的結(jié)合運(yùn)用 吃苦的準(zhǔn)備 合作的精神l本課程的授課特點(diǎn) 有選擇性地介紹某些常用方法 介紹方法的原理和應(yīng)用范圍，而不強(qiáng)調(diào)細(xì)節(jié) 應(yīng)用工程師材料科學(xué)家分析工程師材料制備與性能l SPM ：STM / AFM / MFM / NSOM / SThM / Confocal optical microscopyl l馬如璋等

2、，材料物理現(xiàn)代研究方法冶金工業(yè)出版社，1997.lR.E.Whan et al, Materials Characterization, Metals Handbook，Vol.10, 9th Edition, ASM, 1986.lD.Brune et al, Surface Characterization, Wiley-VCH, 1997.lJ.B.Wachtman, Characterization of Materials, Butterworth-Heinemann, 1993.l放大倍數(shù)的極限： 2000l分辨率的極限： 0.2m （可見光照明）l景深的極限： 0.1m （要求金相準(zhǔn)備）l不能分析化學(xué)成分l用波長(zhǎng)較短的電子波為光源 (25kV時(shí)=0.007nm ) 10-100000, 5nml掃描方式導(dǎo)致長(zhǎng)物距 數(shù)十 m （1000 時(shí)，不要求金相準(zhǔn)備）l分析電子束誘發(fā)的原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生的特征x-射線l電子：二次電子 背散射電子 俄歇電子 lx-射線： 特征x-射線 連續(xù)x-射線l通道花樣l樣品電流l其他h=EK-ELh=E-EEDX的特點(diǎn)： 快 能量分辨力低

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