標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 15726-1995 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《玻璃儀器內(nèi)應(yīng)力檢驗方法》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢測玻璃儀器內(nèi)部應(yīng)力的程序、方法及評價準(zhǔn)則,旨在確保玻璃儀器的質(zhì)量與安全使用,防止因內(nèi)應(yīng)力問題導(dǎo)致的破裂或性能下降。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概述:
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類實驗室和工業(yè)用玻璃儀器的內(nèi)應(yīng)力檢測,包括但不限于燒杯、試管、量筒、比色皿等。它不適用于特殊設(shè)計或有特殊要求的玻璃制品。
內(nèi)應(yīng)力定義
內(nèi)應(yīng)力是指玻璃在成型、退火等過程中因冷卻速率不均或結(jié)構(gòu)變化而殘留在玻璃內(nèi)部的機械應(yīng)力。這些應(yīng)力可能影響玻璃的物理性能和化學(xué)穩(wěn)定性。
檢驗原理
主要利用光彈性原理和偏振光技術(shù)來觀察和評估玻璃內(nèi)部的應(yīng)力分布。當(dāng)偏振光通過含有內(nèi)應(yīng)力的玻璃時,會產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,表現(xiàn)為顏色變化,據(jù)此可以判斷和量化內(nèi)應(yīng)力的大小和分布。
檢驗方法
-
偏光鏡法:使用偏光顯微鏡或偏光應(yīng)力儀,通過觀察樣品在交叉偏振光下的干涉色階,評估內(nèi)應(yīng)力情況。
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化學(xué)蝕刻法:對玻璃表面進行輕微蝕刻處理,內(nèi)應(yīng)力較高的區(qū)域會優(yōu)先被蝕刻,形成不同的蝕刻圖案,據(jù)此分析內(nèi)應(yīng)力分布。
-
溫度補償比較法:將待測玻璃與已知內(nèi)應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試樣在相同條件下加熱或冷卻,觀察兩者的光學(xué)效應(yīng)變化差異,以判斷待測樣品的內(nèi)應(yīng)力狀態(tài)。
評價準(zhǔn)則
根據(jù)觀察到的顏色圖樣或蝕刻圖案的特征(如顏色的深淺、圖案的均勻性等),將內(nèi)應(yīng)力分為合格、邊緣、不合格等級別。具體評判標(biāo)準(zhǔn)需參考樣品的用途和相關(guān)質(zhì)量要求。
實驗條件與操作步驟
標(biāo)準(zhǔn)詳細說明了實驗環(huán)境(如溫度、濕度)、樣品準(zhǔn)備、測試儀器校準(zhǔn)、檢驗步驟以及數(shù)據(jù)記錄的要求,確保檢驗過程的一致性和可重復(fù)性。
報告與標(biāo)識
檢驗完成后,應(yīng)出具檢驗報告,詳細記錄檢驗條件、方法、結(jié)果及結(jié)論。對于不符合要求的產(chǎn)品,應(yīng)明確標(biāo)識,避免誤用。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 15726-2021
- 1995-10-24 頒布
- 1996-07-01 實施
文檔簡介
55.71.040:20中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15726-1995玻璃儀器內(nèi)應(yīng)力檢驗方法Glassware-Stressexaminationmethods1995-10-24發(fā)布1996-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15726-1995玻璃儀器內(nèi)應(yīng)力檢驗方法Glassware-Stressexaminationmethods主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了玻璃儀器內(nèi)應(yīng)力檢驗的原理、試樣、儀器、程序、計算方法、報告內(nèi)容等本標(biāo)準(zhǔn)適用于退火后的玻璃儀器內(nèi)應(yīng)力檢驗2原理通常玻璃為各向同性的均質(zhì)材料,當(dāng)有應(yīng)力存在時,它會表現(xiàn)各向異性,產(chǎn)生光的雙折射現(xiàn)象.雙折時光程差S與應(yīng)力間有關(guān)系:AS=Ko·d式中:S--雙折射光程差垂直于光傳播方向的兩個主應(yīng)力差,N/mm"aK玻璃的應(yīng)力光學(xué)常數(shù),10-mm'/N;玻璃試樣中的光路長度(厚度)cm。同一品種玻璃應(yīng)力光學(xué)常數(shù)K是相同的,因此可以用單位厚度光程差數(shù)值表示其應(yīng)力大小。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用偏光應(yīng)力儀測址光程差,并以單位厚度光程差數(shù)值來表示產(chǎn)品內(nèi)應(yīng)力大小的測址法.成樣3.1武樣應(yīng)為退火后未經(jīng)其他試驗的玻璃儀器3.2試樣須預(yù)先在實驗室內(nèi)放置30min以上.3.3檢驗時應(yīng)戴手套,避免用手直接接觸試樣。4儀器用于測量雙折射光程差的偏光應(yīng)力儀應(yīng)符合下列技術(shù)要求4.1光源應(yīng)由多個白織燈組成并使其成為均勻的光亮場。光場邊沿的亮度不小于120cd/m"4.2所采用的偏振元件應(yīng)保證亮場時任何一點偏振度都不小于百分之九十九。4.3在起偏鏡和檢偏鏡之間能分別置入565㎡m的全波片及四分之一波片(采用其他波長的波片時計算光程差公式中轉(zhuǎn)換系數(shù)應(yīng)做相應(yīng)變更)。4.4檢偏鏡應(yīng)能對于起偏鏡和全波片或四分之一波片旋轉(zhuǎn)。旋轉(zhuǎn)度盤格值為1"。4.5偏光應(yīng)力儀測量精度:雙折射光程差優(yōu)于3nm。5檢驗程序5.1應(yīng)力儀應(yīng)安裝在溫度為10~35℃,相對濕度小于80
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