1、超聲探傷作業(yè)指導(dǎo)書（第A版）2017年4月1日發(fā)布2017年4月1日實施日照市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗所發(fā)布本文件使用于以下機構(gòu)的檢測活動日照市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗所文件版本號：第A版生效日期：2017年4月1日文件編號：RZS-3GTS(101)-2017編制：審核：批準:日期:1目的為了實現(xiàn)超聲探傷過程受控，使不同人員的操作準確一致，保證檢驗結(jié)果的準確性、有效性和正確性，特制定本文件進行規(guī)范。2適用范圍適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料或零部件和焊接接頭的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。3引用標準和文件,以下標準應(yīng)使用現(xiàn)行有效的版本o3.1 GB/T112593.2 GB/T1260

2、4.13.3 GB/T27664.13.4 GB/T27664.13.5 JB/T84283.6 JD/T92143.7 JB/T100623.8 NB/T47013.14一般要求無損檢測超聲檢測用鋼參考試塊的制作與檢驗方法無損檢測術(shù)語超聲檢測無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗第1部分：儀器無損檢測超聲檢測設(shè)備的性能與檢驗第2部分：探頭無損檢測超聲試塊通用規(guī)范無損檢測A型脈沖反射式超聲檢測系統(tǒng)工作性能測試方法超聲探傷用探頭性能測試方法承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求4.1 檢測人員NB/T47013.1的有關(guān)規(guī)4.1.1 超聲檢測人員的一般要求應(yīng)符合定。4.1.2 超聲檢測人員應(yīng)具有一定的金屬

3、材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識，應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對檢測中由現(xiàn)的問題能作由分析、判斷和處理。4.2 檢測設(shè)備和器材4.2.1 儀器盒探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證明超聲檢測儀器產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給由預(yù)熱時間、低電壓報警或低電壓自動關(guān)機電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、有效輸由阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時間、發(fā)射脈沖寬度（采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的）以及接收電路頻帶等主要性能參數(shù)；探頭應(yīng)給由中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對脈沖回波靈敏度以及斜探頭聲束性能（包括探頭前沿距離（入射點）、K值（折射角B）等）等主要參數(shù)。4.2.2 檢測儀器、探頭和組合性能4.2.2.

4、1 檢測儀器采用A型脈沖反射式超聲檢測儀，其工作頻率按-3dB測量應(yīng)至少包括0.5MHz10MH瀕率范圍，超聲儀器各性能的測試條件和指標要求應(yīng)滿足附錄A的要求并提供證明文件，測試方法按GB/T27664.1的規(guī)定。4.2.2.2 探頭圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm方形晶片任一邊長一般不應(yīng)大于40mm其性能指標應(yīng)符合附錄B的要求提供證明文件，測試方法按GB/T27664.2的規(guī)定。4.2.2.3 儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1 儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠場分辨力。4.2.2.3.2 以下情況時應(yīng)測定儀器和探頭的組合性能：a）

5、新購置的超聲檢測儀器和（或）探頭；b）儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c）檢測人員有懷疑時。4.2.2.3.3 水平線性偏差不大于1%垂直線性偏差不大于5%4.2.2.3.4 儀器和探頭的組合頻率與探頭標稱頻率之間偏差不得大于土10%4.2.2.3.5 儀器一直探頭組合性能還應(yīng)滿足以下要求：a）靈敏度余量應(yīng)不小于32dB;b）在基準靈敏度下，對于標稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)不大于10mm對于標稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)不大于15mmc）直探頭遠場分辨力不小于20dBo4.2.2.3.6 儀器-斜探頭組合性能還應(yīng)滿足以下要求：a）靈敏度余量應(yīng)不小于42dB;b）斜探頭遠場分辨力不小于1

6、2dB。4.2.2.3.7 在達到所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。4.2.2.3.8 儀器和探頭組合頻率的測試方法按JB/T10062的規(guī)定，其他組合性能的測試方法參照JB/T9214的規(guī)定。4.2.3 試塊4.2.3.1 標準試塊4.2.3.1.1 標準試塊是指具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評定和校準超聲檢測設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準的試塊。本部分采用的標準試塊為20號優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制CSK-IA、DZ-I和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2 CSK-IA試塊的具體形狀、尺寸見本部分，DZ-I和DB-PZ20-2的具體形狀

7、和尺寸見JB/T9214。4.2.3.1.3 標準試塊的制造應(yīng)滿足JB/T8428的要求，制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測試條件下比較其所制造的每一標準試塊與國家標準樣品或類似具備量值傳遞基準的標準試塊上的同種反射體（面）時，其最大反射波幅應(yīng)小于等于2dBo4.2.3.2 對比試塊4.2.3.2.1 對比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，含有意義明確參考反射體（反射體應(yīng)采用機加工方式制作）的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢生的缺陷信號與已知反射體所產(chǎn)生的信號相比較，即用于檢測校準的試塊。4.2.3.2.2 對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工

8、作的厚度相對應(yīng)。如果涉及到不同工件厚度對接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定。4.2.3.2.3 對比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相近的材料制成，當(dāng)采用直探頭檢測時，不得有大于或等于62mnff底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.2.3.2.4 不同被檢工件超聲檢測用對比試塊人工反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.2.3.2.5 對比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件，無明確要求時參照JB/T8428的規(guī)定。4.2.4 耦合劑4.2.4.1 耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測表面，如機油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。4.2.4.2 耦合劑污染物含量的控制4.

9、2.4.2.1 銀基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/Lo4.2.4.2.2 奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/Lo4.2.5 超聲檢測設(shè)備和器材的校準、核查、運行核查和檢查的要求4.2.5.1 校準、核查和運行核查應(yīng)在標準試塊上進行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。4.2.5.2 校準和核查4.2.5.2.1 每年至少對超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力以及儀器的衰減器精度，進行一次校準并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.2.2每

10、年至少對標準試塊與比對試塊的表面腐蝕與機械損傷，進行一次核查。4.2.5.3運行核查4.2.5.3.1 模擬超聲檢測儀每3個月或數(shù)字超聲檢測儀每6個月至少對儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進行一次運行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5.3.2 每3個月至少對盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進行一次運行核查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定4.2.5.4檢查4.2.5.4.1 每次檢測前應(yīng)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開機信號顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2 使用斜探頭時，檢測前應(yīng)測定入射點（前沿距離）和折射角（K值）。4.3 安全要求檢驗

11、場所、環(huán)境及安全防護應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定。4.4 檢測實施4.4.1 檢測準備4.4.1.1 在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗中，超聲檢測時機及檢測比例的選擇等應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標準及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.4.1.2 所確定的檢測面應(yīng)保證工件被檢部分能得到充分檢測。4.4.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測面（探頭經(jīng)過的區(qū)域）上所有影響檢測的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，具表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測結(jié)果的有效性。4.4.2 掃查覆蓋為確保檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5獻優(yōu)先滿足相

12、應(yīng)章節(jié)的檢測覆蓋要求。4.4.3 探頭的移動速度探頭的掃查速度一般不應(yīng)超過150mm/so當(dāng)采用自動報警裝置掃查時，掃查速度應(yīng)通過對比試驗進行確定。4.4.4 掃查靈敏度掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.4.5 靈敏度補償：a）耦合補償：在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由對比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的耦合損失進行補償；b）衰減補償：在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由對比試塊與被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償；c）曲面補償：在檢測和缺陷定量時，對檢測面是曲面的工件，應(yīng)對由工件和對比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進行補償。4.4.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.4.6.1 發(fā)

13、生以下情況時應(yīng)對系統(tǒng)進行復(fù)核：a）探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時；b）懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時；c）連續(xù)工作4h以上時；d）工作結(jié)束時。4.4.6.2 掃描量程的復(fù)核如果任意一點在掃描線上的偏移量超過掃描線該點讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)核。4.4.6.3 掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時，在檢測范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離-波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢；如回波幅度上升2dB,則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評定。5承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測方法和質(zhì)量分級5.1 范圍

14、規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.2 承壓設(shè)備用板材超聲檢測方法和質(zhì)量分級5.2.1 范圍5.2.1.1 適用于板厚6250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測方法和質(zhì)量分級。5.2.1.2 鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、銀及銀合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條O5.2.1.3 奧氏體不銹鋼和奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼板材超聲檢測方法可參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級按本條。5.2.2 檢測原則5.2.2.1 板材一般采用直探頭進行檢測。5.2.2.2 在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時，可采用斜探頭進行檢測。5.2.

15、2.3 可選板材的任一軋制表面進行檢測。若檢測人員認為需要或技術(shù)條件有要求時，也可選板材的上、下兩軋制表面分別進行檢測。5.2.3 探頭選用5.2.3.1直探頭5.2.3.1.1 直探頭選用應(yīng)按表3的規(guī)定進行袤a承壓一備用楨料超出檢測白探頭選用板厚nun聚用探昊如錚:發(fā)率，MHz探長疆片尺寸（惟養(yǎng)”E雙晶直探長7口服晶片宜林成J0-50方幫晶片邊長10-30下200門菖白探頭成單3巨掇頭2-5單晶直擦X2-5一5.2.3.1.2 當(dāng)采用液浸法檢測板厚小于等于20mm勺板材時，也可選用單晶直探頭進行檢測。5.2.3.1.3 雙晶直探頭性能應(yīng)符合NB/T47013.3-2015附錄C的要求。5.2

16、.3.2斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按NB/T47013.3-2015附錄D的要求。5.2.4 對比試塊5.2.4.1 用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mmi勺板材時，可以采用如圖1所示的階梯平底試塊。5.2.4.2 檢測厚度大于20mm勺板材時，對比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。對比試塊人工反射體為巾5mn底孔，反射體個數(shù)至少3個5.2.5 靈敏度的確定5.2.5.1 厚板小于等于20mnW,用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為基準靈敏度。5.2.5.2 板厚大于20mm按所用探頭和

17、儀器在巾5mmFp底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并以此曲線作為基準靈敏度。5.2.5.3 如能確定板材底面回波與不同深度巾5mm平底孔反射波幅度之間的關(guān)系，則可采用板材無缺陷完好部位第一次底波來調(diào)節(jié)基準靈敏度。5.2.5.4 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準靈敏度高6dBo表4承壓設(shè)備用板材超聲撿魂用對比或就單位為mm法跳編號附村厚度t檢泅肪到平麻孔的咫府5試攜厚度T或忱貪度B1do10,20,3040302>40015.雙456040J>601CM)15、M4Sy缸時44)4>100-15015、肛45、肛缸110.14a150605）!處迎以30.45.60、腳、110、140,I

18、SO2006>21XK-25015.雙45.60,RO,110,I4C.皿230250W注h板材厚度,大于如imni忖.鼠址也可用厚代«L注Sr為菊輕單個試訓(xùn)尺寸和量.聲學(xué)性的相同或相飄的試塊上的平底孔可加工在不陶厚度試塊上.圖2板材超聲樓測用對比試就示意5.2.6 檢測5.2.6.1 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.2.6.2 靈敏度補償檢測時應(yīng)根據(jù)實際情況進行耦合補償和衰減補償。5.2.6.3 掃查方式a）在板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%3查，掃查區(qū)域?qū)挾纫姳?;b）在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50mm的平行線進行掃查，或探

19、頭沿垂直和平行板材壓延反向且間距不大于100mm子線進行掃查。i3查示意圖見圖3;c）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d）雙晶直探頭掃查時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。表5板材邊獴或剖口預(yù)定跋兩制區(qū)域亮度單位為Em布蜃區(qū)域?qū)挾?lt;«05075>100IQ050裾瓶中由打擊國議1蜘1市匡展洞口預(yù)1t西幺鄧順也疑箕5月劃I網(wǎng)世照筆前口覆應(yīng)取-/'圖a探頭行查示苴圖5.2.6.4 斜探頭檢測按NB/T47013.3-2015附錄D的規(guī)定進行。5.2.7 缺陷的判定和定量5.2.7.1 在檢測基準靈敏度條件下，發(fā)現(xiàn)下列兩種情況之一即作為缺

20、陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離-波幅曲線；或用雙晶探頭檢測板厚小于20mMg材時，缺陷第一反射波（F1）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的50%b）底面第一次反射波（B1）波幅低于顯示屏滿刻度的50%即B1<50%5.2.7.2 缺陷的定量5.2.7.2.1 雙晶直探頭檢測時缺陷的定量：a）使用雙晶直探頭對缺陷進行定量時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；b）板材厚度小于等于20mnW,移動探頭使缺陷波下降到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%,探頭中心點即為缺陷的邊界點；c）板材厚度大于20mm-60mmf,移動探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線，探頭中心點即為缺陷的邊界點；

21、d）確定b）中缺陷的邊界范圍時，移動探頭使底面第一次反射波上升到基準靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%上升到距離-波幅曲線，此時探頭中心點即為缺陷的邊界點；e）缺陷邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其邊長作為缺陷的長度，矩形面積則為缺陷的指示面積。5.2.7.2.2 單晶直探頭檢測時缺陷的定量使用單晶直探頭除按5.2.7.2.1c）、d）、e）的方法對缺陷進行定量外，還應(yīng)記錄缺陷的反射波幅或當(dāng)量平底孔直徑。5.2.8 缺陷尺寸的評定方法5.2.8.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其邊長作為該缺陷的指示長度。5.2.8.2 單個缺陷指示面積的評定

22、規(guī)則a）一個缺陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個指示面積;按單b）多個缺陷其相鄰距離小于相鄰較小缺陷的指示長度時,個缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。5.2.9 板材質(zhì)量分級5.2.9.1 板材質(zhì)量分級見表6和表7,再具體進行質(zhì)量分級時，表6和表7應(yīng)獨立使用。5.2.9.2 在檢測過程中，檢測人員如確認板材中有白點、裂紋等缺陷存在時，應(yīng)評為V級。5.2.9.3 在板材中部檢測區(qū)域，按最大允許單個缺陷指示面積和任一1mX1m檢測面積內(nèi)缺陷最大允許個數(shù)確定質(zhì)量等級。如整張板材中部檢測面積小于1mX1m缺陷最大允許個數(shù)可按比例折算。5.2.9.4 在板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測區(qū)域，按最大允

23、許單個缺陷指示長度、最大允許單個缺陷指示面積和任一1m檢測長度內(nèi)最大允許缺陷個數(shù)確定質(zhì)量等級。如整張板材邊緣檢測長度小于1m,缺陷最大允許個數(shù)可按比例折算。表6承壓設(shè)叁用板材中部垃葫區(qū)域質(zhì)易分級單位為mm錦輟餐大允蟒雌個籍陷指示面根£表杳平麻孔宣在D在苣一Im，1m檢身前段內(nèi)帙陪最大允許個數(shù)筑個曲塔拈方面稹或當(dāng)貴平底孔宜程界定范闈最大允許個量雙品宜探頭檢刑的；$嗎50雙島玄嬋臭松靠1時r20<50附或單舞頭梭德時工或單品直耕頭直測時：05女口毛城計府百U就般直探頭檢瀏時：S4100XI擦頭檢翻對：50<$4100力或單耳直探頭臉瀏時：口w45+MdEbMMKMftWt:#

24、5+8dB«a至*而U1WgSwlOOO13VSWsooo1000弋SU50Q420V超過TV級看注；使用單1a直郊頭糧測并第定SHTJb）所示獻解的質(zhì)分狙門整和口坦）時，與雙晶白摞去要求相同：，裳7呆作量去用板材也爆式3|：二”正a軍見檢亞區(qū)域質(zhì)呈分級單位為舊非堤大允褥單個收痔指示長度£mu.隋夫尤許小個憂防指示癡於$或當(dāng)量平底孔宜福D在任一1m驗側(cè)長度內(nèi)大允許缺陷個數(shù)單個晶略帶承氏度上或'MF底孔直檢押定離修最大允許個救111:£20雙曷宜探頭檢科時工SaW值宜氤校假時：1。£嗎加2或單鼻直探夫般測時：口/小5地嬌酢有麻頭糧畫時：。5V門咸5+8庭1£加雙晶直探頭檢測時:雙晶質(zhì)探型檢測