標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量》這一國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了電子顯微鏡在運(yùn)行過(guò)程中可能產(chǎn)生的X射線泄漏劑量的安全限值和技術(shù)要求,旨在保護(hù)操作人員及環(huán)境免受X射線輻射的潛在危害。具體內(nèi)容包括:
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適用范圍:該標(biāo)準(zhǔn)適用于安裝有X射線源的電子顯微鏡設(shè)備,包括透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM),明確了這些設(shè)備在設(shè)計(jì)、制造、使用和維護(hù)過(guò)程中關(guān)于X射線防護(hù)的具體要求。
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定義與術(shù)語(yǔ):標(biāo)準(zhǔn)首先對(duì)相關(guān)專業(yè)術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了界定,如“X射線泄漏劑量”、“主束光闌”、“防護(hù)屏蔽”等,為后續(xù)條款的準(zhǔn)確理解和執(zhí)行提供了基礎(chǔ)。
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安全要求:明確規(guī)定了電子顯微鏡X射線源在正常工作狀態(tài)和非正常工作狀態(tài)下(如故障時(shí))的X射線泄漏劑量限值,確保其不超過(guò)國(guó)家規(guī)定的輻射安全標(biāo)準(zhǔn),保障人員健康安全。
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檢測(cè)方法:詳細(xì)說(shuō)明了如何測(cè)量電子顯微鏡X射線泄漏劑量的方法和步驟,包括測(cè)量點(diǎn)的選擇、測(cè)量?jī)x器的要求、測(cè)量條件以及數(shù)據(jù)處理等,以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。
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防護(hù)措施:提出了電子顯微鏡應(yīng)采取的有效防護(hù)措施,比如設(shè)置防護(hù)屏蔽、安裝連鎖裝置、合理布局實(shí)驗(yàn)室空間、提供個(gè)人防護(hù)裝備等,以減少X射線的泄漏并有效控制輻射水平。
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標(biāo)志與說(shuō)明書:要求制造商在電子顯微鏡上明確標(biāo)示X射線警告標(biāo)志,并隨設(shè)備提供詳細(xì)的使用說(shuō)明書,說(shuō)明書中應(yīng)包含安全操作規(guī)程、維護(hù)保養(yǎng)方法以及緊急應(yīng)對(duì)措施等內(nèi)容,確保用戶能夠正確安全地使用設(shè)備。
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監(jiān)督與管理:強(qiáng)調(diào)了對(duì)電子顯微鏡X射線防護(hù)的監(jiān)督管理要求,包括定期進(jìn)行安全檢查、維護(hù)校驗(yàn),以及建立相應(yīng)的安全管理規(guī)章制度,確保標(biāo)準(zhǔn)得到持續(xù)有效的實(shí)施。
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- 1996-08-13 頒布
- 1996-12-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
53700中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)CB7667-1996電子顯微鏡×射線泄漏劑量ThedoseofX-raysleakagefromelectronmicroscope1996-08-13發(fā)布1996-12-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)cB7667—1996電子顯微鏡X射線泄漏劑量代替GB7667-87ThedoseofX-raysleakagefromeleetronmicroscope1.主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子顯微鏡(以下簡(jiǎn)稱電鏡)X射線泄漏劑量、試驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于透射、掃描、反射、透射掃描和電子探針等不同類型的電鏡。技術(shù)要求電鏡X射線泄漏的空氣吸收劑量率不應(yīng)大于2.5″Gy/h.3試驗(yàn)方法3.1試驗(yàn)設(shè)備帶有修正因子(指校正X射線)X射線劑量率儀,其等級(jí)為二級(jí)。最小檔刻度值不能太于1Gy/h。3.2試驗(yàn)步驃3.2.1將加速電壓調(diào)到最高檔,選用最大正常工作束流和最大束斑。3.2.2將聚光鏡調(diào)整到正常工作狀態(tài),放大倍率調(diào)到最低檔,并將活動(dòng)光麗全部退出。對(duì)掃描電鏡和電子探針等則應(yīng)以鴿為樣品將吸收電流調(diào)到最大值。3.2.3試驗(yàn)部位為照相室、觀察室、樣品室、活動(dòng)光闌、電子槍(電鏡加速電壓等于大于400kV的電子槍被測(cè)部位指隔離層)真空管道、顯像管、鏡簡(jiǎn)及其附屬裝置。在試驗(yàn)樣品室以上的部位時(shí),則應(yīng)將物鏡活動(dòng)光闌插入電子束通道。3.2.4將X射線劑量率儀在離開試驗(yàn)部位50mm處作緩饅移動(dòng),測(cè)出其X射線最大泄漏的空氣吸收劑量率。4檢驗(yàn)規(guī)則產(chǎn)品檢驗(yàn)抽樣方案按逐臺(tái)檢驗(yàn)方案進(jìn)行。附加說(shuō)明:本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由上海電子光學(xué)技術(shù)研究所負(fù)責(zé)
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